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      一種發(fā)光二極管量子效率測(cè)量裝置及其測(cè)量方法與流程

      文檔序號(hào):11175295閱讀:1224來(lái)源:國(guó)知局
      一種發(fā)光二極管量子效率測(cè)量裝置及其測(cè)量方法與流程

      本發(fā)明涉及發(fā)光二極管,尤其是涉及一種發(fā)光二極管量子效率測(cè)量裝置及其測(cè)量方法。



      背景技術(shù):

      在過(guò)去的幾年里,發(fā)光二極管(led)技術(shù)得到了快速發(fā)展,廣泛應(yīng)用于背光源、交通信號(hào)燈及通用照明等領(lǐng)域([1]z.q.liu,t.b.wei,e.q.guo,x.y.yi,l.c.wang,j.x.wang,g.h.wang,y.shi,i.fergusonandj.m.li,appl.phys.lett.99,091104(2011);[2]m.e.raypah,b.k.sodipo,m.devarajan,andf.sulaiman,ieeetrans.electrondevices,63,2790-2795,(2016))。由于半導(dǎo)體器件,特別是功率半導(dǎo)體器件工作時(shí),會(huì)產(chǎn)生大量的熱,致使發(fā)光二極管pn結(jié)處的溫度升高,pn結(jié)溫度上升會(huì)引起發(fā)光二極管發(fā)光效率下降。準(zhǔn)確測(cè)量出發(fā)光二極管器件恒溫工作時(shí)的量子效率,一方面可以分析器件的材料質(zhì)量和器件的內(nèi)部結(jié)構(gòu),另一方面也是實(shí)際應(yīng)用設(shè)計(jì)中一個(gè)重要的參數(shù)。目前測(cè)量恒溫下半導(dǎo)體量子效率的方法主要使用脈沖法。該法必須使用脈寬短的方波脈沖,但仍就不能完全杜絕發(fā)光二極管工作時(shí)溫度上升,而且由于使用脈沖電源,發(fā)光二極管發(fā)出的是閃爍光,閃爍光的采集難度大。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本發(fā)明的目的在于提供可消除發(fā)光二極管熱效應(yīng)影響、測(cè)量裝置簡(jiǎn)單、操作方便的一種發(fā)光二極管量子效率測(cè)量裝置及其測(cè)量方法。

      所述發(fā)光二極管量子效率測(cè)量裝置設(shè)有計(jì)算機(jī)、數(shù)字電源表、溫度控制源表、溫控夾具、光譜儀和紅外熱像儀;所述溫控夾具夾持待測(cè)發(fā)光二極管,數(shù)字電源表電源兩極連接待測(cè)發(fā)光二極管,數(shù)字電源表與計(jì)算機(jī)電連接,計(jì)算機(jī)與溫度控制源表電連接,溫度控制源表所配套的溫度傳感器和加熱板均安裝于溫控夾具上,光譜儀與計(jì)算機(jī)電連接,紅外熱像儀與計(jì)算機(jī)電連接。

      所述發(fā)光二極管量子效率測(cè)量方法包括以下步驟:

      1)采用發(fā)光二極管量子效率測(cè)量裝置;

      2)由溫度控制源表設(shè)定一組溫度值t,設(shè)定的一組溫度值至少包含5個(gè)不同的溫度值t,所述溫度值低于待測(cè)發(fā)光二極管的失效溫度,同時(shí)由數(shù)字電源表設(shè)定電流值i,所述電流值i低于待測(cè)發(fā)光二極管的失效電流;

      3)按所設(shè)定的一組溫度值和所設(shè)定的電流值,分別測(cè)量得到不同溫控夾具溫度值ts下的發(fā)光二極管的一組量子效率η;

      4)通過(guò)步驟3)所測(cè)得的一組量子效率η,先畫(huà)出不同電流值i條件下量子效率η與溫度t的關(guān)系圖,然后通過(guò)下述公式(1)進(jìn)行直線(xiàn)擬合:

      η=λ1(i)-λ2(i)*t(1)

      得到一組與電流值i對(duì)應(yīng)的λ1(i)和λ2(i)系數(shù);

      5)控制溫控夾具的溫度不變,使數(shù)字電源表的輸出電流從零開(kāi)始逐漸增大,紅外熱像儀測(cè)量并記錄發(fā)光二極管的溫度t(i),測(cè)量的電流不超過(guò)發(fā)光二極管的失效電流,再通過(guò)下述公式(2)進(jìn)行擬合:

      t(i)=a+b*i(2)

      6)保持溫控夾具的溫度不變,使數(shù)字電源表的輸出電流從零開(kāi)始逐漸增大,光譜儀測(cè)量并記錄發(fā)光二極管的受熱影響的量子效率η,測(cè)量的電流不超過(guò)發(fā)光二極管的失效電流;

      7)通過(guò)公式(3)獲得消除熱影響情況下的量子效率(η′):

      η′=η+b*∫λ2(i)di.(3)。

      與現(xiàn)有技術(shù)比較,本發(fā)明的有益效果如下:

      計(jì)算機(jī)通過(guò)事先安排的指令溫度控制源表的輸出信號(hào),通過(guò)溫控夾具改變發(fā)光二極管的結(jié)溫;計(jì)算機(jī)控制數(shù)字電源表給發(fā)光二極管施加電流;紅外熱像儀和光譜儀測(cè)試結(jié)果反饋給計(jì)算機(jī)保存以便后期處理。通過(guò)間接方法,可以測(cè)量出發(fā)光二極管消除熱影響之后的量子效率,避免了脈沖電流工作狀態(tài)下發(fā)光二極管測(cè)試時(shí)自帶的熱效應(yīng)影響;發(fā)光二極管的量子效率與結(jié)溫之間存在良好線(xiàn)性關(guān)系。

      附圖說(shuō)明

      圖1為本發(fā)明實(shí)施例搭建的發(fā)光二極管量子效率測(cè)量裝置及使用示意圖。

      圖2為本發(fā)明實(shí)施例發(fā)光二極管量子效率測(cè)量量子效率與溫度變化關(guān)系圖。在圖2中只展示部分電流的結(jié)果,橫坐標(biāo)為開(kāi)爾文溫度,縱坐標(biāo)為量子效率。

      圖3為本發(fā)明實(shí)施例發(fā)光二極管的溫度-電流關(guān)系曲線(xiàn)圖。在圖3中,溫控夾具溫度值設(shè)置在300k;橫坐標(biāo)為電流,縱坐標(biāo)為開(kāi)爾文溫度。

      圖4為本發(fā)明實(shí)施例發(fā)光二極管在室溫下受熱影響的量子效率與電流關(guān)系曲線(xiàn),和去除熱影響的量子效率與電流關(guān)系曲線(xiàn)。在圖4中,橫坐標(biāo)為電流,縱坐標(biāo)為量子效率。

      具體實(shí)施方式

      下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明。

      本實(shí)施例所述測(cè)量方法,包括以下步驟:

      1)量子效率測(cè)量裝置搭建

      如圖1所示,量子效率測(cè)量裝置設(shè)有計(jì)算機(jī)1、數(shù)字電源表2、溫度控制源表3、溫控夾具4、光譜儀6和紅外熱像儀7;

      溫控夾具4夾持待測(cè)發(fā)光二極管5,數(shù)字電源表2電源兩極接待測(cè)發(fā)光二極管5,數(shù)字電源表2與計(jì)算機(jī)1電連接,計(jì)算機(jī)1與溫度控制源表3電連接,溫度控制源表3所配套的溫度傳感器31和加熱板32均安裝于溫控夾具4上,光譜儀6與計(jì)算機(jī)1電連接,紅外熱像儀7與計(jì)算機(jī)1電連接;

      2)由溫度控制源表3設(shè)定一組溫度值t,設(shè)定的一組溫度值300k、305k、310k、315k、320k、325k和330k,這些溫度值低于待測(cè)發(fā)光二極管5的失效溫度,同時(shí)由數(shù)字電源表2設(shè)定電流值1ma,測(cè)量得到不同溫度值下的發(fā)光二極管的所對(duì)應(yīng)的一組量子效率值;

      3)通過(guò)步驟2)所測(cè)得的一組量子效率值,先畫(huà)出量子效率與溫度的關(guān)系圖,然后通過(guò)下述公式(1)進(jìn)行直線(xiàn)擬合:

      η=λ1(i)-λ2(i)*t(1)

      得到一組與電流值(i)對(duì)應(yīng)的λ1(i)和λ2(i)系數(shù);

      4)逐漸增大電流值,重復(fù)步驟2)和3),獲得不同電流下不同溫度值所對(duì)應(yīng)的量子效率值,以及一系列與電流值(i)對(duì)應(yīng)的λ1(i)和λ2(i)系數(shù),如圖2所示;

      5)控制溫控夾具4的溫度不變,使數(shù)字電源表2的輸出電流從零開(kāi)始逐漸增大至300ma,紅外熱像儀7測(cè)量并記錄發(fā)光二極管5的溫度t(i),如圖3所示。測(cè)量的電流不超過(guò)發(fā)光二極管5的失效電流,再通過(guò)下述公式(2)進(jìn)行擬合:

      t(i)=a+b*i(2)獲得a、b系數(shù)值。

      6)保持溫控夾具4的溫度不變,使數(shù)字電源表2的輸出電流從零開(kāi)始逐漸增大,光譜儀6測(cè)量并記錄發(fā)光二極管5的受熱影響的量子效率η,測(cè)量的電流不超過(guò)發(fā)光二極管5的失效電流。

      7)通過(guò)公式(3)可以獲得消除熱影響情況下的量子效率(η′):

      η′=η+b*∫λ2(i)di.(3)。

      圖4是發(fā)光二極管受熱影響和排除熱影響的量子效率與電流關(guān)系曲線(xiàn)。由圖4可看出,受發(fā)光二極管熱影響,量子效率相對(duì)較低。消除熱影響之后量子效率會(huì)有所提高。

      本實(shí)施例所述測(cè)量方法能夠消除發(fā)光二極管熱效應(yīng)影響,獲得發(fā)光二極管無(wú)熱效應(yīng)的量子效率。



      技術(shù)特征:

      技術(shù)總結(jié)
      一種發(fā)光二極管量子效率測(cè)量裝置及其測(cè)量方法,涉及發(fā)光二極管。裝置設(shè)有計(jì)算機(jī)、數(shù)字電源表、溫度控制源表、溫控夾具、光譜儀和紅外熱像儀。測(cè)量方法:采用發(fā)光二極管量子效率測(cè)量裝置;由溫度控制源表設(shè)定一組溫度值T,設(shè)定的一組溫度值至少包含5個(gè)不同的溫度值T;按溫度值和電流值測(cè)量得到不同溫控夾具溫度值TS下的發(fā)光二極管的一組量子效率η;通過(guò)所測(cè)得的一組量子效率η,先畫(huà)出不同電流值I條件下量子效率η與溫度T的關(guān)系圖;通過(guò)公式獲得消除熱影響情況下的量子效率(η′)。

      技術(shù)研發(fā)人員:陳忠;張汝京;林思棋;施天謨;呂毅軍;林岳
      受保護(hù)的技術(shù)使用者:廈門(mén)大學(xué);昇瑞光電科技(上海)有限公司
      技術(shù)研發(fā)日:2017.05.26
      技術(shù)公布日:2017.10.03
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