本發(fā)明提供的是探傷儀器領(lǐng)域的一種全信息記錄脈沖渦流探傷儀。
背景技術(shù)：
渦流探傷是利用電磁原理對金屬表面及近表面一種探測方式，通常情況下，不能對金屬部件深度的缺陷進(jìn)行探測。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
為了對深度金屬部件檢測，本發(fā)明提供了一種全信息記錄脈沖渦流探傷儀。該探傷儀通過換能器與檢測電路的結(jié)合，解決金屬部件深度探傷的技術(shù)問題。
本發(fā)明解決技術(shù)問題所采用的方案是：
在邏輯控制運(yùn)算電路單元中，采樣控制運(yùn)算電路將采樣信號輸入給脈沖發(fā)射單元，并通過換能器送給電脈沖接收放大電路單元的脈沖接收抑制電路，依次經(jīng)由可控增益電路、微波電路和模數(shù)轉(zhuǎn)換電路輸送回采樣控制運(yùn)算電路，由采樣控制運(yùn)算電路送入采樣存儲器，并輸出給顯示控制電路和顯示存儲器，由換能器獲得的數(shù)據(jù)經(jīng)由采樣控制運(yùn)算電路后輸入給微處理電路單元的微處理器，在微處理器上分別連接有電源電壓監(jiān)控、鍵盤控制電路、實(shí)時時鐘和非易失存儲器，經(jīng)過微處理器的信號經(jīng)由接口電路輸出給外接處理存儲單元。
積極效果，采用本發(fā)明能夠檢測出距離表面有一定深度的缺陷；對鐵磁性材料不用作磁飽和處理而直接探傷。適宜作為深度金屬部件渦流探傷的儀器使用。
附圖說明
圖1為本發(fā)明換能器與電路構(gòu)成圖。
圖中，1.邏輯控制運(yùn)算電路單元，2.電脈沖接收放大電路單元，3.微處理電路單元，4.外接處理存儲單元。
具體實(shí)施方式
據(jù)圖所示，在邏輯控制運(yùn)算電路單元1中，采樣控制運(yùn)算電路將采樣信號輸入給脈沖發(fā)射單元，并通過換能器送給電脈沖接收放大電路單元2的脈沖接收抑制電路，依次經(jīng)由可控增益電路、微波電路和模數(shù)轉(zhuǎn)換電路輸送回采樣控制運(yùn)算電路，由采樣控制運(yùn)算電路送入采樣存儲器，并輸出給顯示控制電路和顯示存儲器，由換能器獲得的數(shù)據(jù)經(jīng)由采樣控制運(yùn)算電路后輸入給微處理電路單元3的微處理器，在微處理器上分別連接有電源電壓監(jiān)控、鍵盤控制電路、實(shí)時時鐘和非易失存儲器，經(jīng)過微處理器的信號經(jīng)由接口電路輸出給外接處理存儲單元4。
所述外接處理存儲單元包括計算機(jī)、打印機(jī)或外部存儲器。
技術(shù)原理：
脈沖式渦流探傷儀采用脈沖激勵的工作方式，激勵信號可以理解為無窮多個各種頻率的正弦波組成，因此可通過一次激勵完成對金屬不同深度的缺陷進(jìn)行檢測，可以有效完成鑄鋼件、表面粗糙金屬工件或者表面防腐層較厚的金屬工件表面或內(nèi)部具有一定距離的缺陷監(jiān)測。
雙通道時基顯示處理方法?？捎行z測各個方向的缺陷，探傷儀配合換能器采用了雙通道采樣、處理、顯示電路，并通過屏幕提示和發(fā)出不同的聲音報警，以提示探傷工作人員被探工件是否存在缺陷，并提示探傷人員裂紋缺陷與探頭的相對位置。
換能器負(fù)責(zé)發(fā)射和接收磁場變化的信號，檢測電路由波脈沖發(fā)射電路單元、前置放大電路、可控增益電路、模數(shù)轉(zhuǎn)換電路、采樣控制運(yùn)算電路、采樣數(shù)據(jù)存儲電路、顯示控制電路、顯示存儲電路、邏輯控制運(yùn)算電路單元、接口電路、電源電壓監(jiān)控電路、鍵盤控制電路、非易失存儲器、微處理電路單元組成。
分色顯示波形由微處理器輸出分色波形程序控制采樣控制運(yùn)算電路，實(shí)現(xiàn)分色顯示；綠色波為不超限波形；黃色波為超限波形。不同頻率的聲音報警可以使探傷人員更容易判斷裂紋的情況。
本發(fā)明探傷過程的所有動態(tài)波形能夠全程記錄，并可以外接攝像頭對工作環(huán)境和過程進(jìn)行記錄，可存儲超過40小時的動態(tài)波形和錄像信息。