【】本申請涉及溫度測試工藝方法,尤其涉及一種關于氣體探測器的溫度測試系統(tǒng)及溫度測試方法。
背景技術
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背景技術:
1、根據國際環(huán)保公約蒙特利爾議定書等規(guī)定,傳統(tǒng)制冷劑因為會破壞大氣臭氧層,將被a2l類低慢性毒性制冷劑替代,但a2l類制冷劑有弱可燃性,為了防止其泄露達到爆炸濃度極限而產生安全事故,冷媒氣體探測器得到越來越多的使用。通常冷媒氣體探測器需要在一定的溫度范圍內(譬如:-30℃到+60℃)能夠正常工作,因此在冷媒氣體探測器生產制造過程中,必須進行全使用溫度范圍的測試。
技術實現(xiàn)思路
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技術實現(xiàn)要素:
1、有鑒于此,本申請實施例提供了一種溫度測試系統(tǒng)及溫度測試方法,該溫度測試系統(tǒng)具有較高的測試效率。
2、為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明實施例提供了如下技術方案:
3、一種溫度測試系統(tǒng),適用于對氣體探測器進行溫度測試,至少需要在n個不同的溫度測試點對所述氣體探測器進行測試;所述溫度測試系統(tǒng)至少包括m個測試溫箱;m、n均為正整數且n≥2、m≥2、m≤n;
4、至少有一個所述測試溫箱的設定溫度保持為其中一個所述溫度測試點的溫度。
5、在本申請的溫度測試系統(tǒng)中,包括多個測試溫箱,且至少一個測試溫箱的設定溫度保持為一個溫度測試點的溫度,該測試溫箱在測試過程中不進行升溫或降溫,使得氣體探測器在該溫度測試點的測試均可在該測試溫箱中完成,有利于提高測試效率。
6、一種溫度測試方法,適用于溫度測試系統(tǒng);所述溫度測試系統(tǒng)包括至少m個測試溫箱;所述溫度測試方法至少需要在n個不同的溫度測試點對氣體探測器進行測試;m、n均為正整數且n≥2、m≥2;
7、所述溫度測試方法包括以下步驟:
8、將所述氣體探測器放入第一測試溫箱進行測試;所述第一測試溫箱的設定溫度至少保持為第一溫度測試點的溫度;
9、將所述氣體探測器從所述第一測試溫箱中取出;
10、將所述氣體探測器放入第二測試溫箱進行測試;所述第二測試溫箱的設定溫度至少包括第二溫度測試點的溫度。
11、上述溫度測試方法中,氣體探測器在第一溫度測試點的測試在第一測試溫箱中完成、第二溫度測試點的測試在第二測試溫箱完成,即至少有兩個溫度測試點的測試在不同的測試溫箱中完成,有利于提高測試效率。
1.一種溫度測試系統(tǒng),適用于對氣體探測器進行溫度測試,其特征在于,至少需要在n個不同的溫度測試點對所述氣體探測器進行測試;所述溫度測試系統(tǒng)至少包括m個測試溫箱;m、n均為正整數且n≥2、m≥2、m≤n;
2.根據權利要求1所述的溫度測試系統(tǒng),其特征在于,m=n,每個所述測試溫箱的設定溫度對應一個所述溫度測試點的溫度;
3.根據權利要求1或2所述的溫度測試系統(tǒng),其特征在于,在所述測試溫箱內對所述氣體探測器的參數進行測試,所述參數包括氣體探測器的電流、電壓、精度中的一種或多種。
4.根據權利要求3所述的溫度測試系統(tǒng),所述氣體探測器為冷媒氣體探測器,所述冷媒氣體探測器包括電橋電路和處理電路,所述電橋電路至少包括第一電阻、第二電阻、第三電阻和第四電阻;所述第一電阻、第二電阻、第三電阻和第四電阻中至少有一個是ntc電阻;所述電橋電路的輸出端與所述處理電路電連接。
5.根據權利要求1所述的溫度測試系統(tǒng),其特征在于,還包括預保溫溫箱;所述預保溫溫箱的溫度設定曲線為由一個溫度測試點的溫度上升或下降到另一個溫度測試點的溫度曲線。
6.一種溫度測試方法,其特征在于,適用于溫度測試系統(tǒng);所述溫度測試系統(tǒng)包括至少m個測試溫箱;所述溫度測試方法至少需要在n個不同的溫度測試點對氣體探測器進行測試;m、n均為正整數且n≥2、m≥2;
7.根據權利要求6所述的溫度測試方法,其特征在于,當m=n時,所述溫度測試方法包括將所述氣體探測器依次放入m個測試溫箱中進行測試,直至完成n個溫度測試點的測試;其中,每個所述測試溫箱的設定溫度對應一個所述溫度測試點的溫度。
8.根據權利要求6所述的溫度測試方法,其特征在于,當m小于n時,所述溫度測試方法包括將所述氣體探測器依次放入所述測試溫箱中進行測試;其中,有x個所述測試溫箱的設定溫度分別與其中一個所述溫度測試點的溫度相同,(m-x)個所述測試溫箱的設定溫度包括y個所述溫度測試點的溫度;其中,x、y為正整數且1≤x<m、2≤y≤m-x;
9.根據權利要求6-8任一項所述的溫度測試方法,其特征在于,在測試溫箱對所述氣體探測器進行測試前,還包括步驟:在所述測試對應的測試溫度下,對所述氣體探測器進行預保溫。
10.根據權利要求9所述的溫度測試方法,其特征在于,所述溫度測試系統(tǒng)還包括預保溫溫箱;所述氣體探測器在放入所述測試溫箱測試前,還包括步驟: