本發(fā)明涉及地質(zhì)檢測，具體而言，涉及一種巖芯檢測裝置。

背景技術(shù)：

1、在石油、冶金、探礦等工業(yè)生產(chǎn)中，對于鉆探出來的礦層巖芯樣品成分含量檢測，是鉆探作業(yè)人員對地下礦層情況判斷的重要依據(jù)，是鉆探作業(yè)的必要工序。

2、相關(guān)技術(shù)中的巖芯檢測方式，受限于野外探礦作業(yè)工作條件有限，只能將巖芯樣品運輸至化驗室進行化驗檢測，工作效率低下，鑒定周期過長，嚴(yán)重影響鉆探作業(yè)人員的工作效率。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一。為此，本發(fā)明提出一種巖芯檢測裝置，該巖芯檢測裝置具有檢測周期短、檢測準(zhǔn)確性高等優(yōu)點。

2、為實現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的實施例提出一種巖芯檢測裝置，所述巖芯檢測裝置包括：柜體，所述柜體外具有檢測區(qū)域，所述柜體上設(shè)有朝向所述檢測區(qū)域的檢測透光窗和測量透光窗；樣品臺，所述樣品臺上適于放置巖芯樣品，所述樣品臺適于將所述巖芯樣品支撐在所述檢測區(qū)域內(nèi)；光學(xué)成分檢測裝置，所述光學(xué)成分檢測裝置設(shè)在所述柜體內(nèi)且適于通過所述檢測透光窗對所述巖芯樣品的成分進行檢測；位置測量裝置，所述位置測量裝置設(shè)在所述柜體內(nèi)且適于通過所述測量透光窗測量所述巖芯樣品與所述位置測量裝置之間的距離，所述位置測量裝置與所述光學(xué)成分檢測裝置電連接，所述光學(xué)成分檢測裝置適于根據(jù)所述位置檢測裝置的測量值調(diào)整焦距。

3、根據(jù)本發(fā)明實施例的巖芯檢測裝置，具有檢測周期短、檢測準(zhǔn)確性高等優(yōu)點。

4、另外，根據(jù)本發(fā)明上述實施例的巖芯檢測裝置還可以具有如下附加的技術(shù)特征：

5、根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述柜體的下表面設(shè)有兩個支撐腿，兩個所述支撐腿和所述柜體的下表面之間構(gòu)成所述檢測區(qū)域，所述檢測透光窗和所述測量透光窗設(shè)在所述柜體的下表面。

6、根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述柜體與每個所述支撐腿之間具有第一減振裝置。

7、根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述光學(xué)成分檢測裝置與所述柜體之間設(shè)有第二減振裝置。

8、根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述巖芯檢測裝置還包括控制器，所述控制器設(shè)在所述柜體內(nèi)，所述控制器分別與所述位置測量裝置和所述光學(xué)成分檢測裝置電連接，所述控制器與所述柜體之間設(shè)有第三減振裝置。

9、根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述樣品臺在位于所述檢測區(qū)域外的上料位置、與所述測量透光窗相對的測量位置和與所述檢測透光窗相對的檢測位置之間可移動。

10、根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述光學(xué)成分檢測裝置為激光誘導(dǎo)擊穿光譜檢測裝置。

11、根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述巖芯檢測裝置還包括烘干裝置，所述烘干裝置設(shè)在所述柜體上且適于對所述巖芯樣品進行烘干。

12、根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述巖芯檢測裝置還包括水分檢測裝置，所述水分檢測裝置設(shè)在所述柜體內(nèi)且適于檢測所述巖芯樣品表面的水分。

13、根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述柜體下表面還設(shè)有循環(huán)風(fēng)道，所述循環(huán)風(fēng)道至少經(jīng)過所述檢測透光窗和所述測量透光窗，所述循環(huán)風(fēng)道上設(shè)有進風(fēng)風(fēng)機，所述進風(fēng)風(fēng)機的進口設(shè)有過濾件。

14、根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述巖芯檢測裝置還包括圖像采集裝置，所述圖像采集裝置設(shè)在所述柜體內(nèi)且適于通過所述檢測透光窗采集所述巖芯樣品的圖像。

15、本發(fā)明的附加方面和優(yōu)點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實踐了解到。

技術(shù)特征：

1.一種巖芯檢測裝置，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的巖芯檢測裝置，其特征在于，所述柜體的下表面設(shè)有兩個支撐腿，兩個所述支撐腿和所述柜體的下表面之間構(gòu)成所述檢測區(qū)域，所述檢測透光窗和所述測量透光窗設(shè)在所述柜體的下表面，所述柜體與每個所述支撐腿之間具有第一減振裝置。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的巖芯檢測裝置，其特征在于，所述光學(xué)成分檢測裝置與所述柜體之間設(shè)有第二減振裝置。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的巖芯檢測裝置，其特征在于，還包括控制器，所述控制器設(shè)在所述柜體內(nèi)，所述控制器分別與所述位置測量裝置和所述光學(xué)成分檢測裝置電連接，所述控制器與所述柜體之間設(shè)有第三減振裝置。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的巖芯檢測裝置，其特征在于，所述樣品臺在位于所述檢測區(qū)域外的上料位置、與所述測量透光窗相對的測量位置和與所述檢測透光窗相對的檢測位置之間可移動。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的巖芯檢測裝置，其特征在于，所述光學(xué)成分檢測裝置為激光誘導(dǎo)擊穿光譜檢測裝置。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的巖芯檢測裝置，其特征在于，還包括烘干裝置，所述烘干裝置設(shè)在所述柜體上且適于對所述巖芯樣品進行烘干。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的巖芯檢測裝置，其特征在于，還包括水分檢測裝置，所述水分檢測裝置設(shè)在所述柜體內(nèi)且適于檢測所述巖芯樣品表面的水分。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的巖芯檢測裝置，其特征在于，所述柜體下表面還設(shè)有循環(huán)風(fēng)道，所述循環(huán)風(fēng)道至少經(jīng)過所述檢測透光窗和所述測量透光窗，所述循環(huán)風(fēng)道上設(shè)有進風(fēng)風(fēng)機，所述進風(fēng)風(fēng)機的進口設(shè)有過濾件。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的巖芯檢測裝置，其特征在于，還包括圖像采集裝置，所述圖像采集裝置設(shè)在所述柜體內(nèi)且適于通過所述檢測透光窗采集所述巖芯樣品的圖像。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種巖芯檢測裝置，巖芯檢測裝置包括：柜體，柜體外具有檢測區(qū)域，柜體上設(shè)有朝向檢測區(qū)域的檢測透光窗和測量透光窗；樣品臺，樣品臺上適于放置巖芯樣品，樣品臺適于將巖芯樣品支撐在檢測區(qū)域內(nèi)；光學(xué)成分檢測裝置，光學(xué)成分檢測裝置設(shè)在柜體內(nèi)且適于通過檢測透光窗對巖芯樣品的成分進行檢測；位置測量裝置，位置測量裝置設(shè)在柜體內(nèi)且適于通過測量透光窗測量巖芯樣品與位置測量裝置之間的距離，位置測量裝置與光學(xué)成分檢測裝置電連接，光學(xué)成分檢測裝置適于根據(jù)位置檢測裝置的測量值調(diào)整焦距。根據(jù)本發(fā)明實施例的巖芯檢測裝置具有檢測周期短、檢測準(zhǔn)確性高等優(yōu)點。

技術(shù)研發(fā)人員：賈軍偉,查振春,潘從元
受保護的技術(shù)使用者：合肥金星智控科技股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/10