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      檢測裝置的制作方法

      文檔序號:39753660發(fā)布日期:2024-10-25 13:26閱讀:40來源:國知局
      檢測裝置的制作方法

      本公開涉及一種檢測裝置。


      背景技術(shù):

      1、以往,如專利文獻(xiàn)1所記載的那樣,已知有將固定于車輪的輪轂支承成能夠相對于車體旋轉(zhuǎn)的軸承裝置。軸承裝置包括:相對于車體固定的外圈、相對于輪轂固定的內(nèi)圈、外圈與內(nèi)圈之間的滾動體。在此,為了使車輛的行駛穩(wěn)定,期望基于作用于車輪的力來進(jìn)行車輛的行駛控制。

      2、作為用于檢測作用于車輪的力的結(jié)構(gòu),在專利文獻(xiàn)1中記載有軸向應(yīng)變傳感器、徑向應(yīng)變傳感器和控制單元。軸向應(yīng)變傳感器對外圈的軸向位移進(jìn)行檢測,徑向應(yīng)變傳感器對外圈的徑向位移進(jìn)行檢測。由于位移與作用在車輪上的力具有相關(guān)性,因此,能夠?qū)⑽灰茡Q算成力。因此,控制單元根據(jù)由軸向應(yīng)變傳感器檢測出的位移來計算車輪的軸向的力,根據(jù)由徑向應(yīng)變傳感器檢測出的位移來計算車輪的上下方向的力。

      3、現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

      4、專利文獻(xiàn)

      5、專利文獻(xiàn)1:日本專利第5436191號公報


      技術(shù)實現(xiàn)思路

      1、專利文獻(xiàn)1所記載的各傳感器設(shè)置在軸承附近。因此,在力作用于車輪的情況下,由各傳感器檢測出的位移較小。在這種情況下,位移的檢測精度有可能會劣化。另外,位移的檢測精度劣化不限于車輛。

      2、本公開的主要目的在于提供一種能夠提高位移的檢測精度的檢測裝置。

      3、本公開包括:基座部;以及

      4、軸承,上述軸承具有外圈構(gòu)件、內(nèi)圈構(gòu)件和設(shè)置在上述外圈構(gòu)件與上述內(nèi)圈構(gòu)件之間的滾動體,并且將旋轉(zhuǎn)體支承成能夠相對于上述基座部旋轉(zhuǎn),

      5、上述外圈構(gòu)件和上述內(nèi)圈構(gòu)件中的一方即第一軸承構(gòu)件相對于上述旋轉(zhuǎn)體固定,另一方即第二軸承構(gòu)件相對于上述基座部固定,

      6、包括:

      7、圓盤狀的檢測用旋轉(zhuǎn)部,上述檢測用旋轉(zhuǎn)部設(shè)置成與上述第一軸承構(gòu)件一體旋轉(zhuǎn),并且相對于上述第一軸承構(gòu)件向上述軸承的徑向外側(cè)延伸;以及

      8、位移檢測部,上述位移檢測部設(shè)置在上述基座部中的在上述徑向上遠(yuǎn)離上述軸承的位置且在上述軸承的軸向上與上述檢測用旋轉(zhuǎn)部相對的位置,并且輸出與上述檢測用旋轉(zhuǎn)部的上述軸向的位移及與上述軸向正交的方向的位移對應(yīng)的電壓信號。

      9、在本公開中,以與構(gòu)成軸承的第一軸承構(gòu)件一體旋轉(zhuǎn)的方式設(shè)置有檢測用旋轉(zhuǎn)部。因此,檢測用旋轉(zhuǎn)部與相對于第一軸承構(gòu)件固定的旋轉(zhuǎn)體一體旋轉(zhuǎn)。

      10、在此,軸向的力作用于旋轉(zhuǎn)體時的檢測用旋轉(zhuǎn)部的軸向位移隨著從第一軸承構(gòu)件向徑向外側(cè)遠(yuǎn)離而變大。通過在位移變大的位置處設(shè)置位移檢測部,能夠提高位移的檢測精度。因此,在本公開中,在基座部中的在徑向上遠(yuǎn)離軸承的位置且在軸向上與檢測用旋轉(zhuǎn)部相對的位置處設(shè)置有位移檢測部。因此,與例如在軸承附近設(shè)置位移檢測部的結(jié)構(gòu)相比,能夠增大與相對于檢測用旋轉(zhuǎn)部的軸向位移的變化的位移檢測部的軸向位移對應(yīng)的電壓信號的變化。由此,能夠提高位移檢測部的軸向位移的檢測精度,例如能夠提高基于檢測出的軸向位移的橫向力的計算精度。

      11、另外,本公開的位移檢測部的輸出電壓信號是除了上述軸向位移之外,還與檢測用旋轉(zhuǎn)部的與上述軸向正交的方向的位移對應(yīng)的信號。因此,根據(jù)該信號,例如能夠計算在上述正交的方向上作用于旋轉(zhuǎn)體的力。



      技術(shù)特征:

      1.一種檢測裝置,包括:

      2.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置,其特征在于,

      3.如權(quán)利要求2所述的檢測裝置,其特征在于,

      4.如權(quán)利要求2所述的檢測裝置,其特征在于,

      5.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置,其特征在于,

      6.如權(quán)利要求2至5中任一項所述的檢測裝置,其特征在于,

      7.如權(quán)利要求6所述的檢測裝置,其特征在于,

      8.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置,其特征在于,

      9.如權(quán)利要求8所述的檢測裝置,其特征在于,

      10.如權(quán)利要求9所述的檢測裝置,其特征在于,

      11.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置,其特征在于,

      12.如權(quán)利要求3、4、11中任一項所述的檢測裝置,其特征在于,所述檢測裝置包括:

      13.如權(quán)利要求12所述的檢測裝置,其特征在于,

      14.如權(quán)利要求3、4、11中任一項所述的檢測裝置,其特征在于,

      15.如權(quán)利要求14所述的檢測裝置,其特征在于,

      16.如權(quán)利要求3、4、11中任一項所述的檢測裝置,其特征在于,

      17.如權(quán)利要求3、4、11中任一項所述的檢測裝置,其特征在于,

      18.如權(quán)利要求3或4所述的檢測裝置,其特征在于,

      19.如權(quán)利要求18所述的檢測裝置,其特征在于,

      20.如權(quán)利要求11所述的檢測裝置,其特征在于,

      21.如權(quán)利要求20所述的檢測裝置,其特征在于,

      22.如權(quán)利要求12所述的檢測裝置,其特征在于,

      23.如權(quán)利要求3、4、11中任一項所述的檢測裝置,其特征在于,所述檢測裝置包括:

      24.如權(quán)利要求23所述的檢測裝置,其特征在于,

      25.如權(quán)利要求2至5、8至11中任一項所述的檢測裝置,其特征在于,

      26.一種程序,

      27.一種程序,

      28.一種程序,

      29.一種程序,

      30.一種程序,

      31.一種程序,

      32.一種程序,


      技術(shù)總結(jié)
      一種檢測裝置,具有基座部(42)和軸承(50)。軸承具有外圈構(gòu)件(51)、內(nèi)圈構(gòu)件(52)和設(shè)置在外圈構(gòu)件與內(nèi)圈構(gòu)件之間的滾動體(53)。外圈構(gòu)件和內(nèi)圈構(gòu)件中的一方即第一軸承構(gòu)件(52)相對于旋轉(zhuǎn)體固定,另一方即第二軸承構(gòu)件(51)相對于基座部固定。檢測裝置具有圓盤狀的檢測用旋轉(zhuǎn)部(80、83、86)和位移檢測部(90),上述檢測用旋轉(zhuǎn)部以與第一軸承構(gòu)件一體旋轉(zhuǎn)的方式設(shè)置,并且相對于第一軸承構(gòu)件向軸承的徑向外側(cè)延伸。位移檢測部設(shè)置在基座部中的在徑向上遠(yuǎn)離軸承的位置且在軸承的軸向上與檢測用旋轉(zhuǎn)部相對的位置。位移檢測部輸出同檢測用旋轉(zhuǎn)部的軸向的位移及與軸向正交的方向的位移對應(yīng)的電壓信號。

      技術(shù)研發(fā)人員:木田喜啟,河野隆修,木村優(yōu)介,赤間貞洋,堀畑晴美,近江徹哉,北浦靖寬,小林篤史,森川鐵平,半田晶寬
      受保護(hù)的技術(shù)使用者:株式會社電裝
      技術(shù)研發(fā)日:
      技術(shù)公布日:2024/10/24
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