背景技術：

1、成像系統可以包括輻射源和輻射檢測器。輻射源可以朝向位于輻射源與輻射檢測器之間的物體發(fā)送輻射束；并且，輻射檢測器可以基于輻射束與物體之間的交互作用來拍攝物體的圖像。成像系統可以在時間延遲積分(tdi：time?delay?integration)模式下運行，以生成具有改善的信噪比和降低的運動模糊的物體圖像。

技術實現思路

1、本文公開了一種輻射檢測器，該輻射檢測器包括第一傳感元件和第二傳感元件。輻射檢測器配置為(a)確定在第一曝光的期間入射到第一傳感元件上的輻射粒子的第一計數，并且(b)將第一計數與第一結余數(carry?forward?number)求和，從而得到第二結余數，其中，第一結余數與入射到不同于第一和第二傳感元件的傳感元件上的輻射粒子的計數相關。輻射檢測器配置為(a)確定在第一曝光之后的第二曝光的期間入射到第二傳感元件上的輻射粒子的第二計數，并且(b)將第二計數與第二結余數求和，從而得到第三結余數。

2、在一方面，輻射檢測器還包括第三傳感元件。輻射檢測器配置為(a)確定在第二曝光之后的第三曝光的期間入射到第三傳感元件上的輻射粒子的第三計數，并且(b)將第三計數與第三結余數求和，從而得到第四結余數。

3、在一方面，輻射檢測器包括第一計數器，該第一計數器配置為(a)確定第一計數，并且(b)將第一計數與第一結余數求和。輻射檢測器包括第二計數器，該第二計數器配置為(a)確定第二計數，并且(b)將第二計數與第二結余數求和。

4、在一方面，輻射檢測器配置為將第二結余數從第一計數器傳輸到第二計數器。

5、在一方面，輻射檢測器包括第一計數器和第一寄存器。第一計數器配置為確定第一計數。第一寄存器配置為將第一計數與第一結余數求和。輻射檢測器包括第二計數器和第二寄存器。第二計數器配置為確定第二計數。第二寄存器配置為將第二計數與第二結余數求和。

6、在一方面，輻射檢測器配置為將第二結余數從第一寄存器傳輸到第二寄存器。

7、在一方面，輻射檢測器包括數字處理器，該數字處理器包括計算機存儲器。第一寄存器和第二寄存器被實現在計算機存儲器中。

8、在一方面，輻射檢測器配置為拍攝物體的圖像。圖像的圖元(picture?element)的值等于第三結余數。

9、在一方面，輻射粒子是x射線。

10、在一方面，輻射檢測器包括：輻射吸收層，包括電極；第一電壓比較器，配置為將電極的電壓與第一閾值進行比較；第二電壓比較器，配置為將電壓與第二閾值進行比較；計數器，配置為記錄輻射吸收層吸收的光子的數目；以及控制器?？刂破髋渲脼閺脑诘谝浑妷罕容^器確定電壓的絕對值等于或超過第一閾值的絕對值的時間起，啟動時間延遲?？刂破髋渲脼樵跁r間延遲的期間啟用第二電壓比較器。控制器配置為如果第二電壓比較器確定電壓的絕對值等于或超過第二閾值的絕對值，則使計數器記錄的數目增加一。

11、系統可以包括上述輻射檢測器、輻射源和框架。輻射源配置為朝向物體發(fā)送輻射束?？蚣芘渲脼閲@軸線旋轉。輻射檢測器固定到框架。輻射檢測器配置為基于輻射束與物體之間的交互作用來拍攝物體的圖像。在一方面，系統還可以包括輻射源靶，該輻射源靶固定到框架，并且配置為接收電子束，從而發(fā)射輻射束。

12、一種使用該系統的方法包括：利用輻射檢測器拍攝物體的第一圖像，其中，(a)框架圍繞物體并圍繞軸線旋轉，并且(b)輻射源相對于物體保持靜止在第一源位置。拍攝第一圖像包括(a)在曝光的期間，利用輻射源朝向物體發(fā)送輻射粒子脈沖，(b)利用輻射檢測器確定在曝光的期間入射到第一傳感元件上的輻射粒子的計數，(c)利用輻射檢測器將計數與結余數求和，從而得到另一結余數，(d)在曝光之后的另一曝光的期間，利用輻射源朝向物體發(fā)送另一輻射粒子脈沖，(e)利用輻射檢測器確定在另一曝光的期間入射到第二傳感元件上的輻射粒子的另一計數，并且(f)利用輻射檢測器將另一計數與另一結余數求和；并且，在拍攝第一圖像之后，利用輻射檢測器拍攝物體的第二圖像，其中，(a)框架圍繞物體并圍繞軸線旋轉，并且(b)輻射源相對于物體保持靜止在第二源位置。拍攝第二圖像包括(a)在曝光的期間，利用輻射源朝向物體發(fā)送輻射粒子脈沖，(b)利用輻射檢測器確定在曝光的期間入射到第一傳感元件上的輻射粒子的計數，(c)利用輻射檢測器將計數與結余數求和，從而得到另一結余數，(d)在曝光之后的另一曝光的期間，利用輻射源朝向物體發(fā)送另一輻射粒子脈沖，(e)利用輻射檢測器確定在另一曝光的期間入射到第二傳感元件上的輻射粒子的另一計數，并且(f)利用輻射檢測器將另一計數與另一結余數求和。第一源位置不同于第二源位置。該方法還可以包括至少基于第一圖像和第二圖像來重建物體的三維圖像。

13、在一方面，輻射源(a)在拍攝第一圖像的期間，從點x經過中間的一系列點變動到點y，(b)在拍攝第一圖像之后且在拍攝第二圖像之前，從點y變動返回到點x，并且(c)在第二圖像的拍攝的期間從點x經過中間的一系列點變動到點y。點x和點y都是相對于框架的。

14、在一方面，通過將電子束引導到輻射源靶上的靶點來實現輻射源發(fā)送輻射束，從而從靶點生成輻射束。使輻射源變動包括移動靶點。

15、系統可以包括上述輻射檢測器和輻射源，該輻射源配置為朝向膜發(fā)送輻射束。輻射檢測器配置為基于輻射束與膜之間的交互作用來拍攝膜的圖像。在一方面，系統還可以包括輻射源靶，該輻射源靶配置為接收電子束，從而發(fā)射輻射束。

16、一種使用上述系統的方法包括利用輻射檢測器拍攝膜的圖像，其中，輻射源和膜(a)都相對于輻射檢測器線性地平移，并且(b)相對彼此保持靜止。拍攝圖像包括(a)在第一曝光的期間，利用輻射源朝向膜發(fā)送第一輻射粒子脈沖，(b)利用輻射檢測器確定在第一曝光的期間入射到第一傳感元件上的輻射粒子的第一計數，(c)利用輻射檢測器將第一計數與第一結余數求和，從而得到第二結余數，(d)在第一曝光之后的第二曝光的期間，利用輻射源朝向膜發(fā)送第二輻射粒子脈沖，(e)利用輻射檢測器確定在第二曝光的期間入射到第二傳感元件上的輻射粒子的第二計數，并且(f)利用輻射檢測器將第二計數與第二結余數求和。

17、膜可以包括陽極層、電解質層和陰極層，其中，電解質層夾在陽極層與陰極層之間。

技術特征：

1.一種輻射檢測器，包括第一傳感元件和第二傳感元件，

2.根據權利要求1所述的輻射檢測器，還包括第三傳感元件，其中，所述輻射檢測器配置為(a)確定在所述第二曝光之后的第三曝光的期間入射到所述第三傳感元件上的輻射粒子的第三計數，并且(b)將所述第三計數與所述第三結余數求和，從而得到第四結余數。

3.一種系統，包括根據權利要求1所述的輻射檢測器、輻射源和框架，

4.根據權利要求3所述的系統，還包括輻射源靶，所述輻射源靶固定到所述框架，并配置為接收電子束，從而發(fā)射所述輻射束。

5.一種系統，包括根據權利要求1所述的輻射檢測器和配置為朝向膜發(fā)送輻射束的輻射源，

6.根據權利要求5所述的系統，還包括輻射源靶，所述輻射源靶配置為接收電子束，從而發(fā)射所述輻射束。

7.根據權利要求1所述的輻射檢測器，

8.根據權利要求7所述的輻射檢測器，其中，所述輻射檢測器配置為將所述第二結余數從所述第一計數器傳輸到所述第二計數器。

9.根據權利要求1所述的輻射檢測器，

10.根據權利要求9所述的輻射檢測器，其中，所述輻射檢測器配置為將所述第二結余數從所述第一寄存器傳輸到所述第二寄存器。

11.根據權利要求9所述的輻射檢測器，

12.根據權利要求1所述的輻射檢測器，

13.根據權利要求1所述的輻射檢測器，其中，所述輻射粒子是x射線。

14.根據權利要求1所述的輻射檢測器，其中，所述輻射檢測器包括：

15.一種使用根據權利要求3-4中任一項所述的系統的方法，所述方法包括：

16.根據權利要求15所述的方法，還包括至少基于所述第一圖像和所述第二圖像來重建所述物體的三維圖像。

17.根據權利要求15所述的方法，其中，所述輻射源

18.根據權利要求17所述的方法，

19.一種使用根據權利要求5-6中任一項所述的系統的方法，所述方法包括利用所述輻射檢測器拍攝所述膜的圖像，其中，所述輻射源和所述膜(a)都相對于所述輻射檢測器線性地平移，并且(b)相對于彼此保持靜止，其中，所述拍攝所述圖像包括：(a)在所述第一曝光的期間，利用所述輻射源朝向所述膜發(fā)送第一輻射粒子脈沖，(b)利用所述輻射檢測器確定在所述第一曝光的期間入射到所述第一傳感元件上的輻射粒子的所述第一計數，(c)利用所述輻射檢測器將所述第一計數與所述第一結余數求和，從而得到所述第二結余數，(d)在所述第一曝光之后的所述第二曝光的期間，利用所述輻射源朝向所述膜發(fā)送第二輻射粒子脈沖，(e)利用所述輻射檢測器確定在所述第二曝光的期間入射到所述第二傳感元件上的輻射粒子的所述第二計數，并且(f)利用所述輻射檢測器將所述第二計數與所述第二結余數求和。

20.根據權利要求19所述的方法，其中，所述膜包括陽極層、電解質層和陰極層，其中，所述電解質層夾在所述陽極層與所述陰極層之間。

技術總結
輻射檢測器(100)包括第一傳感元件(150.1)和第二傳感元件(150.2)。所述輻射檢測器(100)配置為(A)確定在第一曝光的期間(E1)入射到所述第一傳感元件(150.1)上的輻射粒子的第一計數(N1)，并且(B)將所述第一計數(N1)與第一結余數(C1)求和，從而得到第二結余數(C2)，其中，所述第一結余數(C1)與入射到不同于所述第一、第二傳感元件(150.1、150.2)的傳感元件(150.0)上的輻射粒子的計數(N0)相關。所述輻射檢測器(100)配置為(A)確定在所述第一曝光(E1)之后的第二曝光(E2)的期間入射到所述第二傳感元件(150.2)上的輻射粒子的第二計數(N2)，并且(B)將所述第二計數(N2)與所述第二結余數(C2)求和，從而得到第三結余數(C3)。

技術研發(fā)人員：劉雨潤,程華斌,李欣,張甲
受保護的技術使用者：深圳幀觀德芯科技有限公司
技術研發(fā)日：
技術公布日：2024/12/19