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      縱長(zhǎng)狀的光學(xué)層疊體的外觀檢查方法和外觀檢查裝置與流程

      文檔序號(hào):39619374發(fā)布日期:2024-10-11 13:35閱讀:17來(lái)源:國(guó)知局
      縱長(zhǎng)狀的光學(xué)層疊體的外觀檢查方法和外觀檢查裝置與流程

      本發(fā)明涉及縱長(zhǎng)狀的光學(xué)層疊體的外觀檢查方法和外觀檢查裝置。


      背景技術(shù):

      1、在移動(dòng)電話、筆記本型個(gè)人計(jì)算機(jī)(pc)等的圖像顯示裝置中,存在搭載有照相機(jī)等內(nèi)部電子元器件的圖像顯示裝置。在這樣的圖像顯示裝置中,在很多的情況下,使用在局部形成有非光學(xué)功能部的光學(xué)薄膜。作為這樣的光學(xué)薄膜,例如,可列舉出在局部形成有非偏光部的偏振片、在局部形成有非防眩部的防眩薄膜。非偏光部、非防眩部那樣的非光學(xué)功能部代表性的是可為透明部。另外,光學(xué)薄膜通常能夠在將原料薄膜卷供于外觀檢查之后裁切為規(guī)定尺寸(與所應(yīng)用的圖像顯示裝置對(duì)應(yīng)的尺寸)的薄膜片而制作。但是,在局部形成有非光學(xué)功能部的光學(xué)薄膜的情況下,在該外觀檢查中有時(shí)會(huì)誤將非光學(xué)功能部(代表性的是透明部)檢測(cè)為缺陷。其結(jié)果是,有時(shí)產(chǎn)生品質(zhì)管理變得不充分、成品率降低、制造效率降低等問(wèn)題。

      2、現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

      3、專利文獻(xiàn)

      4、專利文獻(xiàn)1:日本特許第6784540號(hào)


      技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

      1、發(fā)明要解決的問(wèn)題

      2、本發(fā)明是為了解決上述課題而做成的,其主要的目的在于提供一種較佳地檢查縱長(zhǎng)狀的光學(xué)層疊體的外觀的方法,該縱長(zhǎng)狀的光學(xué)層疊體具有霧度較小的縱長(zhǎng)狀的防反射層、以規(guī)定圖案形成于防反射層的霧度較大的防眩層、以及形成于防眩層的規(guī)定位置的非防眩部。

      3、用于解決問(wèn)題的方案

      4、[1]根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式,提供一種光學(xué)層疊體的檢查方法。在該檢查方法中,將縱長(zhǎng)狀的光學(xué)層疊體一邊沿長(zhǎng)度方向輸送一邊檢查其外觀,該光學(xué)層疊體具有霧度小于1.0%的縱長(zhǎng)狀的防反射層、以規(guī)定圖案形成于該防反射層的霧度為5.0%以上的防眩層、以及形成于該防眩層的規(guī)定位置的非防眩部。該檢查方法包含:對(duì)該光學(xué)層疊體進(jìn)行拍攝并獲取圖像數(shù)據(jù)的工序;基于該圖像數(shù)據(jù)來(lái)檢測(cè)該防眩層的端部的工序;在向內(nèi)側(cè)離開(kāi)該端部規(guī)定距離的位置設(shè)定邊界,將該邊界的內(nèi)側(cè)設(shè)定為檢查區(qū)域并將該邊界的外側(cè)設(shè)定為非檢查區(qū)域的工序;對(duì)該圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行分析并提取檢查區(qū)域中的缺陷候補(bǔ)部的工序;判斷缺陷候補(bǔ)部是否具有基準(zhǔn)值以下的尺寸的工序;根據(jù)缺陷候補(bǔ)部的尺寸來(lái)檢測(cè)缺陷的工序。

      5、[2]在上述[1]中,上述根據(jù)缺陷候補(bǔ)部的尺寸來(lái)檢測(cè)缺陷的工序包含:僅針對(duì)具有超過(guò)基準(zhǔn)值的尺寸的缺陷候補(bǔ)部,判斷該缺陷候補(bǔ)部在長(zhǎng)度方向上是否具有周期性;將具有基準(zhǔn)值以下的尺寸的缺陷候補(bǔ)部、和具有超過(guò)基準(zhǔn)值的尺寸且在長(zhǎng)度方向上不具有周期性的缺陷候補(bǔ)部檢測(cè)為缺陷。

      6、[3]在上述[2]中,根據(jù)缺陷候補(bǔ)部的長(zhǎng)度方向上的位置坐標(biāo)來(lái)判斷上述缺陷候補(bǔ)部有無(wú)周期性。

      7、[4]在上述[1]~[3]中的任一項(xiàng)中,根據(jù)上述光學(xué)層疊體的連續(xù)性的拍攝來(lái)獲取上述圖像數(shù)據(jù)。

      8、[5]在上述[1]~[4]中的任一項(xiàng)中,根據(jù)上述圖像數(shù)據(jù)的亮度信息來(lái)提取上述缺陷候補(bǔ)部。

      9、[6]在上述[1]~[5]中的任一項(xiàng)中,上述防眩層在長(zhǎng)度方向和寬度方向上以規(guī)定間隔形成。

      10、[7]在上述[1]~[6]中的任一項(xiàng)中,上述防眩層形成為與應(yīng)用上述光學(xué)層疊體的圖像顯示裝置的形狀對(duì)應(yīng)的形狀。

      11、[8]在上述[1]~[7]中的任一項(xiàng)中,上述非防眩部在為了將上述光學(xué)層疊體安裝于上述圖像顯示裝置而進(jìn)行裁切時(shí)形成于與該圖像顯示裝置的照相機(jī)部對(duì)應(yīng)的位置。

      12、[9]根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施方式,提供一種光學(xué)層疊體的檢查裝置。該檢查裝置是在上述[1]~[8]中任一項(xiàng)的檢查方法中使用的、縱長(zhǎng)狀的光學(xué)層疊體的外觀檢查裝置。該檢查裝置具備:拍攝裝置,其對(duì)上述縱長(zhǎng)狀的光學(xué)層疊體進(jìn)行拍攝并獲取圖像數(shù)據(jù);圖像分析裝置,其分析該圖像數(shù)據(jù)并檢測(cè)該光學(xué)層疊體的缺陷。該圖像分析裝置具有:檢查區(qū)域判斷部,其基于該圖像數(shù)據(jù)來(lái)檢測(cè)所述防眩層的端部,在向內(nèi)側(cè)離開(kāi)該端部規(guī)定距離的位置設(shè)定邊界,將該邊界的內(nèi)側(cè)設(shè)定為檢查區(qū)域并將該邊界的外側(cè)設(shè)定為非檢查區(qū)域;缺陷候補(bǔ)部提取部,其根據(jù)該圖像數(shù)據(jù)來(lái)提取檢查區(qū)域中的缺陷候補(bǔ)部;尺寸判斷部,其判斷缺陷候補(bǔ)部是否具有基準(zhǔn)值以下的尺寸;周期性判斷部,其判斷缺陷候補(bǔ)部在長(zhǎng)度方向上是否具有周期性;缺陷檢測(cè)部,其根據(jù)缺陷候補(bǔ)部的尺寸、或者根據(jù)缺陷候補(bǔ)部的尺寸和周期性的有無(wú)來(lái)檢測(cè)缺陷。

      13、發(fā)明的效果

      14、根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方式,能夠?qū)崿F(xiàn)較佳地檢查縱長(zhǎng)狀的光學(xué)層疊體的外觀的方法,該縱長(zhǎng)狀的光學(xué)層疊體具有霧度較小的縱長(zhǎng)狀的防反射層、以規(guī)定圖案形成于防反射層的霧度較大的防眩層、以及形成于防眩層的規(guī)定位置的非防眩部。



      技術(shù)特征:

      1.一種檢查方法,在該檢查方法中,將縱長(zhǎng)狀的光學(xué)層疊體一邊沿長(zhǎng)度方向輸送一邊檢查其外觀,該光學(xué)層疊體具有霧度小于1.0%的縱長(zhǎng)狀的防反射層、以規(guī)定圖案形成于該防反射層的霧度為5.0%以上的防眩層、以及形成于該防眩層的規(guī)定位置的非防眩部,其中,

      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢查方法,其中,

      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢查方法,其中,

      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢查方法,其中,

      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢查方法,其中,

      6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢查方法,其中,

      7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢查方法,其中,

      8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢查方法,其中,

      9.一種縱長(zhǎng)狀的光學(xué)層疊體的外觀檢查裝置,在權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的檢查方法中使用該外觀檢查裝置,其中,


      技術(shù)總結(jié)
      本發(fā)明提供較佳地檢查縱長(zhǎng)狀的光學(xué)層疊體的外觀的縱長(zhǎng)狀的光學(xué)層疊體的外觀檢查方法和外觀檢查裝置,該縱長(zhǎng)狀的光學(xué)層疊體具有霧度較小的縱長(zhǎng)狀的防反射層、以規(guī)定圖案形成于防反射層的霧度較大的防眩層以及形成于防眩層的規(guī)定位置的非防眩部。光學(xué)層疊體的檢查方法包含:對(duì)上述縱長(zhǎng)狀的光學(xué)層疊體進(jìn)行拍攝并獲取圖像數(shù)據(jù)的工序;基于圖像數(shù)據(jù)來(lái)檢測(cè)該防眩層的端部的工序;在向內(nèi)側(cè)離開(kāi)端部規(guī)定距離的位置設(shè)定邊界,將該邊界的內(nèi)側(cè)設(shè)定為檢查區(qū)域并將該邊界的外側(cè)設(shè)定為非檢查區(qū)域的工序;對(duì)圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行分析并提取檢查區(qū)域中的缺陷候補(bǔ)部的工序;判斷缺陷候補(bǔ)部是否具有基準(zhǔn)值以下的尺寸的工序;根據(jù)缺陷候補(bǔ)部的尺寸來(lái)檢測(cè)缺陷的工序。

      技術(shù)研發(fā)人員:望月政和,杉脅正晃,中島奈津美
      受保護(hù)的技術(shù)使用者:日東電工株式會(huì)社
      技術(shù)研發(fā)日:
      技術(shù)公布日:2024/10/10
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