本發(fā)明涉及一種光檢測裝置及信號處理方法。

背景技術：

1、光電轉換元件用于各種用途。

2、例如，在專利文獻1中記載了使用光電二極管接收光信號的接收裝置。光電二極管例如是使用半導體的pn結的pn結二極管等，將光轉換為電信號。

3、另外，例如，在專利文獻2中公開了使用磁性元件的新的接收裝置、接收系統(tǒng)、發(fā)送接收裝置、通信系統(tǒng)及光檢測元件。該接收裝置、接收系統(tǒng)、發(fā)送接收裝置、通信系統(tǒng)及光檢測元件能夠進行高速通信。

4、現(xiàn)有技術文獻

5、專利文獻

6、專利文獻1：日本特開2001-292107號公報

7、專利文獻2：日本特開2022-069387號公報

技術實現(xiàn)思路

1、為了實現(xiàn)高速通信，要求光電轉換裝置的高速響應性的進一步提高。為了提高光電轉換裝置的高速響應性，在將脈沖光照射于光電轉換元件時，需要來自光電轉換元件的輸出高速上升，并且高速下降。來自光電轉換元件的輸出的下降時間比上升時間長的情況多，要求來自光電轉換元件的輸出的下降特性的改善。

2、本發(fā)明是鑒于上述問題而完成的，其目的在于，提供一種照射脈沖光后的輸出的下降時間短的光檢測裝置及信號處理方法。

3、為了解決上述技術問題，提供以下的技術手段。

4、(1)第1方式的光檢測裝置具備：第1光電轉換元件，其在被照射光脈沖時輸出第1輸出；以及第2光電轉換元件，其在被照射所述光脈沖時輸出第2輸出。該光檢測裝置構成為在滿足第1條件和第2條件的狀態(tài)下合成將相同的所述光脈沖照射于所述第1光電轉換元件和所述第2光電轉換元件時的由所述第1輸出引起的第1信號和由所述第2輸出引起的第2信號。所述第1條件為達到所述第1信號的峰的變化量的絕對值和達到所述第2信號的峰的變化量的絕對值不同這樣的條件。所述第2條件為達到所述第1信號的峰的變化量的正負和達到所述第2信號的峰的變化量的正負不同這樣的條件。

5、(2)在上述方式的光檢測裝置中，也可以是所述第1光電轉換元件為第1磁性元件，所述第2光電轉換元件為第2磁性元件。所述第1磁性元件和所述第2磁性元件分別具備：被照射所述光脈沖的第1鐵磁性層、第2鐵磁性層、以及由所述第1鐵磁性層和所述第2鐵磁性層夾著的間隔(spacer)層。

6、(3)在上述方式的光檢測裝置中，也可以是從所述第1磁性元件的層疊方向觀察的所述第1磁性元件的所述第1鐵磁性層的面積與從所述第2磁性元件的層疊方向觀察的所述第2磁性元件的所述第1鐵磁性層的面積不同。

7、(4)在上述方式的光檢測裝置中，也可以是所述第1磁性元件的所述第1鐵磁性層的厚度與所述第2磁性元件的所述第1鐵磁性層的厚度不同。

8、(5)在上述方式的光檢測裝置中，也可以是所述第1磁性元件的所述第1鐵磁性層的磁各向異性與所述第2磁性元件的所述第1鐵磁性層的磁各向異性不同。

9、(6)上述方式的光檢測裝置也可以是在不將所述光脈沖照射于所述第1磁性元件和所述第2磁性元件的狀態(tài)下，所述第1磁性元件的所述第1鐵磁性層和所述第2鐵磁性層的磁化方向的關系與所述第2磁性元件的所述第1鐵磁性層和所述第2鐵磁性層的磁化方向的關系不同。

10、(7)上述方式的光檢測裝置也可以是構成為連接于所述第1磁性元件的輸出端子側的面的直流電源的極性與連接于所述第2磁性元件的輸出端子側的面的直流電源的極性不同。

11、(8)上述方式的光檢測裝置也可以是構成為連接于所述第1磁性元件的輸出端子側的面的直流電源的極性與連接于所述第2磁性元件的輸出端子側的面的直流電源的極性相同。

12、(9)上述方式的光電轉換裝置也可以是進一步具備：合成部，其與所述第1光電轉換元件和所述第2光電轉換元件連接。所述合成部在滿足所述第1條件和所述第2條件的狀態(tài)下合成所述第1信號和所述第2信號。

13、(10)上述方式的光電轉換裝置也可以是進一步具備反轉電路。所述反轉電路使由所述第2輸出引起的信號的極性反轉，生成所述第2信號。

14、(11)上述方式的光電轉換裝置也可以進一步具備高熱傳導層。所述高熱傳導層從層疊方向觀察，位于所述第1磁性元件的外側。所述高熱傳導層的熱傳導率高于與所述第1磁性元件的所述第1鐵磁性層接觸的電極的熱傳導率。

15、(12)第2方式的信號處理方法在滿足第1條件和第2條件的狀態(tài)下合成將相同的光脈沖照射于第1光電轉換元件和第2光電轉換元件時的由從所述第1光電轉換元件輸出的第1輸出引起的第1信號和由從所述第2光電轉換元件輸出的第2輸出引起的第2信號。所述第1條件為達到所述第1信號的峰的變化量的絕對值和達到所述第2信號的峰的變化量的絕對值不同這樣的條件。所述第2條件為達到所述第1信號的峰的變化量的正負和達到所述第2信號的峰的變化量的正負不同這樣的條件。

16、上述方式的光檢測裝置和信號處理方法中，照射脈沖光后的輸出的下降時間短。

技術特征：

1.一種光檢測裝置，其中，

2.根據權利要求1所述的光檢測裝置，其中，

3.根據權利要求2所述的光檢測裝置，其中，

4.根據權利要求2所述的光檢測裝置，其中，

5.根據權利要求2所述的光檢測裝置，其中，

6.根據權利要求2所述的光檢測裝置，其中，

7.根據權利要求2所述的光檢測裝置，其中，

8.根據權利要求6所述的光檢測裝置，其中，

9.根據權利要求1所述的光檢測裝置，其中，

10.根據權利要求1所述的光檢測裝置，其中，

11.根據權利要求2所述的光檢測裝置，其中，

12.一種信號處理方法，其中，

技術總結
本發(fā)明提供一種照射脈沖光后的輸出的下降時間短的光檢測裝置及信號處理方法。該光檢測裝置具備：第1光電轉換元件，其在被照射光脈沖時輸出第1輸出；以及第2光電轉換元件，其在被照射所述光脈沖時輸出第2輸出，構成為在滿足第1條件和第2條件的狀態(tài)下合成將相同的所述光脈沖照射于所述第1光電轉換元件和所述第2光電轉換元件時的由所述第1輸出引起的第1信號和由所述第2輸出引起的第2信號。所述第1條件為達到所述第1信號的峰的變化量的絕對值和達到所述第2信號的峰的變化量的絕對值不同這樣的條件，所述第2條件為達到所述第1信號的峰的變化量的正負和達到所述第2信號的峰的變化量的正負不同這樣的條件。

技術研發(fā)人員：山根健量,柴田哲也,張維昊,福澤英明
受保護的技術使用者：TDK株式會社
技術研發(fā)日：
技術公布日：2024/10/10