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      用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置的制作方法

      文檔序號(hào):39962674發(fā)布日期:2024-11-12 15:59閱讀:24來(lái)源:國(guó)知局
      用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置的制作方法

      本發(fā)明涉及用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置,特別地涉及用于在低溫條件下測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置。


      背景技術(shù):

      1、目前已知用于測(cè)量材料熱傳導(dǎo)率的多種系統(tǒng),并且這些系統(tǒng)在多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中進(jìn)行了限定。

      2、例如,astm標(biāo)準(zhǔn)c177-19公開(kāi)了一種借助于防護(hù)熱板裝置進(jìn)行穩(wěn)態(tài)熱通量測(cè)量和熱傳遞性能測(cè)量的方法。

      3、此標(biāo)準(zhǔn)中所公開(kāi)的方法主要旨在測(cè)試貫穿厚度(through-the-thickness)板,但不足以測(cè)試薄樣品。

      4、astm標(biāo)準(zhǔn)e-1225中公開(kāi)了另一示例,該示例公開(kāi)了借助于防護(hù)比較式縱向熱流來(lái)測(cè)量固體的熱傳導(dǎo)率。此標(biāo)準(zhǔn)所公開(kāi)的方法是試樣與校準(zhǔn)材料之間的比較方法。

      5、使用具有相似傳導(dǎo)率的特征材料意味著需要進(jìn)行額外的絕對(duì)測(cè)試來(lái)表征“測(cè)量”(“meter”)材料。而且測(cè)試是復(fù)雜的,因?yàn)樗枰^長(zhǎng)的過(guò)程來(lái)制備樣品并需要對(duì)樣品施加壓力負(fù)載,這導(dǎo)致測(cè)試的成本較高。

      6、nasa方法tfaws18-ct-02涉及低溫和流體分支下材料的低溫?zé)嵛锢硇阅軠y(cè)量。

      7、這種方法具有多個(gè)缺點(diǎn),比如必須用纖維來(lái)隔離樣品,但纖維會(huì)將室污染并使所需的多次安裝和拆卸以及儀器監(jiān)測(cè)變得困難。


      技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

      1、因此,本發(fā)明的目的是提供一種用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置,該裝置允許在高真空下、在寬范圍的溫度下、尤其是在低溫條件下對(duì)各種樣品開(kāi)展傳導(dǎo)率測(cè)試。

      2、通過(guò)本發(fā)明的用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置,解決了前面所提及的缺點(diǎn)并呈現(xiàn)出將在下面進(jìn)行描述的其他優(yōu)點(diǎn)。

      3、在本文中限定了根據(jù)本發(fā)明的用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置。

      4、特別地,用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置包括:

      5、-一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試模塊,測(cè)試模塊或每個(gè)測(cè)試模塊包括殼體和用于樣品的模塊基部;

      6、-冷卻回路,該冷卻回路用于使一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試模塊冷卻;

      7、-多個(gè)加熱器,多個(gè)加熱器對(duì)樣品和殼體進(jìn)行加熱;具體地,樣品加熱器通過(guò)多層絕熱件與殼體內(nèi)部的其余部分隔離;

      8、-多個(gè)溫度傳感器,多個(gè)溫度傳感器測(cè)量一個(gè)或多個(gè)樣品和一個(gè)或多個(gè)殼體的溫度;以及

      9、-控制器件,控制器件接收供給兩個(gè)或更多個(gè)加熱器的功率以及由溫度傳感器測(cè)量的溫度,以用于測(cè)量一個(gè)或多個(gè)樣品的熱傳導(dǎo)率。

      10、此外,優(yōu)選地,該裝置還包括室基板,在該室基板上安置有一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試模塊,并且冷卻回路連接到基部。

      11、根據(jù)優(yōu)選的實(shí)施方式,加熱器中的至少一個(gè)加熱器安置在殼體外部,并且加熱器中的至少一個(gè)加熱器在殼體內(nèi)部安置在樣品上。

      12、此外,優(yōu)選地,殼體包括多個(gè)絕熱層,其中,絕熱層沿著殼體的長(zhǎng)度等距地間隔安置,并且絕熱層中的每個(gè)絕熱層包括供樣品從中穿過(guò)的通孔。

      13、優(yōu)選地,該裝置還包括隔離箱,該隔離箱罩住測(cè)試模塊并將一個(gè)或多個(gè)測(cè)試模塊與被熱控制的室壁隔離。

      14、根據(jù)優(yōu)選的實(shí)施方式,溫度傳感器是熱電偶。

      15、此外,用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置包括絕熱件,該絕熱件用于將對(duì)樣品進(jìn)行加熱的加熱器與殼體的其余部分隔離。

      16、根據(jù)本發(fā)明的裝置使得能夠在高真空下、在寬范圍的溫度下、尤其是在低溫溫度下對(duì)各種樣品進(jìn)行傳導(dǎo)率測(cè)試,因?yàn)榭梢岳美绲獨(dú)?-196℃)、氫氣(-253℃)和氦氣(-269℃)來(lái)冷卻裝置的基部。

      17、特別地,根據(jù)本發(fā)明的裝置提供以下優(yōu)點(diǎn):

      18、-由于防護(hù)件內(nèi)部的隔離,因此在測(cè)試室內(nèi)部不會(huì)產(chǎn)生污物,而不是會(huì)產(chǎn)生污染性顆粒;

      19、-由于多個(gè)水平隔離層和防護(hù)溫度的控制,因此沿著樣品的熱損失受到限制;

      20、-它允許測(cè)量相當(dāng)?shù)偷膫鲗?dǎo)率,例如,在低溫溫度下測(cè)量絕熱材料的傳導(dǎo)率(0.3w/m-k);

      21、-它易于重復(fù)使用,因?yàn)槟K基部可以適應(yīng)一系列的樣品寬度、樣品厚度和樣品高度,并且所有隔離部件都是可拆卸且可重復(fù)使用的;

      22、-由于測(cè)試室中簡(jiǎn)單的空間,因此它允許一次測(cè)試多個(gè)樣品。



      技術(shù)特征:

      1.一種用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置,其特征在于,所述裝置包括:

      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置,其中,所述裝置還包括室基板(1),在所述室基板(1)上安置有一個(gè)或更多個(gè)所述測(cè)試模塊(2)。

      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置,其中,所述冷卻回路(3)連接到所述室基板(1)。

      4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中的任一項(xiàng)所述的用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置,其中,所述裝置包括多于兩個(gè)的加熱器(9),所述多于兩個(gè)的加熱器(9)中的至少一個(gè)加熱器安置在所述殼體(4)外部,并且所述多于兩個(gè)的加熱器(9)中的至少一個(gè)加熱器安置在所述殼體(4)內(nèi)部。

      5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中的任一項(xiàng)所述的用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置,其中,所述殼體(4)包括多個(gè)絕熱層(6)。

      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置,其中,所述絕熱層(6)沿著所述殼體(4)的長(zhǎng)度等距地間隔安置。

      7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置,其中,所述絕熱層(6)中的每個(gè)絕熱層包括供所述樣品(5)從中穿過(guò)的通孔。

      8.根據(jù)權(quán)利要求2至7中的任一項(xiàng)所述的用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置,其中,所述裝置包括將所述測(cè)試模塊(2)和所述室基板(1)罩住的隔離箱(7)。

      9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置,其中,一個(gè)或更多個(gè)所述溫度傳感器(8)是熱電偶。

      10.根據(jù)權(quán)利要求1至9中的任一項(xiàng)所述的用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置,其中,對(duì)所述樣品(5)進(jìn)行加熱的所述加熱器(9)通過(guò)絕熱件(11)與所述殼體(4)的其余部分隔離。


      技術(shù)總結(jié)
      本發(fā)明涉及一種用于測(cè)量樣品的熱傳導(dǎo)率的裝置,其包括:一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試模塊(2),測(cè)試模塊或每個(gè)測(cè)試模塊(2)包括殼體(4)和用于樣品(5)的模塊基部(12);冷卻回路(3),冷卻回路用于使一個(gè)或更多個(gè)測(cè)試模塊(2)冷卻;多個(gè)加熱器(9),多個(gè)加熱器對(duì)樣品(5)和殼體(4)進(jìn)行加熱;多個(gè)溫度傳感器(8),多個(gè)溫度傳感器測(cè)量一個(gè)或多個(gè)樣品(5)和一個(gè)或多個(gè)殼體(4)的溫度;以及控制器件(10),控制器件接收供給加熱器(9)的功率和由溫度傳感器(8)測(cè)量的溫度,以用于測(cè)量一個(gè)或多個(gè)樣品(5)的熱傳導(dǎo)率。該裝置允許在高真空下、在寬范圍的溫度下、尤其是在低溫條件下對(duì)各種樣品開(kāi)展傳導(dǎo)率測(cè)試。

      技術(shù)研發(fā)人員:哈維爾·托拉爾瓦茲奎茲,杰西·哈維爾·瓦茲奎茲卡斯特羅,韋羅妮卡·巴爾塞洛卡斯特略,伊莎貝爾·佩雷斯格蘭德,伊格納西奧·托拉爾沃希梅諾,哈維爾·皮克拉斯卡雷諾,朱安·米格爾·岡薩雷斯赫雷羅,托馬斯·萊卡萊克
      受保護(hù)的技術(shù)使用者:空中客車(chē)西班牙運(yùn)營(yíng)有限責(zé)任公司
      技術(shù)研發(fā)日:
      技術(shù)公布日:2024/11/11
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