本技術(shù)涉及介電性能測(cè)試，具體而言，涉及一種材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

1、微波材料通常按照損耗的區(qū)分可以劃分為高損耗、中等損耗和低損耗三類(lèi)材料，它們?cè)诤娇蘸教斓阮I(lǐng)域具有重要應(yīng)用。其中，高損耗的吸波材料是一種能夠?qū)ξ⒉ㄟM(jìn)行高強(qiáng)度衰減的材料，評(píng)價(jià)這類(lèi)材料的性能效果，需要充分掌握其介電性能。經(jīng)發(fā)明人研究發(fā)現(xiàn)，高損耗吸波材料在航空航天領(lǐng)域等環(huán)境進(jìn)行應(yīng)用時(shí)，面臨著復(fù)雜的工作環(huán)境，如壓力、溫度會(huì)發(fā)生變化等。因此，需要提高一種能夠?qū)Σ牧系慕殡娦阅苓M(jìn)行可靠測(cè)試的方案。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本技術(shù)的目的在于提供一種材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)及方法，以改善現(xiàn)有技術(shù)中存在的難以對(duì)材料的介電性能進(jìn)行可靠測(cè)試的問(wèn)題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本技術(shù)實(shí)施例采用如下技術(shù)方案：

3、一種材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)，包括：

4、測(cè)試夾具，其中，所述測(cè)試夾具包括軟波導(dǎo)、漸變波導(dǎo)和熔融石英，所述漸變波導(dǎo)與所述軟波導(dǎo)配合設(shè)置，以通過(guò)位于所述漸變波導(dǎo)內(nèi)的所述熔融石英，對(duì)位于所述軟波導(dǎo)內(nèi)的待測(cè)材料加壓；

5、加熱裝置，其中，所述加熱裝置包括加熱線圈，所述加熱線圈與所述軟波導(dǎo)配合設(shè)置，以對(duì)位于所述軟波導(dǎo)內(nèi)的待測(cè)材料加熱；

6、壓力發(fā)生裝置，其中，所述壓力發(fā)生裝置包括加壓器，所述加壓器與所述測(cè)試夾具配合設(shè)置，以向所述測(cè)試夾具包括的所述熔融石英提供壓力，使得所述熔融石英對(duì)所述待測(cè)材料加壓；

7、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，其中，所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀用于對(duì)處于至少一種壓力和至少一種溫度下的待測(cè)材料進(jìn)行介電性能分析處理，得到所述待測(cè)材料具有的介電性能參數(shù)。

8、在本技術(shù)實(shí)施例較佳的選擇中，在上述材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)中，所述測(cè)試夾具還包括：

9、隔熱波導(dǎo)，其中，所述隔熱波導(dǎo)位于所述漸變波導(dǎo)遠(yuǎn)離所述軟波導(dǎo)的一側(cè)，且所述漸變波導(dǎo)靠近所述隔熱波導(dǎo)的一側(cè)的尺寸，小于所述漸變波導(dǎo)靠近所述軟波導(dǎo)的一側(cè)的尺寸；

10、水冷波導(dǎo)，其中，所述水冷波導(dǎo)位于所述隔熱波導(dǎo)遠(yuǎn)離所述漸變波導(dǎo)的一側(cè)，且所述水冷波導(dǎo)的內(nèi)部具有用于水循環(huán)路徑；

11、常溫波導(dǎo)，其中，所述常溫波導(dǎo)位于所述水冷波導(dǎo)遠(yuǎn)離所述隔熱波導(dǎo)的一側(cè)，且所述常溫波導(dǎo)上設(shè)置有探針，所述探針與所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀電連接，使得所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀能夠通過(guò)所述探針，對(duì)所述待測(cè)材料進(jìn)行介電性能分析處理，得到所述待測(cè)材料具有的介電性能參數(shù)。

12、在本技術(shù)實(shí)施例較佳的選擇中，在上述材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)中，所述漸變波導(dǎo)包括第一漸變波導(dǎo)和第二漸變波導(dǎo)，其中，所述第一漸變波導(dǎo)和所述第二漸變波導(dǎo)分別位于所述軟波導(dǎo)的兩側(cè)；

13、所述熔融石英包括第一熔融石英和第二熔融石英，其中，所述第一熔融石英位于所述第一漸變波導(dǎo)的內(nèi)部，所述第二熔融石英位于所述第二漸變波導(dǎo)的內(nèi)部；

14、所述隔熱波導(dǎo)包括第一隔熱波導(dǎo)和第二隔熱波導(dǎo)，其中，所述第一隔熱波導(dǎo)位于所述第一漸變波導(dǎo)遠(yuǎn)離所述軟波導(dǎo)的一側(cè)，所述第二隔熱波導(dǎo)位于所述第二漸變波導(dǎo)遠(yuǎn)離所述軟波導(dǎo)的一側(cè)；

15、所述水冷波導(dǎo)包括第一水冷波導(dǎo)和第二水冷波導(dǎo)，其中，所述第一水冷波導(dǎo)位于所述第一隔熱波導(dǎo)遠(yuǎn)離所述第一漸變波導(dǎo)的一側(cè)，所述第二水冷波導(dǎo)位于所述第二隔熱波導(dǎo)遠(yuǎn)離所述第二漸變波導(dǎo)的一側(cè)，且所述第一水冷波導(dǎo)和所述第二水冷波導(dǎo)中的水循環(huán)路徑分別與水冷箱連通；

16、所述常溫波導(dǎo)包括第一常溫波導(dǎo)和第二常溫波導(dǎo)，其中，所述第一常溫波導(dǎo)位于所述第一水冷波導(dǎo)遠(yuǎn)離所述第一隔熱波導(dǎo)的一側(cè)，所述第二常溫波導(dǎo)位于所述第二水冷波導(dǎo)遠(yuǎn)離所述第二隔熱波導(dǎo)的一側(cè)；

17、所述探針包括第一探針和第二探針，其中，所述第一探針設(shè)置于所述第一常溫波導(dǎo)，所述第二探針設(shè)置于所述第二常溫波導(dǎo)，且所述第一探針和所述第二探針?lè)謩e與所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀電連接。

18、在本技術(shù)實(shí)施例較佳的選擇中，在上述材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)中，所述第一漸變波導(dǎo)上平行于第一接觸面的每一個(gè)第一截面至少包括連接的第一邊和第二邊，在從所述第一隔熱波導(dǎo)到所述軟波導(dǎo)的方向上，每一個(gè)第一截面的第一邊的長(zhǎng)度逐漸增大，每一個(gè)第一截面的第二邊的長(zhǎng)度保持不變，其中，所述第一接觸面為所述第一漸變波導(dǎo)與所述第一隔熱波導(dǎo)的接觸面；

19、并且，所述第二漸變波導(dǎo)上平行于第二接觸面的每一個(gè)第二截面至少包括連接的第三邊和第四邊，在從所述第二隔熱波導(dǎo)到所述軟波導(dǎo)的方向上，每一個(gè)第二截面的第三邊的長(zhǎng)度逐漸增大，每一個(gè)第二截面的第四邊的長(zhǎng)度保持不變，其中，所述第二接觸面為所述第二漸變波導(dǎo)與所述第二隔熱波導(dǎo)的接觸面。

20、在本技術(shù)實(shí)施例較佳的選擇中，在上述材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)中，所述第一熔融石英屬于高溫熔融石英，且所述第一熔融石英填充滿所述第一漸變波導(dǎo)的內(nèi)部空間；所述第二熔融石英屬于高溫熔融石英，且所述第二熔融石英填充滿所述第二漸變波導(dǎo)的內(nèi)部空間。

21、在本技術(shù)實(shí)施例較佳的選擇中，在上述材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)中，所述第一隔熱波導(dǎo)和/或所述第二隔熱波導(dǎo)的外表面具有鋸齒狀結(jié)構(gòu)。

22、在本技術(shù)實(shí)施例較佳的選擇中，在上述材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)中，所述加熱線圈環(huán)繞于所述軟波導(dǎo)。

23、在本技術(shù)實(shí)施例較佳的選擇中，在上述材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)中，所述加熱裝置還包括：

24、溫度傳感器，其中，所述溫度傳感器設(shè)置于所述軟波導(dǎo)所在的位置；

25、溫度顯示器，其中，所述溫度顯示器與所述溫度傳感器電連接，用于對(duì)所述溫度傳感器采集到的溫度參數(shù)進(jìn)行顯示；

26、溫控器，其中，所述溫控器與所述加熱線圈電連接，用于響應(yīng)于測(cè)試用戶基于所述溫度顯示器顯示的溫度參數(shù)進(jìn)行的溫度調(diào)節(jié)操作，對(duì)所述加熱線圈的加熱功率進(jìn)行調(diào)節(jié)，以控制所述軟波導(dǎo)內(nèi)部的待測(cè)材料的溫度。

27、在本技術(shù)實(shí)施例較佳的選擇中，在上述材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)中，所述壓力發(fā)生裝置還包括：

28、壓力傳感器，其中，所述壓力傳感器與所述測(cè)試夾具配合設(shè)置，用于對(duì)所述測(cè)試夾具的內(nèi)部壓力進(jìn)行壓力檢測(cè)得到相應(yīng)的壓力參數(shù)，所述壓力參數(shù)至少用于反映所述軟波導(dǎo)內(nèi)的待測(cè)材料的壓力；

29、壓力顯示器，其中，所述壓力顯示器與所述壓力傳感器電連接，用于對(duì)所述壓力傳感器檢測(cè)得到的壓力參數(shù)進(jìn)行顯示，且所述加壓器用于響應(yīng)于測(cè)試人員基于所述壓力顯示器顯示的壓力參數(shù)進(jìn)行的壓力調(diào)節(jié)操作，對(duì)所述測(cè)試夾具包括的所述熔融石英進(jìn)行壓力控制。

30、本技術(shù)實(shí)施例還提供了一種材料介電性能測(cè)試方法，所述材料介電性能測(cè)試方法應(yīng)用于上述的材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)，其中，所述材料介電性能測(cè)試方法包括：

31、將待測(cè)材料放置于所述材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)包括的軟波導(dǎo)中；

32、通過(guò)所述材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)包括的加熱裝置和壓力發(fā)生裝置，控制所述待測(cè)材料處于第一溫度和第一壓力下；

33、通過(guò)所述材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)包括的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，對(duì)處于所述第一溫度和所述第一壓力下的待測(cè)材料進(jìn)行介電性能分析處理，得到所述待測(cè)材料具有的第一介電性能參數(shù)；

34、通過(guò)所述加熱裝置和所述壓力發(fā)生裝置，控制所述待測(cè)材料處于第二溫度和第二壓力下；

35、通過(guò)所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，對(duì)處于所述第二溫度和所述第二壓力下的待測(cè)材料進(jìn)行介電性能分析處理，得到所述待測(cè)材料具有的第二介電性能參數(shù)，其中，所述第一溫度和所述第一壓力與所述第二溫度和所述第二壓力之間至少有一個(gè)參數(shù)不同。

36、本技術(shù)提供的材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)及方法，其中，材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)包括：測(cè)試夾具，測(cè)試夾具包括軟波導(dǎo)、漸變波導(dǎo)和熔融石英，漸變波導(dǎo)與軟波導(dǎo)配合設(shè)置，以通過(guò)位于漸變波導(dǎo)內(nèi)的熔融石英，對(duì)位于軟波導(dǎo)內(nèi)的待測(cè)材料加壓；加熱裝置，加熱裝置包括加熱線圈，以對(duì)位于軟波導(dǎo)內(nèi)的待測(cè)材料加熱；壓力發(fā)生裝置，壓力發(fā)生裝置包括加壓器，以向測(cè)試夾具包括的熔融石英提供壓力，使得熔融石英對(duì)待測(cè)材料加壓；矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀用于待測(cè)材料進(jìn)行介電性能分析處理?；谏鲜鰞?nèi)容，由于測(cè)試夾具包括軟波導(dǎo)、漸變波導(dǎo)和熔融石英，使得加熱裝置和壓力發(fā)生裝置能夠通過(guò)軟波導(dǎo)、漸變波導(dǎo)和熔融石英更為可靠地對(duì)待測(cè)材料進(jìn)行溫度和壓力的控制，因此，在通過(guò)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀對(duì)相應(yīng)的溫度和壓力的材料的介電性能進(jìn)行分析處理時(shí)，可以得到相應(yīng)溫度和壓力下較為可靠的介電性能參數(shù)，從而改善現(xiàn)有技術(shù)中存在的難以對(duì)材料的介電性能進(jìn)行可靠測(cè)試的問(wèn)題。