本發(fā)明涉及電磁散射，特別涉及一種箔條團(tuán)的電磁散射測試方法及測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、箔條是使用最早、應(yīng)用最廣泛的無源干擾之一，可形成干擾走廊、干擾屏幕，能夠完成干擾敵方雷達(dá)偵察、跟蹤目標(biāo)能力任務(wù)。箔條團(tuán)目標(biāo)外場動態(tài)測試獲取rcs(雷達(dá)散射截面)時(shí)間序列，評估箔條散射效果，研究提升箔條彈性能。

2、相關(guān)技術(shù)中，箔條團(tuán)目標(biāo)測量一般采用暗室測量和外場測量，暗室測量通過懸掛箔條云模型進(jìn)行測量，外場測量通過箔條彈靜態(tài)懸掛起爆或動態(tài)拋射進(jìn)行測量，獲取箔條的電磁散射特性。其中，外場測量為了防止場內(nèi)的非目標(biāo)產(chǎn)生較大干擾波，往往在選擇外場場地時(shí)，選擇極為空曠的場地。但是，空曠的場地較少，難以滿足目前的測試需求。

3、因此，針對上述不足，急需一種在近距離測試箔條團(tuán)的電磁散射特性的測試方法和測試系統(tǒng)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明實(shí)施例提供了一種箔條團(tuán)的電磁散射測試方法及測試系統(tǒng)，能夠在近距離內(nèi)測試箔條團(tuán)的電磁散射特性。

2、第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種箔條團(tuán)的電磁散射測試方法，包括：

3、朝向箔條團(tuán)發(fā)射電磁波，并接收回波信號；

4、將每個(gè)時(shí)刻的回波信號做傅里葉變換，得到一維距離像；

5、將所述一維距離像按時(shí)間組合，得到一維距離像歷程圖；

6、根據(jù)所述一維距離像歷程圖，將低頻信息去除，得到目標(biāo)箔條團(tuán)的電磁散射特性數(shù)據(jù)。

7、在一種可能的設(shè)計(jì)中，所述將每個(gè)時(shí)刻的回波信號做傅里葉變換，得到一維距離像，包括：

8、確定雷達(dá)波發(fā)射信號；

9、采集距離雷達(dá)波發(fā)射端不同位置處的回波信號；

10、將距離雷達(dá)發(fā)射端0處的回波作為參考信號，利用參考信號和回波信號混頻，得到中頻回波信號；

11、去除所述中頻回波信號的基帶信號和第二相殘余視頻相位，得到簡化信號；

12、對距離雷達(dá)發(fā)射端不同位置處的散射中心的所述簡化信號求和，構(gòu)成的待變換信號；

13、通過對所述待變換信號進(jìn)行傅里葉變換，得到一維距離像歷程圖。

14、在一種可能的設(shè)計(jì)中，所述雷達(dá)波發(fā)射信號如下：

15、

16、其中，a0為發(fā)射信號幅度，fc為參考信號，k為調(diào)頻率，為脈內(nèi)時(shí)間。

17、在一種可能的設(shè)計(jì)中，距離雷達(dá)波發(fā)射端不同位置處的回波信號如下：

18、

19、所述中頻回波信號如下：

20、

21、其中，a為回波信號幅度，fc為參考信號，k為調(diào)頻率，為脈內(nèi)時(shí)間，r為距離。

22、在一種可能的設(shè)計(jì)中，所述簡化信號如下：

23、

24、其中，a為回波信號幅度，fc為參考信號，k為調(diào)頻率，為脈內(nèi)時(shí)間，r為距離。

25、在一種可能的設(shè)計(jì)中，所述待變換信號如下：

26、

27、其中，a為回波信號幅度，fc為參考信號，k為調(diào)頻率，為脈內(nèi)時(shí)間，r為距離，n為簡化信號的數(shù)量，i為簡化信號的標(biāo)號。

28、在一種可能的設(shè)計(jì)中，所述對距離雷達(dá)發(fā)射端不同位置處的散射中心的所述簡化信號求和，包括：

29、按照預(yù)設(shè)間隔采集不同位置的散射中心的所述簡化信號，進(jìn)行求和；

30、所述預(yù)設(shè)間隔如下：

31、

32、其中，c是光速，fs是雷達(dá)接收機(jī)采樣率，k是調(diào)頻率，n是采樣點(diǎn)數(shù)。

33、在一種可能的設(shè)計(jì)中，在所述將每個(gè)時(shí)刻的回波信號做傅里葉變換，得到一維距離像之前，還包括：

34、進(jìn)行測試系統(tǒng)標(biāo)定，得到系統(tǒng)標(biāo)定信息；

35、在將所述一維距離像按時(shí)間組合，得到一維距離像歷程圖之后和在所述根據(jù)所述一維距離像歷程圖，將低頻信息去除，得到目標(biāo)箔條團(tuán)的電磁散射特性數(shù)據(jù)之前，還包括：

36、根據(jù)所述系統(tǒng)標(biāo)定信息標(biāo)定所述一維距離像歷程圖；

37、所述測試系統(tǒng)標(biāo)定的標(biāo)定公式為：

38、

39、其中，σt是目標(biāo)散射量值，pt是目標(biāo)回波功率值，pc是定標(biāo)體回波功率值，rt是目標(biāo)測試距離，rc是定標(biāo)體測試距離，σc是定標(biāo)體散射理論值。

40、在一種可能的設(shè)計(jì)中，所述根據(jù)所述一維距離像歷程圖，將低頻信息去除，得到目標(biāo)箔條團(tuán)的電磁散射特性數(shù)據(jù)，包括：

41、利用滑窗均值濾波方法對所述一維距離像歷程圖進(jìn)行濾波處理，去除雜波；

42、將所述一維距離像歷程圖在距離上取最大值，得到目標(biāo)箔條團(tuán)的rcs關(guān)于時(shí)間的變化曲線。

43、第二方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種箔條團(tuán)的電磁散射測試系統(tǒng)，用于實(shí)現(xiàn)上述中任一所述的測試方法，所述測試系統(tǒng)包括：

44、射頻收發(fā)裝置，設(shè)置于上風(fēng)向，用于發(fā)射和接收電磁波；

45、投放裝置，設(shè)置于下風(fēng)向，用于投放箔條團(tuán)；

46、數(shù)據(jù)處理裝置，用于完成所述測試方法中的數(shù)據(jù)處理。

47、本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比至少具有如下有益效果：

48、由于箔條是一種rcs散射特性隨時(shí)間變化劇烈的目標(biāo)，主要散射能量的頻率在50hz以上，而雜波隨時(shí)間變化交為緩慢，主要散射能量頻率在2hz以下(依測試場地環(huán)境不同)，故可以基于目標(biāo)與雜波的時(shí)間頻率差異，濾除低頻信息，完成低頻雜波抑制，提升測試精度。

技術(shù)特征：

1.一種箔條團(tuán)的電磁散射測試方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述將每個(gè)時(shí)刻的回波信號做傅里葉變換，得到一維距離像，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述雷達(dá)波發(fā)射信號如下：

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試方法，其特征在于，距離雷達(dá)波發(fā)射端不同位置處的回波信號如下：

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述簡化信號如下：

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述待變換信號如下：

7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述對距離雷達(dá)發(fā)射端不同位置處的散射中心的所述簡化信號求和，包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，在所述將每個(gè)時(shí)刻的回波信號做傅里葉變換，得到一維距離像之前，還包括：

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述一維距離像歷程圖，將低頻信息去除，得到目標(biāo)箔條團(tuán)的電磁散射特性數(shù)據(jù)，包括：

10.一種箔條團(tuán)的電磁散射測試系統(tǒng)，其特征在于，用于實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1-9中任一所述的測試方法，所述測試系統(tǒng)包括：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及電磁散射技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種箔條團(tuán)的電磁散射測試方法及測試系統(tǒng)。本發(fā)明實(shí)施例提供一種箔條團(tuán)的電磁散射測試方法，包括：朝向箔條團(tuán)發(fā)射電磁波，并接收回波信號；將每個(gè)時(shí)刻的回波信號做傅里葉變換，得到一維距離像；將所述一維距離像按時(shí)間組合，得到一維距離像歷程圖；根據(jù)所述一維距離像歷程圖，將低頻信息去除，得到目標(biāo)箔條團(tuán)的電磁散射特性數(shù)據(jù)。本發(fā)明實(shí)施例提供了一種箔條團(tuán)的電磁散射測試方法及測試系統(tǒng)，能夠在近距離內(nèi)測試箔條團(tuán)的電磁散射特性。

技術(shù)研發(fā)人員：任群亭,趙劍光,武自衛(wèi),張幸運(yùn),胡雨佳,候浩浩,王鐵興,李常志,呂鳴,白楊
受保護(hù)的技術(shù)使用者：北京環(huán)境特性研究所
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/9/9