本發(fā)明涉及一種雷達(dá)發(fā)送器相位步長(zhǎng)和相位差的檢查方法、裝置和電路。

背景技術(shù)：

1、雷達(dá)用于檢測(cè)對(duì)象并提供關(guān)于所檢測(cè)對(duì)象的信息以用于廣泛多種應(yīng)用。例如，車輛可采用雷達(dá)系統(tǒng)以實(shí)現(xiàn)駕駛員輔助特征和自主駕駛能力。為了快速且準(zhǔn)確地檢測(cè)附近對(duì)象，采用下一代雷達(dá)系統(tǒng)，例如調(diào)頻持續(xù)波(fmcw)雷達(dá)。這些雷達(dá)系統(tǒng)有時(shí)利用具有多個(gè)發(fā)送器的收發(fā)器來實(shí)施雷達(dá)波束控制技術(shù)。在一些情況下，這些技術(shù)在不改變發(fā)送天線的物理配置的情況下實(shí)時(shí)修改每個(gè)發(fā)送器的相位，從而動(dòng)態(tài)地調(diào)適雷達(dá)發(fā)送波束方向圖(radartransmission?beam?pattern)。一般來說，波束控制技術(shù)的性能和準(zhǔn)確度取決于控制移相器設(shè)置每個(gè)發(fā)送器的相位的能力。在任何發(fā)送器處應(yīng)用的已編程相位的偏差將很可能降低雷達(dá)系統(tǒng)的性能和準(zhǔn)確度。為此，許多雷達(dá)系統(tǒng)包括內(nèi)置式自測(cè)試(bist)部件以監(jiān)測(cè)和確保其發(fā)送器和對(duì)應(yīng)移相器的準(zhǔn)確度和控制。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、各種示例實(shí)施例涉及雷達(dá)發(fā)送器bist技術(shù)。

2、在第一實(shí)施例中，一種方法包括將多發(fā)送器裝置中的第一發(fā)送器的第一相位設(shè)置為固定相位值并將多發(fā)送器裝置中的第二發(fā)送器的第二相位設(shè)置為初始相位值。所述方法還包括將所述第二發(fā)送器的所述第二相位從所述初始相位值變化到最終相位值并在每次變化時(shí)執(zhí)行樣本測(cè)量以獲得多個(gè)中間頻率(if)樣本。所述方法還包括將所述多個(gè)if樣本變換成復(fù)樣本并基于所述復(fù)樣本確定所述第二發(fā)送器的一個(gè)或多個(gè)相位步長(zhǎng)。

3、在第一實(shí)施例的一些方面，所述方法包括在每次變化時(shí)相對(duì)于所述第一相位執(zhí)行所述樣本測(cè)量。在第一實(shí)施例的一些方面，在每次變化時(shí)相對(duì)于所述第一相位執(zhí)行所述樣本測(cè)量以獲得所述多個(gè)if樣本包括將來自所述第一發(fā)送器的信號(hào)與來自所述第二發(fā)送器的信號(hào)混頻以及執(zhí)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換以獲得所述多個(gè)if樣本。

4、在第一實(shí)施例的一些方面，所述方法包括基于所述復(fù)樣本確定所述第一發(fā)送器與所述第二發(fā)送器之間的相位差。

5、在第一實(shí)施例的一些方面，將所述多個(gè)if樣本變換成復(fù)樣本包括將希爾伯特變換(hilbert?transform)應(yīng)用于所述多個(gè)if樣本。在第一實(shí)施例的一些方面，確定所述第二發(fā)送器的一個(gè)或多個(gè)相位步長(zhǎng)包括計(jì)算希爾伯特變換的所得乘積的反正切以標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)于所述多個(gè)if樣本中的每一者的相位。在第一實(shí)施例的一些方面，確定第二發(fā)送器的所述一個(gè)或多個(gè)相位步長(zhǎng)包括計(jì)算對(duì)應(yīng)于所述多個(gè)if樣本中的每一者的每個(gè)所標(biāo)識(shí)相位之間的相對(duì)差。在第一實(shí)施例的一些方面，所述相對(duì)差是基于所執(zhí)行樣本測(cè)量的數(shù)目。

6、在第一實(shí)施例的一些方面，所述第二發(fā)送器的第二相位從初始相位值變化到最終相位值包括在每次變化之間將相位增加固定量。在第一實(shí)施例的一些方面，所述固定量在1°到約90°的范圍內(nèi)。

7、在第一實(shí)施例的一些方面，在雷達(dá)循環(huán)中在內(nèi)置式自測(cè)試(bist)時(shí)隙期間執(zhí)行所述方法。

8、在第二實(shí)施例中，一種裝置包括：包括第一相位旋轉(zhuǎn)器的第一發(fā)送器，以及包括第二相位旋轉(zhuǎn)器的第二發(fā)送器。所述裝置還包括混頻器，所述混頻器組合來自所述第一發(fā)送器和所述第二發(fā)送器的輸出。所述裝置還包括處理器，所述處理器用于將所述第一發(fā)送器的第一相位設(shè)置為固定相位值并將所述第二發(fā)送器的第二相位設(shè)置為初始相位值；將所述第二發(fā)送器的所述第二相位從所述初始相位值變化到最終相位值，并在每次變化時(shí)執(zhí)行樣本測(cè)量以獲得多個(gè)中間頻率(if)樣本；以及將所述多個(gè)if樣本變換成復(fù)樣本，并基于所述復(fù)樣本確定所述第二發(fā)送器的一個(gè)或多個(gè)相位步長(zhǎng)。

9、在第二實(shí)施例的一些方面，所述處理器用于在每次變化時(shí)相對(duì)于所述第一相位執(zhí)行所述樣本測(cè)量。

10、在第二實(shí)施例的一些方面，所述處理器用于基于所述復(fù)樣本確定所述第一發(fā)送器與所述第二發(fā)送器之間的相位差。

11、在第二實(shí)施例的一些方面，將所述多個(gè)if樣本變換成復(fù)樣本包括將希爾伯特變換應(yīng)用于所述多個(gè)if樣本。在第二實(shí)施例的一些方面，確定所述第二發(fā)送器的一個(gè)或多個(gè)相位步長(zhǎng)包括計(jì)算希爾伯特變換的所得乘積的反正切以標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)于所述多個(gè)if樣本中的每一者的相位。

12、在所述第二實(shí)施例的一些方面，其中確定所述第二發(fā)送器的所述一個(gè)或多個(gè)相位步長(zhǎng)包括計(jì)算對(duì)應(yīng)于所述多個(gè)if樣本中的每一者的每個(gè)所標(biāo)識(shí)相位之間的相對(duì)差。

13、在第三實(shí)施例中，一種用于多發(fā)送器裝置的內(nèi)置安全測(cè)試(bist)電路包括bist電路，該bist電路用于：將所述多發(fā)送器裝置中的第一發(fā)送器的第一相位設(shè)置為固定相位值，并將所述多發(fā)送器裝置中的第二發(fā)送器的第二相位設(shè)置為初始相位值；將所述第二發(fā)送器的所述第二相位以遞增方式從所述初始相位值變化到最終相位值，并在每次遞增時(shí)執(zhí)行樣本測(cè)量以獲得多個(gè)中間頻率(if)樣本；以及將所述多個(gè)if樣本變換成復(fù)樣本，并基于所述復(fù)樣本確定所述第二發(fā)送器的一個(gè)或多個(gè)相位步長(zhǎng)。

14、在第三實(shí)施例的一些方面，所述bist電路還被配置成基于所述復(fù)樣本確定所述第一發(fā)送器與所述第二發(fā)送器之間的相位差。

15、在第三實(shí)施例的一些方面，將所述多個(gè)if樣本變換成復(fù)樣本包括將希爾伯特變換應(yīng)用于所述多個(gè)if樣本，并且確定第二發(fā)送器的一個(gè)或多個(gè)相位步長(zhǎng)包括計(jì)算所述希爾伯特變換的所得乘積的反正切，以標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)于所述多個(gè)if樣本中的每一者的相位。

技術(shù)特征：

1.一種方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括在每次變化時(shí)相對(duì)于所述第一相位執(zhí)行所述樣本測(cè)量。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，在每次變化時(shí)相對(duì)于所述第一相位執(zhí)行所述樣本測(cè)量以獲得所述多個(gè)if樣本包括：將來自所述第一發(fā)送器的信號(hào)與來自所述第二發(fā)送器的信號(hào)混頻以及執(zhí)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換以獲得所述多個(gè)if樣本。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，將所述多個(gè)if樣本變換成復(fù)樣本包括：將希爾伯特變換應(yīng)用于所述多個(gè)if樣本。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，確定所述第二發(fā)送器的所述一個(gè)或多個(gè)相位步長(zhǎng)包括：計(jì)算所述希爾伯特變換的所得乘積的反正切以標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)于所述多個(gè)if樣本中的每一者的相位。

6.一種裝置，其特征在于，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述處理器用于在每次變化時(shí)相對(duì)于所述第一相位執(zhí)行所述樣本測(cè)量。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，將所述多個(gè)if樣本變換成復(fù)樣本包括：將希爾伯特變換應(yīng)用于所述多個(gè)if樣本。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，確定所述第二發(fā)送器的所述一個(gè)或多個(gè)相位步長(zhǎng)包括：計(jì)算所述希爾伯特變換的所得乘積的反正切以標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)于所述多個(gè)if樣本中的每一者的相位。

10.一種用于多發(fā)送器裝置的內(nèi)置安全性測(cè)試(bist)電路，其特征在于，所述bist電路用于：

技術(shù)總結(jié)
一種方法包括用于在進(jìn)行多發(fā)送器雷達(dá)裝置中的兩個(gè)發(fā)送器之間的相位差測(cè)量的同時(shí)標(biāo)識(shí)一個(gè)發(fā)送器的相位步長(zhǎng)的技術(shù)。所述方法包括：將所述多發(fā)送器裝置中的第一發(fā)送器的第一相位設(shè)置為固定相位值并將所述多發(fā)送器裝置中的第二發(fā)送器的第二相位設(shè)置為初始相位值；將所述第二發(fā)送器的所述第二相位從所述初始相位值變化為最終相位值并在每次變化時(shí)執(zhí)行樣本測(cè)量以獲得多個(gè)中間頻率(IF)樣本；以及將所述多個(gè)IF樣本變換成復(fù)樣本。所述方法隨后包括基于所述復(fù)樣本確定所述第二發(fā)送器的一個(gè)或多個(gè)相位步長(zhǎng)。

技術(shù)研發(fā)人員：扎赫蘭·哈吉,阿尤布·里法伊,蒂埃里·梅斯納德,弗洛朗·杰里米·亞歷克西斯·西里奇
受保護(hù)的技術(shù)使用者：恩智浦有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/19