本發(fā)明涉及電子元器件檢測，特別是涉及一種電子元器件檢測設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、如圖1所示，其為一種電子元器件10的結(jié)構(gòu)圖，在生產(chǎn)過程中，需要對電子元器件10進(jìn)行電氣性能參數(shù)進(jìn)行檢測，從而判斷當(dāng)前的電子元器件10是否合格。

2、如圖2所示，其為圖1所示的電子元器件10的底部結(jié)構(gòu)圖，電子元器件10的底部設(shè)有焊盤11，在檢測過程中，測試針會(huì)與焊盤11接觸從而實(shí)現(xiàn)對電子元器件10電氣性能參數(shù)的檢測。

3、在電子元器件10設(shè)計(jì)的過程中，考慮到終端產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)形態(tài)不一(例如具有左右結(jié)構(gòu)區(qū)分的產(chǎn)品)，焊盤11可能會(huì)設(shè)置在電子元器件10底部左側(cè)，也可能會(huì)設(shè)置在電子元器件10底部右側(cè)，從而方便人員選擇合適的電子元器件10以組裝到終端產(chǎn)品上。

4、在自動(dòng)化檢測設(shè)備的開發(fā)過程中，針對此類電子元器件10，需要考慮兼容性的問題。當(dāng)對不同型號(hào)的電子元器件10進(jìn)行檢測時(shí)，傳統(tǒng)的做法是重新更換不同的治具以及調(diào)整測試針的位置，這樣費(fèi)時(shí)費(fèi)力，效果不佳。

5、為此，針對上述問題，如何設(shè)計(jì)開發(fā)一種電子元器件檢測設(shè)備，針對不同型號(hào)的電子元器件10，無需更換治具，也無需調(diào)整測試針的位置，便可以快速實(shí)現(xiàn)檢測的轉(zhuǎn)換調(diào)整，這是需要解決的技術(shù)問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足之處，提供一種電子元器件檢測設(shè)備，針對不同型號(hào)的電子元器件，無需更換治具，也無需調(diào)整測試針的位置，便可以快速實(shí)現(xiàn)檢測的轉(zhuǎn)換調(diào)整。

2、本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的：

3、一種電子元器件檢測設(shè)備，包括：轉(zhuǎn)盤、若干治具、性能檢測裝置、位置調(diào)整驅(qū)動(dòng)裝置；

4、若干所述治具呈環(huán)形陣列分布于所述轉(zhuǎn)盤的邊緣，所述性能檢測裝置位于所述轉(zhuǎn)盤的底部，所述位置調(diào)整驅(qū)動(dòng)裝置位于所述轉(zhuǎn)盤的側(cè)部；

5、所述性能檢測裝置包括檢測氣缸及設(shè)于所述檢測氣缸伸縮端的測試針腳，所述檢測氣缸驅(qū)動(dòng)所述測試針腳升降運(yùn)動(dòng)；

6、所述位置調(diào)整驅(qū)動(dòng)裝置包括調(diào)整氣缸及設(shè)于所述調(diào)整氣缸伸縮端的調(diào)整桿體，所述調(diào)整氣缸驅(qū)動(dòng)所述調(diào)整桿體平移運(yùn)動(dòng)。

7、在其中一個(gè)實(shí)施例中，

8、所述治具包括：基座、平移承載件、位置調(diào)整組件；所述基座固定于所述轉(zhuǎn)盤的端面上，所述平移承載件可活動(dòng)地設(shè)于所述基座上，所述位置調(diào)整組件用于驅(qū)動(dòng)所述平移承載件沿水平面方向直線往復(fù)移動(dòng)。

9、在其中一個(gè)實(shí)施例中，

10、所述位置調(diào)整組件包括：驅(qū)動(dòng)部、左側(cè)調(diào)整部、右側(cè)調(diào)整部；所述左側(cè)調(diào)整部和所述右側(cè)調(diào)整部分別位于所述平移承載件的兩端；

11、所述左側(cè)調(diào)整部包括：左側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)座、左側(cè)固定柱、左側(cè)活動(dòng)柱；所述左側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)座轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)于所述基座上，所述左側(cè)固定柱固定于所述左側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)座上，所述左側(cè)活動(dòng)柱活動(dòng)設(shè)于所述左側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)座上，所述左側(cè)固定柱與所述左側(cè)活動(dòng)柱之間設(shè)有左側(cè)復(fù)位彈簧；

12、所述右側(cè)調(diào)整部包括：右側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)座、右側(cè)固定柱、右側(cè)活動(dòng)柱；所述右側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)座轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)于所述基座上，所述右側(cè)固定柱固定于所述右側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)座上，所述右側(cè)活動(dòng)柱活動(dòng)設(shè)于所述右側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)座上，所述右側(cè)固定柱與所述右側(cè)活動(dòng)柱之間設(shè)有右側(cè)復(fù)位彈簧；

13、所述平移承載件的兩端分別開設(shè)有左側(cè)限位槽和右側(cè)限位槽；

14、所述驅(qū)動(dòng)部用于驅(qū)動(dòng)所述左側(cè)調(diào)整部和所述右側(cè)調(diào)整部，以使得：所述左側(cè)固定柱抵持所述左側(cè)限位槽且所述右側(cè)活動(dòng)柱抵持所述右側(cè)限位槽，或者，所述左側(cè)活動(dòng)柱抵持所述左側(cè)限位槽且所述右側(cè)固定柱抵持所述右側(cè)限位槽。

15、在其中一個(gè)實(shí)施例中，

16、所述驅(qū)動(dòng)部包括：主觸桿、左擺臂、右擺臂；所述主觸桿通過彈性件活動(dòng)設(shè)所述基座上；所述左擺臂的一端轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)于所述基座上并與所述左側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)座齒輪嚙合，所述左擺臂的另一端樞接于所述主觸桿上；所述右擺臂的一端轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)于所述基座上并與所述右側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)座齒輪嚙合，所述右擺臂的另一端樞接于所述主觸桿上；

17、所述調(diào)整氣缸驅(qū)動(dòng)所述調(diào)整桿體平移運(yùn)動(dòng)，以使得所述調(diào)整桿體與所述主觸桿抵接或分離。

18、在其中一個(gè)實(shí)施例中，

19、所述基座上設(shè)有引導(dǎo)限位柱，所述平移承載件上開設(shè)有與所述引導(dǎo)限位柱配合的引導(dǎo)限位槽。

20、在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述平移承載件上設(shè)有定位柱。

21、本發(fā)明的一種電子元器件檢測設(shè)備，針對不同型號(hào)的電子元器件，無需更換治具，也無需調(diào)整測試針的位置，便可以快速實(shí)現(xiàn)檢測的轉(zhuǎn)換調(diào)整。

技術(shù)特征：

1.一種電子元器件檢測設(shè)備，其特征在于，包括：轉(zhuǎn)盤、若干治具、性能檢測裝置、位置調(diào)整驅(qū)動(dòng)裝置；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元器件檢測設(shè)備，其特征在于，

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子元器件檢測設(shè)備，其特征在于，

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子元器件檢測設(shè)備，其特征在于，

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子元器件檢測設(shè)備，其特征在于，

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子元器件檢測設(shè)備，其特征在于，所述平移承載件上設(shè)有定位柱。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開一種電子元器件檢測設(shè)備，包括：轉(zhuǎn)盤、若干治具、性能檢測裝置、位置調(diào)整驅(qū)動(dòng)裝置。若干所述治具呈環(huán)形陣列分布于所述轉(zhuǎn)盤的邊緣，所述性能檢測裝置位于所述轉(zhuǎn)盤的底部，所述位置調(diào)整驅(qū)動(dòng)裝置位于所述轉(zhuǎn)盤的側(cè)部；所述性能檢測裝置包括檢測氣缸及設(shè)于所述檢測氣缸伸縮端的測試針腳，所述檢測氣缸驅(qū)動(dòng)所述測試針腳升降運(yùn)動(dòng)；所述位置調(diào)整驅(qū)動(dòng)裝置包括調(diào)整氣缸及設(shè)于所述調(diào)整氣缸伸縮端的調(diào)整桿體，所述調(diào)整氣缸驅(qū)動(dòng)所述調(diào)整桿體平移運(yùn)動(dòng)。本發(fā)明的一種電子元器件檢測設(shè)備，針對不同型號(hào)的電子元器件，無需更換治具，也無需調(diào)整測試針的位置，便可以快速實(shí)現(xiàn)檢測的轉(zhuǎn)換調(diào)整。

技術(shù)研發(fā)人員：李智德,胡紫陽,嚴(yán)濤
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市業(yè)展電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/10/10