本申請涉及人工智能，具體而言，本申請涉及一種異常電芯的檢測方法、裝置、電子設(shè)備、計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)及計算機(jī)程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、在電池工藝流程中，短路測試（hipot測試）是電池生產(chǎn)線中檢測電池異常顆粒物、毛刺、隔膜破損的重要工序。短路測試主要在卷繞、熱壓、預(yù)焊、蝴蝶焊、入殼、一次注液等工序上進(jìn)行測試。

2、現(xiàn)有的短路測試主要是通過對電池施加高壓，如果電池的絕緣性足夠好，那么接觸電池的正負(fù)極之間較大的電壓差將僅會產(chǎn)生較小的電流流動；雖然這個微小的電流是可以接受的，但是對于電池本身來說都不應(yīng)該發(fā)生擊穿，因為短路測試始終是一項非破壞性測試。

3、因為短路測試是一項非破壞性測試，因此往往在參數(shù)的設(shè)置上比較保守，得到的掉落電壓合格的電芯中往往也存在一些實際短路測試不合格的，檢測精度較低。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本申請實施例提供了一種異常電芯的檢測方法、裝置、電子設(shè)備、計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)及計算機(jī)程序產(chǎn)品，可以解決現(xiàn)有技術(shù)的上述問題。所述技術(shù)方案如下：

2、根據(jù)本申請實施例的一個方面，提供了一種異常電芯的檢測方法，該方法包括：

3、獲取多個待測電芯的測試信息，每個測試信息為相應(yīng)待測電芯在多個工序下各自的參數(shù)集，每個參數(shù)集包括相應(yīng)工序的至少一個測試參數(shù)；

4、將多個待測電芯的測試數(shù)據(jù)輸入至預(yù)先訓(xùn)練的狀態(tài)預(yù)測模型，獲得所述狀態(tài)預(yù)測模型輸出的多個待測電芯的狀態(tài)序列，所述狀態(tài)序列包括所述待測電芯在每個工序下的第一隱狀態(tài)，每個第一隱狀態(tài)用于表征相應(yīng)待測電芯在相應(yīng)工序下是否異常；

5、將所述多個待測電芯各自的狀態(tài)序列，按照待測電芯的生產(chǎn)順序輸入至預(yù)先訓(xùn)練的異常檢測模型，獲得所述異常檢測模型輸出的所述多個待測電芯的檢測結(jié)果，所述檢測結(jié)果用于表示每個待測電芯是否異常；

6、其中，所述狀態(tài)預(yù)測模型是以樣本電芯的測試信息為訓(xùn)練樣本，以所述樣本電芯的狀態(tài)序列為訓(xùn)練標(biāo)簽，對隱馬爾可夫模型hmm模型進(jìn)行訓(xùn)練而成的；

7、所述異常檢測模型是以按照樣本電芯的生產(chǎn)順序排列的多個樣本電芯的狀態(tài)序列為訓(xùn)練樣本，以按照樣本電芯的生產(chǎn)順序排列的多個樣本電芯的檢測結(jié)果為訓(xùn)練標(biāo)簽，對相關(guān)性門控循環(huán)cgru模型進(jìn)行訓(xùn)練而成的。

8、根據(jù)本申請實施例的另一個方面，提供了一種異常電芯的檢測裝置，該裝置包括：

9、測試信息獲取模塊，用于獲取多個待測電芯的測試信息，每個測試信息為相應(yīng)待測電芯在多個工序下各自的參數(shù)集，每個參數(shù)集包括相應(yīng)工序的至少一個測試參數(shù)；

10、狀態(tài)序列預(yù)測模塊，用于將多個待測電芯的測試數(shù)據(jù)輸入至預(yù)先訓(xùn)練的狀態(tài)預(yù)測模型，獲得所述狀態(tài)預(yù)測模型輸出的多個待測電芯的狀態(tài)序列，所述狀態(tài)序列包括所述待測電芯在每個工序下的第一隱狀態(tài)，每個第一隱狀態(tài)用于表征相應(yīng)待測電芯在相應(yīng)工序下是否異常；

11、檢測模型輸出模塊，用于將所述多個待測電芯各自的狀態(tài)序列，按照待測電芯的生產(chǎn)順序輸入至預(yù)先訓(xùn)練的異常檢測模型，獲得所述異常檢測模型輸出的所述多個待測電芯的檢測結(jié)果，所述檢測結(jié)果用于表示每個待測電芯是否異常；

12、其中，所述狀態(tài)預(yù)測模型是以樣本電芯的測試信息為訓(xùn)練樣本，以所述樣本電芯的狀態(tài)序列為訓(xùn)練標(biāo)簽，對隱馬爾可夫模型hmm模型進(jìn)行訓(xùn)練而成的；

13、所述異常檢測模型是以按照樣本電芯的生產(chǎn)順序排列的多個樣本電芯的狀態(tài)序列為訓(xùn)練樣本，以按照樣本電芯的生產(chǎn)順序排列的多個樣本電芯的檢測結(jié)果為訓(xùn)練標(biāo)簽，對相關(guān)性門控循環(huán)cgru模型進(jìn)行訓(xùn)練而成的。

14、根據(jù)本申請實施例的另一個方面，提供了一種電子設(shè)備，該電子設(shè)備包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上的計算機(jī)程序，處理器執(zhí)行所述計算機(jī)程序以實現(xiàn)上述方法的步驟。

15、根據(jù)本申請實施例的再一個方面，提供了一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機(jī)程序，計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)上述方法的步驟。

16、根據(jù)本申請實施例的一個方面，提供了一種計算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計算機(jī)程序，計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)上述方法的步驟。

17、本申請實施例提供的技術(shù)方案帶來的有益效果是：

18、首先獲取多個待測電芯的測試信息，每個測試信息為相應(yīng)待測電芯在多個工序下各自的參數(shù)集，每個參數(shù)集包括相應(yīng)工序的至少一個測試參數(shù)，將多個待測電芯的測試數(shù)據(jù)輸入至預(yù)先訓(xùn)練的狀態(tài)預(yù)測模型，獲得所述狀態(tài)預(yù)測模型輸出的多個待測電芯的狀態(tài)序列，繼續(xù)將多個待測電芯各自的狀態(tài)序列作為異常檢測模型的輸入，由異常檢測模型學(xué)習(xí)多個待測電芯的狀態(tài)序列所構(gòu)成的時間序列內(nèi)的自相關(guān)性和不同特征之間的相關(guān)性，最終得到檢測結(jié)果對電芯進(jìn)行異常篩選，提高了檢測效率和檢測精度。

技術(shù)特征：

1.一種異常電芯的檢測方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述狀態(tài)預(yù)測模型通過以下方式訓(xùn)練：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述異常檢測模型通過以下方式訓(xùn)練：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述按照樣本電芯的生產(chǎn)順序排列的多個樣本電芯的狀態(tài)序列輸入cgru模型進(jìn)行時間序列分析和相關(guān)性分析，獲得各個樣本電芯的殘差特征、季節(jié)特征的第二隱狀態(tài)和趨勢特征的第二隱狀態(tài)，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述樣本電芯的狀態(tài)序列在本輪迭代的季節(jié)特征和上一個樣本電芯的狀態(tài)序列在本輪迭代的季節(jié)特征的第二隱狀態(tài)，獲得所述樣本電芯的狀態(tài)序列在本輪迭代的季節(jié)特征和上一個樣本電芯的狀態(tài)序列在本輪迭代的季節(jié)特征的第二隱狀態(tài)間的第一相關(guān)程度，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述樣本電芯的狀態(tài)序列在本輪迭代的趨勢特征和上一個樣本電芯的狀態(tài)序列在本輪迭代的趨勢特征的第二隱狀態(tài)，獲得所述樣本電芯的狀態(tài)序列在本輪迭代的趨勢特征和上一個樣本電芯的狀態(tài)序列在本輪迭代的季節(jié)特征的第二隱狀態(tài)間的第二相關(guān)程度，包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求1-7任意一項所述的方法，其特征在于，所述參數(shù)集中的測試參數(shù)是通過預(yù)設(shè)的得分函數(shù)對多種初始測試參數(shù)進(jìn)行評估后，篩選的評估分?jǐn)?shù)最高的至少一個初始測試參數(shù)。

9.一種異常電芯的檢測裝置，其特征在于，包括：

10.一種電子設(shè)備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上的計算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計算機(jī)程序以實現(xiàn)權(quán)利要求1-8任一項所述的異常電芯的檢測方法。

11.一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機(jī)程序，其特征在于，所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權(quán)利要求1-8任一項所述的異常電芯的檢測方法。

12.一種計算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計算機(jī)程序，其特征在于，所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權(quán)利要求1-8任一項所述的異常電芯的檢測方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請實施例提供了一種異常電芯的檢測方法、裝置、電子設(shè)備及計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，涉及人工智能領(lǐng)域。該方法包括：獲取多個待測電芯的測試信息，每個測試信息為相應(yīng)待測電芯在多個工序下各自的參數(shù)集，每個參數(shù)集包括相應(yīng)工序的至少一個測試參數(shù)；將多個待測電芯的測試數(shù)據(jù)輸入至預(yù)先訓(xùn)練的狀態(tài)預(yù)測模型，獲得狀態(tài)預(yù)測模型輸出的多個待測電芯的狀態(tài)序列；將多個待測電芯各自的狀態(tài)序列，按照待測電芯的生產(chǎn)順序輸入至預(yù)先訓(xùn)練的異常檢測模型，獲得異常檢測模型輸出的多個待測電芯的檢測結(jié)果。本申請實施例提高了檢測效率和檢測精度。

技術(shù)研發(fā)人員：陳然,徐嘉文,張宏鈺,吳重陽,吳靜
受保護(hù)的技術(shù)使用者：合肥國軒高科動力能源有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/10/10