本申請屬于電力設(shè)施，具體涉及一種基于電纜敷設(shè)環(huán)境的關(guān)注區(qū)域的絕緣層老化評估裝置、方法及設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、在電纜的敷設(shè)過程中，為了適應(yīng)多變的敷設(shè)環(huán)境，電纜常常需要進(jìn)行轉(zhuǎn)彎敷設(shè)。然而，轉(zhuǎn)彎敷設(shè)不可避免地會(huì)導(dǎo)致電纜結(jié)構(gòu)發(fā)生形變，從而產(chǎn)生應(yīng)力。所產(chǎn)生的應(yīng)力導(dǎo)致電纜轉(zhuǎn)彎區(qū)域的老化速度會(huì)大于正常區(qū)域的老化速度。

2、若是對電纜進(jìn)行整體的老化程度評估，并不能及時(shí)發(fā)現(xiàn)電纜的轉(zhuǎn)彎區(qū)域的老化程度異常。而且電纜的轉(zhuǎn)彎區(qū)域作為電纜的一部分，又無法獲取轉(zhuǎn)彎區(qū)域這一單獨(dú)部分的運(yùn)行數(shù)據(jù)，以評估電纜的轉(zhuǎn)彎區(qū)域的老化程度。因此，如何實(shí)現(xiàn)對電纜轉(zhuǎn)彎區(qū)域的老化程度的精準(zhǔn)評估是本領(lǐng)域人員亟需解決的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請實(shí)施例提供一種基于電纜敷設(shè)環(huán)境的關(guān)注區(qū)域的絕緣層老化評估裝置、方法及設(shè)備，目的在于確定關(guān)注區(qū)域相對于正常區(qū)域的老化情況，從而提高對于電纜各區(qū)域的老化速度的確定效率與準(zhǔn)確性。

2、第一方面，本申請實(shí)施例提供了一種基于電纜敷設(shè)環(huán)境的關(guān)注區(qū)域的絕緣層老化評估裝置，所述裝置包括：

3、電纜參數(shù)獲取模塊，用于獲取電纜的耐老化參數(shù)；其中，所述耐老化參數(shù)包括材料成分參數(shù)以及所述材料成分參數(shù)的含量參數(shù)；

4、關(guān)注區(qū)域特征獲取模塊，用于獲取電纜在關(guān)注區(qū)域內(nèi)的目標(biāo)特征提取結(jié)果；

5、老化分析模塊，用于將所述耐老化參數(shù)以及所述目標(biāo)特征提取結(jié)果輸入至預(yù)先構(gòu)建的老化分析模型，根據(jù)所述老化分析模型的輸出結(jié)果，確定所述關(guān)注區(qū)域的相對老化系數(shù)；其中，所述相對老化系數(shù)為所述關(guān)注區(qū)域的老化速度與正常區(qū)域的老化速度的比值；

6、告警模塊，用于根據(jù)所述相對老化系數(shù)確定所述關(guān)注區(qū)域的老化程度，并在所述老化程度達(dá)到預(yù)設(shè)老化程度閾值的情況下，生成老化告警信息。

7、第二方面，本申請實(shí)施例提供了一種基于電纜敷設(shè)環(huán)境的關(guān)注區(qū)域的絕緣層老化評估方法，所述方法包括：

8、通過電纜參數(shù)獲取模塊獲取電纜的耐老化參數(shù)；其中，所述耐老化參數(shù)包括材料成分參數(shù)以及所述材料成分參數(shù)的含量參數(shù)；

9、通過關(guān)注區(qū)域特征獲取模塊獲取電纜在關(guān)注區(qū)域內(nèi)的目標(biāo)特征提取結(jié)果；

10、通過老化分析模塊將所述耐老化參數(shù)以及所述轉(zhuǎn)彎半徑輸入至預(yù)先構(gòu)建的老化分析模型，根據(jù)所述老化分析模型的輸出結(jié)果，確定所述關(guān)注區(qū)域的相對老化系數(shù)；其中，所述相對老化系數(shù)為所述關(guān)注區(qū)域的老化速度與正常區(qū)域的老化速度的比值；

11、通過告警模塊根據(jù)所述相對老化系數(shù)確定所述關(guān)注區(qū)域的老化程度，并在所述老化程度達(dá)到預(yù)設(shè)老化程度閾值的情況下，生成老化告警信息。

12、第三方面，本申請實(shí)施例提供了一種電子設(shè)備，該電子設(shè)備包括處理器、存儲(chǔ)器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的程序或指令，所述程序或指令被所述處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如第一方面所述的方法的步驟。

13、第四方面，本申請實(shí)施例提供了一種可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)程序或指令，所述程序或指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如第一方面所述的方法的步驟。

14、第五方面，本申請實(shí)施例提供了一種芯片，所述芯片包括處理器和通信接口，所述通信接口和所述處理器耦合，所述處理器用于運(yùn)行程序或指令，實(shí)現(xiàn)如第一方面所述的方法。

15、在本申請實(shí)施例中，電纜參數(shù)獲取模塊，用于獲取電纜的耐老化參數(shù)；其中，所述耐老化參數(shù)包括材料成分參數(shù)以及所述材料成分參數(shù)的含量參數(shù)；關(guān)注區(qū)域特征獲取模塊，用于獲取電纜在關(guān)注區(qū)域內(nèi)的目標(biāo)特征提取結(jié)果；老化分析模塊，用于將所述耐老化參數(shù)以及所述目標(biāo)特征提取結(jié)果輸入至預(yù)先構(gòu)建的老化分析模型，根據(jù)所述老化分析模型的輸出結(jié)果，確定所述關(guān)注區(qū)域的相對老化系數(shù)；其中，所述相對老化系數(shù)為所述關(guān)注區(qū)域的老化速度與正常區(qū)域的老化速度的比值；告警模塊，用于根據(jù)所述相對老化系數(shù)確定所述關(guān)注區(qū)域的老化程度，并在所述老化程度達(dá)到預(yù)設(shè)老化程度閾值的情況下，生成老化告警信息。上述基于電纜敷設(shè)環(huán)境的關(guān)注區(qū)域的絕緣層老化評估裝置，通過獲取電纜的耐老化參數(shù)以及關(guān)注區(qū)域內(nèi)的目標(biāo)特征提取結(jié)果，可以確定關(guān)注區(qū)域相對于正常區(qū)域的老化情況，從而提高對于電纜各區(qū)域的老化速度的確定效率與準(zhǔn)確性。

技術(shù)特征：

1.一種基于電纜敷設(shè)環(huán)境的關(guān)注區(qū)域的絕緣層老化評估裝置，其特征在于，所述裝置包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于電纜敷設(shè)環(huán)境的關(guān)注區(qū)域的絕緣層老化評估裝置，其特征在于，所述關(guān)注區(qū)域包括轉(zhuǎn)彎區(qū)域，所述目標(biāo)特征提取結(jié)果包括電纜在轉(zhuǎn)彎區(qū)域內(nèi)的轉(zhuǎn)彎半徑；

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于電纜敷設(shè)環(huán)境的關(guān)注區(qū)域的絕緣層老化評估裝置，其特征在于，所述形變程度確定單元，具體用于：

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于電纜敷設(shè)環(huán)境的關(guān)注區(qū)域的絕緣層老化評估裝置，其特征在于，所述相對系數(shù)確定單元，具體用于：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于電纜敷設(shè)環(huán)境的關(guān)注區(qū)域的絕緣層老化評估裝置，其特征在于，所述關(guān)注區(qū)域包括懸空區(qū)域，所述目標(biāo)特征提取結(jié)果包括電纜在懸空區(qū)域內(nèi)的懸空長度；

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于電纜敷設(shè)環(huán)境的關(guān)注區(qū)域的絕緣層老化評估裝置，其特征在于，所述關(guān)注區(qū)域包括積熱區(qū)域，所述目標(biāo)特征提取結(jié)果包括電纜在積熱區(qū)域內(nèi)的積熱溫度；

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于電纜敷設(shè)環(huán)境的關(guān)注區(qū)域的絕緣層老化評估裝置，其特征在于，所述告警模塊，具體用于：

8.一種基于電纜敷設(shè)環(huán)境的關(guān)注區(qū)域的絕緣層老化評估方法，其特征在于，所述方法包括：

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的基于電纜敷設(shè)環(huán)境的關(guān)注區(qū)域的絕緣層老化評估方法，其特征在于，通過老化分析模塊將所述耐老化參數(shù)以及所述轉(zhuǎn)彎半徑輸入至預(yù)先構(gòu)建的老化分析模型，根據(jù)所述老化分析模型的輸出結(jié)果，確定所述轉(zhuǎn)彎區(qū)域的相對老化系數(shù)，包括：

10.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括處理器，存儲(chǔ)器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的程序或指令，所述程序或指令被所述處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求8-9中任一項(xiàng)所述的基于電纜敷設(shè)環(huán)境的關(guān)注區(qū)域的絕緣層老化評估方法的步驟。

技術(shù)總結(jié)
本申請公開了一種基于電纜敷設(shè)環(huán)境的關(guān)注區(qū)域的絕緣層老化評估裝置、方法及設(shè)備，本申請屬于電力設(shè)施技術(shù)領(lǐng)域。該裝置包括：電纜參數(shù)獲取模塊，用于獲取電纜的耐老化參數(shù)；關(guān)注區(qū)域特征獲取模塊，用于獲取電纜在關(guān)注區(qū)域內(nèi)的目標(biāo)特征提取結(jié)果；老化分析模塊，用于將耐老化參數(shù)以及目標(biāo)特征提取結(jié)果輸入至老化分析模型，確定關(guān)注區(qū)域的相對老化系數(shù)；告警模塊，用于根據(jù)相對老化系數(shù)確定關(guān)注區(qū)域的老化程度，并在老化程度達(dá)到預(yù)設(shè)老化程度閾值的情況下生成老化告警信息。本技術(shù)方案，通過獲取電纜的耐老化參數(shù)以及關(guān)注區(qū)域內(nèi)的目標(biāo)特征提取結(jié)果，可以確定關(guān)注區(qū)域相對于正常區(qū)域的老化情況，從而提高對于電纜各區(qū)域的老化速度的確定效率與準(zhǔn)確性。

技術(shù)研發(fā)人員：胡超強(qiáng),黃應(yīng)敏,陳琢,鄭智聰,路明,路順,王騫能,鄒科敏,高偉光,邵源鵬,許翠珊,梁志豪,楊展鵬,丁明,吳仕良,鄧春暉,張俊宇,周靖昌,黃曉亮,游仿群
受保護(hù)的技術(shù)使用者：廣州番禺電纜集團(tuán)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/19