本發(fā)明涉及測(cè)試治具，更具體地，涉及一種轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試治具。

背景技術(shù)：

1、pcb(printedcircuitboard)，又稱印刷電路板，是重要的電子部件，是電子元器件的支撐體、電子元器件電氣連接的載體。pcb在制作完成之后需要進(jìn)行抽檢測(cè)試以確保pcb的性能，避免出產(chǎn)的pcb無(wú)法有效實(shí)現(xiàn)應(yīng)有的功能。

2、與現(xiàn)有最接近的技術(shù)為，公告號(hào)：cn216285575u，一種燒錄治具，公開了包括機(jī)體1、下壓測(cè)試裝置2、氣動(dòng)機(jī)構(gòu)3、測(cè)試夾具4、上部保護(hù)蓋板6，其特征在于：所述機(jī)體1上設(shè)有測(cè)試夾具4，所述測(cè)試夾具4上部設(shè)有下壓測(cè)試裝置2，所述下壓測(cè)試裝置2的后部設(shè)有氣動(dòng)機(jī)構(gòu)3，所述測(cè)試夾具4下方設(shè)置有掃碼器7，掃碼器7用于識(shí)別和記錄pcb板，下壓測(cè)試裝置2與測(cè)試夾具4在工作時(shí)接觸連接。

3、現(xiàn)有的測(cè)試治具采用下壓測(cè)試裝置2進(jìn)行單工位測(cè)試,測(cè)試效率低,且下壓仍存在無(wú)法精確定位問(wèn)題,無(wú)法滿足高效測(cè)試需求。

4、有鑒于此，本發(fā)明提出一種高效測(cè)試的、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的，一種轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試治具。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于，提出一種高效測(cè)試的、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的，一種轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試治具。

2、一種轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試治具，包括機(jī)座1,機(jī)座1上設(shè)有旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)2，旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)2上方間隔設(shè)有2個(gè)測(cè)試夾具3，測(cè)試夾具3上方設(shè)有第一支撐機(jī)架4,第一支撐機(jī)架4下方設(shè)有下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)5,下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)5底部與測(cè)試夾具3頂部對(duì)應(yīng)連接,下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)5側(cè)邊設(shè)有掃碼器6，旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)2用于帶動(dòng)測(cè)試夾具3旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)使得每一測(cè)試夾具3與下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)5依次對(duì)應(yīng)連接進(jìn)行測(cè)試，掃碼器6用于對(duì)測(cè)試料體進(jìn)行掃碼數(shù)據(jù)入庫(kù)。

3、進(jìn)一步的，旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)2包括驅(qū)動(dòng)電機(jī)21、第二支撐機(jī)架22、轉(zhuǎn)盤23、轉(zhuǎn)軸24、連接桿25、連接柱26，所述機(jī)座1下方設(shè)有第二支撐機(jī)架22，第二支撐機(jī)架22上方設(shè)有驅(qū)動(dòng)電機(jī)21，驅(qū)動(dòng)電機(jī)21驅(qū)動(dòng)端上方設(shè)有轉(zhuǎn)軸24，轉(zhuǎn)軸24上方設(shè)有連接桿25，連接桿25兩端下方設(shè)有連接柱26，連接柱26下方設(shè)有轉(zhuǎn)盤23，轉(zhuǎn)盤23上方通過(guò)連接柱26與連接桿25兩端連接。

4、進(jìn)一步的，所述轉(zhuǎn)軸24與連接桿25垂直連接，連接桿25與連接柱26垂直連接。

5、在一些實(shí)施方式中，所述下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)5包括驅(qū)動(dòng)氣缸51、壓板52、直線導(dǎo)柱組件53、壓棒54、測(cè)試探針55，所述第一支撐機(jī)架4上設(shè)有驅(qū)動(dòng)氣缸51，驅(qū)動(dòng)氣缸51驅(qū)動(dòng)端設(shè)有壓板52，壓板52通過(guò)直線導(dǎo)柱組件53與第一支撐機(jī)架4連接，壓板52下方的中部間隔設(shè)有多個(gè)壓棒54，壓棒54側(cè)邊設(shè)有多個(gè)測(cè)試探針55。

6、進(jìn)一步的，所述直線導(dǎo)柱組件53包括直線導(dǎo)柱531、直線軸承532，所述第一支撐機(jī)架4四周均設(shè)有一直線軸承532，每一直線軸承532內(nèi)設(shè)有一直線導(dǎo)柱531，每一直線導(dǎo)柱531底部與壓板52固定連接。

7、在一些實(shí)施方式中，所述壓板52下方的左右兩端還設(shè)有定位柱56。

8、在一些實(shí)施方式中，所述測(cè)試夾具3的左右兩端還設(shè)有定位孔31，定位孔31與定位柱56對(duì)應(yīng)連接。

9、在一些實(shí)施方式中，所述測(cè)試夾具3的側(cè)邊還設(shè)有下凹槽32，便于拿取料體。

10、在一些實(shí)施方式中，機(jī)座1上還設(shè)有保護(hù)罩7，保護(hù)罩7后側(cè)還設(shè)有檢修門，便于檢修。

11、本發(fā)明的工作原理：當(dāng)需要進(jìn)行測(cè)試時(shí)，下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)5向下運(yùn)動(dòng)，與一測(cè)試夾具3進(jìn)行對(duì)應(yīng)下壓測(cè)試并掃碼將數(shù)據(jù)入庫(kù)，當(dāng)該測(cè)試夾具3上料體完成測(cè)試后，旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)2旋轉(zhuǎn)180°使得另一測(cè)試夾具3旋轉(zhuǎn)至下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)5下方，下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)5再次下壓進(jìn)行對(duì)應(yīng)下壓測(cè)試并掃碼將數(shù)據(jù)入庫(kù)，完成雙工位測(cè)試。

12、本發(fā)明的有益效果：本發(fā)明提出一種轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試治具，機(jī)座1上設(shè)有旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)2，旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)2上方間隔設(shè)有2個(gè)測(cè)試夾具3，測(cè)試夾具3上方設(shè)有第一支撐機(jī)架4,第一支撐機(jī)架4下方設(shè)有下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)5,下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)5底部與測(cè)試夾具3頂部對(duì)應(yīng)連接,下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)5側(cè)邊設(shè)有掃碼器6，旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)2用于帶動(dòng)測(cè)試夾具3旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)使得每一測(cè)試夾具3與下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)5依次對(duì)應(yīng)連接進(jìn)行測(cè)試，掃碼器6用于對(duì)測(cè)試料體進(jìn)行掃碼數(shù)據(jù)入庫(kù)，通過(guò)旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)2帶動(dòng)測(cè)試夾具3與下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)5進(jìn)行對(duì)應(yīng)連接，代替現(xiàn)有單工位測(cè)試，大大提高檢測(cè)效率；設(shè)置定位柱56、定位孔31對(duì)應(yīng)連接，提高下壓精準(zhǔn)度；測(cè)試夾具3的側(cè)邊還設(shè)有下凹槽32，便于拿取料體，進(jìn)一步提高檢測(cè)效率。

技術(shù)特征：

1.一種轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試治具，包括機(jī)座(1),其特征在于：機(jī)座(1)上設(shè)有旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)(2)，旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)(2)上方間隔設(shè)有2個(gè)測(cè)試夾具(3)，測(cè)試夾具(3)上方設(shè)有第一支撐機(jī)架(4),第一支撐機(jī)架(4)下方設(shè)有下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)(5),下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)(5)底部與測(cè)試夾具(3)頂部對(duì)應(yīng)連接,下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)(5)側(cè)邊設(shè)有掃碼器(6)，旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)(2)用于帶動(dòng)測(cè)試夾具(3)旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)使得每一測(cè)試夾具(3)與下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)(5)依次對(duì)應(yīng)連接進(jìn)行測(cè)試，掃碼器(6)用于對(duì)測(cè)試料體進(jìn)行掃碼數(shù)據(jù)入庫(kù)。

2.如權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試治具，其特征在于：旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)(2)包括驅(qū)動(dòng)電機(jī)(21)、第二支撐機(jī)架(22)、轉(zhuǎn)盤(23)、轉(zhuǎn)軸(24)、連接桿(25)、連接柱(26)，所述機(jī)座(1)下方設(shè)有第二支撐機(jī)架(22)，第二支撐機(jī)架(22)上方設(shè)有驅(qū)動(dòng)電機(jī)(21)，驅(qū)動(dòng)電機(jī)(21)驅(qū)動(dòng)端上方設(shè)有轉(zhuǎn)軸(24)，轉(zhuǎn)軸(24)上方設(shè)有連接桿(25)，連接桿(25)兩端下方設(shè)有連接柱(26)，連接柱(26)下方設(shè)有轉(zhuǎn)盤(23)，轉(zhuǎn)盤(23)上方通過(guò)連接柱(26)與連接桿(25)兩端連接。

3.如權(quán)利要求2所述的轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試治具，其特征在于：所述轉(zhuǎn)軸(24)與連接桿(25)垂直連接，連接桿(25)與連接柱(26)垂直連接。

4.如權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試治具，其特征在于：所述下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)(5)包括驅(qū)動(dòng)氣缸(51)、壓板(52)、直線導(dǎo)柱組件(53)、壓棒(54)、測(cè)試探針(55)，所述第一支撐機(jī)架(4)上設(shè)有驅(qū)動(dòng)氣缸(51)，驅(qū)動(dòng)氣缸(51)驅(qū)動(dòng)端設(shè)有壓板(52)，壓板(52)通過(guò)直線導(dǎo)柱組件(53)與第一支撐機(jī)架(4)連接，壓板(52)下方的中部間隔設(shè)有多個(gè)壓棒(54)，壓棒(54)側(cè)邊設(shè)有多個(gè)測(cè)試探針(55)。

5.如權(quán)利要求4所述的轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試治具，其特征在于：所述直線導(dǎo)柱組件(53)包括直線導(dǎo)柱(531)、直線軸承(532)，所述第一支撐機(jī)架(4)四周均設(shè)有一直線軸承(532)，每一直線軸承(532)內(nèi)設(shè)有一直線導(dǎo)柱(531)，每一直線導(dǎo)柱(531)底部與壓板(52)固定連接。

6.如權(quán)利要求4所述的轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試治具，其特征在于：所述壓板(52)下方的左右兩端還設(shè)有定位柱(56)。

7.如權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試治具，其特征在于：所述測(cè)試夾具(3)的左右兩端還設(shè)有定位孔(31)，定位孔(31)與定位柱(56)對(duì)應(yīng)連接。

8.如權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試治具，其特征在于：所述測(cè)試夾具(3)的側(cè)邊還設(shè)有下凹槽(32)，便于拿取料體。

9.如權(quán)利要求1所述的轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試治具，其特征在于：機(jī)座(1)上還設(shè)有保護(hù)罩(7)，保護(hù)罩(7)后側(cè)還設(shè)有檢修門，便于檢修。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提出一種轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試治具，機(jī)座上設(shè)有旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)，旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)上方間隔設(shè)有個(gè)測(cè)試夾具，測(cè)試夾具上方設(shè)有第一支撐機(jī)架,第一支撐機(jī)架下方設(shè)有下壓測(cè)試機(jī)構(gòu),下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)底部與測(cè)試夾具頂部對(duì)應(yīng)連接,下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)側(cè)邊設(shè)有掃碼器，旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)用于帶動(dòng)測(cè)試夾具旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)使得每一測(cè)試夾具與下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)依次對(duì)應(yīng)連接進(jìn)行測(cè)試，掃碼器用于對(duì)測(cè)試料體進(jìn)行掃碼數(shù)據(jù)入庫(kù)，通過(guò)旋轉(zhuǎn)臺(tái)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)測(cè)試夾具與下壓測(cè)試機(jī)構(gòu)進(jìn)行對(duì)應(yīng)連接，代替現(xiàn)有單工位測(cè)試，大大提高檢測(cè)效率；設(shè)置定位柱、定位孔對(duì)應(yīng)連接，提高下壓精準(zhǔn)度；測(cè)試夾具的側(cè)邊還設(shè)有下凹槽，便于拿取料體，進(jìn)一步提高檢測(cè)效率。

技術(shù)研發(fā)人員：鮑建榮,代超,錢群斌
受保護(hù)的技術(shù)使用者：蘇州特斯捷電子科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/11/18