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      一種基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試方法及系統(tǒng)與流程

      文檔序號(hào):40280474發(fā)布日期:2024-12-11 13:19閱讀:11來(lái)源:國(guó)知局
      一種基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試方法及系統(tǒng)與流程

      本申請(qǐng)涉及光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域,更具體地,涉及一種基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試及系統(tǒng)。


      背景技術(shù):

      1、在對(duì)micro&mini(微小&迷你)產(chǎn)品進(jìn)行缺陷檢測(cè)時(shí),例如,對(duì)發(fā)光二極管(light-emitting?diodes,led)進(jìn)行產(chǎn)品的缺陷檢測(cè)時(shí),可以依據(jù)自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)(automatedoptical?inspection,aoi)對(duì)產(chǎn)品本身及檢測(cè)出的缺陷進(jìn)行坐標(biāo)定位,再通過(guò)電機(jī)移動(dòng)到獨(dú)立高倍顯微鏡相機(jī)下進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取并移到自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的檢測(cè)數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的檢測(cè)位置進(jìn)行取像。

      2、目前micro&mini市場(chǎng)常用測(cè)試方式,僅單獨(dú)進(jìn)行自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè),或復(fù)判基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)后人員單獨(dú)再使用顯微鏡進(jìn)行復(fù)判,采用此方式對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行光學(xué)檢測(cè),未能及時(shí)反饋?zhàn)詣?dòng)化光學(xué)檢測(cè)的檢測(cè)結(jié)果,存在復(fù)判時(shí)檢測(cè)缺陷坐標(biāo)無(wú)法精準(zhǔn)定位的問(wèn)題。


      技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

      1、針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的至少一個(gè)缺陷或改進(jìn)需求,本發(fā)明提供了一種基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試方法及系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)與復(fù)判一體化,提升了micro&mini產(chǎn)品不良缺陷復(fù)判的效率,對(duì)不良缺陷的檢測(cè)信息進(jìn)行快速解析轉(zhuǎn)化,實(shí)現(xiàn)對(duì)于缺陷復(fù)判的快速精確定位,提高了對(duì)于待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行復(fù)判檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

      2、為實(shí)現(xiàn)上述目的,按照本發(fā)明的第一個(gè)方面,提供了一種基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試方法,該方法包括:通過(guò)主相機(jī)對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行檢測(cè),確定待檢測(cè)對(duì)象的檢測(cè)信息,其中,檢測(cè)信息包括待檢測(cè)對(duì)象中異常點(diǎn)位的第一坐標(biāo),異常點(diǎn)位為待檢測(cè)對(duì)象中缺陷處的點(diǎn)位;基于檢測(cè)信息將第一坐標(biāo)轉(zhuǎn)化為第二坐標(biāo),其中,第二坐標(biāo)為世界坐標(biāo)系中的坐標(biāo);控制復(fù)判相機(jī)移動(dòng)至第二坐標(biāo)指示的位置,對(duì)待檢測(cè)對(duì)象的異常點(diǎn)位進(jìn)行復(fù)判。

      3、在一個(gè)示例性實(shí)施例中,基于檢測(cè)信息將第一坐標(biāo)轉(zhuǎn)化為第二坐標(biāo)包括:確定檢測(cè)信息中第一坐標(biāo)中的第一圖像坐標(biāo)與第二圖像坐標(biāo);根據(jù)旋轉(zhuǎn)系數(shù)將第一圖像坐標(biāo)轉(zhuǎn)換為第二坐標(biāo)中的第一世界坐標(biāo);根據(jù)旋轉(zhuǎn)系數(shù)將第二圖像坐標(biāo)轉(zhuǎn)換為第二坐標(biāo)中的第二世界坐標(biāo)。

      4、在一個(gè)示例性實(shí)施例中,在通過(guò)主相機(jī)對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行檢測(cè),確定待檢測(cè)對(duì)象的檢測(cè)信息之后,方法還包括:在檢測(cè)到的待檢測(cè)對(duì)象的異常點(diǎn)位存在至少兩個(gè)的情況下,獲取待檢測(cè)對(duì)象對(duì)應(yīng)的至少兩個(gè)第一坐標(biāo);在至少兩個(gè)第一坐標(biāo)之間的參數(shù)距離不超過(guò)預(yù)設(shè)值的情況下,控制復(fù)判相機(jī)移動(dòng)至至少兩個(gè)第一坐標(biāo)中任一第一坐標(biāo)轉(zhuǎn)化為第二坐標(biāo)后所指示的位置;通過(guò)復(fù)判相機(jī)對(duì)待檢測(cè)對(duì)象的異常點(diǎn)位進(jìn)行復(fù)判。

      5、在一個(gè)示例性實(shí)施例中,在檢測(cè)到的待檢測(cè)對(duì)象的異常點(diǎn)位存在至少兩個(gè)的情況下,獲取待檢測(cè)對(duì)象對(duì)應(yīng)的至少兩個(gè)第一坐標(biāo)之后,方法還包括:在至少兩個(gè)第一坐標(biāo)之間的參數(shù)距離超過(guò)預(yù)設(shè)值的情況下,控制復(fù)判相機(jī)分別移動(dòng)至至少兩個(gè)第一坐標(biāo)中每個(gè)第一坐標(biāo)轉(zhuǎn)化為第二坐標(biāo)后所指示的位置;通過(guò)復(fù)判相機(jī)對(duì)待檢測(cè)對(duì)象的異常點(diǎn)位進(jìn)行復(fù)判。

      6、在一個(gè)示例性實(shí)施例中,在根據(jù)旋轉(zhuǎn)系數(shù)將第一圖像坐標(biāo)轉(zhuǎn)換為第二坐標(biāo)中的第一世界坐標(biāo)之前,方法還包括:轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試標(biāo)定屏至主相機(jī),通過(guò)主相機(jī)獲取標(biāo)定圖中多個(gè)標(biāo)定點(diǎn)的像素坐標(biāo),其中,測(cè)試標(biāo)定屏用于顯示標(biāo)定圖;轉(zhuǎn)動(dòng)測(cè)試標(biāo)定屏至復(fù)判相機(jī),依次移動(dòng)復(fù)判相機(jī)至多個(gè)標(biāo)定點(diǎn)的正上方,獲取復(fù)判相機(jī)標(biāo)定下的多個(gè)標(biāo)定點(diǎn)對(duì)應(yīng)的世界坐標(biāo);求解像素坐標(biāo)與世界坐標(biāo)之間的仿射變換矩陣;基于放射變換矩陣確定旋轉(zhuǎn)系數(shù)。

      7、在一個(gè)示例性實(shí)施例中,控制復(fù)判相機(jī)移動(dòng)至第二坐標(biāo)指示的位置,對(duì)待檢測(cè)對(duì)象的異常點(diǎn)位進(jìn)行復(fù)判包括:通過(guò)線(xiàn)性伺服馬達(dá)中的x軸伺服直線(xiàn)電機(jī)控制復(fù)判相機(jī)依據(jù)第二坐標(biāo)沿x軸方向移動(dòng);通過(guò)線(xiàn)性伺服馬達(dá)中的y軸伺服直線(xiàn)電機(jī)控制置物臺(tái)依據(jù)第二坐標(biāo)沿y軸方向移動(dòng);基于第二坐標(biāo)位置下的復(fù)判相機(jī)對(duì)待檢測(cè)對(duì)象的異常點(diǎn)位進(jìn)行復(fù)判。

      8、按照本發(fā)明的第二個(gè)方面,還提供了一種基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試系統(tǒng),應(yīng)用如上述的基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試方法,包括;主相機(jī),復(fù)判相機(jī),置物臺(tái)以及線(xiàn)性伺服馬達(dá);其中,線(xiàn)性伺服馬達(dá)包括x軸伺服直線(xiàn)電機(jī)、y軸伺服直線(xiàn)電機(jī)、z軸伺服直線(xiàn)電機(jī),x軸伺服直線(xiàn)電機(jī)用于控制復(fù)判相機(jī)沿x軸方向移動(dòng)、y軸伺服直線(xiàn)電機(jī)用于控制置物臺(tái)沿y軸方向移動(dòng)、z軸伺服直線(xiàn)電機(jī)用于控制復(fù)判相機(jī)沿z軸方向移動(dòng)。

      9、按照本發(fā)明的第三個(gè)方面,還提供了一種基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試裝置,其包括:第一確定單元,用于通過(guò)主相機(jī)對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行檢測(cè),確定待檢測(cè)對(duì)象的檢測(cè)信息,其中,檢測(cè)信息包括待檢測(cè)對(duì)象中異常點(diǎn)位的第一坐標(biāo),異常點(diǎn)位為待檢測(cè)對(duì)象中缺陷處的點(diǎn)位;轉(zhuǎn)化單元,用于基于檢測(cè)信息將第一坐標(biāo)轉(zhuǎn)化為第二坐標(biāo),其中,第二坐標(biāo)為復(fù)判相機(jī)坐標(biāo)系中的坐標(biāo);移動(dòng)單元,用于控制復(fù)判相機(jī)移動(dòng)至第二坐標(biāo)指示的位置,對(duì)待檢測(cè)對(duì)象的異常點(diǎn)位進(jìn)行復(fù)判。

      10、按照本發(fā)明的第四個(gè)方面,還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀的存儲(chǔ)介質(zhì),該計(jì)算機(jī)可讀的存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其中,該計(jì)算機(jī)程序被設(shè)置為運(yùn)行時(shí)執(zhí)行上述基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試方法。

      11、按照本發(fā)明的第五個(gè)方面,還提供了一種電子裝置,包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,其中,上述處理器通過(guò)計(jì)算機(jī)程序執(zhí)行上述的基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試方法。

      12、總體而言,通過(guò)本發(fā)明所構(gòu)思的以上技術(shù)方案與現(xiàn)有技術(shù)相比,能夠取得下列有益效果:

      13、本發(fā)明提供了一種基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試方法,適用于對(duì)micro&mini產(chǎn)品進(jìn)行光學(xué)檢測(cè),先通過(guò)自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)主相機(jī)對(duì)待檢測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行拍攝檢測(cè),獲取到產(chǎn)品缺陷處的坐標(biāo)定位,將該坐標(biāo)進(jìn)行坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換,通過(guò)線(xiàn)性伺服馬達(dá)帶動(dòng)復(fù)判相機(jī),即高倍顯微鏡相機(jī)進(jìn)行產(chǎn)品缺陷的復(fù)判,使其移動(dòng)至產(chǎn)品異常坐標(biāo)處進(jìn)行復(fù)判,實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)與復(fù)判一體化,對(duì)不良缺陷的檢測(cè)信息進(jìn)行快速解析轉(zhuǎn)化,實(shí)現(xiàn)對(duì)于缺陷復(fù)判的快速精確定位,進(jìn)而提高了對(duì)于待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行復(fù)判檢測(cè)的準(zhǔn)確性。



      技術(shù)特征:

      1.一種基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試方法,其特征在于,包括:

      2.如權(quán)利要求1所述的基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試方法,其特征在于,所述基于所述檢測(cè)信息將所述第一坐標(biāo)轉(zhuǎn)化為第二坐標(biāo)包括:

      3.如權(quán)利要求1所述的基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試方法,其特征在于,在所述通過(guò)主相機(jī)對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行檢測(cè),確定所述待檢測(cè)對(duì)象的檢測(cè)信息之后,所述方法還包括:

      4.如權(quán)利要求3所述的基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試方法,其特征在于,在所述在檢測(cè)到的所述待檢測(cè)對(duì)象的異常點(diǎn)位存在至少兩個(gè)的情況下,獲取所述待檢測(cè)對(duì)象對(duì)應(yīng)的至少兩個(gè)第一坐標(biāo)之后,所述方法還包括:

      5.如權(quán)利要求2所述的基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試方法,其特征在于,在所述根據(jù)旋轉(zhuǎn)系數(shù)將所述第一圖像坐標(biāo)轉(zhuǎn)換為所述第二坐標(biāo)中的第一世界坐標(biāo)之前,所述方法還包括:

      6.如權(quán)利要求1所述的基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試方法,其特征在于,所述控制所述復(fù)判相機(jī)移動(dòng)至所述第二坐標(biāo)指示的位置,對(duì)所述待檢測(cè)對(duì)象的所述異常點(diǎn)位進(jìn)行復(fù)判包括:

      7.一種基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試系統(tǒng),應(yīng)用如權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試方法,包括:

      8.一種基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試裝置,其特征在于,包括:

      9.一種計(jì)算機(jī)可讀的存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于,所述計(jì)算機(jī)可讀的存儲(chǔ)介質(zhì)包括存儲(chǔ)的程序,其中,所述程序運(yùn)行時(shí)執(zhí)行權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的方法。

      10.一種電子裝置,包括存儲(chǔ)器和處理器,其特征在于,所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述處理器被設(shè)置為通過(guò)所述計(jì)算機(jī)程序執(zhí)行權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的方法。


      技術(shù)總結(jié)
      本申請(qǐng)公開(kāi)了一種基于自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)的復(fù)判測(cè)試方法及系統(tǒng),該方法包括:通過(guò)主相機(jī)對(duì)待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行檢測(cè),確定待檢測(cè)對(duì)象的檢測(cè)信息,其中,檢測(cè)信息包括待檢測(cè)對(duì)象中異常點(diǎn)位的第一坐標(biāo),異常點(diǎn)位為待檢測(cè)對(duì)象中缺陷處的點(diǎn)位;基于檢測(cè)信息將第一坐標(biāo)轉(zhuǎn)化為第二坐標(biāo),其中,第二坐標(biāo)為世界坐標(biāo)系中的坐標(biāo);控制復(fù)判相機(jī)移動(dòng)至第二坐標(biāo)指示的位置,對(duì)待檢測(cè)對(duì)象的異常點(diǎn)位進(jìn)行復(fù)判,通過(guò)本申請(qǐng)實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)與復(fù)判一體化,對(duì)不良缺陷的檢測(cè)信息進(jìn)行快速解析轉(zhuǎn)化,實(shí)現(xiàn)對(duì)于缺陷復(fù)判的快速精確定位,進(jìn)而提高了對(duì)于待檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行復(fù)判檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

      技術(shù)研發(fā)人員:李海洋,鮑海濤,劉敏,王雷,向德虎
      受保護(hù)的技術(shù)使用者:武漢精立電子技術(shù)有限公司
      技術(shù)研發(fā)日:
      技術(shù)公布日:2024/12/10
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