本發(fā)明屬于半導(dǎo)體測試，尤其涉及一種半導(dǎo)體的高頻測試向量波形的產(chǎn)生方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、相關(guān)技術(shù)中，半導(dǎo)體測試中往往有產(chǎn)生高頻變化的數(shù)字波形digital?pattern，也叫測試向量波形，現(xiàn)有的技術(shù)方案往往是利用高頻時鐘產(chǎn)生，但有如下缺點：1、高頻時鐘往往有上限，比如一般的fpga中鎖相環(huán)不超過800mhz；2、由于數(shù)字電路功耗與頻率成正比，容易產(chǎn)生高功耗；3、同時高頻信號由于高頻特性，信號很容易通過周邊的雜散分布電容對周圍的電路造成干擾，從而影響信號完整性。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、鑒于以上現(xiàn)有技術(shù)的不足，發(fā)明的目的在于提供一種半導(dǎo)體的高頻測試向量波形的產(chǎn)生方法及系統(tǒng)。該方法提高了半導(dǎo)體高頻測試的精度、效率和可靠性。

2、本發(fā)明的第一方面，提出了一種半導(dǎo)體的高頻測試向量波形的產(chǎn)生方法，包括：s1，根據(jù)芯片測試的數(shù)字信號時序要求，將時間切割為連續(xù)的測試周期，其中每個所述測試周期相同或不同；s2，在所述測試周期內(nèi)，采用多路同頻的低頻時鐘信號生成時序分割點，以及在所述時序分割點上產(chǎn)生時序波形；s3，基于傳輸媒介將所述時序波形施加到待測半導(dǎo)體芯片的管腳上。

3、進一步地，所述方法還包括：在所述測試周期內(nèi)，基于鎖相環(huán)技術(shù)接收低頻時鐘信號并生成所述多路同頻的低頻時鐘信號，每路所述同頻的低頻時鐘信號具有目標(biāo)相位差。

4、進一步地，在所述測試周期內(nèi)，采用多路同頻的低頻時鐘信號生成時序分割點，包括：獲取單路高頻時鐘信號，其中，將所述單路高頻時鐘信號的上升沿作為產(chǎn)生周期的分割點；基于移相方式將所述多路同頻的低頻時鐘信號替代所述單路高頻時鐘信號生成所述時序分割點。

5、進一步地，在所述時序分割點上產(chǎn)生時序波形，包括：確定所述時序分割點的輸出數(shù)據(jù)；根據(jù)輸出數(shù)據(jù)和波形設(shè)計在對應(yīng)的所述時序切割點上產(chǎn)生所需的電平變化；基于所述時序切割點上產(chǎn)生所需的電平變化，形成所述時序波形。

6、進一步地，所述傳輸媒介包括電纜或者彈簧針。

7、進一步地，基于傳輸媒介將所述時序波形施加到待測半導(dǎo)體芯片的管腳上，包括：將所述時序分割點上產(chǎn)生的所述時序波形進行輸出放大電路；基于所述傳輸媒介將所述輸出放大電路后的所述時序波形施加到待測半導(dǎo)體芯片的管腳上。

8、本發(fā)明的第二方面，提出了一種半導(dǎo)體的高頻測試向量波形的產(chǎn)生系統(tǒng)，包括：切割模塊，用于根據(jù)芯片測試的數(shù)字信號時序要求，將時間切割為連續(xù)的測試周期，其中每個所述測試周期相同或不同；第一生成模塊，用于在所述測試周期內(nèi)，采用多路同頻的低頻時鐘信號生成時序分割點，以及在所述時序分割點上產(chǎn)生時序波形；施加模塊，用于基于傳輸媒介將所述時序波形施加到待測半導(dǎo)體芯片的管腳上。

9、本發(fā)明的第三方面，提出了一種電子設(shè)備，包括：至少一個處理器；以及與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執(zhí)行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執(zhí)行，以使所述至少一個處理器能夠執(zhí)行本發(fā)明第一方面中任一項所述的方法。

10、本發(fā)明的第四方面，提出了一種存儲有計算機指令的非瞬時計算機可讀存儲介質(zhì)，其中，所述計算機指令用于使所述計算機執(zhí)行本發(fā)明第一方面中任一項所述的方法。

11、本發(fā)明有益效果如下：

12、本發(fā)明所述的半導(dǎo)體的高頻測試向量波形的產(chǎn)生方法及系統(tǒng)，根據(jù)芯片測試的數(shù)字信號時序要求，將時間切割為連續(xù)的測試周期，其中每個測試周期相同或不同；在測試周期內(nèi)，采用多路同頻的低頻時鐘信號生成時序分割點，以及在時序分割點上產(chǎn)生時序波形；基于傳輸媒介將時序波形施加到待測半導(dǎo)體芯片的管腳上。該方法通過高精度時序控制、資源優(yōu)化、靈活的時序波形生成、高效的信號傳輸與施加以及廣泛的適用性等技術(shù)手段，提高了半導(dǎo)體高頻測試的精度、效率和可靠性。

技術(shù)特征：

1.一種半導(dǎo)體的高頻測試向量波形的產(chǎn)生方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體的高頻測試向量波形的產(chǎn)生方法，其特征在于，所述方法還包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體的高頻測試向量波形的產(chǎn)生方法，其特征在于，在所述測試周期內(nèi)，采用多路同頻的低頻時鐘信號生成時序分割點，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體的高頻測試向量波形的產(chǎn)生方法，在所述時序分割點上產(chǎn)生時序波形，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體的高頻測試向量波形的產(chǎn)生方法，其特征在于，所述傳輸媒介包括電纜或者彈簧針。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體的高頻測試向量波形的產(chǎn)生方法，其特征在于，基于傳輸媒介將所述時序波形施加到待測半導(dǎo)體芯片的管腳上，包括：

7.一種半導(dǎo)體的高頻測試向量波形的產(chǎn)生系統(tǒng)，其特征在于，包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體的高頻測試向量波形的產(chǎn)生系統(tǒng)，其特征在于，所述傳輸媒介包括電纜或者彈簧針。

9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：

10.一種存儲有計算機指令的非瞬時計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計算機指令用于使所述計算機執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項所述的方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體的高頻測試向量波形的產(chǎn)生方法及系統(tǒng)，屬于半導(dǎo)體測試技術(shù)領(lǐng)域，該方法包括：根據(jù)芯片測試的數(shù)字信號時序要求，將時間切割為連續(xù)的測試周期，其中每個測試周期相同或不同；在測試周期內(nèi)，采用多路同頻的低頻時鐘信號生成時序分割點，以及在時序分割點上產(chǎn)生時序波形；基于傳輸媒介將時序波形施加到待測半導(dǎo)體芯片的管腳上。該方法通過高精度時序控制、資源優(yōu)化、靈活的時序波形生成、高效的信號傳輸與施加以及廣泛的適用性等技術(shù)手段，提高了半導(dǎo)體高頻測試的精度、效率和可靠性。

技術(shù)研發(fā)人員：張九六,李善紅
受保護的技術(shù)使用者：杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/10