本發(fā)明有關(guān)于一種電子元件測(cè)試信息顯示方法及電子元件測(cè)試裝置，尤指一種可顯示電子元件測(cè)試信息的電子元件測(cè)試信息顯示方法及電子元件測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

1、一般電子元件在制造完成后通常需經(jīng)過測(cè)試以確定其物理特性，公告號(hào)碼第twi821694b號(hào)的「電子元件測(cè)試裝置及測(cè)試方法」已公開一種電子元件測(cè)試裝置，其設(shè)有：一機(jī)臺(tái)，其上設(shè)有一機(jī)臺(tái)臺(tái)面；一承載底盤，設(shè)于該機(jī)臺(tái)臺(tái)面，該承載底盤上設(shè)置可被驅(qū)動(dòng)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)的一測(cè)試板，并在該承載底盤周緣外設(shè)置有一入料單元、一檢查單元、及一排出單元；該測(cè)試板的上表面設(shè)有在徑向相隔間距的多列同心環(huán)狀設(shè)置的鏤設(shè)矩形的座槽，該座槽每一列環(huán)狀相隔間距設(shè)置多個(gè)，各列徑向?qū)?yīng)的該座槽直線間隔排列呈多行；每一個(gè)座槽可供容納上、下分別各設(shè)有電極的一電子元件；該電子元件以電極分別位于上、下端方式于該入料單元處落置于該座槽中；該檢查單元以上、下端子分別接觸該電子元件上、下端的電極對(duì)該電子元件進(jìn)行測(cè)試。

2、在電子元件測(cè)試裝置中，該測(cè)試板在使用一段時(shí)間后會(huì)因磨損而發(fā)生電子元件無(wú)法順利落置于該座槽的情況；該檢查單元的該上、下端子在使用一段時(shí)間后也會(huì)因磨損而發(fā)生測(cè)試失準(zhǔn)的情況，雖然操作人員可以定期保養(yǎng)(檢查、清潔或汰換)該測(cè)試板與該檢查單元以減少上述情況的發(fā)生，但若上述情況是發(fā)生于定期保養(yǎng)時(shí)間尚未到達(dá)之前，操作人員也無(wú)法馬上發(fā)現(xiàn)，可見現(xiàn)有技術(shù)仍有待改善之處。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、因此，本發(fā)明的目的在于提供一種可改善現(xiàn)有技術(shù)至少一項(xiàng)缺點(diǎn)的電子元件測(cè)試信息顯示方法。

2、本發(fā)明的另一目的在于提供一種可用以執(zhí)行所述電子元件測(cè)試裝置的信息顯示方法的電子元件測(cè)試裝置。

3、本發(fā)明的又一目的在于提供一種可改善現(xiàn)有技術(shù)至少一項(xiàng)缺點(diǎn)的電子元件測(cè)試裝置。

4、依據(jù)本發(fā)明目的的電子元件測(cè)試信息顯示方法，包括：提供一測(cè)試板，其上表面設(shè)有在徑向相隔間距并同心環(huán)狀設(shè)置的多列座槽，所述座槽每一列環(huán)狀相隔間距設(shè)置多個(gè)，各列徑向?qū)?yīng)的該座槽間隔排列呈多行；提供一顯示單元，可顯示與所述座槽有關(guān)的多個(gè)座槽圖形；使該顯示單元在所述座槽圖形的位置以不同的圖案表示所述座槽內(nèi)的電子元件的狀態(tài)。

5、依據(jù)本發(fā)明另一目的的電子元件測(cè)試裝置，用以執(zhí)行如所述電子元件測(cè)試信息顯示方法。

6、依據(jù)本發(fā)明又一目的的電子元件測(cè)試裝置，設(shè)有：一機(jī)臺(tái)，設(shè)有一機(jī)臺(tái)臺(tái)面供一承載底盤設(shè)于其上，該承載底盤上設(shè)置可被驅(qū)動(dòng)間歇進(jìn)行旋轉(zhuǎn)的一測(cè)試板，該測(cè)試板的上表面設(shè)有在徑向相隔間距并同心環(huán)狀設(shè)置的多列座槽，所述座槽每一列環(huán)狀相隔間距設(shè)置多個(gè)，各列徑向?qū)?yīng)的該座槽間隔排列呈多行；該機(jī)臺(tái)上設(shè)有可顯示多種信息的一顯示單元，所述信息包括多個(gè)座槽圖形、及表示所述座槽內(nèi)的電子元件的狀態(tài)的多個(gè)圖案。

7、本發(fā)明實(shí)施例的電子元件測(cè)試信息顯示方法及電子元件測(cè)試裝置，該顯示單元可顯示所述座槽圖形，并配合不同的圖案呈現(xiàn)令操作人員容易判讀的信息，可使操作人員即早發(fā)現(xiàn)該電子元件測(cè)試裝置中的異常情況。

技術(shù)特征：

1.一種電子元件測(cè)試信息顯示方法，包括：

2.如權(quán)利要求1所述的電子元件測(cè)試信息顯示方法，其中，該測(cè)試板可受驅(qū)動(dòng)進(jìn)行間歇性旋轉(zhuǎn)；當(dāng)該測(cè)試板旋轉(zhuǎn)時(shí)，所述座槽圖形不移動(dòng)，不同的圖案相對(duì)所述座槽圖形移動(dòng)。

3.如權(quán)利要求2所述的電子元件測(cè)試信息顯示方法，其中，該顯示單元可顯示與該測(cè)試板有關(guān)的一測(cè)試板圖形；當(dāng)該測(cè)試板旋轉(zhuǎn)時(shí)，該測(cè)試板圖形不移動(dòng)，不同的圖案相對(duì)該測(cè)試板圖形移動(dòng)。

4.如權(quán)利要求2所述的電子元件測(cè)試信息顯示方法，其中，不同的圖案是在所述座槽圖形中的同一列依次順時(shí)針移動(dòng)。

5.如權(quán)利要求1所述的電子元件測(cè)試信息顯示方法，其中，不同的圖案是以不同的顏色或符號(hào)來(lái)區(qū)分。

6.如權(quán)利要求1所述的電子元件測(cè)試信息顯示方法，其中，表示所述座槽內(nèi)的電子元件的狀態(tài)為電子元件的測(cè)試結(jié)果。

7.如權(quán)利要求6所述的電子元件測(cè)試信息顯示方法，其中，電子元件的測(cè)試結(jié)果為座槽塞料、測(cè)試ng、測(cè)試ok、或座槽空料其中之一。

8.如權(quán)利要求1所述的電子元件測(cè)試信息顯示方法，其中，表示所述座槽內(nèi)的電子元件的狀態(tài)為入料率。

9.如權(quán)利要求8所述的電子元件測(cè)試信息顯示方法，其中，入料率包含至少三個(gè)以上的百分比區(qū)間。

10.一種電子元件測(cè)試裝置，用以執(zhí)行如權(quán)利要求1至9任一權(quán)利要求所述電子元件測(cè)試信息顯示方法。

11.一種電子元件測(cè)試裝置，設(shè)有：

12.如權(quán)利要求11所述的電子元件測(cè)試裝置，其中，該機(jī)臺(tái)上設(shè)有一處理單元；該承載底盤周緣外設(shè)有用以載入電子元件的一入料單元，該入料單元設(shè)有對(duì)應(yīng)各列座槽的多個(gè)入料傳感器；所述信息為該處理單元處理分析所述入料傳感器的檢測(cè)資料所得的入料率。

13.如權(quán)利要求11所述的電子元件測(cè)試裝置，其中，該機(jī)臺(tái)上設(shè)有一處理單元；該承載底盤周緣外設(shè)有用以測(cè)試電子元件的物理特性的一測(cè)試單元；所述信息為該處理單元處理分析該測(cè)試單元測(cè)試電子元件的測(cè)試結(jié)果。

14.如權(quán)利要求11所述的電子元件測(cè)試裝置，其中，所述信息包括一測(cè)試板圖形，所述座槽圖形是顯示于該測(cè)試板圖形中。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種電子元件測(cè)試信息顯示方法及電子元件測(cè)試裝置；該電子元件測(cè)試信息顯示方法包括：提供一測(cè)試板，其上表面設(shè)有在徑向相隔間距并同心環(huán)狀設(shè)置的多列座槽，所述座槽每一列環(huán)狀相隔間距設(shè)置多個(gè)，各列徑向?qū)?yīng)的該座槽間隔排列呈多行；提供一顯示單元，可顯示與所述座槽有關(guān)的多個(gè)座槽圖形；使該顯示單元在所述座槽圖形的位置以不同的圖案表示所述座槽內(nèi)的電子元件的狀態(tài)；借此操作人員容易判讀該顯示單元所呈現(xiàn)的信息并即早發(fā)現(xiàn)該電子元件測(cè)試裝置中的異常情況。

技術(shù)研發(fā)人員：紀(jì)建兆,陸志益
受保護(hù)的技術(shù)使用者：萬(wàn)潤(rùn)科技股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/10