本技術(shù)涉及測試，具體地講，涉及一種存儲芯片自身強度的壓覆測試機構(gòu)。

背景技術(shù)：

1、芯片壓覆測試是存儲芯片自產(chǎn)品測試時的必要環(huán)節(jié)，從而確定內(nèi)接條與引腳部之間在外殼層處的強度，引腳強度不足會導致芯片連接出現(xiàn)故障?，F(xiàn)有技術(shù)，例如授權(quán)公告號為cn218994933u的實用新型，實現(xiàn)對芯片附著力測試。

2、目前，還缺少一種設(shè)備，方便實現(xiàn)在測試結(jié)束時，頂板頂出芯片，使芯片脫離放置框的底板方便芯片取出。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本實用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種存儲芯片自身強度的壓覆測試機構(gòu)，有利于實現(xiàn)芯片強度測試以及測試后芯片取出。

2、本實用新型采用如下技術(shù)方案實現(xiàn)發(fā)明目的：

3、一種存儲芯片自身強度的壓覆測試機構(gòu)，其特征是，包括：基座，其內(nèi)中空，所述基座固定連接控制顯示器，所述控制顯示器固定連接電子顯微鏡，所述基座固定連接對稱的安裝座；放置框，設(shè)置在所述基座的上側(cè)，連接所述基座；推擠板，設(shè)置在所述放置框內(nèi)，所述放置框連接電動推桿，所述電動推桿的推桿穿過所述放置框連接所述推擠板；蓋板，匹配所述放置框，所述蓋板固定連接轉(zhuǎn)軸，所述轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動連接對稱的所述安裝座，所述蓋板對應所述放置框安裝有透視板。通過電子顯微鏡可以在控制顯示器上通過透視板看到被測試的芯片的形變情況，從而完成芯片強度的測試。

4、作為本技術(shù)方案的進一步限定，所述基座固定連接u板，所述u板固定連接u架，所述u架固定連接導向筒。通過設(shè)置u板，實現(xiàn)相關(guān)元件的安裝。

5、作為本技術(shù)方案的進一步限定，所述u板固定連接舵機，所述舵機的輸出軸固定連接轉(zhuǎn)盤，所述轉(zhuǎn)盤的邊緣處固定連接圓塊，所述導向筒內(nèi)設(shè)置有導向桿，所述導向桿固定連接下滑槽，所述圓塊設(shè)置在所述下滑槽內(nèi)，所述下滑槽至少一端轉(zhuǎn)動連接連桿，所述連桿轉(zhuǎn)動連接t板，所述t板的豎板穿過所述基座的頂板，所述t板固定連接上滑槽，所述轉(zhuǎn)軸固定連接l桿，所述l桿的圓桿設(shè)置在所述上滑槽內(nèi)。通過采用舵機帶動，采用連桿轉(zhuǎn)動連接的方式等，為蓋板的運動提供動力支持。

6、作為本技術(shù)方案的進一步限定，所述t板固定連接l槽板，所述l槽板穿過所述基座的頂板及所述放置框的底板，所述l槽板固定連接頂板。通過設(shè)置頂板，在測試結(jié)束后，蓋板在擺動打開的同時頂板向上運動，將芯片頂起，方便實現(xiàn)芯片取出。

7、作為本技術(shù)方案的進一步限定，所述放置框設(shè)置有隱藏槽，所述頂板匹配所述隱藏槽。通過采用隱藏槽，在蓋板關(guān)閉時，頂板處于隱藏槽內(nèi)，低于放置框底板上側(cè)，方便進行測試。頂板的尺寸要小于芯片尺寸。

8、與相關(guān)技術(shù)相比較，本實用新型提供的一種存儲芯片自身強度的壓覆測試機構(gòu)具有如下有益效果：

9、(1)本裝置通過采用舵機帶動，實現(xiàn)蓋板與頂板的運動，操作簡單，使用方便；

10、(2)本裝置在測試結(jié)束后，蓋板在擺動打開的同時頂板向上運動，將芯片頂起，方便實現(xiàn)芯片取出；

11、(3)本裝置通過采用隱藏槽，在蓋板關(guān)閉時，頂板處于隱藏槽內(nèi)，低于放置框底板上側(cè)。

技術(shù)特征：

1.一種存儲芯片自身強度的壓覆測試機構(gòu)，其特征是，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲芯片自身強度的壓覆測試機構(gòu)，其特征是：所述基座(5)固定連接u板(16)，所述u板(16)固定連接u架(15)，所述u架(15)固定連接導向筒(14)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的存儲芯片自身強度的壓覆測試機構(gòu)，其特征是：所述u板(16)固定連接舵機(25)，所述舵機(25)的輸出軸固定連接轉(zhuǎn)盤(26)，所述轉(zhuǎn)盤(26)的邊緣處固定連接圓塊(27)，所述導向筒(14)內(nèi)設(shè)置有導向桿(23)，所述導向桿(23)固定連接下滑槽(24)，所述圓塊(27)設(shè)置在所述下滑槽(24)內(nèi)，所述下滑槽(24)至少一端轉(zhuǎn)動連接連桿(22)，所述連桿(22)轉(zhuǎn)動連接t板(19)，所述t板(19)的豎板穿過所述基座(5)的頂板，所述t板(19)固定連接上滑槽(18)，所述轉(zhuǎn)軸(11)固定連接l桿(17)，所述l桿(17)的圓桿設(shè)置在所述上滑槽(18)內(nèi)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的存儲芯片自身強度的壓覆測試機構(gòu)，其特征是：所述t板(19)固定連接l槽板(21)，所述l槽板(21)穿過所述基座(5)的頂板及所述放置框(4)的底板，所述l槽板(21)固定連接頂板(20)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的存儲芯片自身強度的壓覆測試機構(gòu)，其特征是：所述放置框(4)設(shè)置有隱藏槽(10)，所述頂板(20)匹配所述隱藏槽(10)。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開了一種存儲芯片自身強度的壓覆測試機構(gòu)，其特征是，包括：基座，其內(nèi)中空，所述基座固定連接控制顯示器，所述控制顯示器固定連接電子顯微鏡，所述基座固定連接對稱的安裝座；放置框，設(shè)置在所述基座的上側(cè)，連接所述基座；推擠板，設(shè)置在所述放置框內(nèi)，所述放置框連接電動推桿，所述電動推桿的推桿穿過所述放置框連接所述推擠板；蓋板，匹配所述放置框，所述蓋板固定連接轉(zhuǎn)軸，所述轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動連接對稱的所述安裝座。本技術(shù)涉及測試技術(shù)領(lǐng)域，具體地講，涉及一種存儲芯片自身強度的壓覆測試機構(gòu)。本技術(shù)要解決的技術(shù)問題是提供一種存儲芯片自身強度的壓覆測試機構(gòu)，有利于實現(xiàn)芯片強度測試以及測試后芯片取出。

技術(shù)研發(fā)人員：洪育鎧,洪育鈴
受保護的技術(shù)使用者：深圳市志忠微電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240326
技術(shù)公布日：2024/12/26