本技術(shù)屬于光學(xué)測試平臺，尤其涉及一種便于調(diào)節(jié)的光學(xué)測試平臺。

背景技術(shù)：

1、在對光學(xué)設(shè)備進(jìn)行光照強(qiáng)度檢測時，通常是將光學(xué)設(shè)備的位置固定，然后手持傳感器從多角度測量光學(xué)設(shè)備的光照強(qiáng)度，來判斷光學(xué)設(shè)備的光照強(qiáng)度是否合格，使得光學(xué)設(shè)備的測試效率低下、測試效果差。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本實(shí)用新型的目的在于：為了解決上述存在問題，而提出的一種便于調(diào)節(jié)的光學(xué)測試平臺。

2、為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用了如下技術(shù)方案：一種便于調(diào)節(jié)的光學(xué)測試平臺，其包括:

3、第一基板，其上設(shè)置有固定臺；

4、旋轉(zhuǎn)臺，其鉸接在所述固定臺的頂部，所述旋轉(zhuǎn)臺用于光學(xué)設(shè)備；

5、第二基板，其位于所述第一基板的一側(cè)，所述第二基板上滑動連接有底板，所述底板上設(shè)置有兩塊固定塊，兩塊所述固定塊之間通過橫桿連接；

6、多根導(dǎo)桿，其兩端分別固定連接在兩塊所述固定塊上；

7、升降座，其滑動連接在多根所述導(dǎo)桿上；

8、升降桿，其滑動連接在所述升降座上；

9、傳感器安裝座，其連接在所述升降桿的端部。

10、作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步描述：

11、所述固定臺上設(shè)置有弧形刻度板，所述旋轉(zhuǎn)臺上設(shè)置有指針板，所述指針板延伸至所述弧形刻度板的上方。

12、作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步描述：

13、所述導(dǎo)桿呈水平布置，所述升降桿呈豎直布置。

14、作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步描述：

15、所述升降座的一側(cè)設(shè)置有第一螺孔，螺栓螺接在第一螺孔內(nèi)，且螺栓的下端抵住橫桿的頂部。

16、作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步描述：

17、所述升降座上開設(shè)有第二螺孔，螺栓螺接在第二螺孔內(nèi)，且螺栓的端部抵住所述升降桿。

18、作為上述技術(shù)方案的進(jìn)一步描述：

19、所述傳感器安裝座上開設(shè)有定位槽。

20、綜上所述，由于采用了上述技術(shù)方案，本實(shí)用新型的有益效果是：

21、本實(shí)用新型中，通過將光學(xué)設(shè)備安裝在旋轉(zhuǎn)臺上，傳感器安裝在傳感器安裝座上，轉(zhuǎn)動旋轉(zhuǎn)臺來調(diào)整光學(xué)設(shè)備的發(fā)光角度，推動升降座沿著導(dǎo)桿滑動，推動傳感器安裝座使得升降桿沿著升降座滑動，實(shí)現(xiàn)了兩軸聯(lián)動調(diào)整傳感器的位置，可以測得光學(xué)設(shè)備軸向多個位置的光照強(qiáng)度，整個測試過程平穩(wěn)順暢，測試效果好，大大地提高了測試效率。

技術(shù)特征：

1.一種便于調(diào)節(jié)的光學(xué)測試平臺，其特征在于：包括:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種便于調(diào)節(jié)的光學(xué)測試平臺，其特征在于，所述固定臺(2)上設(shè)置有弧形刻度板(12)，所述旋轉(zhuǎn)臺(3)上設(shè)置有指針板(13)，所述指針板(13)延伸至所述弧形刻度板(12)的上方。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種便于調(diào)節(jié)的光學(xué)測試平臺，其特征在于，所述導(dǎo)桿(8)呈水平布置，所述升降桿(10)呈豎直布置。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種便于調(diào)節(jié)的光學(xué)測試平臺，其特征在于，所述升降座(9)的一側(cè)設(shè)置有第一螺孔(14)，螺栓螺接在第一螺孔(14)內(nèi)，且螺栓的下端抵住橫桿(7)的頂部。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種便于調(diào)節(jié)的光學(xué)測試平臺，其特征在于，所述升降座(9)上開設(shè)有第二螺孔(15)，螺栓螺接在第二螺孔(15)內(nèi)，且螺栓的端部抵住所述升降桿(10)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種便于調(diào)節(jié)的光學(xué)測試平臺，其特征在于，所述傳感器安裝座(11)上開設(shè)有定位槽(16)。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開了一種便于調(diào)節(jié)的光學(xué)測試平臺，屬于光學(xué)測試平臺技術(shù)領(lǐng)域，包括:第一基板，其上設(shè)置有固定臺；旋轉(zhuǎn)臺，其鉸接在所述固定臺的頂部，所述旋轉(zhuǎn)臺用于光學(xué)設(shè)備；第二基板，其位于所述第一基板的一側(cè)，所述第二基板上滑動連接有底板，所述底板上設(shè)置有兩塊固定塊，兩塊所述固定塊之間通過橫桿連接；多根導(dǎo)桿；本技術(shù)通過將光學(xué)設(shè)備安裝在旋轉(zhuǎn)臺上，傳感器安裝在傳感器安裝座上，轉(zhuǎn)動旋轉(zhuǎn)臺來調(diào)整光學(xué)設(shè)備的發(fā)光角度，推動升降座沿著導(dǎo)桿滑動，推動傳感器安裝座使得升降桿沿著升降座滑動，實(shí)現(xiàn)了兩軸聯(lián)動調(diào)整傳感器的位置，可以測得光學(xué)設(shè)備軸向多個位置的光照強(qiáng)度，整個測試過程平穩(wěn)順暢，測試效果好，大大地提高了測試效率。

技術(shù)研發(fā)人員：李虞鋒,何張衛(wèi),季耀洲,朱鳳一,俞容文
受保護(hù)的技術(shù)使用者：國科溫州研究院（溫州生物材料與工程研究所）
技術(shù)研發(fā)日：20240506
技術(shù)公布日：2024/12/19