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      使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法

      文檔序號(hào):75381閱讀:285來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法,特別是涉及一種能夠測(cè)試液晶顯示器的薄膜晶體管基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷的使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法。
      背景技術(shù)
      隨著近年來(lái)對(duì)信息顯示器件的興趣的增長(zhǎng),平板顯示器(FPD)作為代替例如CRT的現(xiàn)有顯示器件的手段已經(jīng)被研究并商業(yè)化。在這些平板顯示器當(dāng)中,需要液晶的光學(xué)各向異性以顯示圖像的液晶顯示器(LCD)由于其優(yōu)異的分辨率、顯示圖像的能力、以及圖像質(zhì)量,被特別廣泛地用作膝上型計(jì)算機(jī)、桌上型計(jì)算機(jī)等的監(jiān)視器。
      液晶顯示器典型地包括陣列基板、濾色片基板、以及陣列基板和濾色片基板之間的液晶層。
      陣列基板包括柵線和數(shù)據(jù)線,兩者沿水平和垂直方向設(shè)置在陣列基板上以限定出像素區(qū);設(shè)置在柵線和數(shù)據(jù)線的交叉區(qū)域上的例如薄膜晶體管的開(kāi)關(guān)元件;以及形成在像素區(qū)上的像素電極。
      而且,濾色片基板包括包含子濾色片R、G、B以顯色的濾色片;以及在子濾色片之間分離以限定出像素區(qū)并且遮蔽透射液晶層的光的黑矩陣。在此,濾色片基板可以進(jìn)一步包括可以設(shè)置在陣列基板上的透明公共電極以將電壓施加到液晶層。
      通過(guò)密封劑將如上構(gòu)造的陣列基板和濾色片基板彼此粘接從而完成液晶面板。
      通常通過(guò)陣列工序、濾色片工序、單元工序和模塊工序來(lái)制造液晶顯示器。
      陣列工序是在作為第一基板的透明絕緣基板上通過(guò)重復(fù)地沉積、光刻和蝕刻而形成薄膜晶體管的陣列的工序,以及濾色片工序是形成黑矩陣以阻擋光穿過(guò)除像素區(qū)之外的區(qū)域并且使用染料或色素制造紅、綠和藍(lán)濾色片R、G、B的工序。
      另一方面,在隨后的單元工序之前,不可避免地需要額外的工序以通過(guò)測(cè)試陣列基板和濾色片基板上是否有缺陷來(lái)評(píng)價(jià)已制造的陣列基板和濾色片基板的狀態(tài),從而在單元工序中可以不包括有任何缺陷的基板。
      單元工序是通過(guò)將由薄膜晶體管工序完成的第一基板和由濾色片基板工序完成的第二基板粘接以在兩者之間留有固定間隙并且隨后通過(guò)在其間注入或滴加液晶而形成液晶面板單元的工序。模塊工序是通過(guò)提供用于信號(hào)處理的電路單元、通過(guò)公知的安裝方案連接液晶面板和電路單元、并隨后將它們粘接為部件從而形成模塊的工序。
      下面將更詳細(xì)地描述上述單元工序。
      首先,在每個(gè)由陣列工序形成的陣列基板以及由濾色片工序形成的濾色片基板上設(shè)置定向膜。隨后,進(jìn)行摩擦工序從而將固定力或表面粘附力提供給在陣列基板和濾色片基板之間設(shè)置的液晶層的液晶分子。此時(shí),定向膜可以在涂敷、定向膜印刷、和定向膜測(cè)試之前進(jìn)行清洗并且以上述順序進(jìn)行摩擦。
      隨后,清洗陣列基板和濾色片基板,在陣列基板上形成襯墊料以恒定地保持盒間隙,將密封材料涂敷到濾色片的周圍,并隨后對(duì)陣列基板和濾色片基板施壓以將其彼此粘接。
      最后,通過(guò)液晶注入口將液晶注入到各液晶面板并隨后密封注入口以形成液晶層。
      同時(shí),在單元工序之前進(jìn)行的工序是為了測(cè)試陣列基板和濾色片基板上是否有缺陷,特別是檢查其外觀和電線上是否有毛病。例如,進(jìn)行工序以評(píng)價(jià)是否出現(xiàn)濾色片突起、傾斜線污點(diǎn)、摩擦帶、針孔、柵線和數(shù)據(jù)線中的短路或斷開(kāi)等。
      用于進(jìn)行測(cè)試工序的測(cè)試系統(tǒng)包括用于測(cè)試陣列基板和濾色片基板上是否有缺陷的一組測(cè)試設(shè)備和在基板上發(fā)生任何毛病的情況下用于修復(fù)基板的修復(fù)系統(tǒng)。
      測(cè)試設(shè)備組包括用于測(cè)試陣列基板和濾色片基板是否有任何缺陷的測(cè)試設(shè)備,用于驅(qū)動(dòng)測(cè)試設(shè)備的系統(tǒng)計(jì)算機(jī),以及與系統(tǒng)計(jì)算機(jī)相連接的監(jiān)視器。在此,系統(tǒng)計(jì)算機(jī)添加有鍵盤和鼠標(biāo)以操作系統(tǒng)計(jì)算機(jī)。此外,測(cè)試設(shè)備組還添加有查看監(jiān)視器,操作者可以通過(guò)該查看監(jiān)視器看到基板上是否有缺陷。
      在現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試系統(tǒng)中,一臺(tái)查看監(jiān)視器以一對(duì)一的方式與僅僅一個(gè)用于修復(fù)的計(jì)算機(jī)相連接,從而一個(gè)檢驗(yàn)員僅能控制一個(gè)測(cè)試設(shè)備。因此,存在的問(wèn)題是工作效率由于時(shí)間損失而下降,例如因?yàn)樵跈z驗(yàn)員的用餐時(shí)間或休息時(shí)間中,測(cè)試設(shè)備不工作。此外,現(xiàn)有技術(shù)測(cè)試系統(tǒng)的問(wèn)題在于其需要與測(cè)試設(shè)備的數(shù)量一樣多的檢驗(yàn)員。

      發(fā)明內(nèi)容因此,本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種能夠根據(jù)基板的捕捉圖像來(lái)虛擬地查看和判斷陣列基板和濾色片基板上是否有缺陷的使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法。
      本發(fā)明的另一個(gè)目的是提供一種能夠在根據(jù)基板的捕捉圖像測(cè)試陣列基板和濾色片基板上的缺陷的情況下,減少用于測(cè)試的PC和檢驗(yàn)員數(shù)量的使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法。
      本發(fā)明的又一個(gè)目的是提供一種能夠減少測(cè)試陣列基板和濾色片基板上的缺陷所需的工作時(shí)間的使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法。
      本發(fā)明不限于上述方面,并且從下面的詳細(xì)說(shuō)明中本領(lǐng)域技術(shù)人員將更全面地理解本發(fā)明的其他方面。
      為了實(shí)現(xiàn)這些目的,根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試設(shè)備,用于拍攝陣列基板或?yàn)V色片基板上的缺陷的圖像以獲得捕捉圖像,并且提供與該缺陷相關(guān)的檢查信息;主服務(wù)器,用于將來(lái)自測(cè)試設(shè)備的檢查信息構(gòu)建為數(shù)據(jù)庫(kù)并隨后將其傳送到查看主機(jī);以及查看主機(jī),用于根據(jù)來(lái)自主服務(wù)器的檢查信息判斷陣列基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷以產(chǎn)生判斷結(jié)果,并將判斷結(jié)果再次發(fā)送到主服務(wù)器。
      與缺陷相關(guān)的檢查信息包括陣列基板或?yàn)V色片基板的ID,設(shè)置在陣列基板或?yàn)V色片基板上的多個(gè)面板的ID,根據(jù)檢測(cè)順序的缺陷數(shù)量,已捕捉缺陷的圖像文件,以及檢測(cè)出缺陷的測(cè)試設(shè)備的數(shù)量。
      判斷結(jié)果可以包括缺陷需要修復(fù)的情況,缺陷狀態(tài)為好的情況,缺陷狀態(tài)為不好的情況,以及缺陷狀態(tài)為難以判斷的情況。
      如果判斷結(jié)果為缺陷需要修復(fù)的情況,則由主服務(wù)器向測(cè)試設(shè)備發(fā)出修復(fù)請(qǐng)求,并因此由測(cè)試設(shè)備修復(fù)該缺陷。
      如果測(cè)試設(shè)備已修復(fù)該缺陷,那么產(chǎn)生修復(fù)區(qū)域的捕捉圖像并且將該捕捉圖像從測(cè)試設(shè)備傳送到主服務(wù)器。
      根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試系統(tǒng)可以進(jìn)一步包括質(zhì)量管理主機(jī),用于從主服務(wù)器接收捕捉圖像,并根據(jù)缺陷狀態(tài)判斷陣列基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷。
      根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試系統(tǒng)可以進(jìn)一步包括復(fù)查主機(jī),用于在缺陷狀態(tài)為難以判斷的情況下,根據(jù)實(shí)時(shí)捕捉的該缺陷的實(shí)時(shí)圖像復(fù)查缺陷狀態(tài)。
      為了實(shí)現(xiàn)上述目的,根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試設(shè)備,用于拍攝陣列基板或?yàn)V色片基板上的缺陷的圖像以獲得捕捉圖像,并且提供與該缺陷相關(guān)的檢查信息;主服務(wù)器,用于將來(lái)自測(cè)試設(shè)備的檢查信息構(gòu)建為數(shù)據(jù)庫(kù)并隨后將其傳送到第一查看主機(jī);第一查看主機(jī),用于根據(jù)來(lái)自主服務(wù)器的檢查信息判斷在陣列基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷以產(chǎn)生判斷結(jié)果,并將判斷結(jié)果再次發(fā)送到主服務(wù)器;以及第二查看主機(jī),用于從主服務(wù)器接收捕捉圖像并根據(jù)缺陷狀態(tài)判斷在陣列基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷。
      根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試系統(tǒng)可以進(jìn)一步包括警報(bào)主機(jī),用于監(jiān)控測(cè)試設(shè)備的狀態(tài)從而呼叫操作者。
      根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試系統(tǒng)可以進(jìn)一步包括從服務(wù)器,用于在主服務(wù)器不工作的情況下執(zhí)行與主服務(wù)器相同的功能。
      為了實(shí)現(xiàn)上述目的,根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試方法包括通過(guò)測(cè)試設(shè)備拍攝陣列基板或?yàn)V色片基板上的缺陷的圖像以獲得捕捉圖像,并提供與該缺陷相關(guān)的檢查信息;通過(guò)主服務(wù)器將來(lái)自測(cè)試設(shè)備的檢查信息構(gòu)建為數(shù)據(jù)庫(kù)并隨后傳送它們;以及根據(jù)來(lái)自主服務(wù)器的檢查信息判斷在陣列基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷以產(chǎn)生判斷結(jié)果,并將判斷結(jié)果再次發(fā)送到主服務(wù)器。
      根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試方法可以進(jìn)一步包括從主服務(wù)器接收捕捉圖像,并根據(jù)缺陷狀態(tài)判斷在陣列基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷。
      根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試方法可以進(jìn)一步包括在缺陷狀態(tài)為難以判斷的情況下,根據(jù)實(shí)時(shí)捕捉的該缺陷的實(shí)時(shí)圖像來(lái)復(fù)查缺陷狀態(tài)。
      圖1示出了根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式的使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu) 圖2示出了根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式的使用虛擬查看的測(cè)試方法的操作流程圖;圖3示出了根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式的使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)的另一結(jié)構(gòu)圖;圖4示出了根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式的使用虛擬查看的測(cè)試方法的另一操作流程圖;圖5示出了根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式的使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)的信號(hào)流程圖;圖6a示出了根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式產(chǎn)生的缺陷的捕捉圖像,并且圖6b示出了在ADR之后的狀態(tài)的捕捉圖像。
      具體實(shí)施方式其他實(shí)施方式的進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明將包含在所附詳細(xì)的說(shuō)明書和附圖中。本發(fā)明的上述和/或其他方面和優(yōu)點(diǎn)通過(guò)與附圖結(jié)合的以下示例性實(shí)施方式的說(shuō)明變得顯而易見(jiàn)和更容易理解。相同的附圖標(biāo)記在全文中用于相同的元件。
      以下,將參照附圖詳細(xì)說(shuō)明使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法。
      圖1示出了根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式的使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。在圖1中,虛線表示的信號(hào)流程表示已經(jīng)傳輸?shù)男畔ⅲ⑶覍?shí)線表示的信號(hào)流程表示實(shí)際驅(qū)動(dòng)測(cè)試設(shè)備的信號(hào)。
      參照?qǐng)D1,根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方式的測(cè)試系統(tǒng)100包括測(cè)試設(shè)備110,復(fù)查主機(jī)(MPC120),主服務(wù)器(RCS130),查看主機(jī)(PRC140),以及質(zhì)量管理主機(jī)(QPC150)。此時(shí),測(cè)試設(shè)備110,查看主機(jī)140,以及質(zhì)量管理主機(jī)150分別經(jīng)由網(wǎng)絡(luò)連接到主服務(wù)器130,并且復(fù)查主機(jī)120和測(cè)試設(shè)備110可以經(jīng)由單獨(dú)網(wǎng)絡(luò)彼此相連。主機(jī)120,140,150可通過(guò)個(gè)人計(jì)算機(jī),即PC來(lái)實(shí)現(xiàn)。
      通常,測(cè)試設(shè)備110包括安裝有用于檢測(cè)顯示在面板上的圖案的攝像機(jī)的圖像單元以及用于分析輸入到攝像機(jī)的信號(hào)的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。
      此時(shí),攝像機(jī)沿水平方向在面板上進(jìn)行掃描以收集出現(xiàn)在陣列基板或?yàn)V色片基板上的測(cè)試圖案并且將該圖案?jìng)魉偷接?jì)算機(jī)系統(tǒng)??梢酝ㄟ^(guò)將攝像機(jī)下降指定角度(例如,0°~70°,80°~100°,110°~160°)進(jìn)行掃描可改善檢測(cè)缺陷的能力,從而該檢測(cè)能力可以通過(guò)根據(jù)視角檢測(cè)不同的缺陷來(lái)補(bǔ)充。
      同樣地,可以通過(guò)將例如攝像機(jī)的圖像設(shè)備提供給測(cè)試設(shè)備可補(bǔ)償通過(guò)操作者眼睛測(cè)試所帶來(lái)的限制,并且因而可以改善工作效率,這樣提高了生產(chǎn)量。
      另一方面,根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施方式,測(cè)試設(shè)備110對(duì)缺陷進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)修復(fù)(ADR)。
      主服務(wù)器130接收由測(cè)試設(shè)備110捕捉的缺陷圖像文件,陣列基板和濾色片基板的面板ID,玻璃基板的ID,缺陷數(shù)量,設(shè)備數(shù)量等,并且將它們做成數(shù)據(jù)庫(kù),并隨后將該信息發(fā)送到查看主機(jī)140。此時(shí),除了主服務(wù)器130以外可以提供輔助服務(wù)器,即從服務(wù)器131,用于預(yù)料之外的緊急情況的操作。也即,從服務(wù)器131可以在主服務(wù)器130故障的情況下代替主服務(wù)器130。
      查看主機(jī)140用來(lái)使用捕捉的缺陷圖像來(lái)查看缺陷狀態(tài),并且判斷缺陷狀態(tài)從而產(chǎn)生判斷值。產(chǎn)生的判斷值被傳送到主服務(wù)器130并存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)中。數(shù)據(jù)庫(kù)可以在主服務(wù)器130內(nèi)實(shí)現(xiàn)或者在主服務(wù)器130的外部獨(dú)立地實(shí)現(xiàn)。
      在測(cè)試設(shè)備110完成缺陷的自動(dòng)修復(fù)之后,質(zhì)量管理主機(jī)150根據(jù)已修復(fù)區(qū)域捕捉的圖像信息來(lái)判斷是否成功地修復(fù)了該缺陷。如果成功地修復(fù)了缺陷,那么陣列基板或?yàn)V色片基板進(jìn)行用于判斷是否有任何缺陷的測(cè)試。
      復(fù)查主機(jī)120用來(lái)在查看主機(jī)140難以判斷缺陷狀態(tài)的情況下復(fù)查缺陷的狀態(tài)。當(dāng)查看主機(jī)140根據(jù)捕捉的缺陷圖像進(jìn)行查看和判斷時(shí),復(fù)查主機(jī)120根據(jù)由測(cè)試設(shè)備110的攝像機(jī)實(shí)時(shí)拍攝的實(shí)時(shí)圖像執(zhí)行復(fù)查。
      同時(shí),假設(shè)測(cè)試設(shè)備110的數(shù)量是50個(gè),在現(xiàn)有技術(shù)中需要50臺(tái)用于檢測(cè)的檢驗(yàn)員的PC,但是,因?yàn)闇y(cè)試由捕捉的圖像而不是實(shí)時(shí)圖像來(lái)執(zhí)行所以,在本發(fā)明的實(shí)施方式中25個(gè)查看主機(jī)140就足以進(jìn)行測(cè)試。并且,各主機(jī)120,140,150安裝在遠(yuǎn)程地點(diǎn)從而能夠從遠(yuǎn)程地點(diǎn)控制測(cè)試設(shè)備110。
      圖2示出了根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式的使用虛擬查看的測(cè)試方法的操作流程圖。
      參照?qǐng)D2,首先,如果裝載了玻璃基板,那么由測(cè)試設(shè)備110判斷陣列基板或?yàn)V色片基板上是否存在缺陷。此時(shí),如果在陣列基板或?yàn)V色片基板上檢測(cè)到任何缺陷,那么測(cè)試設(shè)備捕捉已檢測(cè)到的缺陷的圖像(S201)。
      然后,測(cè)試設(shè)備110將包括GLS ID、PNL ID、缺陷序列號(hào)等的缺陷信息以及包括每個(gè)已檢測(cè)的缺陷的缺陷圖像文件和設(shè)備號(hào)的信息發(fā)送到主服務(wù)器130(S202)。在此,作為陣列基板或?yàn)V色片基板的玻璃基板的信息的GLS ID是指例如“7AA5D017510”的玻璃基板的ID,作為在玻璃基板上提供的信息的PNL ID是指例如“7AA5D017510A1”的面板的ID,并且缺陷序列號(hào)是指在一個(gè)玻璃基板上存在多個(gè)缺陷的情況下,順序分配給每個(gè)缺陷的號(hào)碼。
      主服務(wù)器130將從測(cè)試設(shè)備110傳送的缺陷信息和例如圖像文件、設(shè)備號(hào)碼等的信息存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù),并隨后將它們順序發(fā)送到查看主機(jī)140(S203)。
      如果缺陷信息和例如圖像文件、設(shè)備號(hào)碼等的信息從主服務(wù)器130傳送到查看主機(jī)140,那么查看主機(jī)140根據(jù)捕捉的缺陷圖像進(jìn)行查看和判斷(S204)。即,操作者打開(kāi)捕捉的缺陷圖像文件以查看缺陷并且判斷該缺陷的狀態(tài)。
      此時(shí),操作者可以獲得多種判斷值作為判斷的結(jié)果,并且這些判斷值被傳送到主服務(wù)器130。下面的表1示出了這些判斷值。
      參照表1,判斷值“Q”表示對(duì)于查看和判斷需要攝像機(jī)的放大調(diào)整,因?yàn)橥ㄟ^(guò)捕捉的圖像文件難以判斷缺陷狀態(tài)。判斷值“A”表示僅通過(guò)捕捉的圖像文件難以判斷缺陷狀態(tài),因?yàn)閿z像機(jī)的自動(dòng)對(duì)焦工作不正常。判斷值“M”表示由于較差的金屬性不能通過(guò)查看主機(jī)140判斷缺陷狀態(tài)。判斷值“G”表示缺陷狀態(tài)良好,因?yàn)殛嚵谢寤驗(yàn)V色片基板上沒(méi)有缺陷,或者缺陷太少而不需要考慮,并且判斷值“P”表示面板的缺陷需要修復(fù)。
      換句話說(shuō),在步驟S205中判斷是否可以評(píng)價(jià)出陣列基板或?yàn)V色片基板上的缺陷。此時(shí),表示難以判斷缺陷狀態(tài)的判斷值“Q”、“A”和“M”代表查看主機(jī)140難以判斷缺陷狀態(tài)的情況。
      在產(chǎn)生“Q”、“A”和“M”的任意一個(gè)作為判斷值的情況下,復(fù)查主機(jī)120對(duì)缺陷進(jìn)行復(fù)查(S206)。當(dāng)查看主機(jī)140根據(jù)捕捉的缺陷圖像進(jìn)行查看和判斷時(shí),復(fù)查主機(jī)120實(shí)時(shí)地根據(jù)由測(cè)試設(shè)備110的攝像機(jī)拍攝的陣列基板或?yàn)V色片基板的實(shí)時(shí)圖像來(lái)執(zhí)行查看和判斷。
      即,操作者通過(guò)使用可以多路訪問(wèn)各測(cè)試設(shè)備110的復(fù)查主機(jī)120內(nèi)的PC對(duì)缺陷進(jìn)行復(fù)查。此時(shí),復(fù)查主機(jī)120和測(cè)試設(shè)備110的多路訪問(wèn)比是約3到8。
      另一方面,在可以判斷陣列基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷的情況下,在步驟S207中判斷判斷值是否為表示“好”的“G”,并且如果判斷值是“G”,那么陣列基板和濾色片基板被判斷為好,并且執(zhí)行后續(xù)工序(S208)。
      除非判斷值被判斷為“好”,那么判斷判斷值是否表示為需要修復(fù)的“P”(S209)。
      如果判斷值是“P”,主服務(wù)器130將與缺陷相關(guān)的信息以及判斷值是“P”的信息發(fā)送給檢測(cè)出相應(yīng)缺陷的測(cè)試設(shè)備110。如果測(cè)試設(shè)備110從主服務(wù)器130接收到判斷值是“P”的信息,那么測(cè)試設(shè)備110自動(dòng)修復(fù)相應(yīng)的缺陷并捕捉修復(fù)區(qū)域的圖像(S210)。此時(shí),已捕捉的修復(fù)區(qū)域的圖像被傳送到主服務(wù)器130。
      隨后,主服務(wù)器130將從測(cè)試設(shè)備110傳送的捕捉的修復(fù)區(qū)域的圖像存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)并隨后將它們?cè)俅伟l(fā)送到質(zhì)量管理主機(jī)150。
      接下來(lái),質(zhì)量管理主機(jī)150使用從服務(wù)器130傳送的已捕捉的修復(fù)區(qū)域的圖像來(lái)判斷是否成功地修復(fù)了缺陷,即ADR(自動(dòng)缺陷修復(fù))是否成功(S211)。
      然后,如果ADR的結(jié)果顯示缺陷被成功修復(fù),更具體地,缺陷被成功修復(fù)并且判斷陣列基板或?yàn)V色片基板上不存在缺陷,則繼續(xù)上述步驟S208并且隨后可以對(duì)下一個(gè)陣列基板或?yàn)V色片基板進(jìn)行是否存在缺陷的測(cè)試。
      同時(shí),在盡管已經(jīng)修復(fù)缺陷但仍存在缺陷的情況下,即ADR沒(méi)有被判斷為成功,那么測(cè)試設(shè)備110將該過(guò)程返回到修復(fù)缺陷的步驟S210。
      如果判斷值不是表示需要修復(fù)的“P”,那么陣列基板或?yàn)V色片基板被判斷為具有缺陷并且進(jìn)行后續(xù)工序(S212)。
      在此,步驟S205、步驟S207和步驟S209可以改變其順序。
      圖3示出了根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式的使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)的另一結(jié)構(gòu)圖。
      參照?qǐng)D3,根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式的使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)300包括測(cè)試設(shè)備310,復(fù)查主機(jī)(MPC320),主服務(wù)器(RCS330),第一查看主機(jī)(PRC340),質(zhì)量管理主機(jī)(QPC350),第二查看主機(jī)360,以及警報(bào)主機(jī)(ALPC370)。
      此時(shí),測(cè)試設(shè)備310,第一查看主機(jī)340和第二查看主機(jī)360,以及質(zhì)量管理主機(jī)350分別經(jīng)由網(wǎng)絡(luò)連接到主服務(wù)器330,并且復(fù)查主機(jī)320和測(cè)試設(shè)備310可以經(jīng)由單獨(dú)網(wǎng)絡(luò)彼此相連。主機(jī)320,340,350,360和370可通過(guò)個(gè)人計(jì)算機(jī),即PC來(lái)實(shí)現(xiàn)。
      根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式的使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)300具有與根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式的使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)100相同的部件,除了測(cè)試系統(tǒng)300還包括第二查看主機(jī)360和警報(bào)主機(jī)370。因此,將省略與測(cè)試系統(tǒng)100相同的描述,并且以下僅描述與測(cè)試系統(tǒng)100的區(qū)別。
      根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式,測(cè)試設(shè)備310對(duì)缺陷進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)修復(fù)(ADR)。主服務(wù)器330接收由測(cè)試設(shè)備310捕捉的缺陷圖像文件,面板ID,玻璃基板的ID,缺陷數(shù)量,設(shè)備數(shù)量等,并且將它們做成數(shù)據(jù)庫(kù),并隨后將該信息發(fā)送到查看主機(jī)340。此時(shí),除了主服務(wù)器331之外還可以提供輔助服務(wù)器,即從服務(wù)器330以用于預(yù)料之外的緊急情況。第一查看主機(jī)340用于使用捕捉的缺陷圖像來(lái)查看缺陷狀態(tài)并且判斷缺陷狀態(tài),從而產(chǎn)生判斷值。產(chǎn)生的判斷值被傳送到主服務(wù)器330并被存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)中。
      在測(cè)試設(shè)備310完成缺陷的自動(dòng)修復(fù)之后,第二查看主機(jī)360根據(jù)修復(fù)區(qū)域捕捉的圖像信息判斷是否成功修復(fù)了缺陷。如從上述說(shuō)明可以看出的,在第一實(shí)施方式中的質(zhì)量管理主機(jī)150實(shí)現(xiàn)的功能可以由第二實(shí)施方式中的第二查看主機(jī)360來(lái)執(zhí)行。
      復(fù)查主機(jī)320用來(lái)在第一查看主機(jī)340難以判斷出缺陷狀態(tài)的情況下復(fù)查缺陷狀態(tài)。當(dāng)?shù)谝徊榭粗鳈C(jī)340根據(jù)捕捉的缺陷圖像進(jìn)行查看和判斷時(shí),復(fù)查主機(jī)320根據(jù)由測(cè)試設(shè)備310的攝像機(jī)實(shí)時(shí)拍攝的實(shí)時(shí)圖像進(jìn)行復(fù)查。
      警報(bào)主機(jī)370用來(lái)監(jiān)控測(cè)試設(shè)備310的狀態(tài)并當(dāng)模式改變?yōu)榱硪粋€(gè)時(shí)呼叫操作者。
      圖4示出了根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式的使用虛擬查看的測(cè)試方法的另一操作流程圖。
      首先,如果裝載了玻璃基板,那么由測(cè)試設(shè)備310判斷陣列基板或?yàn)V色片基板上是否存在缺陷。此時(shí),如果在陣列基板或?yàn)V色片基板上檢測(cè)到任何缺陷,那么測(cè)試設(shè)備310捕捉檢測(cè)到的缺陷圖像(S401)。
      然后,測(cè)試設(shè)備310將包括GLS ID、PNL ID、缺陷序列號(hào)等的缺陷信息以及包括每個(gè)檢測(cè)到的缺陷的缺陷圖像文件和設(shè)備號(hào)的信息發(fā)送到主服務(wù)器330(S402)。
      接下來(lái),主服務(wù)器330將從測(cè)試設(shè)備310傳送的缺陷信息和例如捕捉的圖像文件、設(shè)備號(hào)碼等的信息存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù),并隨后將它們順序發(fā)送到查看主機(jī)340(S403)。
      然后,如果缺陷信息和例如捕捉的圖像文件、設(shè)備號(hào)碼等的信息從主服務(wù)器330傳送到第一查看主機(jī)340,那么查看主機(jī)340根據(jù)捕捉的缺陷圖像進(jìn)行查看和缺陷代碼的判斷(S404)。即,操作者打開(kāi)捕捉的缺陷圖像文件以查看缺陷并且判斷該缺陷的狀態(tài),并且將判斷值傳送到主服務(wù)器330。
      接下來(lái),在步驟S405中判斷是否可以評(píng)價(jià)出陣列基板或?yàn)V色片基板上的缺陷。此時(shí),在產(chǎn)生“Q”、“A”和“M”的任意一個(gè)作為判斷值的情況下,復(fù)查主機(jī)320對(duì)缺陷進(jìn)行復(fù)查(S406)。
      此時(shí),當(dāng)?shù)谝徊榭粗鳈C(jī)340根據(jù)捕捉的缺陷圖像進(jìn)行查看和判斷時(shí),復(fù)查主機(jī)320根據(jù)由測(cè)試設(shè)備310的攝像機(jī)實(shí)時(shí)拍攝的陣列基板或?yàn)V色片基板的實(shí)時(shí)圖像來(lái)執(zhí)行查看和判斷。
      另一方面,在可以判斷陣列基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷的情況下,在步驟S407中判斷判斷值是否為表示“好”的“G”,并且如果判斷值是“G”,那么陣列基板和濾色片基板被判斷為好,并且執(zhí)行后續(xù)工序(S408)。
      除非判斷值被判斷為“好”,那么判斷判斷值是否為表示需要修復(fù)的“P”(S409)。
      如果判斷值是“P”,主服務(wù)器330將與缺陷相關(guān)的信息以及判斷值是“P”的信息發(fā)送給檢測(cè)出相應(yīng)缺陷的測(cè)試設(shè)備310。
      如果測(cè)試設(shè)備310從主服務(wù)器330接收判斷值是“P”的信息,那么測(cè)試設(shè)備310自動(dòng)修復(fù)相應(yīng)的缺陷并捕捉修復(fù)區(qū)域的圖像(S410)。
      此時(shí),已捕捉的修復(fù)區(qū)域的圖像被傳送到主服務(wù)器330。隨后,主服務(wù)器330將從測(cè)試設(shè)備310傳送的捕捉的修復(fù)區(qū)域的圖像存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫(kù)并隨后將它們?cè)俅伟l(fā)送到第二查看主機(jī)360(S411)。
      接下來(lái),第二查看主機(jī)360使用從服務(wù)器330傳送的捕捉的修復(fù)區(qū)域的圖像來(lái)判斷是否成功地修復(fù)了缺陷,即ADR(自動(dòng)缺陷修復(fù))是否成功(S412)。
      然后,如果ADR的結(jié)果顯示缺陷被成功修復(fù),更具體地,缺陷被成功修復(fù)并且判斷陣列基板或?yàn)V色片基板上不存在缺陷,則繼續(xù)上述步驟S408并且隨后可以對(duì)下一個(gè)陣列基板或?yàn)V色片基板進(jìn)行是否存在缺陷的測(cè)試。
      同時(shí),在盡管已經(jīng)修復(fù)缺陷但仍存在缺陷的情況下,即ADR沒(méi)有被判斷為成功,那么測(cè)試設(shè)備310將該過(guò)程返回到修復(fù)缺陷的步驟S410。
      如果判斷值不是表示需要修復(fù)的“P”,那么陣列基板或?yàn)V色片基板被判斷為具有缺陷并且進(jìn)行后續(xù)工序(S413)。
      在此,步驟S405、步驟S407和步驟S409可以改變其順序。
      圖5示出了根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式的使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)的信號(hào)流程圖,并且更具體地描述了各部件的操作。
      參照?qǐng)D5,在根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式的使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)中,測(cè)試設(shè)備310首先裝載玻璃基板(S501),對(duì)陣列基板或?yàn)V色片基板上的缺陷拍攝圖像(S502),并隨后將缺陷的檢查信息發(fā)送到主服務(wù)器330(S503)。
      充分考慮負(fù)載量的情況下,主服務(wù)器330將檢查信息再次發(fā)送到第一查看主機(jī)340(S504)。此時(shí),第一查看主機(jī)340確認(rèn)缺陷圖像(S505),查看圖案映射,并隨后輸入缺陷代碼的判斷值(S506)。然后,將判斷值傳送給主服務(wù)器330(S507)。
      接下來(lái),主服務(wù)器330將判斷值再次發(fā)送給測(cè)試設(shè)備310(S508),并且在判斷值是表示需要修復(fù)的“P”的情況下,測(cè)試設(shè)備310開(kāi)始進(jìn)行ADR(S509)。然后,測(cè)試設(shè)備310將ADR的結(jié)果發(fā)送到主服務(wù)器330(S510)。
      充分考慮負(fù)載量的情況下,主服務(wù)器330將ADR的結(jié)果再次發(fā)送到第二查看主機(jī)360(S511)。因此,第二查看主機(jī)360確認(rèn)ADR的結(jié)果,判斷是否成功進(jìn)行了ADR,并隨后輸入判斷值(S512)。
      接下來(lái),第二查看主機(jī)360將是否成功進(jìn)行了ADR的判斷值發(fā)送到主服務(wù)器330(S513),并且主服務(wù)器330將該判斷值再次發(fā)送到測(cè)試設(shè)備310(S514)。
      另一方面,在判斷為主服務(wù)器330不可能判斷陣列基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷的情況下,測(cè)試設(shè)備310切換到手動(dòng)模式(S515)。
      當(dāng)切換到手動(dòng)模式時(shí),測(cè)試設(shè)備310將模式變化通知主服務(wù)器330(S516),并且主服務(wù)器330將該模式變化傳輸?shù)骄瘓?bào)主機(jī)370(S517)。
      接下來(lái),響應(yīng)該模式變化,警報(bào)主機(jī)370呼叫手動(dòng)PC的復(fù)查主機(jī)320的操作者(S518)。因此,操作者在復(fù)查主機(jī)320直接控制測(cè)試設(shè)備的情況下人工修復(fù)陣列基板或?yàn)V色片基板上的缺陷,這樣允許測(cè)試設(shè)備310人工修復(fù)代碼是“不能判斷”的缺陷(S520)。
      隨后,卸載已修復(fù)缺陷的基板,然后裝載下一基板,并隨后對(duì)下一基板重復(fù)步驟S502至S520。
      圖6a示出了根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施方式產(chǎn)生的缺陷的捕捉圖像,并且圖6b示出了在ADR之后的狀態(tài)的捕捉圖像。
      在圖6a中可以看出,如果測(cè)試設(shè)備310捕捉了缺陷圖像,那么捕捉的圖像經(jīng)由主服務(wù)器330傳送到第一查看主機(jī)340,并且第一查看主機(jī)340查看捕捉的圖像并判斷其缺陷代碼。
      隨后,測(cè)試設(shè)備310執(zhí)行ADR并隨后通過(guò)主服務(wù)器330將ADR的結(jié)果,即已捕捉的圖像發(fā)送到第二查看主機(jī)360。圖6b示出了缺陷消除后捕捉圖像的狀態(tài)。
      上述本發(fā)明的示例性實(shí)施方式和方面僅是示例性的,并不應(yīng)理解為限制本發(fā)明。本教導(dǎo)可以容易地應(yīng)用于其他類型的裝置。而且,本發(fā)明的示例性實(shí)施方式的說(shuō)明旨在說(shuō)明而不是限制權(quán)利要求
      的范圍,并且許多可選方式、修改和變型對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員來(lái)說(shuō)是顯而易見(jiàn)的。
      如上所述,本發(fā)明不同于一個(gè)操作者僅能控制一個(gè)測(cè)試設(shè)備的現(xiàn)有技術(shù),使一個(gè)操作者根據(jù)由多個(gè)測(cè)試設(shè)備捕捉的基板上的缺陷圖像來(lái)進(jìn)行查看和判斷,因而允許高效地驅(qū)動(dòng)測(cè)試設(shè)備并且減少操作者的數(shù)量。所以,可以顯著減少測(cè)試的工作時(shí)間。
      權(quán)利要求
      1.一種測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試設(shè)備,用于拍攝陣列基板或?yàn)V色片基板上的缺陷的圖像以獲得捕捉圖像,并且提供與所述缺陷相關(guān)的檢查信息;主服務(wù)器,用于將來(lái)自所述測(cè)試設(shè)備的所述檢查信息構(gòu)建為數(shù)據(jù)庫(kù),并隨后將其傳送到查看主機(jī);以及查看主機(jī),用于根據(jù)來(lái)自所述主服務(wù)器的檢查信息判斷陣列基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷以產(chǎn)生判斷結(jié)果,并將判斷結(jié)果再次發(fā)送到所述主服務(wù)器。
      2.根據(jù)權(quán)利要求
      1所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,與所述缺陷相關(guān)的檢查信息包括所述陣列基板或?yàn)V色片基板的ID,設(shè)置在陣列基板或?yàn)V色片基板上的多個(gè)面板的ID,根據(jù)檢測(cè)順序的缺陷數(shù)量,已捕捉缺陷的圖像文件,以及檢測(cè)出缺陷的測(cè)試設(shè)備的數(shù)量。
      3.根據(jù)權(quán)利要求
      1所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述的判斷結(jié)果包括所述缺陷需要修復(fù)的情況,缺陷狀態(tài)為好的情況,缺陷狀態(tài)為不好的情況,以及缺陷狀態(tài)為難以判斷的情況。
      4.根據(jù)權(quán)利要求
      3所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,如果所述判斷結(jié)果為所述缺陷需要修復(fù)的情況,則由所述主服務(wù)器向所述測(cè)試設(shè)備發(fā)出修復(fù)請(qǐng)求,并因此由所述測(cè)試設(shè)備修復(fù)該缺陷。
      5.根據(jù)權(quán)利要求
      4所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,如果所述測(cè)試設(shè)備已修復(fù)所述缺陷,那么產(chǎn)生已修復(fù)區(qū)域的捕捉圖像并且將該捕捉圖像從該測(cè)試設(shè)備傳送到主服務(wù)器。
      6.根據(jù)權(quán)利要求
      1所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,進(jìn)一步包括質(zhì)量管理主機(jī),用于從主服務(wù)器接收捕捉圖像并根據(jù)缺陷狀態(tài)判斷在陣列基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷。
      7.根據(jù)權(quán)利要求
      1所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,進(jìn)一步包括復(fù)查主機(jī),用于在缺陷狀態(tài)為難以判斷的情況下,根據(jù)實(shí)時(shí)捕捉的該缺陷的實(shí)時(shí)圖像復(fù)查缺陷狀態(tài)。
      8.一種測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試設(shè)備,用于拍攝陣列基板或?yàn)V色片基板上的缺陷的圖像以獲得捕捉圖像,并且提供與所述缺陷相關(guān)的檢查信息;主服務(wù)器,用于將來(lái)自所述測(cè)試設(shè)備的檢查信息構(gòu)建為數(shù)據(jù)庫(kù),并隨后將其傳送到第一查看主機(jī);第一查看主機(jī),用于根據(jù)來(lái)自所述主服務(wù)器的檢查信息判斷在陣列基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷以產(chǎn)生判斷結(jié)果,并將所述判斷結(jié)果再次發(fā)送到主服務(wù)器;以及第二查看主機(jī),用于從所述主服務(wù)器接收所述捕捉圖像,并根據(jù)缺陷狀態(tài)判斷在陣列基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷。
      9.根據(jù)權(quán)利要求
      8所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,與所述缺陷相關(guān)的檢查信息包括所述陣列基板或?yàn)V色片基板的ID,設(shè)置在陣列基板或?yàn)V色片基板上的多個(gè)面板的ID,根據(jù)檢測(cè)順序的缺陷數(shù)量,已捕捉缺陷的圖像文件,以及檢測(cè)出缺陷的測(cè)試設(shè)備的數(shù)量。
      10.根據(jù)權(quán)利要求
      8所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,所述判斷結(jié)果包括所述缺陷需要修復(fù)的情況,缺陷狀態(tài)為好的情況,缺陷狀態(tài)為不好的情況,以及缺陷狀態(tài)為難以判斷的情況。
      11.根據(jù)權(quán)利要求
      10所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,如果所述判斷結(jié)果為缺陷需要修復(fù)的情況則由所述主服務(wù)器向所述測(cè)試設(shè)備發(fā)出修復(fù)請(qǐng)求,并因此由測(cè)試設(shè)備修復(fù)該缺陷。
      12.根據(jù)權(quán)利要求
      11所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,如果所述測(cè)試設(shè)備已修復(fù)所述缺陷,那么產(chǎn)生修復(fù)區(qū)域的捕捉圖像并且將該捕捉圖像從測(cè)試設(shè)備傳送到主服務(wù)器。
      13根據(jù)權(quán)利要求
      8所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,進(jìn)一步包括復(fù)查主機(jī),用于在缺陷狀態(tài)為難以判斷的情況下,根據(jù)實(shí)時(shí)捕捉的該缺陷的實(shí)時(shí)圖像復(fù)查缺陷狀態(tài)。
      14.根據(jù)權(quán)利要求
      8所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,進(jìn)一步包括警報(bào)主機(jī),用于監(jiān)控所述測(cè)試設(shè)備的狀態(tài)從而呼叫操作者。
      15.根據(jù)權(quán)利要求
      8所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,進(jìn)一步包括從服務(wù)器,用于在主服務(wù)器不工作的情況下執(zhí)行與主服務(wù)器相同的功能。
      16.一種測(cè)試方法包括通過(guò)測(cè)試設(shè)備拍攝陣列基板或?yàn)V色片基板上缺陷的圖像以獲得捕捉圖像,并提供與所述缺陷相關(guān)的檢查信息;通過(guò)主服務(wù)器將來(lái)自所述測(cè)試設(shè)備的檢查信息構(gòu)建為數(shù)據(jù)庫(kù)并隨后傳送它們;以及根據(jù)來(lái)自所述主服務(wù)器的檢查信息判斷在陣列基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷以產(chǎn)生判斷結(jié)果,并將該判斷結(jié)果再次發(fā)送到所述主服務(wù)器。
      17.根據(jù)權(quán)利要求
      16所述的測(cè)試方法,其特征在于,與所述缺陷相關(guān)的檢查信息包括所述陣列基板或?yàn)V色片基板的ID,設(shè)置在陣列基板或?yàn)V色片基板上的多個(gè)面板的ID,根據(jù)檢測(cè)順序的缺陷的數(shù)量,已捕捉缺陷的圖像文件,以及檢測(cè)出缺陷的測(cè)試設(shè)備的數(shù)量。
      18.根據(jù)權(quán)利要求
      16所述的測(cè)試方法,其特征在于,所述判斷結(jié)果包括缺陷需要修復(fù)的情況,缺陷狀態(tài)為好的情況,缺陷狀態(tài)為不好的情況,以及缺陷狀態(tài)為難以判斷的情況。
      19.根據(jù)權(quán)利要求
      18所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,如果所述判斷結(jié)果為缺陷需要修復(fù)的情況,則由所述主服務(wù)器向所述測(cè)試設(shè)備發(fā)出修復(fù)請(qǐng)求,并因此由所述測(cè)試設(shè)備修復(fù)該缺陷。
      20.根據(jù)權(quán)利要求
      19所述的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,如果所述測(cè)試設(shè)備已修復(fù)所述缺陷,那么產(chǎn)生修復(fù)區(qū)域的捕捉圖像并且將所述捕捉圖像從測(cè)試設(shè)備傳送到主服務(wù)器。
      21.根據(jù)權(quán)利要求
      16所述的測(cè)試方法,其特征在于,進(jìn)一步包括從主服務(wù)器接收捕捉圖像,并根據(jù)缺陷狀態(tài)判斷陣列基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷。
      22.根據(jù)權(quán)利要求
      16所述的測(cè)試方法,其特征在于,進(jìn)一步包括在缺陷狀態(tài)為難以判斷的情況下,根據(jù)實(shí)時(shí)捕捉的所述缺陷的實(shí)時(shí)圖像來(lái)復(fù)查缺陷狀態(tài)。
      專利摘要
      本發(fā)明公開(kāi)了一種使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法,其能夠通過(guò)使操作者根據(jù)基板上的缺陷的捕捉圖像進(jìn)行查看和判斷來(lái)驅(qū)動(dòng)測(cè)試設(shè)備并減少操作者的數(shù)量。該使用虛擬查看的測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試設(shè)備,用于拍攝陣列基板或?yàn)V色片基板上的缺陷的圖像以獲得捕捉圖像,并且提供與缺陷相關(guān)的檢查信息;主服務(wù)器,用于將來(lái)自測(cè)試設(shè)備的檢查信息構(gòu)建為數(shù)據(jù)庫(kù),并隨后將其傳送到查看主機(jī);以及查看主機(jī),用于根據(jù)來(lái)自主服務(wù)器的檢查信息判斷陣列基板或?yàn)V色片基板上是否有缺陷以產(chǎn)生判斷結(jié)果,并將判斷結(jié)果再次發(fā)送到主服務(wù)器。
      文檔編號(hào)G02F1/13GK1995991SQ200610168253
      公開(kāi)日2007年7月11日 申請(qǐng)日期2006年12月28日
      發(fā)明者樸虎鮮, 嚴(yán)文圣, 南相浩 申請(qǐng)人:Lg.菲利浦Lcd株式會(huì)社導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan
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