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      測量同位素位移光譜的方法和裝置的制作方法

      文檔序號:90641閱讀:644來源:國知局
      專利名稱:測量同位素位移光譜的方法和裝置的制作方法
      測量兩種同位素的高分辨位移光譜,目前多采用原子束光譜法〔1〕。該方法的分辨率和準確度高,但設備復雜昂貴,操作繁復。特別是測量鈾同位素對于鈾的高溫腐蝕和放射性污染問題更難解決。近年來,美國LosAlamos實驗室的R·A·Keller等〔2〕提出用光電流光譜法測量高分辨同位素位移光譜。并且用天然鈾空心陰極燈測量235U-238U位移光譜獲得成功。但由于同位素豐度相差懸殊,豐度高的同位素譜線強,豐度低的同位素譜線弱,嚴重影響測量的靈敏度與準確度。特別是采用的單光路測量系統(tǒng)還不能測量兩種同位素的零位移光譜。
      本發(fā)明的目的就是為了克服上述大型原子束法設備復雜,特別是測量鈾同位素時鈾的高溫腐蝕和放射性污染等缺點;改進光電流光譜法單光路系統(tǒng)測量同位素位移光譜受同位素豐度限制,以及不能測量零位移光譜的不足,進一步提高測量高分辨同位素位移光譜的靈敏度與準確度。
      本發(fā)明采用一種雙光路均測待測信號的測量方法。把一束可調諧激光分成兩束,把兩支不同待測同位素空心陰極燈分別置于雙光路中。激光按波長掃描共振輻照雙燈,先后產(chǎn)生該二同位素的兩個光電流強信號。信號經(jīng)放大后合并記錄由該二強信號形成的位移光譜。并且雙光路法還能測量同位素零位移光譜。為此可分別擋住雙光路中的一路,分別測定二同位素譜線的波長,波長定標相同即為零位移。在測量過程中,如果雙光路中一路信號過強,可用調節(jié)該路的激光強度,空心陰極燈放電電流或弱信號放大器靈敏度等參數(shù),獲得信號強度適中的光電流光譜。
      實施本方法采用的裝置方框圖如圖1。該裝置是一個雙光路均測待測信號的檢測系統(tǒng)。用可調諧激光器(10)作光源,用分束器(17)把激光平均分成兩束,在雙光路中裝有兩種待測同位素空心陰極燈(6.8),用兩臺弱信號放大器(2.4)分別放大雙燈產(chǎn)生的兩個同位素強信號,最后用記錄儀(3)合并記錄由該二強信號形成的同位素位素光譜。
      本方法測量同位素位移光譜,比目前采用的單光路光電流光譜法靈敏度和準確度高。特別是能夠測量目前其他方法尚測不出的鈾原子弱譜線(相對強度5~10)的位移光譜。并且,還能測量單光路法不能測量的零位移光譜。本裝置比目前采用的大型原子束設備簡單操作方便。特別是在測量鈾同位素位移光譜時,可以避免鈾的高溫腐蝕和放射性污染,并且測得的位移光譜是連續(xù)的(非剪裁并接的)。
      圖1,雙光路光電流光譜裝置方框圖。
      1,7空心陰極燈電源。 2,4弱信號放大器。
      3記錄儀。 5單色儀,6一種待測同位素空心陰極燈。
      8另一種待測同位素空心陰極燈。
      9掃描電子儀。 10可調諧激光器。
      11泵浦激光器。 12泵浦激光器電源。
      13弱信號放大器的參考信號。
      14一種待測同位素的信號。
      15另一種待測同位素的信號。
      16透鏡。 17分束器。18切光器。
      19耦合電容。 20鎮(zhèn)流電阻。
      21反射鏡。
      圖2.鈾弱線5856
      238U-235U位移光譜。
      1,238U單光路。2,235U單光路。3,238U+235U雙光路。
      4,光電流信號相對強度。
      圖3,鈾原子線6062
      238U-235U零位移光譜。
      1,238U單光路。2,235U單光路。3,238U+235U雙光路。
      4,光電流信號相對強度。
      本發(fā)明提供的典型實施例測量238U-235U高分辨位移光譜,采用雙光路光電流光譜裝置如圖1。用氬離子激光器(11)泵浦連續(xù)波若丹明6G環(huán)形染料激光器(10)作光源,激光線寬~20MHZ,輸出功率~120mW,用雙光柵單色儀(5)認定并粗略監(jiān)測激光波長,用切光器(18)調制輸出,然后用分束器(17)把激光平均分成兩束,再分別用透鏡(16)聚焦在235U和238U空心陰極燈(6,8)的陰極孔穴中,用掃描電子儀(9)在待測波長附近30GHZ光譜范圍內進行激光波長的精細掃描,激光共振輻照產(chǎn)生的光電流信號分別由雙燈的陽極輸出,并分別送入兩臺鎖定放大器(2,4)中放大,最后在記錄儀(3)上合并記錄由235U和238U空心陰極燈產(chǎn)生的兩個強信號形成的同位素位移光譜。
      表1援引了用本發(fā)明測得的幾個典型鈾原子躍遷的238U-235U的光譜位移,235U超精細結構光譜總寬度和238U譜線的半寬度及與其他方法的數(shù)據(jù)對照。其中鈾原子線5915
      是目前研究較多較詳細的。圖2援引了本發(fā)明測得的鈾弱線5856
      238U-235U位移光譜。目前其他方法尚測不出這類弱譜線(相對強度5-10)的光譜
      位移值。圖3援引了本發(fā)明測得的鈾原子譜線6062
      的零位移光譜。
      附注〔1〕H.-P.V.Boehm等;Opt.Commun.,26,177(1978)。
      〔2〕R.A.Keller,R.Engleman Jr.,E.F.Zalewski;J.Opt.Soc.Am.,69,738(1979)。
      〔3〕D.W.Steinhaus等;LA-4501(1971)。
      〔4〕L.J.Radziemski等;Opt.Commun.,15,273(1975)。
      權利要求
      1.一種測量高分辨同位素位移光譜的激光光電流光譜方法;用一束可調諧激光,按波長掃描共振輻照待測同位素空心陰極燈,產(chǎn)生的光電流信號經(jīng)放大后記錄同位素位移光譜。本發(fā)明的特征是一種雙光路均測待測信號的測量方法;把一束可調諧激光分成兩束,把兩支不同待測同位素空心陰極燈分別置于雙光路中;激光按波長掃描共振輻照雙燈,先后產(chǎn)生該二同位素的兩個光電流強信號;信號經(jīng)放大后合并記錄由該二強信號形成的同位素位移光譜。
      2.按權項1所述的方法,本發(fā)明的特征是測量238U和235U同位素位移光譜。
      3.一種測量高分辨同位素位移光譜的激光光電流光譜裝置;由一臺可調諧激光器,一支含有待測同位素的空心陰極燈,一臺弱信號放大器和記錄儀構成。本發(fā)明的特征是在可調諧激光器(10)輸出端裝有分束器(17),在雙光路中裝有兩支不同待測同位素空心陰極燈(6,8)和兩臺弱信號放大器(2,4),最后用記錄儀(3)合并記錄由兩個同位素強信號形成的位移光譜。
      4.按權項3所述的裝置,其特征是所采用的可調諧激光器(10)是連續(xù)波若丹明6G環(huán)形染料激光器。
      5.按權項3所述的裝置,其特征是所采用的同位素空心陰極燈(6,8)是235U和238U空心陰極燈。
      6.按權項3所述的裝置,其特征是所采用的弱信號放大器(2,4)是鎖定放大器。
      專利摘要
      一種測量高分辨同位素位移光譜的光電流光譜方法和裝置。采用雙光路均測待測信號的檢測系統(tǒng),把一束可調諧激光分成兩路,把兩種待測同位素空心陰極燈分別置于雙光路中,激光按波長掃描共振輻照雙燈,先后產(chǎn)生該兩種同位素的兩個光電流強信號,信號經(jīng)放大后合并記錄由該二強信號形成的同位素位移光譜。顯著地提高了測定靈敏度與準確度。并可測量單光路法不能測量的零位移光譜。本發(fā)明用238U和235U空心陰極燈測量了鈾的位移光譜。
      文檔編號G01J3/42GK85102218SQ85102218
      公開日1986年9月24日 申請日期1985年4月1日
      發(fā)明者金巨廣, 王松岳, 孫孝忠, 徐俊, 王秀蘭, 金昌泰, 生明濤 申請人:中國科學院長春應用化學研究所導出引文BiBTeX, EndNote, RefMan
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