專利名稱：帶有定位副尺的外徑千分尺的制作方法
技術領域：
外徑千分尺是測量物體長度、厚度或直徑的一種精密量具。在實際使用中，大多數(shù)情況是用它測量工件的直徑，特別在機械制造業(yè)更是如此。原因是，圓柱是工件的最基本形體，圓柱體的直徑是最基本的、最常見的尺寸。
用千分尺測量工件的直徑時，必須確實卡在它的直徑上，才能得出正確的尺寸值。如果沒有卡住直徑，得到的讀數(shù)將比實際尺寸偏小，這將造成測量誤差。當被測工件的直徑較小時，比如在25毫米以下時，一般不容易出現(xiàn)這種錯誤。但是，當工件尺寸較大時，這種錯誤就很難避免。為了防止這種錯誤出現(xiàn)，使用時除了精心操作外，常常需要重復操作才敢確信測量無誤，這樣一來，必然要降低工作效率。另外，在測量時，常常在千分尺卡住工件以后，要把它從工件上拽下來，再讀數(shù)。如果它沒有卡在直徑上，就可能在拽動時發(fā)生困難，出現(xiàn)工件撐住千分尺的現(xiàn)象。這時千分尺的精密螺紋就會受到較大的壓力，這種壓力常數(shù)倍于正常壓力，是造成千分尺損壞或精度下降的重要原因。
提高測量效率，減少測量誤差，延長千分尺的壽命，是千分尺的改進方向。
本實用新型提出一種解決上述問題的方案。如

圖1所示，它是在普通千分尺的尺架〔2〕中部增加一個可以左右滑動的副尺〔3〕，移動該副尺時，其左端到主尺軸線的距離r就可以改變，副尺上的刻度用來顯示r的數(shù)值大小。
使用這種新型千分尺時，先根據(jù)圖紙上的工件的公稱尺寸移動副尺，讓距離r大致上等于工件的半徑，再用緊固螺釘〔4〕把副尺固定住。測量時先讓副尺端邊靠住工件，然后旋動主尺，主尺的測頭和測砧便會自動卡住工件的直徑。
盡管千分尺是很精密的量具，使用時需要精心操作，但增加的副尺并不需要很高的制造精度，使用中也不需要很精心的調(diào)整。因為主尺的測頭和測砧都有6.5毫米左右的直徑，即使副尺讀數(shù)偏差一、二毫米，主尺仍能卡在工件的直徑上，這一特點是本實用新型能夠實用的基礎。在使用普通千分尺時，人們是靠目測和手感去找到工件的直徑，而使用新型千分尺時，是利用副尺上的刻度去找到工件的直徑，不難想到，即使副尺刻度有點誤差，也比目測要準確的多，特別是工件直徑較大時，更是這樣。
本實用新型主要用于批量生產(chǎn)中，如外圓車削、外圓磨削等工序及批量產(chǎn)品的檢驗工作，因為在這些場合，只要對一次副尺，就可以高效率地測量很多的工件。由于這一特點，這種新型千分尺應稱為批檢外徑千分尺，或簡稱批檢千分尺。
在具體設計這種千分尺時，應注意以下幾個問題由于主尺卡的是工件的直徑，而副尺靠住的是工件的半徑，所以兩個尺子的行程相差一倍，比如主尺的示值范圍是25毫米，副尺的移動量就是12.5毫米。主尺的測量范圍是100～125毫米，副尺的測量范圍就應該是50～62.5毫米。這樣，在對副尺刻度時，就需要先把圖紙上的直徑除以2得到半徑值，再按半徑值對刻度，比較麻煩，為此，應該在副尺上直接刻出直徑值，使主、副尺的測量范圍相一致。比如，主尺是100～125毫米，副尺也是100～125毫米，這樣可使使用時省去除2運算，直接讓副尺刻度對到工件的名義尺寸就行。
副尺的寬度要大于其示值范圍的一半。比如，示值范圍是25毫米，副尺寬度就要大于12.5毫米，這樣。通過適當安裝副尺的上下位置，就可以保證無論工件大小，副尺總能以其端邊靠住工件，而避免其角部接觸工件。
副尺的形狀應該如圖2所示，左端的折彎是為了讓工件端邊與尺架的對稱面重合。當然，也可以在尺架內(nèi)加工出通孔，讓副尺在孔內(nèi)滑動，副尺就可以是直的。但通孔加工比較困難。
使用這種新型千分尺時，應該讓尺架平面與工件的軸線保持垂直關系，但實際操作中難以做到完全垂直?？紤]到這個因素，在設計副尺的刻度時，應象圖3所示的那樣，故意讓它出現(xiàn)一個偏移量a，這樣一來，當尺架平面與工件軸線垂直時，測砧以其右部(圖3所示位置)卡住工件，當尺架平面與工件軸線不垂直時，測砧仍能以其中部或左部卡住工件。這樣的設計可以降低對使用方法的要求。設計時，偏移量a一般可取1至2.5毫米。
一般千分尺的尺架中部都有隔熱墊，而定位副尺又必須裝在尺架中部，因此，隔熱墊應該向兩端延長。把中間位置留給副尺。
權利要求1.一個由尺架[2]和主尺[1]組成的外徑千分尺，其特征是，在它的尺架中部安裝了起定位作用的副尺[3]。
2.按權利要求1規(guī)定的副尺，其特征是，它上面的刻度上、下限(測量范圍)與主尺的測量范圍相同。
專利摘要用普通的外徑千分尺測量工件的直徑時，為了確保能卡在工件的直徑上，需要細心操作，并且常常需要重復操作，還容易被工件撐壞千分尺。本實用新型可以解決上述問題。它在普通千分尺的尺架上增加了一個定位副尺，利用該副尺的定位作用，可以使千分尺方便而準確地卡在工件的直徑上，從而避免重復測量和撐壞千分尺，大大地提高測量效率，這種千分尺特別適合于批量產(chǎn)品的檢測。
文檔編號G01B3/18GK2035455SQ8821502
公開日1989年4月5日 申請日期1988年10月12日 優(yōu)先權日1988年10月12日
發(fā)明者梁助興, 高慧芳 申請人:梁助興, 高慧芳