專利名稱：一種測(cè)量沖擊波波速的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于爆轟波速的測(cè)量。
測(cè)量沖擊波速一般用探針法。此法是將多個(gè)探針按一定距離置于沖擊波掠過方向，波陣面順序作用于各探針。記錄備觸發(fā)信號(hào)的間隔時(shí)間，以此去除探針間距，即得波速。此種方法的缺點(diǎn)是測(cè)點(diǎn)比較少，結(jié)果是平均速度。探頭通用性差，測(cè)速范圍窄。固定探針較費(fèi)時(shí)間，并且抗干擾能力差。
本發(fā)明的目的是制作一可連續(xù)測(cè)量沖擊波爆速的裝置。


圖1是測(cè)爆速裝置截面圖。
圖2是測(cè)量爆速裝置示意圖。
本裝置的重要特點(diǎn)是，在一條板正面開一槽，槽底鋪電阻絲，將一導(dǎo)電模附在條板正面上。下面簡(jiǎn)述本發(fā)明。由圖1可知，在條板正面開一長(zhǎng)槽a，此條板上面敷銅，槽底鋪電阻絲Φ，此電阻一端接敷銅面另一端做引線，在條板上平面附一導(dǎo)電模σ。當(dāng)垂直壓力作用在導(dǎo)電膜σ上時(shí)，使電阻絲與地線短路，從而使B，C間電阻值隨絲長(zhǎng)線性減小。同時(shí)在CB間通以恒流，記錄此變化過程中兩端電壓UBC，則VBC－t的圖線斜率VBC／A乘以一常數(shù)即得被測(cè)爆速。見圖2。在實(shí)際測(cè)量中，由于所測(cè)瀑速不同，所以要經(jīng)常調(diào)整槽寬，槽深，導(dǎo)電膜的厚度，及電阻絲的線徑。尤其要注意導(dǎo)電膜與電阻絲之間的距離。如果太小則強(qiáng)擾動(dòng)時(shí)容易意外短路；如果太大，則不易短路或短路點(diǎn)不規(guī)則。
本發(fā)明測(cè)點(diǎn)連續(xù)，可得任一點(diǎn)速度。測(cè)量范圍寬，應(yīng)用廣，只要在垂直于被測(cè)方向上有足夠壓力，就可得到被測(cè)方向的任意速度?？蓽y(cè)異形軌跡，被測(cè)軌跡可長(zhǎng)，可短，可彎，電阻片可做成各種形狀。
權(quán)利要求1.一種測(cè)量沖擊波波速的裝置，共特征是在一條板正面開一槽，槽底鋪電阻絲，將一導(dǎo)電膜附在條板正面上。
專利摘要一種測(cè)量沖擊波波速的裝置，在一條板正面開一槽，槽底鋪電阻絲，將一導(dǎo)電膜附在條板正面。當(dāng)一垂直壓力作用在導(dǎo)電膜上，使導(dǎo)電膜與電阻絲短路，測(cè)量其短路電壓的變化，即可得到所測(cè)的爆速，本裝置測(cè)點(diǎn)連續(xù)可得任一點(diǎn)速度，測(cè)量范圍寬，可測(cè)異形軌跡，電阻片可做成各種形狀。
文檔編號(hào)G01P15/00GK2062450SQ90202359
公開日1990年9月19日 申請(qǐng)日期1990年3月9日 優(yōu)先權(quán)日1990年3月9日
發(fā)明者李金華 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院力學(xué)研究所