專利名稱:微波場強液晶檢測器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本實用新型涉及一種微波場強檢測器,尤其涉及一種對微波場進行非電量檢測的液晶檢測器。
現(xiàn)有的微波場分布狀況檢測方法有兩種。一種是用金屬探針連接熱輻射計,根據(jù)熱輻射計顯示的熱值,描繪出場分布狀況。這種方法存在的缺點是金屬探針會使被測電場發(fā)生變化,影響了檢測準(zhǔn)確度;另外用金屬探針檢測場強時需逐點檢測,因此檢測過程麻煩。另一種是用氯化鈷試紙檢測,這種方法使用時較前者方便,但其缺點是當(dāng)微波場功率小于1W時就無法使用,使用范圍受到限制,并且這種試紙只能使用一次,不能重復(fù)使用。
本實用新型的目的在于提供一種使用方便、能檢測小功率微波場且可重復(fù)使用的微波場強液晶檢測器。
本實用新型的微波場強液晶檢測器包括基片、變色液晶層、電阻層和保護層,所述變色液晶層涂覆于基片上,保護層覆蓋于變色液晶層上,電阻層位于基片上相對于變色液晶層的另一側(cè)。
本實用新型的微波場強液晶檢測器采用變色液晶作為檢測材料。發(fā)明人經(jīng)實驗發(fā)現(xiàn),變色液晶有這樣的特性變色液晶在不同強度(下限能達到0.1mW以下)的微波環(huán)境下能呈現(xiàn)不同的顏色。本實用新型的微波場強液晶檢測器就是應(yīng)用了這一特性。當(dāng)本實用新型的微波場強液晶檢測器處于微波場下時,變色液晶能根據(jù)微波強度呈現(xiàn)不同的顏色,達到檢測微波場強的目的。本檢測器能用于檢測諧振腔、波導(dǎo)口等微波器件的微波分布狀況,以指導(dǎo)微波器件的設(shè)計和制造。
圖1是本實用新型的微波場強液晶檢測器的結(jié)構(gòu)示意圖。
以下結(jié)合附圖詳細描述本實用新型。
如圖1所示,本實用新型的微波場強液晶檢測器包括四層基片1、變色液晶層2、保護層3和電阻層4。變色液晶層2涂覆于基片1上,所述基片1可由聚酯材料制成,其一個作用是為液晶檢測器提供剛性。變色液晶層2可采用手征性向列相液晶或膽甾相液晶。保護層3覆蓋于變色液晶層2上,對變色液晶層2起保護作用。該保護層3可采用聚乙烯等透明的材料制成。電阻層4位于基片1上的與涂有相對變色液晶層2側(cè)相反的一側(cè)上,電阻層4可采用半導(dǎo)體介質(zhì)材料或碳等導(dǎo)電的材料,在真空環(huán)境下,蒸鍍在基片1上。該電阻層4的作用是接收微波的能量,使變色液晶層2能反映或指示待測微波場的強度分布情況。由于制成本檢測器各層的材料為高分子介質(zhì)材料,不會干擾待測微波場,因此提高了檢測的準(zhǔn)確性。
當(dāng)采用手征性向列相液晶用作變色液晶層2時,微波場強度由弱至強與液晶層2呈現(xiàn)的顏色關(guān)系為紅→黃→綠→藍→紫。液晶對微波場的響應(yīng)時間約為5秒。
為提高變色液晶層2顯色的對比度,可將基片1上與變色液晶層2相接合的面處理成黑色。
如上所述,本實用新型的微波場強液晶檢測器可重復(fù)使用,具有反映速度快、直觀、清晰等特點,這對指導(dǎo)微波器件設(shè)計、改進、提高產(chǎn)品性能、縮短產(chǎn)品試制周期具有十分重要的意義,同時也為廣大微波工作者提供了一種方便,可靠的檢測器件。
權(quán)利要求1.一種微波場強液晶檢測器,其特征在于包括基片、變色液晶層、電阻層和保護層,所述變色液晶層涂覆于所述基片上,所述保護層覆蓋于所述變色液晶層上,所述電阻層位于所述基片上相對于所述變色液晶層的另一側(cè)。
2.如權(quán)利要求1所述的微波場強液晶檢測器,其特征在于所述變色液晶層采用手征性向列相液晶或膽甾相液晶。
3.如權(quán)利要求1所述的微波場強液晶檢測器,其特征在于所述電阻層采用半導(dǎo)體材料制成。
4.如權(quán)利要求1所述的微波場強液晶檢測器,其特征在于所述基片和所述變色液晶層的接合面為黑色。
專利摘要本實用新型提供一種微波場強檢測器。傳統(tǒng)的檢測微波場強的方法有金屬探針法和氯化鉆試紙法,它們各自存在的缺點是干擾待測場、使用麻煩、不能檢測微弱場和不可重復(fù)使用等。本實用新型的微波場強檢測器包括基片、變色液晶層、電阻層和保護層,變色液晶層涂覆于基片,保護層覆蓋于變色液晶層上,電阻層位于相對于基片上相對變色液晶層的另一側(cè)。本檢測器克服了上述缺點,具有使用方便,顯示直觀、不干擾待測場和可重復(fù)使用的特點。
文檔編號G01R29/08GK2133848SQ9222659
公開日1993年5月19日 申請日期1992年6月30日 優(yōu)先權(quán)日1992年6月30日
發(fā)明者丁智才, 饒良仁, 周學(xué)賢, 何潛, 楊偉民 申請人:機械電子工業(yè)部上海電控研究所