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      彈底及彈底槽痕跡檢測儀的制作方法

      文檔序號:6094218閱讀:407來源:國知局
      專利名稱:彈底及彈底槽痕跡檢測儀的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型涉及一種槍彈痕跡檢測設(shè)備,尤其指彈底及彈底槽痕跡大小和相互位置關(guān)系的檢測儀器。
      眾所周知,通常利用立體顯微鏡對彈殼、彈頭上的痕跡,進(jìn)行初步觀察,在初檢基礎(chǔ)上利用比較顯微鏡進(jìn)行彈殼、彈頭痕跡對比,確定所檢彈殼、彈頭是否同一支槍種的重要依據(jù),這是槍彈痕跡檢驗(yàn)的一部分重要工作,但是,還有一部分工作是要檢測出彈殼底部擊針痕跡、排殼挺痕跡、彈底窩痕跡和與彈殼底呈垂直狀態(tài)的彈底槽上的抓子鉤痕跡之間的互相位置關(guān)系,這就是現(xiàn)有技術(shù)尚未解決的問題。
      鑒此,本實(shí)用新型的目的是提供一種彈底及彈底槽痕跡檢測儀,把彈殼底上的痕跡和彈殼側(cè)面的彈底槽上痕跡,在顯微放大的同時(shí),直觀地反映在同一視場平面內(nèi)。
      本實(shí)用新型的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的一種彈底及彈底槽痕跡檢測儀包括左、右光源、左、右聚光鏡、施密特棱鏡、目鏡、反射鏡、照相鏡、照相機(jī)及支持架,其特征是在支持架上的鏡筒內(nèi)左下方設(shè)置一反射鏡組,該反射鏡組上方依次又設(shè)置左半物鏡、左變倍物鏡及可反射轉(zhuǎn)向的直角棱鏡;在支持架上的鏡筒內(nèi)右邊載物臺上方,依次設(shè)置右半物鏡、右變倍物鏡及立方棱鏡,并且直角棱鏡與立方棱鏡橫向相連通。
      上述左、右半物鏡為同一個(gè)物鏡分成兩半構(gòu)成。
      上述反射鏡組為反射面相對、且呈銳角的兩塊反射鏡組成。
      由于采用上述方案可以在同一個(gè)視場平面內(nèi)觀察并能精確測量彈殼底和彈底槽兩痕跡大小和相互位置關(guān)系。
      以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對本實(shí)用新型進(jìn)一步說明。


      圖1本實(shí)用新型典型實(shí)施例的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。
      圖中1、左、右光源,2、左、右聚光鏡,3、子彈殼(試樣),4、反射鏡組,5、左、右半物鏡,6、左、右變倍物鏡,7、直角棱鏡,8、立方棱鏡,9、施密特棱鏡,10、目鏡,11、反射鏡,12、照相物鏡,13、照相機(jī),14、支持架,141、載物臺,142、鏡筒,15、小物鏡。
      左、右光源1和左、右聚光鏡2分別組合在支持架14左、右斜上方,分別發(fā)出兩束光聚焦后照射到子彈殼3(橫置在支持架14的載物臺141上)的彈底(子彈殼底部)痕跡及其垂直的側(cè)面彈底槽(子彈殼外圓柱抓子鉤)痕跡。
      在連接支持架14上的一個(gè)豎直鏡筒142內(nèi)的左下方設(shè)置由兩面反射面相對、且相交成銳角的反射鏡組4,其中一反射鏡的反射面對著子彈殼3的底部,而另一反射鏡的反射面朝上(兩反射鏡角度可調(diào)),使照射到彈底(子彈殼3底部)的光線經(jīng)反射鏡組4豎直向上反射,使左邊物面展開與右邊物面平行。接著在上述豎直鏡筒142內(nèi)的反射鏡組4上方設(shè)置左半物鏡5(子彈殼3左上方),依次向上還設(shè)置左變倍物鏡6、直角棱鏡7;該直角棱鏡7可反射轉(zhuǎn)向(即可繞豎直軸線轉(zhuǎn)動),使光線經(jīng)直角棱鏡7后,進(jìn)入與橫向位置相通(同高度)的右邊的立方棱鏡8。
      在上述豎直鏡筒142內(nèi)的右下方設(shè)置右半物鏡5(子彈殼3上方),使照射到彈底槽(子彈殼3外圓柱抓子鉤)痕跡的光線反射到右半物鏡5、依次向上還設(shè)置右變倍物鏡6、立方棱鏡8及小物鏡15;該右半物鏡5與左半物鏡5系采用同一個(gè)物鏡分成兩半部而制成,保持左、右兩光路的物方視場中心重合。
      通過直角棱鏡7和立方棱鏡8,把左、右兩條光路的物鏡對兩平行物面的緣合成,實(shí)現(xiàn)了物面展開成像在一個(gè)像平面上。
      此外,在上述豎直鏡筒142內(nèi)的頂部設(shè)置施密特棱鏡9、目鏡10,作目視觀察;還設(shè)有反射鏡11(平行的雙反射鏡)、照相物鏡12及照相機(jī)13,作精確測量(大小和位置)。
      本實(shí)施例的光學(xué)系統(tǒng)原理及其操作將子彈殼3橫放置在載物臺141上,一路由左光源1發(fā)出的一束光,經(jīng)左聚光鏡2聚焦后照射到子彈殼3底部的痕跡上,經(jīng)反射鏡組4、左半物鏡5、左變倍物鏡6、直角棱鏡7至立方棱鏡8;另一路由右邊光源1,經(jīng)右聚光鏡2照射到子彈殼測面彈底槽的痕跡上,經(jīng)右半物鏡5、右變倍物鏡6、立方棱鏡8雙路合像經(jīng)小物鏡15、施密特棱鏡9成像在目鏡10焦面上,用目鏡10觀察,在視場內(nèi)即可看出清晰的像。
      當(dāng)移去施密特棱鏡9,由立方棱鏡8、小物鏡15射出的光,經(jīng)反射鏡11、照相物鏡12,成像在照像機(jī)13底片上;若需要很多人觀察研究分析,可卸去照像機(jī)13、裝上攝像機(jī),通過監(jiān)視器便可觀察到清晰的圖像。
      權(quán)利要求1.一種彈底及彈底槽痕跡檢測儀包括左、右光源、左、右聚光鏡、施密特棱鏡、目鏡、反射鏡、照相鏡、照相機(jī)及支持架,其特征是在支持架上的鏡筒內(nèi)左下方設(shè)置一反射鏡組,該反射鏡組上方依次又設(shè)置左半物鏡、左變倍物鏡及可反射轉(zhuǎn)向的直角棱鏡;在支持架上的鏡筒內(nèi)右邊載物臺上方,依次設(shè)置右半物鏡、右變倍物鏡及立方棱鏡,并且直角棱鏡與立方棱鏡橫向相連通。
      2.按權(quán)利要求1所述的彈底及彈底槽痕跡檢測儀,其特征是上述左、右半物鏡為同一個(gè)物鏡分成兩半構(gòu)成。
      3.按權(quán)利要求1所述的彈底及彈底槽痕跡檢測儀,其特征是上述反射鏡組為反射面相對、且呈銳角的兩塊反射鏡組成。
      專利摘要本實(shí)用新型涉及一種槍彈痕跡檢測設(shè)備,尤其指彈底及彈底槽痕跡大小和相互位置關(guān)系的檢測儀器。在鏡筒內(nèi)左下方設(shè)置一反射鏡組,該反射鏡組上方依次又設(shè)置左半物鏡、左變倍物鏡及可反射轉(zhuǎn)向的直角棱鏡;在鏡筒內(nèi)右邊載物臺上方依次設(shè)置右半物鏡、右變倍物鏡及立方棱鏡,并且直角棱鏡與立方棱鏡橫向相連通。從而,可在同一視場平面內(nèi)觀察和測量到彈殼底和彈底槽兩痕跡大小和相互位置關(guān)系。
      文檔編號G01B9/00GK2200814SQ94215419
      公開日1995年6月14日 申請日期1994年6月30日 優(yōu)先權(quán)日1994年6月30日
      發(fā)明者解云, 劉清泉, 班茂森, 杜娟, 王重康 申請人:公安部第二研究所, 蕪湖光學(xué)儀器廠
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