專利名稱：確定元素含量的方法與設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種通過采用X射線熒光測定流動(dòng)樣品物質(zhì)中元素含量的方法，在這一方法中，樣品被X射線或γ射線輻照，樣品發(fā)出的輻射被檢測，根據(jù)該元素的特征譜的強(qiáng)度從測得的輻射譜中確定該元素的含量。
在采用X射線熒光的測量設(shè)備中，用一個(gè)探測器檢測光子，這些光子產(chǎn)生一個(gè)作為波長或能量的函數(shù)的輻射能譜(強(qiáng)度)，這個(gè)譜按順序代表每種元素，它們可以通過電子學(xué)裝置和/或軟件來選擇。這些順序被看作能區(qū)，即所謂的道。聚集在這些道上的脈沖(強(qiáng)度)用于分析計(jì)算。在譜中不同能區(qū)中的所謂本底道或散射道也被選中，通過這些道上的信息可以了解所測樣品的總量，及其與探測器的距離的信息。
基于X射線熒光的分析方法可以應(yīng)用于測定流動(dòng)樣品中元素含量的工業(yè)過程。采用這一方法，元素可以直接從物質(zhì)流中測量，流動(dòng)的量可以是變化的。在一個(gè)典型例子中，碎礦石中的元素是直接在傳送機(jī)的上方測量的。各種選礦場，采石場，水泥廠及化學(xué)工業(yè)的其它分支都需要這種在生產(chǎn)過程中直接確切地測量元素的方法。通常，采用這種精確和快速的測量的目的在于根據(jù)測量結(jié)果對(duì)生產(chǎn)過程實(shí)時(shí)地控制和調(diào)整。
基于X射線熒光的元素分析儀已被廣泛地用于實(shí)驗(yàn)室。分析人員通過多個(gè)步驟將樣品研細(xì)可以提高測量效果，但是，這種分析儀不能用于對(duì)典型顆粒尺寸大于1mm的材料進(jìn)行測量。
現(xiàn)今已有而且也已在使用基于X射線熒光的在傳送帶上方或穿過傳送帶直接測量物質(zhì)流中多種元素的方法和裝置。例如，Ima工程有限公司(Oy，Espoo，芬蘭)為上述目的生產(chǎn)和銷售的Beltcon100和Beltcon200型分析儀。這兩種裝置存在一個(gè)共同的問題，即在不同環(huán)境條件下測量結(jié)果不精確。特別是對(duì)測量輕元素，例如，人們發(fā)現(xiàn)用一個(gè)固定安裝的測量設(shè)備來測量鈣是很困難的，因?yàn)槠涮卣鱔射線強(qiáng)度的衰減與距離的平方成比例。因此，在測量諸如Ca，K，Si和Al這樣的輕元素時(shí)，測量距離應(yīng)盡可能小。
本發(fā)明的目的在于采用X射線熒光的原理，直接在傳送機(jī)的上方實(shí)時(shí)地精確測量和分析碎礦石和/或研細(xì)的礦石中元素的含量，以使根據(jù)元素含量實(shí)時(shí)調(diào)整生產(chǎn)過程成為可能。
本發(fā)明的目的也在于對(duì)被測物與測量設(shè)備之間距離的變化及測量環(huán)境條件的變化進(jìn)行自動(dòng)補(bǔ)償。
本發(fā)明的另一個(gè)目的在于確保測量設(shè)備抵御短時(shí)間或長時(shí)間變化運(yùn)作的能力。
本發(fā)明進(jìn)一步的目的在于即使是對(duì)輕元素，其測量仍是可靠的和精確的。
本發(fā)明的目的還在于推出一種方法和設(shè)備，它采用X射線熒光的原理，可以對(duì)固體，泥漿或液體的物質(zhì)流進(jìn)行元素的測量分析。
為解決上述問題并實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的方法進(jìn)一步包括以下步驟在樣品物質(zhì)與一個(gè)或多個(gè)輻射探測器之間的空氣空間中測量空氣溫度，根據(jù)測得的空氣溫度來確定第一個(gè)校正系數(shù)，及所確定的元素的含量由上述的第一個(gè)校正系數(shù)來校正，以補(bǔ)償特征輻射在樣品物質(zhì)與一個(gè)或多個(gè)輻射探測器之間的空氣中的衰減。
進(jìn)一步還需要檢測空氣的濕度，氣壓，粉塵含量及一定成分的氣體的含量變化，它們對(duì)測量結(jié)果的精確性都有影響。根據(jù)本發(fā)明，需要的時(shí)候，這些變量都可以測量，并可以確定相應(yīng)的校正系數(shù)，除溫度校正以外，依據(jù)這些校正系數(shù)對(duì)測量結(jié)果進(jìn)行進(jìn)一步的校正。
為使樣品物質(zhì)與一個(gè)或多個(gè)探測器之間的距離變化能夠得到比以前更精確的補(bǔ)償，及另一方面，在樣品與探測器之間能夠保持盡可能小的距離，本發(fā)明的方法包括進(jìn)一步的步驟，在這一步驟中，通過對(duì)運(yùn)動(dòng)樣品表面的調(diào)整，并/或通過測量上述距離及根據(jù)上述測量結(jié)果調(diào)整一個(gè)或多個(gè)輻射探測器到樣品物質(zhì)的距離，使樣品物質(zhì)與一個(gè)或多個(gè)輻射探測器之間的距離標(biāo)準(zhǔn)化。
采用本發(fā)明的方法和設(shè)備，溫度變化及其它環(huán)境條件的改變可以在測量中得到考慮。這一點(diǎn)被證明是非常重要的。因?yàn)檩^輕元素的強(qiáng)度作為溫度和粉塵含量的函數(shù)是指數(shù)衰減的。
盡管本發(fā)明的方法和設(shè)備特別適合用于在傳送機(jī)上方直接對(duì)碎的及研碎的的礦石中的元素進(jìn)行快速測量，但是這種方法和設(shè)備也可以用于原料工業(yè)(mass industry)的許多場合，在那里，采樣非常困難，速度慢而且成本昂貴，樣品中元素的含量是不均勻的而且在傳送機(jī)上物質(zhì)的量也是變化的。
下面，參考附圖對(duì)本發(fā)明的方法和設(shè)備做更詳細(xì)的描述，它們是

圖1是說明測量設(shè)備與待測物質(zhì)流之間布置關(guān)系的簡圖，圖2是說明測量設(shè)備與用于補(bǔ)償?shù)膫鞲衅鹘M的簡圖，圖3是說明距離標(biāo)準(zhǔn)化裝置的第一個(gè)實(shí)施例的簡圖，及圖4是說明距離標(biāo)準(zhǔn)化裝置的第二個(gè)實(shí)施例的簡圖。
圖1中所示的測量設(shè)備，通常標(biāo)以參考編號(hào)3，被直接安裝在靠近基底2上的物質(zhì)1的地方。舉例來說，這物質(zhì)可以是碎的和/或研細(xì)的礦物，基底2可以是一個(gè)皮帶傳送機(jī)。典型情況下，物質(zhì)與基底都是在運(yùn)動(dòng)的，這就是所說的物質(zhì)流。對(duì)本發(fā)明的方法和設(shè)備來說，在測量時(shí)中止這個(gè)流動(dòng)也是可以的，但是，通常由于傳送機(jī)上有大量的物質(zhì)，這樣的暫停顯然是不可能的，而且它對(duì)于本發(fā)明的方法和設(shè)備的操作也不是必須的。
圖1中的運(yùn)動(dòng)方向以箭頭A表示。物質(zhì)1可以是固體，泥漿或液體。物質(zhì)中元素的含量可以變化很大。待測物質(zhì)的量可以變化很大而且其中可以有一些顆粒，如漂礫，漂礫的大小是不同的。漂礫與漂礫之間，其元素的含量也可以是變化的。當(dāng)基底上物質(zhì)量發(fā)生變化時(shí)，物質(zhì)表面到測量設(shè)備的距離D也可能變化。
測量設(shè)備3包括一個(gè)或多個(gè)X射線或γ射線放射源4及一個(gè)或多個(gè)輻射探測器5。探測器到待測物質(zhì)之間的距離為D。舉例來說，放射源可以是X射線管或放射性同位素輻照器。輻射探測器5可以是閃爍器，正比計(jì)數(shù)器或半導(dǎo)體探測器。如果裝有多個(gè)探測器，其中一個(gè)可以對(duì)輕元素的特征X射線輻射有較高的靈敏度，其它的用于重元素X射線的輻射。在一個(gè)放射源和/或一個(gè)探測器不足以激發(fā)所有元素及探測效率不足時(shí)，或在測量粗糙的物質(zhì)時(shí)，可以采用多個(gè)放射源和/或探測器，通過幾個(gè)不同方向的輻照與測量，從而得到更可靠的測量結(jié)果。
測量設(shè)備3還包括用于輻射探測的電子學(xué)裝置23；一臺(tái)計(jì)算機(jī)和用于計(jì)算結(jié)果的軟件27；一個(gè)用于測量內(nèi)部溫度的傳感器6a及一個(gè)用于標(biāo)準(zhǔn)化內(nèi)部溫度的空調(diào)機(jī)6b；必要時(shí)，使用一個(gè)供氣裝置7a和一個(gè)輔助容器噴出氣體以清除干擾測量的氣體成分；在測量設(shè)備內(nèi)部設(shè)有一個(gè)濕度傳感器8用于測量空氣的濕度；保護(hù)，測量及控制電子學(xué)裝置24；一個(gè)機(jī)械機(jī)身和一個(gè)緊湊的機(jī)箱25；高輻射穿透率的窗26置于輻照源4和探測器5組前，裝在機(jī)身上并與上述的機(jī)箱或部件相接觸。測量設(shè)備3的內(nèi)部傳感器和調(diào)整單元與保護(hù)，測量及控制電子學(xué)裝置24保持電連接，后者通過軟件和電連接與計(jì)算機(jī)27相連。用于檢測輻射的電子學(xué)裝置23也通過軟件和電連接與計(jì)算機(jī)相連。
根據(jù)本發(fā)明，測量設(shè)備還包括用于測量物質(zhì)1與探測器組5之間的空氣空間外部條件的裝置。這些裝置是一個(gè)用于測量外部溫度的傳感器9，一個(gè)用于測量外部氣壓的傳感器10，一個(gè)用于測量外部濕度的傳感器11，一個(gè)用于測量外部粉塵含量的傳感器12和一個(gè)用于測量外部干擾氣體成分的傳感器13。上述這些測量傳感器被直接安裝在靠近測量點(diǎn)的地方以正確地反映測量點(diǎn)的條件。根據(jù)它們提供的測量數(shù)據(jù)，通過公式計(jì)算可以校正測量到的物質(zhì)的特征X射線的強(qiáng)度。外部測量傳感器9到13通過一個(gè)或多個(gè)信號(hào)處理單元28與計(jì)算機(jī)27相連。
這些根據(jù)本發(fā)明的描述外部條件并提供待測樣品與測量設(shè)備3之間的空間的環(huán)境條件的信息的測量變量，可以用來計(jì)算出不同的校正系數(shù)。依據(jù)這些系數(shù)可以對(duì)外部變化對(duì)測得的不同元素的X射線輻射強(qiáng)度的影響進(jìn)行補(bǔ)償。其出發(fā)點(diǎn)就是在待測樣品1與測量裝置5之間的空氣，在這些條件下對(duì)樣品發(fā)出的輻射進(jìn)行衰減。事實(shí)上，人們注意到這些環(huán)境因子，特別是氣溫，在測量輕元素時(shí)對(duì)測量結(jié)果的影響非常顯著。測得的連同輕元素一起的輻射強(qiáng)度可以保持在很低的水平，因此即使是很小的吸收衰減都會(huì)顯著地畸變測量結(jié)果。
本發(fā)明最基本的校正是溫度校正。與溫度校正有關(guān)，首先根據(jù)溫度用下面的公式計(jì)算出衰減系數(shù)μ1μ1＝KE/T，其中，KE是材料特征計(jì)算常數(shù)，T是溫度。用下面公式可以計(jì)算出經(jīng)溫度校正后的射線強(qiáng)度IE=NE*eμ,x]]>其中，NE是歸一化強(qiáng)度，X是距離(cm)。
如果假定空氣密度和測量距離保持為常數(shù)，只有溫度從20℃變到30℃，射線強(qiáng)度將改變4。3％。如果考慮采礦條件的話，這個(gè)10度的變化是很小的，但是，從另一方面看，測量結(jié)果改變4。3％是非常顯著的。
對(duì)于在補(bǔ)償中可能被考慮到的其它變量，同樣也可以推導(dǎo)出上述公式。這些變量對(duì)在物質(zhì)與輻射探測器之間空氣中的X射線的衰減有影響。實(shí)際上，這些測量變量對(duì)衰減的影響可以使用單元28通過計(jì)算作為校正系數(shù)確定出來，以用于校正強(qiáng)度的測量結(jié)果。正如前面所闡明的，空氣溫度具有對(duì)測量結(jié)果最明顯的影響。濕度及氣壓具有第二最重要的影響。當(dāng)然，基本的粉塵的成分也同樣對(duì)空氣空間中的衰減有非常顯著的影響。
當(dāng)然，探測器到樣品物質(zhì)之間的距離也同樣對(duì)空氣空間中的衰減有顯著的影響。因此，在測量輕元素時(shí)，上述距離應(yīng)盡可能小。在圖1到圖4中，這一距離被標(biāo)識(shí)為D。為了使這個(gè)距離變得盡可能小及盡可能保持為常數(shù)，圖3和圖4給出了本發(fā)明的兩個(gè)不同實(shí)施例，采用它們，上述距離基本上是標(biāo)準(zhǔn)化的。
在圖3的裝置中，樣品物質(zhì)1的表面被一個(gè)整平器16整平，以使其表面與測量設(shè)備3之間的距離為常數(shù)。如果樣品物質(zhì)較為細(xì)小時(shí)可以使用這個(gè)整平器。在樣品物質(zhì)是較為粗糙的顆粒，甚至是漂礫的情況下，整平器16就不適用了。因?yàn)檫@樣會(huì)使通過樣品物質(zhì)1施加到皮帶2上的力很不合理地增大。當(dāng)然，使用整平器16也要求樣品物質(zhì)的運(yùn)動(dòng)是相對(duì)平穩(wěn)的。如果樣品物質(zhì)量隨時(shí)間變化很大，所要求的均衡量太大以致于實(shí)際上不可能實(shí)現(xiàn)。
圖4給出了用于標(biāo)準(zhǔn)化測量距離的另一個(gè)裝置，它用于樣品物質(zhì)中含有漂礫或者很粗糙或者樣品物質(zhì)量隨時(shí)間顯著變化的情況。在圖4的裝置中，樣品物質(zhì)到測量傳感器之間的距離由一個(gè)置于測量設(shè)備3前一段距離的傳感器15a測量。根據(jù)這個(gè)測量結(jié)果，測量設(shè)備3到傳送機(jī)皮帶之間的距離可以得到調(diào)節(jié)。例如使用一個(gè)液壓筒15b，以使測量設(shè)備3到樣品物質(zhì)1的表面的距離盡可能保持為常數(shù)。在這種情況下，應(yīng)注意到，通常整個(gè)輻射能譜的測量是由測量設(shè)備3完成的，以及測量設(shè)備到樣品物質(zhì)1的距離可以從這個(gè)譜的本底輻射中得到確定。根據(jù)這個(gè)測量也可以校正測量結(jié)果。但是，如果測量距離不是足夠小到能得到可以忽略各種衰減因子的合理測量結(jié)果的話，那末對(duì)輕元素就不能采用這種校正。
當(dāng)樣品物質(zhì)處在運(yùn)動(dòng)中時(shí)，為獲得可靠的測量結(jié)果，測量應(yīng)分為一系列短的測量序列，由此可以做諸如結(jié)果平均這樣的計(jì)算。對(duì)大量樣品物質(zhì)同時(shí)進(jìn)行各種方向的測量，可以統(tǒng)計(jì)獲得更加可靠的結(jié)果，這就是要使用更多的探測器對(duì)來自樣品的輻射進(jìn)行不同方向的測量。
正如前面所闡明的，除被測元素的特征能區(qū)外還從輻射譜中選出散射道，即所謂的本底道。分析計(jì)算依據(jù)的是包括上述元素的強(qiáng)度及散射強(qiáng)度的公式。校準(zhǔn)測量結(jié)果的計(jì)算公式來自于通過對(duì)測量強(qiáng)度和元素的含量及已知樣品物質(zhì)的散射本底的回歸分析。測量粗糙樣品物質(zhì)時(shí)，可以將多個(gè)探測器安置在不同的測量角度，以獲得來自顆粒樣品的典型測量強(qiáng)度。出于同樣的目的，也可以采用多個(gè)輻照源。在既測量輕元素又測量重元素時(shí)，可以使用多個(gè)或一個(gè)可調(diào)節(jié)的輻照源，這些源發(fā)出一些不同的激發(fā)能量。在這種測量方法中，測量設(shè)備內(nèi)部的短時(shí)間或長時(shí)間變化，通過如前所述的對(duì)實(shí)際測量設(shè)備內(nèi)部條件的標(biāo)準(zhǔn)化，及通過測量外部和/或內(nèi)部參考樣品進(jìn)行補(bǔ)償。參考測量補(bǔ)償內(nèi)部電子學(xué)裝置的漂移和外部濕度及粉塵的影響。在校正時(shí)將參考測量的強(qiáng)度與測定的初始參考強(qiáng)度進(jìn)行比較，所獲得的結(jié)果用于計(jì)算對(duì)測量強(qiáng)度的校正系數(shù)。
通過上面作為例證的幾個(gè)實(shí)施例，本發(fā)明的方法和設(shè)備得到了說明，應(yīng)該理解可以在不偏離下面權(quán)利要求所定義的范圍內(nèi)進(jìn)行某些變動(dòng)。
權(quán)利要求
1.一種通過利用X射線熒光確定流動(dòng)樣品物質(zhì)(1)中元素含量的方法，在這個(gè)方法中樣品物質(zhì)(1)受到X射線或γ射線的輻照，測量來自樣品物質(zhì)的輻射，確定來自樣品物質(zhì)的輻射能譜，及根據(jù)該元素的特征能譜從測得的輻射能確定該元素的含量，其特征在于包括以下步驟，在樣品物質(zhì)(1)與一個(gè)或多個(gè)輻射探測器(5)之間的空氣空間中測量空氣溫度，根據(jù)測得的空氣溫度確定第一個(gè)校正系數(shù)，及該元素的測定的含量經(jīng)過上述的第一個(gè)校正系數(shù)的校正，以補(bǔ)償特征輻射在樣品物質(zhì)(1)與一個(gè)或多個(gè)輻射探測器(5)之間的空氣中的衰減。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其特征在于包括以下步驟，在樣品物質(zhì)(1)與一個(gè)或多個(gè)輻射探測器(5)之間的空氣空間中測量空氣濕度，根據(jù)測得的濕度確定第二個(gè)校正系數(shù)，及該元素的測定的含量經(jīng)過上述的第二個(gè)校正系數(shù)的校正，以補(bǔ)償特征輻射在樣品物質(zhì)(1)與一個(gè)或多個(gè)輻射探測器(5)之間的空氣中的衰減。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2的方法，其特征在于包括以下步驟，在樣品物質(zhì)(1)與一個(gè)或多個(gè)輻射探測器(5)之間的空氣空間中測量空氣壓強(qiáng)，根據(jù)測得的空氣壓強(qiáng)確定第三個(gè)校正系數(shù)，及該元素的測定的含量經(jīng)過上述的第三個(gè)校正系數(shù)的校正，以補(bǔ)償特征輻射在樣品物質(zhì)(1)與一個(gè)或多個(gè)輻射探測器(5)之間的空氣中的衰減。
4.根據(jù)權(quán)利要求1，2或3的方法，其特征在于包括以下步驟，在樣品物質(zhì)(1)與一個(gè)或多個(gè)輻射探測器(5)之間的空氣空間中測量粉塵含量，根據(jù)測得的粉塵含量確定第四個(gè)校正系數(shù)，及該元素的測定的含量經(jīng)過上述的第四個(gè)校正系數(shù)的校正，以補(bǔ)償特征輻射在樣品物質(zhì)(1)與一個(gè)或多個(gè)輻射探測器(5)之間的空氣中的衰減。
5.根據(jù)權(quán)利要求1，2，3或4的方法，其特征在于包括以下步驟，在樣品物質(zhì)(1)與一個(gè)或多個(gè)輻射探測器(5)之間的空氣空間中測量一定氣體成分的含量，根據(jù)測得的氣體成分含量確定第五個(gè)校正系數(shù)，及該元素的測定的含量經(jīng)過上述的第五個(gè)校正系數(shù)的校正，以補(bǔ)償特征輻射在樣品物質(zhì)(1)與一個(gè)或多個(gè)輻射探測器(5)之間的空氣中的衰減。
6.根據(jù)權(quán)利要求1到5中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于包括以下步驟，樣品物質(zhì)(1)與一個(gè)或多個(gè)輻射探測器(5)之間的距離(D)基本上通過對(duì)樣品物質(zhì)流表面的整平，和/或通過對(duì)上述距離的測量及根據(jù)所說的測量結(jié)果調(diào)整一個(gè)或多個(gè)輻射探測器(5)到樣品物質(zhì)(1)的距離進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化。
7.通過采用X射線熒光從樣品物質(zhì)流中測定某元素含量的設(shè)備，包括至少一個(gè)用于輻照樣品物質(zhì)(1)的X射線或γ射線放射源(4)，用于探測來自樣品物質(zhì)輻射的探測裝置(5)，用于確定來自樣品物質(zhì)的輻射能譜和根據(jù)該元素的特征輻射譜強(qiáng)度從測得的譜中確定其含量的裝置(27)，其特征在于進(jìn)一步包括用于測量樣品物質(zhì)(1)與探測裝置(5)之間的空氣空間的空氣溫度的裝置(9)，用于根據(jù)測量到的空氣溫度確定第一個(gè)校正系數(shù)的裝置(28)，及用于利用上述第一個(gè)校正系數(shù)校正所確定的元素含量，以補(bǔ)償特征輻射在樣品物質(zhì)(1)與探測器裝置(5)之間的空氣中的衰減的裝置(27)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的設(shè)備，其特征在于進(jìn)一步包括用于測量樣品物質(zhì)(1)與探測器裝置(5)之間的空氣空間中空氣濕度的裝置(11)，用于根據(jù)測量到的空氣濕度確定第二個(gè)校正系數(shù)的裝置(28)，及用于利用上述第二個(gè)校正系數(shù)校正所確定的元素含量，以補(bǔ)償特征輻射在樣品物質(zhì)(1)與探測器裝置(5)之間的空氣中的衰減的裝置(27)。
9.根據(jù)權(quán)利要求7或8的設(shè)備，其特征在于進(jìn)一步包括用于測量樣品物質(zhì)(1)與探測器裝置(5)之間的空氣空間中空氣壓強(qiáng)的裝置(10)，用于根據(jù)測量到的空氣壓強(qiáng)確定第三個(gè)校正系數(shù)的裝置(28)，及用于利用上述第三個(gè)校正系數(shù)校正所確定的元素含量，以補(bǔ)償特征輻射在樣品物質(zhì)(1)與探測器裝置(5)之間的空氣中的衰減的裝置(27)。
10.根據(jù)權(quán)利要求7，8或9的設(shè)備，其特征在于進(jìn)一步包括用于測量樣品物質(zhì)(1)與探測器裝置(5)之間的空氣空間中粉塵含量的裝置(12)，用于根據(jù)測量到的粉塵確定第四個(gè)校正系數(shù)的裝置(28)，及用于利用上述第四個(gè)校正系數(shù)校正所確定的元素含量，以補(bǔ)償特征輻射在樣品物質(zhì)(1)與探測器裝置(5)之間的空氣中的衰減的裝置(27)。
11.根據(jù)權(quán)利要求7，8，9或10的設(shè)備，其特征在于進(jìn)一步包括用于測量樣品物質(zhì)(1)與探測器裝置(5)之間的空氣空間中一定氣體成分含量的裝置(13)，用于根據(jù)測量到的氣體成分含量確定第五個(gè)校正系數(shù)的裝置(28)，及用于利用上述第五個(gè)校正系數(shù)校正所確定的元素含量，以補(bǔ)償特征輻射在樣品物質(zhì)(1)與探測器裝置(5)之間的空氣中的衰減的裝置(27)。
12.根據(jù)從權(quán)利要求7到11中任意一項(xiàng)的設(shè)備，其特征在于進(jìn)一步包括用于基本上標(biāo)準(zhǔn)化樣品物質(zhì)(1)與探測器裝置(5)之間距離(D)的裝置。
13.根據(jù)權(quán)利要求12的設(shè)備，其特征在于，用于基本上標(biāo)準(zhǔn)化樣品物質(zhì)(1)與探測器裝置(5)之間距離(D)的裝置包括用于使流動(dòng)樣品物質(zhì)的表面整平的裝置(16)。
14.根據(jù)權(quán)利要求12或13的設(shè)備，其特征在于，用于基本上標(biāo)準(zhǔn)化樣品物質(zhì)(1)與探測器裝置(5)之間距離(D)的裝置包括用于測量樣品物質(zhì)(1)與探測器裝置(5)之間距離的裝置(15a)，及根據(jù)其測量結(jié)果用于調(diào)節(jié)探測器裝置(5)與樣品物質(zhì)(1)之間距離(D)的裝置(15b)。
全文摘要
本發(fā)明涉及采用X射線熒光從樣品物質(zhì)流中測量元素含量的方法和設(shè)備，在該方法中，樣品物質(zhì)受到X射線或γ射線的輻照，通過檢測來自樣品物質(zhì)的輻射，確定來自樣品物質(zhì)的輻射能譜，從測得的輻射譜中，根據(jù)該元素的特征輻射譜強(qiáng)度確定其含量。為使本方法也能夠應(yīng)用于露天條件下，本方法進(jìn)一步包括以下步驟，在樣品物質(zhì)(1)與一個(gè)或多個(gè)輻射探測器(5)之間測量空氣溫度，根據(jù)測得的空氣溫度確定第一個(gè)校正系數(shù)，測得的元素含量經(jīng)過所說的第一個(gè)校正系數(shù)校正，以補(bǔ)償在樣品物質(zhì)(1)與一個(gè)或多個(gè)輻射探測器之間的空氣空間中的空氣中的特征輻射的衰減。
文檔編號(hào)G01N23/223GK1163663SQ95196218
公開日1997年10月29日 申請(qǐng)日期1995年11月13日 優(yōu)先權(quán)日1994年11月14日
發(fā)明者朱卡·拉迪凱南 申請(qǐng)人:Ima工程有限公司