專利名稱：：可自動(dòng)產(chǎn)生并發(fā)送集成電路測(cè)試條件的系統(tǒng)與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及半導(dǎo)體集成電路器件的測(cè)試。具體地說(shuō)，是涉及這樣一種系統(tǒng)和方法，它能夠?yàn)镮C器件的測(cè)試自動(dòng)產(chǎn)生必要的測(cè)試條件，然后將測(cè)試條件發(fā)送到測(cè)試主機(jī)以使該測(cè)試條件被相應(yīng)的測(cè)試程序調(diào)用，從而達(dá)到對(duì)每個(gè)測(cè)試儀器的控制。一般來(lái)說(shuō)，ASIC(專用集成電路)器件，如掩模ROM(帶掩模的只讀存儲(chǔ)器)的生產(chǎn)是根據(jù)特殊用戶的定貨或信息，如器件運(yùn)行速度，Ce／Oe(芯片使能／輸出使能)功能，運(yùn)算模式，和ROM代碼而完成的。該信息被直接反饋到掩模生產(chǎn)，晶片生產(chǎn)，EDS(電子成型分類)測(cè)試，封裝裝配和最終測(cè)試過(guò)程之中。ASIC器件的產(chǎn)品信息首先從用戶或顧客處送到半導(dǎo)體工廠的市場(chǎng)部，市場(chǎng)部將在一個(gè)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(如遠(yuǎn)程主機(jī))中建立一生產(chǎn)數(shù)據(jù)庫(kù)，以便使許多不同的生產(chǎn)部門或工廠能夠訪問(wèn)該主機(jī)，并通過(guò)使用生產(chǎn)數(shù)據(jù)庫(kù)中的數(shù)據(jù)來(lái)獲取他們自己所需的信息，進(jìn)而生產(chǎn)出具有特殊功能，滿足用戶質(zhì)量要求的IC器件。對(duì)于生產(chǎn)部門來(lái)說(shuō)，測(cè)試部門必須根據(jù)產(chǎn)品信息將測(cè)試條件重新寫入用于指定IC器件的測(cè)試程序。傳統(tǒng)的辦法是為寫入測(cè)試條件，測(cè)試工程師首先訪問(wèn)遠(yuǎn)程主機(jī)并從主機(jī)中的生產(chǎn)數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)下載所需的數(shù)據(jù)。通過(guò)分析下載數(shù)據(jù)，測(cè)試工程師可選擇適合于指定器件的數(shù)據(jù)，并將其寫入一測(cè)試程序。但是，由于測(cè)試條件的寫入是手工完成，所以在新的專用器件定貨后，人為錯(cuò)誤是不可避免的并且很難迅速得到解決。因此，能夠自動(dòng)產(chǎn)生測(cè)試條件并能自動(dòng)將測(cè)試條件調(diào)入測(cè)試程序是十分必要的。本發(fā)明的一個(gè)目的是能夠自動(dòng)產(chǎn)生測(cè)試條件并自動(dòng)將測(cè)試條件調(diào)入測(cè)試程序。本發(fā)明的另一個(gè)目的則是提高測(cè)試過(guò)程的效率并減少測(cè)試時(shí)間。本發(fā)明所述的是一種能夠自動(dòng)產(chǎn)生并發(fā)送測(cè)試條件的系統(tǒng)，它包括能從存儲(chǔ)著IC器件生產(chǎn)的信息的數(shù)據(jù)庫(kù)中為測(cè)試條件采集必要數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)采集裝置；能通過(guò)將采集到的數(shù)據(jù)與一預(yù)定控制條件進(jìn)行比較進(jìn)而產(chǎn)生測(cè)試條件的運(yùn)作裝置；能通過(guò)使用相應(yīng)測(cè)試程序?qū)y(cè)試條件發(fā)送到可以控制多個(gè)測(cè)試儀器的測(cè)試主機(jī)，并能將測(cè)試條件調(diào)入相應(yīng)測(cè)試程序的發(fā)送裝置。該數(shù)據(jù)采集裝置使用的是適于獲取相關(guān)數(shù)據(jù)庫(kù)的SQL語(yǔ)言，數(shù)據(jù)發(fā)送裝置則采用TCP／IP協(xié)議。本發(fā)明所述的一種方法包括以下步驟從含有IC器件產(chǎn)品信息庫(kù)的遠(yuǎn)程主機(jī)上為測(cè)試條件采集必要數(shù)據(jù)；通過(guò)將采集到的數(shù)據(jù)與一預(yù)定控制條件進(jìn)行比較進(jìn)而產(chǎn)生測(cè)試條件；通過(guò)使用相應(yīng)測(cè)試程序?qū)y(cè)試條件發(fā)送到可以控制多個(gè)測(cè)試儀器的測(cè)試主機(jī)中，并將測(cè)試條件調(diào)入相應(yīng)的測(cè)試程序。通過(guò)以下詳細(xì)描述，本專業(yè)技術(shù)人員將會(huì)對(duì)本發(fā)明的目的，特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)有明確的認(rèn)識(shí)。圖1根據(jù)本發(fā)明所述的能夠自動(dòng)產(chǎn)生并發(fā)送測(cè)試條件的系統(tǒng)示意圖。圖2根據(jù)本發(fā)明所述的能夠自動(dòng)產(chǎn)生并發(fā)送測(cè)試條件的方法示意圖。圖3存儲(chǔ)于遠(yuǎn)程主機(jī)系統(tǒng)中IC器件產(chǎn)品信息庫(kù)的示例圖。圖4從圖3所示數(shù)據(jù)庫(kù)中選取的用于產(chǎn)生測(cè)試條件的數(shù)據(jù)示例。圖5根據(jù)本發(fā)明所述的測(cè)試條件數(shù)據(jù)運(yùn)算流程圖。圖6根據(jù)本發(fā)明所述的測(cè)試條件數(shù)據(jù)發(fā)送流程圖。圖7用于連接測(cè)試主機(jī)及系統(tǒng)，以便自動(dòng)產(chǎn)生并發(fā)送測(cè)試條件的程序流。圖1是根據(jù)本發(fā)明所述的能夠自動(dòng)產(chǎn)生并發(fā)送測(cè)試條件的系統(tǒng)示意圖。用于自動(dòng)產(chǎn)生并發(fā)送測(cè)試條件的系統(tǒng)10中的數(shù)據(jù)采集裝置12能夠訪問(wèn)含有全部生產(chǎn)信息的主機(jī)系統(tǒng)20中的數(shù)據(jù)庫(kù)22，并能從數(shù)據(jù)庫(kù)22中下載必需的數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)采集裝置12可以是一SQL(結(jié)構(gòu)查詢語(yǔ)言)機(jī)(一種利用SQL語(yǔ)言獲得相關(guān)數(shù)據(jù)庫(kù)的結(jié)構(gòu))，該SQL機(jī)允許多個(gè)用戶同時(shí)對(duì)遠(yuǎn)程主機(jī)20的數(shù)據(jù)庫(kù)22進(jìn)行訪問(wèn)和查詢。存儲(chǔ)于遠(yuǎn)程主機(jī)20中的數(shù)據(jù)庫(kù)22是，如Oracle數(shù)據(jù)庫(kù)。用于自動(dòng)產(chǎn)生并發(fā)送測(cè)試條件的系統(tǒng)10中的運(yùn)算裝置14將數(shù)據(jù)采集裝置12采集和修改的數(shù)據(jù)與一預(yù)定特殊控制條件進(jìn)行比較，然后根據(jù)數(shù)據(jù)代碼進(jìn)行數(shù)據(jù)修改以產(chǎn)生一測(cè)試條件。發(fā)送裝置16可將運(yùn)算裝置14產(chǎn)生的測(cè)試條件以能夠由測(cè)試主機(jī)使用的文件形式發(fā)送到測(cè)試主機(jī)30中。為達(dá)到這個(gè)目的，發(fā)送裝置16使用如遠(yuǎn)程主機(jī)連接用戶結(jié)構(gòu)。在測(cè)試主機(jī)30中存儲(chǔ)有多個(gè)測(cè)試程序32，它用于控制多個(gè)測(cè)試儀器40運(yùn)行實(shí)際測(cè)試過(guò)程。當(dāng)IC器件(圖中未畫出)被安裝進(jìn)相應(yīng)的測(cè)試儀器40之后，測(cè)試主機(jī)30將為測(cè)試儀器40提供一相應(yīng)的測(cè)試程序，然后測(cè)試儀器40將給IC器件加上測(cè)試信號(hào)，進(jìn)而對(duì)IC器件的各種電子性能進(jìn)行測(cè)試。圖2是根據(jù)本發(fā)明所述的能夠自動(dòng)產(chǎn)生并發(fā)送測(cè)試條件的方法示意流程圖。流程從訪問(wèn)遠(yuǎn)程主機(jī)(步驟50)開始。通過(guò)輸入用戶名，口令和由數(shù)據(jù)庫(kù)設(shè)定的ID(身份標(biāo)志)數(shù)據(jù)，就可以獲得對(duì)IC器件生產(chǎn)信息庫(kù)的訪問(wèn)(步驟52)。在步驟54中，必需的數(shù)據(jù)是從數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)獲得的。當(dāng)使用SQL語(yǔ)言時(shí)，可用以下選擇語(yǔ)句。采集數(shù)據(jù)的分析和修改是在步驟56中完成的，進(jìn)而根據(jù)被修改數(shù)據(jù)，將產(chǎn)生(步驟58)一個(gè)測(cè)試條件。如果被采集到的數(shù)據(jù)與已有數(shù)據(jù)相同(步驟60)，則不產(chǎn)生新的測(cè)試條件而只將原有的測(cè)試條件發(fā)送到測(cè)試主機(jī)系統(tǒng)中(步驟62)。如果被采集到的數(shù)據(jù)與已有數(shù)據(jù)不同，則新的測(cè)試條件將產(chǎn)生并被發(fā)送到測(cè)試主機(jī)中。測(cè)試條件的發(fā)送可以采用TCP／IP(傳輸控制協(xié)議／互聯(lián)網(wǎng)協(xié)議)支持的各種應(yīng)用程序，如Rlogin，Telnet，Ping，F(xiàn)inger，F(xiàn)TP和Rcp。圖3是存儲(chǔ)于遠(yuǎn)程主機(jī)系統(tǒng)中IC器件生產(chǎn)信息庫(kù)的示例圖。圖3所示數(shù)據(jù)庫(kù)的數(shù)據(jù)由35個(gè)字段構(gòu)成，這些字段表示了掩模ROM器件的生產(chǎn)信息實(shí)例，該數(shù)據(jù)是根據(jù)器件的不同而變化的。在圖3所示的數(shù)據(jù)庫(kù)中，字段′ord_no′表示由市場(chǎng)部按順序指定的用戶序號(hào)，字段′line_no′表示用戶報(bào)價(jià)條目的部件號(hào)，字段′schd_no′表示含有定日期和發(fā)貨日期的時(shí)間表，字段′salescode′為市場(chǎng)部指定的用戶代碼，而字段′crc′則表示IC器件中所存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的數(shù)學(xué)和(校驗(yàn)和)。另一方面，字段′codepass′為猝發(fā)掩模ROM的口令，字段′user_code′以用戶代碼的形式描述了封裝方法。字段′cms_code′以用戶代碼的形式描述了封裝類型。字段′part_no′是用于控制晶片處理過(guò)程的用戶代碼。字段′pkg_type′表示封裝類型，字段′part_no′是用于控制不同規(guī)格IC器件的數(shù)據(jù)字段，因?yàn)镮C器件的規(guī)格是根據(jù)用戶的要求而定的。字段′customer_id′表示市場(chǎng)部所管理的客戶的身份標(biāo)志。字段′customer_name′表示客戶姓名。字段′domain′表示客戶的居住地。字段′rec_date′表示用戶定貨的日期。而字段′ord_date′則表示市場(chǎng)部對(duì)生產(chǎn)工廠要求的交貨日期。字段′ord_qty′表示定貨量，字段′appli_flg′用于區(qū)分IC器件的用途，如作為工業(yè)中使用的個(gè)人電腦和傳真，或者作為游戲器件來(lái)使用。字段′speed′表示用戶要求的運(yùn)算速度，字段′chksum′是IC器件內(nèi)容的校驗(yàn)和值。字段′ctrl_pin′為控制管腳的規(guī)格(如由用戶指定的芯片使能管腳和輸出使能管腳)。字段′pkig′表示封裝類型(如磁帶盤卷型封裝，盤型封裝和管型封裝)，字段′new_flag′用來(lái)區(qū)分定貨的新舊順序。字段′prty′表示IC器件的送貨日期是否緊急，字段′ord_stat′表示一份定貨的當(dāng)前狀態(tài)。字段′ord_memo′是一特殊控制代碼，它用來(lái)測(cè)試IC器件是否能夠滿足用戶專門要求的運(yùn)行條件。字段′same_code′是含有相同內(nèi)容的代碼清單，字段′rtf_date′表示定貨從生產(chǎn)部門返回至市場(chǎng)部的日期。字段′rtf_qty′表示返回的IC器件量，字段′re_rtf_date′表示根據(jù)IC器件生產(chǎn)的進(jìn)程而相應(yīng)改變的送貨日期。字段′ord_asgn_date′表示代碼信息或報(bào)價(jià)單的產(chǎn)生日期。字段′ord_asgn_qty′表示報(bào)價(jià)單上記錄的數(shù)量。字段′chulha_date′和字段′chulha_qty′分別表示發(fā)貨日期和發(fā)貨量。字段′ret_desc′表示符合某一標(biāo)準(zhǔn)的方案(如在基本晶片處理過(guò)程中使用的晶片)，字段′master′表示主代碼。對(duì)于圖3所示的數(shù)據(jù)庫(kù)來(lái)說(shuō)，測(cè)試過(guò)程所需的數(shù)據(jù)包含在圖4所示的一些數(shù)據(jù)段中。圖4是用于產(chǎn)生測(cè)試條件的數(shù)據(jù)示例。用于產(chǎn)生測(cè)試條件所需的數(shù)據(jù)項(xiàng)目包括，例如，部分號(hào)，速度，用途，Ce／Oe選擇，客戶姓名，校驗(yàn)和，CRC，猝發(fā)口令，封裝類型。該所需數(shù)據(jù)項(xiàng)目也可以根據(jù)IC器件的定貨要求和測(cè)試參數(shù)進(jìn)行相應(yīng)的改變。通過(guò)指定用戶名，可將特殊控制條件包含入測(cè)試條件之中。根據(jù)上面的例證所述并參考圖3和圖4，可以看出，遠(yuǎn)程主機(jī)中數(shù)據(jù)庫(kù)所包含的數(shù)據(jù)不能用于測(cè)試條件的產(chǎn)生。因此，為測(cè)試條件采集和修改所需數(shù)據(jù)是十分必要的。例如，可使用以下選擇語(yǔ)句，它是利用SQL語(yǔ)言對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行采集和修改的。使用該選擇語(yǔ)句，在′SELECT′之后的數(shù)據(jù)項(xiàng)可在部分含有封裝類型而不是晶片狀態(tài)(WFS)和芯片狀態(tài)(CHP)的條件下，從含有定貨接受日期(從′from_date′到′to_date′)的部分信息中采集到。采集到的數(shù)據(jù)被修改或按封裝類型和部分序號(hào)的順序排序。這些被采集和修改的數(shù)據(jù)將與特定控制條件進(jìn)行比較，然后測(cè)試條件將根據(jù)比較結(jié)果而生成。圖5是根據(jù)本發(fā)明所述的測(cè)試條件數(shù)據(jù)運(yùn)算流程圖。當(dāng)必需的數(shù)據(jù)從遠(yuǎn)程主機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)被采集(步驟70)之后，將檢查掩模ROM器件的Ce／Oe管腳選擇(步驟72)，然后將對(duì)運(yùn)算模式進(jìn)行檢查(步驟74)。接下來(lái)是檢查器件的運(yùn)算速度和用途(如用于游戲或工業(yè)使用)(步驟76和78)，再檢查器件密度(如，8M，16M或32M)(步驟80)。然后檢查校驗(yàn)和及封裝類型(步驟82和84)并產(chǎn)生測(cè)試條件表(步驟86)。最后根據(jù)該測(cè)試條件表產(chǎn)生格式可被測(cè)試程序使用的測(cè)試條件文件(步驟88)。圖6是根據(jù)本發(fā)明所述的測(cè)試條件數(shù)據(jù)發(fā)送流程圖。為發(fā)送根據(jù)圖5所示的測(cè)試條件數(shù)據(jù)運(yùn)算產(chǎn)生的測(cè)試條件文件，首先應(yīng)檢查測(cè)試主機(jī)和測(cè)試條件產(chǎn)生及發(fā)送系統(tǒng)之間的網(wǎng)絡(luò)狀態(tài)，然后上述系統(tǒng)將被連接至測(cè)試主機(jī)。該系統(tǒng)將測(cè)試條件文件發(fā)送給測(cè)試主機(jī)存儲(chǔ)器中的預(yù)定目錄。為連接測(cè)試主機(jī)，該系統(tǒng)將測(cè)試主機(jī)信息存入例如主機(jī)連接用戶結(jié)構(gòu)(它允許與測(cè)試主機(jī)進(jìn)行通訊)。測(cè)試主機(jī)信息被存儲(chǔ)之后(步驟100)，連接端口將被檢查以確認(rèn)網(wǎng)絡(luò)狀態(tài)(步驟102)，然后測(cè)試主機(jī)信息將被從上述系統(tǒng)傳送到測(cè)試主機(jī)中(步驟104)。在接收到測(cè)試主機(jī)傳來(lái)的獲準(zhǔn)信號(hào)后(步驟106)，測(cè)試條件文件將被打開(步驟108)并發(fā)送(步驟110)。文件發(fā)送結(jié)束后，測(cè)試條件文件將被關(guān)閉(步驟112)。圖7是用于連接測(cè)試主機(jī)及系統(tǒng)，以便自動(dòng)產(chǎn)生并發(fā)送測(cè)試條件的程序流。該連接程序存儲(chǔ)于測(cè)試主機(jī)之中。當(dāng)測(cè)試主機(jī)接收到測(cè)試條件文件后，連接程序?qū)z查文件接收時(shí)間(步驟120)和原有測(cè)試條件文件的生成時(shí)間(步驟122)，并對(duì)這兩個(gè)時(shí)間進(jìn)行比較(步驟124)，如果上述接收時(shí)間與生成時(shí)間不同，則發(fā)送測(cè)試條件文件(步驟126)。如果兩個(gè)時(shí)間相同，則程序?qū)⒁圆话l(fā)送測(cè)試條件文件而結(jié)束(步驟128)。雖然本發(fā)明的闡述參考了具體實(shí)例，但它并僅限于此。根據(jù)本發(fā)明的描述，熟練人員將對(duì)本發(fā)明具體實(shí)例的各種修改和組合以及其他實(shí)例有非常明確的了解。因此，本發(fā)明下面所述的權(quán)利要求包括任何上述修改和實(shí)例。權(quán)利要求1．一種用于在半導(dǎo)體集成電路器件的測(cè)試中自動(dòng)產(chǎn)生測(cè)試條件，并能將產(chǎn)生的測(cè)試條件自動(dòng)發(fā)送給測(cè)試儀器的系統(tǒng)，其特征在于包括能從含有IC器件生產(chǎn)信息庫(kù)的遠(yuǎn)程主機(jī)上為測(cè)試條件采集必要數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)采集裝置；能通過(guò)將采集到的數(shù)據(jù)與一預(yù)定控制條件進(jìn)行比較進(jìn)而產(chǎn)生測(cè)試條件的運(yùn)算裝置；能通過(guò)使用相應(yīng)測(cè)試程序?qū)y(cè)試條件發(fā)送到可以控制多個(gè)測(cè)試儀器的測(cè)試主機(jī)，并能將測(cè)試條件調(diào)入相應(yīng)測(cè)試程序的發(fā)送裝置。2．如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于IC器件是掩膜ROM(只讀存儲(chǔ)器)器件，數(shù)據(jù)庫(kù)中存儲(chǔ)信息的獲得是根據(jù)用戶對(duì)掩膜ROM的定貨要求而確定的。3．如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于數(shù)據(jù)采集裝置使用的是一種相關(guān)的數(shù)據(jù)庫(kù)獲取語(yǔ)言。4．如權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其特征在于數(shù)據(jù)采集裝置使用了一種格式為[select′items′from′tablename′where′conditio-n′orderby′sortingoption′]的選擇語(yǔ)句。5．如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于發(fā)送裝置使用一種主機(jī)連接用戶結(jié)構(gòu)。6．一種用于在半導(dǎo)體集成電路器件的測(cè)試中自動(dòng)產(chǎn)生測(cè)試條件，并能將產(chǎn)生的測(cè)試條件自動(dòng)發(fā)送給測(cè)試儀器的方法，其特征在于包括從含有IC器件生產(chǎn)信息庫(kù)的遠(yuǎn)程主機(jī)上為測(cè)試條件采集必要數(shù)據(jù)；通過(guò)將采集到的數(shù)據(jù)與一預(yù)定控制條件進(jìn)行比較進(jìn)而產(chǎn)生測(cè)試條件；通過(guò)使用相應(yīng)測(cè)試程序?qū)y(cè)試條件發(fā)送到可以控制多個(gè)測(cè)試儀器的測(cè)試主機(jī)中，并將測(cè)試條件調(diào)入相應(yīng)的測(cè)試程序。7．如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于數(shù)據(jù)采集步驟包括以下步驟訪問(wèn)遠(yuǎn)程主機(jī)；訪問(wèn)遠(yuǎn)程主機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)；從數(shù)據(jù)庫(kù)中采集測(cè)試條件所需的數(shù)據(jù)，并將采集到的數(shù)據(jù)與原測(cè)試條件進(jìn)行比較。僅在當(dāng)采集到的數(shù)據(jù)與原測(cè)試條件不同時(shí)，產(chǎn)生一測(cè)試條件。8．如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于運(yùn)算步驟通過(guò)將采集到的數(shù)據(jù)與一預(yù)定控制條件進(jìn)行比較并對(duì)比較結(jié)果進(jìn)行修改，進(jìn)而根據(jù)數(shù)據(jù)代碼產(chǎn)生測(cè)試條件。9．如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于測(cè)試條件所必需的數(shù)據(jù)包括Ce／Oe(芯片使能／輸出使能)選項(xiàng)，IC器件運(yùn)算模式，IC器件運(yùn)算速度，IC器件密度，IC器件內(nèi)容的校驗(yàn)和及IC器件的封裝類型。10．如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于發(fā)送步驟包括以下步驟存儲(chǔ)有關(guān)測(cè)試主機(jī)的信息；檢查測(cè)試主機(jī)的連接端口；將與測(cè)試主機(jī)有關(guān)的信息發(fā)送給測(cè)試主機(jī)。接收測(cè)試主機(jī)發(fā)送的獲準(zhǔn)信號(hào)。該獲準(zhǔn)信號(hào)用于允許對(duì)測(cè)試主機(jī)的訪問(wèn)。發(fā)送運(yùn)算步驟中產(chǎn)生的測(cè)試條件。11．如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于測(cè)試主機(jī)的連接程序包括以下步驟由測(cè)試主機(jī)檢查測(cè)試條件的接收時(shí)間；檢查原測(cè)試條件的生成時(shí)間；當(dāng)上述接收時(shí)間與上述生成時(shí)間不同時(shí)，接收測(cè)試條件。全文摘要在IC器的測(cè)試中自動(dòng)生成測(cè)試條件并將該條件送到測(cè)試儀器的系統(tǒng),包括:能從含有IC器件產(chǎn)品信息庫(kù)的遠(yuǎn)程主機(jī)上為測(cè)試條件采集必要數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)采集裝置;能通過(guò)將采集到的數(shù)據(jù)與一預(yù)定控制條件進(jìn)行比較進(jìn)而產(chǎn)生測(cè)試條件的運(yùn)算裝置;能通過(guò)使用相應(yīng)測(cè)試程序?qū)y(cè)試條件發(fā)送到可以控制多個(gè)測(cè)試儀器的測(cè)試主機(jī),并能將測(cè)試條件調(diào)入相應(yīng)測(cè)試程序的發(fā)送裝置。文檔編號(hào)G01R31/26GK1204057SQ9712581公開日1999年1月6日申請(qǐng)日期1997年12月23日優(yōu)先權(quán)日1997年6月30日發(fā)明者全遇撤,林鐘煥,樸鉉淑申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社