專利名稱：校正在所獲取磁共振圖象中空間密度的非均勻性的方法
在本申請中公開并要求保護的本發(fā)明一般來說涉及一種用于校正在所獲取的磁共振(MR)圖象或者其它醫(yī)療診斷圖象中的空間密度非均勻性或不均性的方法。更具體地說，本發(fā)明涉及這樣一種校正方法，其中所校正的非均勻性的主要分量是緩慢變化的。
包括磁共振成象和計算機層析攝影成象在內(nèi)的許多成像領(lǐng)域中，所獲取的圖象會由于空間密度的緩慢增加的非均勻性或不均性而變模糊。這種非均勻性會妨礙在一個給定時間對整個圖象的觀察，也會妨礙自動圖象分析。特別是當(dāng)使用一個或多個表面線圈來獲取成象數(shù)據(jù)時，在磁共振圖象中會產(chǎn)生這種非均勻性。所獲取的圖象通常會包含由于表面線圈的非均勻的靈敏度分布產(chǎn)生的密度變化。一般來說，靠近表面線圈的組織要比遠(yuǎn)離表面線圈的組織顯得亮得多。由于表面線圈的非均勻性引起的密度變化妨礙了對圖象的觀察，因為操作者無法找到一個窗口/密度調(diào)整值以包含整個視野。當(dāng)將這種圖象制成底片時，操作者試圖選擇一個能夠覆蓋大部分檢測區(qū)域的密度設(shè)定值。此外，未經(jīng)校正的圖象的非均勻性使得難以進行圖象分區(qū)和其它圖象分析。
這種問題的一個實例是脊椎成象，在成象時將一個或多個表面線圈設(shè)置在病人身后。如果中央的脊管成象密度最佳，則脊椎骨后面的組織結(jié)構(gòu)可能會被過度放大，并且變得非常亮以致于看不清任何組織的細(xì)節(jié)結(jié)構(gòu)。同時，在脊椎骨前面的組織會非常暗，以致于在這個區(qū)域的圖象細(xì)節(jié)也是模糊的。所以，為了最佳地顯示整個圖象并使之成象，需要校正由于表面線圈不均勻的靈敏度分布引起的信號變化。表面線圈圖象信號密度一般表示為下面兩個量的乘積(1)人體組織或其它被成象物體的進動磁化強度，和(2)表面線圈的靈敏度分布。因此，有許多種強度校正算法通過用表面線圈靈敏度分布的估計值相除來校正表面線圈得到的圖象。于是，如果所觀察的或所獲取的磁共振圖象信號在空間域中對于一個體元位置(x，y，z)定義為函數(shù)g(x，y，z)，則g(x，y，z)＝h(x，y，z)*f(x，y，z)+n(x，y，z)，其中*表示乘積，h，f和n分別表示線圈分布函數(shù)、校正函數(shù)、和圖象噪聲。更具體地說，校正函數(shù)f是這樣一個函數(shù)，它所限定的圖象基本上不受由于非均勻性產(chǎn)生的畸變的影響。因此，這個問題就是在僅僅給出有n存在時所測量或獲得的函數(shù)g的情況下確定h和f。但是，如果能夠確定合理地表示非均勻畸變的函數(shù)h，就可以很容易地從關(guān)系式
中計算出f，這個關(guān)系式在本領(lǐng)域中稱之為維納濾波解，其中ψ1為對應(yīng)于信噪比倒數(shù)的一個調(diào)整參數(shù)。這里，以及在下面的討論中，為了簡潔起見，省去了位置坐標(biāo)(x，y，z)。
由于使用表面線圈而產(chǎn)生的畸變通常是沿空間緩慢變化的?，F(xiàn)有技術(shù)中解決上述問題的一類重要的方案就是基于上述假設(shè)。根據(jù)這類方案，對函數(shù)g進行低通濾波運算。所得函數(shù)，表示為LPF[g]，不包含高頻分量，并作為畸變函數(shù)h的估計函數(shù)。然后將g用LPF[g]相除得到函數(shù)f的估計值，即f＝g/LPF[g]。但是，為了使這種方法有效，g必須不包含急劇的強度躍遷。然而，在磁共振圖象中空氣-脂肪界面通常會發(fā)生急劇強度躍遷，這違反了該方法所作的基本假設(shè)，即成象部分中的低頻成分僅僅是由于h形成的。明顯的空氣-脂肪界面一般出現(xiàn)在，例如，器官的邊緣，即該器官與充有空氣的空間或空腔的邊界。
為了克服上述在一種器官或其它組織結(jié)構(gòu)的邊緣或邊界上低通濾波校正的缺陷，開發(fā)出一些混合濾波技術(shù)。在下列參考文獻中公開了其中一些技術(shù)“具有分析可接受分布校正的人腦的表面線圈磁共振圖象”，JMRI5，139-144，由S.E.Moyher，D.B.Vigeron，和S.J.Nelson撰寫；“對人腦的高分辨率磁共振成象的相控陣列探測器和自動強度校正算法”，JMRI(1995)，由LL.Wald，L.Carvajal，S.E.Moyher，S.J.Nelson，P.E.Grant，A.J.Barkovich，和D.B.Vingeron撰寫；以及“相控陣列圖象強度校正一種消除磁共振圖象中由于相控陣列表面線圈的非均勻靈敏度分布引起的強度變化的算法”，西雅圖·華盛頓大學(xué)J.Murakami的碩士論文(1995)。
在另一篇題為“相控陣列表面線圈圖象的強度校正”(MRM 35585-590(1996)，由Murakami等人撰寫)的論文中公開了一種技術(shù)，其中畸變函數(shù)h被設(shè)定為h＝LPF[g]/LPF[THRESH[g]]。THRESH[g]表示一種閾值運算，其中將所得函數(shù)g的各個象素的強度值與一個設(shè)定在噪聲量值的閾值比較。大于該噪聲量值的強度值被指定為等于圖象的平均強度的一個量值，而其它強度值設(shè)定為零。
閾值運算具有使畸變函數(shù)h在器官和其它組織結(jié)構(gòu)邊界或邊緣區(qū)域平滑的作用，所說的畸變是由出現(xiàn)在這種區(qū)域的明顯強度躍遷形成的。這是由于THRESH[g]在這些區(qū)域較大，因而可以降低LPF[g]。但是，對于明顯的內(nèi)部躍遷，即出現(xiàn)在一個器官或其它組織結(jié)構(gòu)的邊緣之間的跌遷，無論是Murakami的技術(shù)，還是其它混合濾波技術(shù)都不是特別有效的。此外，這種內(nèi)部躍遷是由特定病人的組織，而不是由磁共振設(shè)備的工作參數(shù)決定的。因此，非常需要使畸變函數(shù)h具有一種形式，這種形式基本不受特定病人的組織結(jié)構(gòu)以及在病人組織中出現(xiàn)的急劇躍遷的影響。此外，還需要在不影響準(zhǔn)確度的前提下加快運算速度。
本發(fā)明提供一種用于校正利用一個磁共振系統(tǒng)獲取的圖象函數(shù)的方法，其中所說系統(tǒng)具有相關(guān)的空間非均勻性，所說獲取函數(shù)限定了成象主體內(nèi)特定結(jié)構(gòu)的一幀圖象，這幀圖象由包含特定數(shù)目象素的一個矩陣陣列構(gòu)成。在一般情況下該陣列由一個三維陣列構(gòu)成。該方法包括以下步驟對所獲取的函數(shù)進行收縮運算以產(chǎn)生一個限定具體結(jié)構(gòu)圖象的收縮函數(shù)gshrunk。gshrunk陣列中的象素數(shù)目等于特定數(shù)目，它相對于所獲取函數(shù)陣列的每一維減少了由一個選定的因子或收縮參數(shù)S。對于一個三維陣列，收縮參數(shù)相對于X-、Y-、和Z-坐標(biāo)軸可以分別表示為S1、S2和S3。
將收縮函數(shù)的每一個象素根據(jù)一個閾值加權(quán)以生成一個閾值函數(shù)THRESH[gshrunk]。對該收縮函數(shù)和閾值函數(shù)進行低通濾波運算以分別提供濾波收縮函數(shù)和濾波閾值函數(shù)，將表示濾波收縮函數(shù)的一個第一函數(shù)用表示濾波閾值函數(shù)的一個第二函數(shù)相除以產(chǎn)生一個收縮結(jié)構(gòu)的畸變函數(shù)hshrunk。最后，將收縮結(jié)構(gòu)的畸變函數(shù)擴展以生成表示空間非均勻性分布的一個函數(shù)h，該畸變函數(shù)與一個陣列相關(guān)，該陣列所包含的象素數(shù)目等于上述特定數(shù)目。然后，將所獲取的函數(shù)g在逐一象素的基礎(chǔ)上乘以由
構(gòu)成的維納濾波函數(shù)，以生成限定具體結(jié)構(gòu)圖象的校正函數(shù)f，在這個函數(shù)中已經(jīng)基本消除了非均勻性的影響。
應(yīng)當(dāng)理解，與所獲取的函數(shù)相關(guān)g的一個S1×S2×S3象素子矩陣對應(yīng)于與收縮函數(shù)gshrunk相關(guān)的陣列中的每個象素。作為收縮運算的部分，gshrunk矩陣中每個象素的強度值被設(shè)定為它在所獲取矩陣中對應(yīng)象素的平均強度值。其作用是消除在組織結(jié)構(gòu)或者其它被成象物體內(nèi)部的局部變化或躍遷。用位于躍遷發(fā)生區(qū)域周圍的象素的平均強度值代替了在發(fā)生急劇躍遷區(qū)域中顯著變化的強度值。
此外，通過對實際上減少了象素數(shù)目的收縮函數(shù)陣列進行上述校正方法中的大部分運算，在不降低最終結(jié)果的準(zhǔn)確度的前提下，與所獲取函數(shù)g的陣列的運算相比可以大大加快運算速度。
在一個優(yōu)選實施例中，分別表示濾波收縮函數(shù)和濾波閾值函數(shù)的第一和第二函數(shù)是通過下述的最大化運算得到的。這種運算具有增強數(shù)值穩(wěn)定性和抑制噪聲放大的作用。在下文中將進一步詳述的本發(fā)明的一個實施例可以構(gòu)成比某些現(xiàn)有的校正技術(shù)更加準(zhǔn)確的磁共振圖象，而且僅僅需要其50分之一的成象時間。
本發(fā)明的一個目的是提供一種改進的方法，用于估算磁共振表面線圈的強度分布以生成一個畸變校正函數(shù)。
本發(fā)明的另一個目的是提供一種上述類型的方法，該方法可以擺脫需要獲取磁共振圖象的器官或者其它組織結(jié)構(gòu)內(nèi)部的局部躍遷或變化的影響。
本發(fā)明的第三個目的是提供一種上述類型的方法，該方法通過減少數(shù)據(jù)組，可以在不降低最終結(jié)果的準(zhǔn)確度的前提下，大大提高計算速度。
通過下面參照附圖所作的說明，可以更加清楚地了解本發(fā)明的這些及其它目的。


圖1是以簡化形式表示用于實施本發(fā)明的一個實施例的一個磁共振系統(tǒng)的方塊圖。
圖2為表示在成象結(jié)構(gòu)內(nèi)的強度變化或躍遷的曲線圖。
圖3為表示本發(fā)明的一個簡化實施例的各個步驟的示意圖。
圖4為表示圖3所示實施例的收縮運算的示意圖。
參見圖1，其中表示了可以用于獲取一組磁共振數(shù)據(jù)信號的一個磁共振成象系統(tǒng)10的主要部件。系統(tǒng)10包括一個帶有內(nèi)腔14的主磁體12。病人或者成象體16被設(shè)置在內(nèi)腔14中的一個平臺或其它病人支撐結(jié)構(gòu)18上，從而可以得到病人16的一個器官或其它特定組織結(jié)構(gòu)，例如病人的脊椎骨20的磁共振圖象。磁共振系統(tǒng)10還包括一個射頻激勵線圈22，表面線圈24，X-、Y-、Z-梯度線圈26、28和30，和一個靜態(tài)主磁體線圈32。所有的線圈22和26-30都安裝在主磁體12中，并且在被激磁后將各自的磁場分布在內(nèi)腔14中，從而在病人16身體上的檢測區(qū)域產(chǎn)生磁共振數(shù)據(jù)信號。表面線圈24設(shè)置在距病人16的脊椎或其它部分較近的位置以探測或獲取表示所需圖象的磁共振數(shù)據(jù)信號。
磁共振系統(tǒng)10還包括一個系統(tǒng)電路組件34，該組件包括一個計算機36，該計算機與一個接口電路38、和梯度放大器40、42和44以交互方式連接。梯度放大器通過接口電路38與計算機36相連，以分別對梯度線圈26、28和30激磁。電路組件34還包括一個射頻功率放大器46，其連接用于激勵線圈22以產(chǎn)生射頻激勵脈沖，和接收放大器48以放大由表面線圈24探測到的磁共振數(shù)據(jù)信號?？梢岳斫庀到y(tǒng)電路34還可以包括其它為了簡潔而沒有表示出來的部件。圖1中還表示了彼此相互垂直的直角坐標(biāo)X-、Y-和Z-軸，其中Z-軸指向沿內(nèi)腔14的中軸。
計算機36對磁共振數(shù)據(jù)信號執(zhí)行數(shù)據(jù)處理功能以生成由一個象素矩陣陣列構(gòu)成的特定結(jié)構(gòu)的圖象。如上所述，每個象素具有由函數(shù)g(x，y，z)限定的強度值。如在下文中進一步詳述的，計算機36還可以被用于處理所獲取的磁共振數(shù)據(jù)和根據(jù)本發(fā)明的一個實施例對函數(shù)g(x，y，z)執(zhí)行非均勻性校正方法。
參見圖2，其中表示了所獲取的磁共振圖象函數(shù)g(x，y，z)的信號強度或密度I的曲線，為了簡單起見，只相對于X-軸表示。函數(shù)g的兩個部分表示強度躍遷50和52。這些躍遷是由于被檢查的病人16體內(nèi)的器官或其它組織結(jié)構(gòu)的空氣-脂肪界面而產(chǎn)生的。在所檢查的組織結(jié)構(gòu)內(nèi)，即在邊緣50與52之間，出現(xiàn)了局部或內(nèi)部躍遷例如54和56，這些躍遷對于病人16來說是具有特殊性的。因此需要提供一個在整個空間上緩慢變化，亦即沒有急劇躍遷的函數(shù)h。
參見圖3，其中表示了接收所獲取的圖象函數(shù)g(x，y，z)以開始執(zhí)行校正方法的程序框58。程序框60表示對由函數(shù)g限定的象素陣列進行收縮運算以生成一個收縮函數(shù)gshrunk。按照這個運算，將g的象素陣列利用一個收縮參數(shù)沿著各個維度壓縮。對于一個三維陣列，利用分別沿平行于X-、Y-和Z-軸的各個維度的收縮參數(shù)S1、S2和S3壓縮該象素陣列。在象素陣列位于X-Y平面中的特殊的兩維情況下，S1和S2等于同一個收縮參數(shù)S，gshrunk可以表示一個32×32象素陣列。例如，如果g表示一個256×256象素陣列，那么S＝256/32＝8。
可以理解，如果成象切面是沿Z-軸取的，則可以選擇收縮參數(shù)S3使得gshrunk沿Z-軸的象素數(shù)目略微少于沿X-或Y-方向的象素數(shù)目。還可以理解，gshrunk的每個象素的強度等于g函數(shù)陣列的一個對應(yīng)的S1×S2×S3子矩陣象素的平均強度。
參見圖4，其中表示了在S＝8的兩維情況下由gshrunk限定的一個象素62。象素62由所獲取函數(shù)g限定的矩陣的一個8×8象素子矩陣65構(gòu)成。作為收縮運算的一部分，每個象素62被給定一個強度值，這個強度值等于它的構(gòu)成象素65的平均強度。
再參見圖3，其中所示程序框66表示確定Max[g]、所獲取函數(shù)g的最大值和Avg[g]、它們的平均值的運算。Max[g]用于在由程序框68表示的閾值運算中計算閾值T，其中T＝T1Max[g]。T1可以選擇為0.025。但是，對于噪聲較強的圖象可以設(shè)置得稍高一些，而對于噪聲較低的圖象可以設(shè)置得稍低一些。在閾值運算中，將gshrunk的各個象素的強度與閾值T比較。如果強度小于或等于T，將該象素指定為零值。在其它情況，將其指定為A*Avg[g]值，其中A可以選擇為0.01。閾值運算函數(shù)的結(jié)果稱為THRESH[gshrunk]。
程序框70表示對gshrunk進行低通濾波以分別生成函數(shù)LPF[gshrunk]和LPF[THRESH[gshrunk]]。這種函數(shù)含有與從中消除的急劇強度躍遷有關(guān)的較高頻分量。LPF運算從對gshrunk和THRESH[gshrunk]進行變換，例如離散余弦變換(DCT)開始。然后將各個變換分量乘以根據(jù)高斯(Gausian)濾波運算預(yù)定的系數(shù)。這種濾波運算在本領(lǐng)域中是眾所周知的，它可以形成具有選定方差的高斯曲線形狀的通帶。然后對各個系數(shù)相乘運算進行逆FFT變換以確定LPF[gshrunk]和LPF[THRESH[gshrunk]]，這些結(jié)果用于程序框72。和本發(fā)明一樣，對于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說很容易得到的其它變換方法或其它技術(shù)，也可以應(yīng)用于對gshrunk和THRESH[gshrunk]進行低通濾波。例如，可以使用快速富里葉變換。
程序框72用于最大化運算，在該運算中將兩個經(jīng)過濾波的函數(shù)中各個象素的強度與一個小的調(diào)整參數(shù)ψ2比較。一般來說，ψ2＝0.0001。如果所比較的象素強度大于ψ2，則保留該強度，如果小于ψ2，則將其設(shè)定為ψ2。最大化運算的結(jié)果表示為Max(LPF[gshrunk]，ψ2)和Max(LPF[THRESH[gshrunk]]，ψ2)。這種運算通過消除由非常小或接近零的數(shù)值作除數(shù)的除法，改善了在后續(xù)運算中的數(shù)值穩(wěn)定性。就是說，避免了噪聲放大。
參見圖3中的程序框74，根據(jù)下列關(guān)系式可以從所說最大化運算的結(jié)果中求得畸變函數(shù)的收縮形式gshrunk＝Max(LPF[gshrunk]，ψ2)/Max(LPF[THRESH[gshrunk]，ψ2)公式1如程序框76所示，可以將gshrunk擴展以構(gòu)成畸變函數(shù)h，它包括原始陣列。hshrunk可以利用本領(lǐng)域熟知的方法進行擴展，例如利用三線性內(nèi)插法擴展三維陣列或者利用二線性內(nèi)插法擴展兩維陣列。這種方法記載在，例如，“C語言數(shù)值方法”(Numerical Recipes in C)中，The Art ofScientific Computing，由Willam H.Press，Brian P.Flanery，Saul A.Tenkolsy，和Willam T.Vetterling撰寫；劍橋大學(xué)出版社(1988)。給定畸變函數(shù)h，可以很容易地按照下列關(guān)系式得到計及噪聲的校正函數(shù)f，如程序框78所示f-g*h/(h*h+ψ1)公式2在公式2中，ψ1是從信噪比的倒數(shù)得出的一個調(diào)整參數(shù)。
可以看到，作為公式2中相除的結(jié)果，f的強度范圍被從g的原始強度范圍壓縮。所以，需要將函數(shù)f重新定標(biāo)到原始強度范圍，如程序框80所示，以給出一個最終形式的校正函數(shù)ffinal。這是通過下列關(guān)系式得到的ffinal＝(f-Min[f])*Max[g]/(Max[f]-Min[f])在預(yù)定的檢測區(qū)域內(nèi)＝0在預(yù)定的檢測區(qū)域外公式3在公式3中，Min[f]和Max[f]分別為f的最小值和最大值。
顯然，在上述教導(dǎo)的提示下，還可以對本發(fā)明作出許多其它的改進和變型。所以，應(yīng)當(dāng)理解，在所公開的發(fā)明構(gòu)思的范圍內(nèi)，還可以利用除具體描述的方式以外的形式實施本發(fā)明。
權(quán)利要求
1.一種用于校正利用一個磁共振系統(tǒng)獲取的圖象函數(shù)的方法，其特征在于所說系統(tǒng)具有相關(guān)的空間非均勻性，所說的獲取函數(shù)限定特定結(jié)構(gòu)的圖象，所說圖象由給定數(shù)目的象素的矩陣陣列構(gòu)成，所說方法包括以下步驟對所說獲取的函數(shù)進行收縮運算以產(chǎn)生限定所說結(jié)構(gòu)的圖象的一個收縮函數(shù)，所說圖象由一個矩陣陣列構(gòu)成，因為利用一個選定收縮參數(shù)沿所說陣列的每一維度進行了壓縮，所說陣列中包含的象素數(shù)目等于所說給定數(shù)目；根據(jù)一個閾值對所說收縮函數(shù)的各個象素進行閾值化處理以生成一個閾值函數(shù)；對所說的收縮函數(shù)和所說的閾值函數(shù)進行低通濾波以分別生成濾波收縮函數(shù)和濾波閾值函數(shù)；將表示所說濾波收縮函數(shù)的第一函數(shù)用表示所說濾波閾值函數(shù)的第二函數(shù)相除以生成一個收縮形式的畸變函數(shù)；和將所說收縮形式的畸變函數(shù)進行擴展以生成一個表示所說空間非均勻性分布的畸變函數(shù)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所說方法包括以下步驟將所說獲取的函數(shù)乘以一個從所說畸變函數(shù)得出的維納濾波函數(shù)以得到一個校正函數(shù)，該校正函數(shù)限定了所說特定結(jié)構(gòu)的圖象，從其中已經(jīng)消除了所說空間非均勻性的影響。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于所說獲取函數(shù)的一組象素對應(yīng)于所說收縮函數(shù)的每個象素，所說對應(yīng)象素的數(shù)目由所說選定的收縮參數(shù)確定，所說收縮函數(shù)的每個象素的強度等于它的對應(yīng)象素的平均強度。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于所說選定的收縮參數(shù)包括分別對應(yīng)于所說陣列沿X-、Y-和Z-軸指向的維度的參數(shù)值S1、S2、和S3，所說獲取函數(shù)的象素的一個S1×S2×S3子矩陣對應(yīng)于所說收縮函數(shù)的每個象素。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所說第一和第二函數(shù)包括分別從所說濾波收縮函數(shù)和所說濾波閾值函數(shù)生成的函數(shù)，以增強數(shù)值穩(wěn)定性，從而在所說方法的所說相除步驟中抑制噪聲的放大。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于所說第一和第二函數(shù)分別通過識別所說濾波收縮函數(shù)和所說濾波閾值函數(shù)中小于一個給定調(diào)整參數(shù)的各個象素值，并用所說調(diào)整參數(shù)代替所說經(jīng)過識別的象素值。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于所說方法的閾值化步驟包括將所說收縮函數(shù)中等于或小于所說閾值的所有象素值設(shè)定為零值，而將其它的象素值設(shè)置為表示所說收縮函數(shù)的所有象素值的平均強度的一個值。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于所說陣列包括一個三維陣列，所說的擴展步驟包括采用三線性內(nèi)插步驟。
9.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于所說陣列包括一個二維陣列，所說的擴展步驟包括采用二線性內(nèi)插步驟。
10.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于所說濾波步驟包括采用高斯濾波運算步驟。
11.如權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于所說磁共振系統(tǒng)應(yīng)用一個或多個表面線圈以獲取所說的磁共振成象函數(shù)。
12.如權(quán)利要求所述的方法，其特征在于所說收縮形式畸變函數(shù)包括hshrunk，并且hshrunk＝Max(LPF[gshrunk]，ψ2)/Max(LPF[THRESH[gshrunk]]，ψ2)，其中Max(LPF[gshrunk]，ψ2)和Max(LPF[THRESH[gshrunk]]，ψ2)分別表示所說的第一和第二函數(shù)，ψ2表示所說給定的調(diào)整參數(shù)。
13.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于所說校正函數(shù)的強度范圍重新定標(biāo)為所說獲取函數(shù)的原始強度范圍
全文摘要
一種用于校正由于MR表面線圈及相關(guān)的空間非均勻性所獲得的成像函數(shù)g的方法。對g進行收縮運算,產(chǎn)生函數(shù)g
文檔編號G01R33/3415GK1191709SQ9712595
公開日1998年9月2日 申請日期1997年12月30日 優(yōu)先權(quán)日1996年12月30日
發(fā)明者G·B·阿維那施 申請人:通用電氣公司