專利名稱：一種鐵素體含量的無損檢測探頭的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及檢測技術(shù)，特別提供了一種對鐵素體含量進(jìn)行無損檢測的探頭。
在冶金及焊接領(lǐng)域，為保證某些產(chǎn)品質(zhì)量，要測量和控制材質(zhì)的鐵素體含量。目前的測定方法大致可分為破壞性和非破壞性兩種。利用磁天平能比較精確地測定鐵素體含量，但它需要取樣，是一種破壞性檢測方法，適用范圍受到限制。無損檢測方法包括計(jì)算法，圖表法和渦流法。計(jì)算法是根據(jù)有關(guān)各合金元素的含量把當(dāng)量鐵素體含量計(jì)算出來。由于合金的鐵素體含量不僅取決于有關(guān)各合金元素含量，還于零件的熱處理?xiàng)l件有密切關(guān)系，因而，計(jì)算結(jié)果并不可靠。圖表法使用的圖表是根據(jù)計(jì)算法的結(jié)果繪制的。這兩種方法均以已知有關(guān)各合金元素含量為前提，結(jié)果同樣不準(zhǔn)確。渦流法是長期以來普遍使用的方法，它具有攜帶方便，性能可靠等優(yōu)點(diǎn)。但是，渦流法受材料的電導(dǎo)率，磁導(dǎo)率，提高效應(yīng)，激勵(lì)信號頻率等多種因素的影響，因而信號處理復(fù)雜，檢測儀器調(diào)節(jié)旋鈕多，操作步驟繁瑣。
本實(shí)用新型的目的在于提供一種鐵素體含量的無損檢測探頭，其原理簡單，影響因素少，因而信號易于處理，儀器調(diào)節(jié)簡單。
本實(shí)用新型提供了一種鐵素體含量的無損檢測探頭，其特征在于該探頭由永磁體(1)、外套導(dǎo)磁體外殼(2)構(gòu)成磁路，外殼(2)前端部凸出并留有縫隙，其間設(shè)置磁敏元件(3)。永磁體(1)立式放置，磁敏元件(3)臥式放置，或永磁體(1)臥式放置，磁敏元件(3)立式放置。眾所周知，處于靜磁場中的鐵磁性材料會(huì)被強(qiáng)烈磁化，從而引起鐵磁性材料附近的磁場畸變。待測件的鐵磁性材料含量越大，磁化強(qiáng)度越大，引起的磁場畸變也越大，因而，磁場畸變程度間接反映了鐵素體含量，如

圖1所示。如果用一磁敏元件，測出磁場強(qiáng)度增量與鐵素體含量增量的關(guān)系，并用現(xiàn)有鐵素體含量測定儀或已知鐵素體含量的試樣標(biāo)定儀表，就可以制造一臺鐵素體含量測定儀。本實(shí)用新型正是基于這一基本原理設(shè)計(jì)的，顯然，本實(shí)用新型不象現(xiàn)行渦流法那樣影響因素多，因而，信號處理簡單易行，調(diào)節(jié)方便，經(jīng)過標(biāo)定，能達(dá)到較高的精度。
以下結(jié)合附圖通過實(shí)施例詳述本實(shí)用新型。
附圖1磁場畸變與鐵素體含量的關(guān)系曲線。
附圖2立式永磁體探頭結(jié)構(gòu)原理圖。
附圖3臥式永磁體探頭結(jié)構(gòu)原理圖。
實(shí)施例如圖2所示，鐵素體含量的無損檢測探頭，由永磁體(1)立式放置，與導(dǎo)磁體外殼(2)構(gòu)成磁路，外殼(2)端部凸出并留有縫隙，其間臥式放置設(shè)置磁敏元件(3)。
實(shí)施例如圖3所示，與實(shí)施例1不同的是永磁體(1)臥式放置，磁敏元件(3)立式放置。
權(quán)利要求1.一種鐵素體含量的無損檢測探頭，其特征在于該探頭由永磁體(1)、外套導(dǎo)磁體外殼(2)構(gòu)成磁路，外殼(2)端部凸出并留有縫隙，其間設(shè)置磁敏元件(3)。
2.按照權(quán)利要求1所述鐵素體含量的無損檢測探頭，其特征在于永磁體(1)立式放置，磁敏元件(3)臥式放置。
3.按照權(quán)利要求1所述鐵素體含量的無損檢測探頭，其特征在于永磁體(1)臥式放置，磁敏元件(3)立式放置。
專利摘要一種鐵素體含量的無損檢測探頭,其特征在于該探頭由永磁體、外套導(dǎo)磁體外殼構(gòu)成磁路,外殼端部凸出并留有縫隙,其間設(shè)置磁敏元件。本實(shí)用新型不象現(xiàn)行渦流法那樣影響因素多,因而,信號處理簡單易行,調(diào)節(jié)方便,經(jīng)過標(biāo)定,能達(dá)到較高的精度。
文檔編號G01N27/72GK2296008SQ97219128
公開日1998年10月28日 申請日期1997年7月3日 優(yōu)先權(quán)日1997年7月3日
發(fā)明者王會(huì)民, 董瑞琪, 李依依 申請人:中國科學(xué)院金屬研究所