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      一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置的制造方法

      文檔序號(hào):8253835閱讀:334來(lái)源:國(guó)知局
      一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置的制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及一種電路板檢測(cè)領(lǐng)域,尤其涉及一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]電路板表面需要焊接元器件,電路板表面的平整度影響元器件與電路板線路的連接,尤其是當(dāng)電路板尺寸較小時(shí)(厚度為Imm以內(nèi),且面積為100cm2),元器件焊接管腳小,電路板表面的毛刺或者凹陷點(diǎn)就容易引起元器件虛焊或者接觸不良,厚度為1_以內(nèi)的電路板一般有0.4mm、0.6mm、0.8mm、1.0mm規(guī)格,電路板厚度薄,當(dāng)電路板表面平整度較差時(shí),嚴(yán)重影響產(chǎn)品質(zhì)量,需要對(duì)小尺寸電路板表面平整度進(jìn)行檢測(cè)。
      [0003]現(xiàn)有技術(shù)中,電路板表面平整度檢測(cè)需要通過(guò)放大鏡或者顯微鏡人工檢測(cè),檢測(cè)效率低,漏檢率高,并且僅能夠?qū)崿F(xiàn)抽檢,不能夠?qū)π〕叽珉娐钒迦珯z測(cè),影響產(chǎn)品的生產(chǎn)合格率。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的問(wèn)題,本發(fā)明提供一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置,能夠自動(dòng)檢測(cè)電路板表面平整度,檢測(cè)效率高。
      [0005]本發(fā)明技術(shù)方案如下:
      一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置,包括:箱體、傳送帶、激光器、光源探測(cè)器、第一凸透鏡、反射鏡、信號(hào)放大器、A/D轉(zhuǎn)換器和圖像采集器、顯示裝置、第二凸透鏡。
      [0006]顯示裝置設(shè)置在箱體外,傳送帶穿過(guò)箱體,即從箱體的兩個(gè)側(cè)面穿過(guò),第一凸透鏡設(shè)置在傳送帶的正上方,光源探測(cè)器、圖像采集器與箱體的頂面相連接,光源探測(cè)器、圖像采集器設(shè)置在第一凸透鏡的上方,光源探測(cè)器位于第一凸透鏡的焦平面上。
      [0007]激光器設(shè)置在箱體頂面上,激光器發(fā)射的激光能夠照射在被檢測(cè)電路板上;圖像采集器的下方設(shè)置第二凸透鏡,圖像采集器與顯示裝置相連接;光源探測(cè)器與信號(hào)放大器、A/D轉(zhuǎn)換器相連接,A/D轉(zhuǎn)換器與外置的計(jì)算機(jī)相連接。
      [0008]較優(yōu)地,本發(fā)明還包括反射鏡,反射鏡包括兩個(gè),分別設(shè)置在箱體的兩個(gè)側(cè)面上,反射鏡的鏡面朝向箱體底面斜向下設(shè)置,能夠?qū)⒎瓷涞絺?cè)面的光線發(fā)射回第一凸透鏡,使得光源探測(cè)器能夠充分采集被測(cè)電路板反射回來(lái)的光源。
      [0009]傳送帶與第一凸透鏡之間的距離大于第一凸透鏡的焦距,第一凸透鏡與第二凸透鏡之間的距離大于兩倍第一凸透鏡的焦距小于兩倍第一凸透鏡的焦距與第二凸透鏡的焦距之和。利用顯微鏡成像原理,使得圖像采集器能夠采集到放大的實(shí)像,能夠清晰顯示小尺寸電路板表面的圖像。
      [0010]較優(yōu)地,圖像采集器與顯示裝置的連接線沿箱體設(shè)置,線路設(shè)置整齊,便于維修,同時(shí)安全性能高。
      [0011]圖像采集器與顯示裝置的連接線固定設(shè)置在箱體上。
      [0012]箱體的內(nèi)表面和傳送帶的上表面黑色或者墨綠色,箱體的內(nèi)表面和傳送帶上表面為粗糙平面,減少箱體的內(nèi)表面與傳送帶上表面對(duì)激光的反射到第一凸透鏡,箱體的內(nèi)表面與傳送帶上表面反射的光線分散,減少對(duì)光源探測(cè)器的影響。
      [0013]較優(yōu)地,圖像采集器為DDC攝像頭,圖像采集清晰。
      [0014]與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明包括以下有益效果:
      本發(fā)明被檢測(cè)電路板反射激光器發(fā)射出的光線,經(jīng)過(guò)第一凸透鏡會(huì)聚到焦平面上,被光源探測(cè)器接收,經(jīng)過(guò)信號(hào)放大器、A/D轉(zhuǎn)換器8將光信號(hào)轉(zhuǎn)換的電信號(hào)發(fā)送計(jì)算機(jī),由外置的計(jì)算機(jī)計(jì)算顯示電路板的平整度,本發(fā)明傳送帶自動(dòng)傳送被檢測(cè)電路板,自動(dòng)檢測(cè),檢測(cè)效率高,準(zhǔn)確性高;
      進(jìn)一步地,本發(fā)明利用顯微鏡成像原理,使得圖像采集器能夠采集到放大的實(shí)像,能夠清晰顯示小尺寸電路板表面的圖像,能夠?qū)崟r(shí)顯示被檢測(cè)電路板的表面圖像;
      進(jìn)一步地,箱體的內(nèi)表面與傳送帶上表面反射的光線分散,減少對(duì)光源探測(cè)器的影響,檢測(cè)準(zhǔn)確性高。
      【附圖說(shuō)明】
      [0015]圖1為本發(fā)明一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0016]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作更進(jìn)一步的說(shuō)明。
      [0017]為了加深對(duì)本發(fā)明的理解,下面將結(jié)合實(shí)施例和附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳述,該實(shí)施例僅用于解釋本發(fā)明,并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明保護(hù)范圍的限定。
      [0018]如圖1所示,一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置,包括:箱體1、傳送帶2、激光器3、光源探測(cè)器4、第一凸透鏡5、反射鏡6、信號(hào)放大器7、A/D轉(zhuǎn)換器8和圖像采集器9、顯示裝置10、第二凸透鏡11。
      [0019]顯示裝置10設(shè)置在箱體I外,傳送帶2穿過(guò)箱體1,即從箱體I的兩個(gè)側(cè)面穿過(guò),第一凸透鏡5設(shè)置在傳送帶2的正上方,光源探測(cè)器4、圖像采集器9與箱體的頂面固定連接,光源探測(cè)器4、圖像采集器9設(shè)置在第一凸透鏡5的上方,光源探測(cè)器4位于第一凸透鏡5的焦平面上。
      [0020]激光器3設(shè)置在箱體I頂面上,激光器3發(fā)射的激光能夠照射在被檢測(cè)電路板上;圖像采集器9的下方設(shè)置第二凸透鏡11,圖像采集器9與顯示裝置10相連接;光源探測(cè)器4與信號(hào)放大器7、A/D轉(zhuǎn)換器8相連接,A/D轉(zhuǎn)換器8與外置的計(jì)算機(jī)相連接。
      [0021 ] 較優(yōu)地,本發(fā)明還包括反射鏡6,反射鏡6包括兩個(gè),分別設(shè)置在箱體I的兩個(gè)側(cè)面上,反射鏡6的鏡面朝向箱體底面斜向下設(shè)置,能夠?qū)⒎瓷涞絺?cè)面的光線發(fā)射回第一凸透鏡5,使得光源探測(cè)器4能夠充分采集被測(cè)電路板反射回來(lái)的光源。
      [0022]傳送帶2與第一凸透鏡5之間的距離大于第一凸透鏡5的焦距,第一凸透鏡5與第二凸透鏡11之間的距離大于兩倍第一凸透鏡5的焦距小于兩倍第一凸透鏡5的焦距與第二凸透鏡11的焦距之和。利用顯微鏡成像原理,使得圖像采集器9能夠采集到放大的實(shí)像,能夠清晰顯示小尺寸電路板表面的圖像。
      [0023]圖像采集器9與顯示裝置10的連接線沿箱體I設(shè)置,線路設(shè)置整齊,便于維修,同時(shí)安全性能高。
      [0024]圖像采集器9與顯示裝置10的連接線固定設(shè)置在箱體I上。
      [0025]箱體I的內(nèi)表面和傳送帶2的上表面黑色或者墨綠色,箱體I的內(nèi)表面和傳送帶2上表面為粗糙平面,減少箱體I的內(nèi)表面與傳送帶2上表面對(duì)激光的反射到第一凸透鏡5,箱體I的內(nèi)表面與傳送帶2上表面反射的光線分散,減少對(duì)光源探測(cè)器4的影響。
      [0026]圖像采集器9為DDC攝像頭,圖像采集清晰。
      [0027]以上僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出:對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō),在不脫離本發(fā)明原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾,這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:箱體(1)、傳送帶(2)、激光器(3)、光源探測(cè)器(4)、第一凸透鏡(5)、反射鏡(6)、信號(hào)放大器(7)、A/D轉(zhuǎn)換器(8)和圖像采集器(9)、顯示裝置(10)、第二凸透鏡(11); 所述顯示裝置(10)設(shè)置在箱體(I)外,傳送帶(2 )穿過(guò)箱體(I),第一凸透鏡(5 )設(shè)置在傳送帶(2)的正上方,光源探測(cè)器(4)、圖像采集器(9)與箱體的頂面相連接,所述光源探測(cè)器(4)、圖像采集器(9)設(shè)置在第一凸透鏡(5)的上方,所述光源探測(cè)器(4)位于第一凸透鏡(5)的焦平面上; 所述激光器(3 )設(shè)置在箱體(I)頂面上,激光器(3 )發(fā)射的激光能夠照射在被檢測(cè)電路板上; 所述圖像采集器(9)的下方設(shè)置第二凸透鏡(11),所述圖像采集器(9)與顯示裝置(10)相連接; 所述光源探測(cè)器(4 )與信號(hào)放大器(7 )、A/D轉(zhuǎn)換器(8 )相連接,所述A/D轉(zhuǎn)換器(8 )與外置的計(jì)算機(jī)相連接。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置,其特征在于,還包括反射鏡(6),所述反射鏡(6)包括兩個(gè),分別設(shè)置在箱體(I)的兩個(gè)側(cè)面上。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述反射鏡(6)的鏡面朝向箱體底面斜向下設(shè)置。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述傳送帶(2)與第一凸透鏡(5)之間的距離大于第一凸透鏡(5)的焦距,第一凸透鏡(5)與第二凸透鏡(11)之間的距離大于兩倍第一凸透鏡(5)的焦距小于兩倍第一凸透鏡(5)的焦距與第二凸透鏡(H)的焦距之和。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述圖像采集器(9 )與顯示裝置(10 )的連接線沿箱體(I)設(shè)置。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述圖像采集器(9 )與顯示裝置(10 )的連接線固定設(shè)置在箱體(I)上。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述箱體(I)的內(nèi)表面和傳送帶(2)的上表面黑色或者墨綠色。
      8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述箱體(I)的內(nèi)表面和傳送帶(2)上表面為粗糙平面。
      9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述圖像采集器(9)為DDC攝像頭。
      【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)一種小尺寸電路板表面平整度自動(dòng)檢測(cè)裝置,包括:箱體(1)、傳送帶(2)、激光器(3)、光源探測(cè)器(4)、第一凸透鏡(5)、反射鏡(6)、信號(hào)放大器(7)、A/D轉(zhuǎn)換器(8)和圖像采集器(9)、顯示裝置(10)、第二凸透鏡(11);顯示裝置(10)設(shè)置在箱體(1)外,傳送帶(2)穿過(guò)箱體(1),第一凸透鏡(5)設(shè)置在傳送帶(2)的正上方,光源探測(cè)器(4)、圖像采集器(9)設(shè)置在第一凸透鏡(5)的上方,光源探測(cè)器(4)位于第一凸透鏡(5)的焦平面上;圖像采集器(9)的下方設(shè)置第二凸透鏡(11);本發(fā)明傳送帶自動(dòng)傳送被檢測(cè)電路板,自動(dòng)檢測(cè),檢測(cè)效率高,準(zhǔn)確性高。
      【IPC分類】G01B11-30
      【公開(kāi)號(hào)】CN104567755
      【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201410816138
      【發(fā)明人】高超, 游茜
      【申請(qǐng)人】昆山元茂電子科技有限公司
      【公開(kāi)日】2015年4月29日
      【申請(qǐng)日】2014年12月25日
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