一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著科技的不斷進(jìn)步，電子技術(shù)得到了突飛猛進(jìn)的發(fā)展，電子技術(shù)的換代時(shí)間間隔越來越短，隨著電子行業(yè)的發(fā)展，正溫度系數(shù)熱敏電阻元件由于其特殊的電性能，在工業(yè)電子設(shè)備、通信和家電產(chǎn)品中的應(yīng)用越來越多，正溫度系數(shù)熱敏電阻元件的生產(chǎn)規(guī)模越來越大。耐電壓特性是指正溫度系數(shù)熱敏電阻在不被破壞的前提下能承受的最高電壓，當(dāng)超過這一極限電壓時(shí)，由于內(nèi)部結(jié)構(gòu)原因，阻值不再上升，此時(shí)電阻器的電流將會(huì)上升，其消耗的功率就會(huì)增大，從而使正溫度系數(shù)熱敏電阻溫度急劇上升，元件被擊穿而失效。所以耐壓值是正溫度系數(shù)熱敏電阻的一項(xiàng)關(guān)鍵基本質(zhì)量參數(shù)，直接影響到熱敏電阻的可靠性和使用壽命。在大規(guī)模生產(chǎn)中，如何高效穩(wěn)定地對(duì)每一片樣品進(jìn)行測(cè)試一直困擾著當(dāng)前的正溫度系數(shù)熱敏電阻元件生產(chǎn)廠商。同時(shí)在測(cè)試過程中如何提高測(cè)試系統(tǒng)的安全性，保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性也嚴(yán)重制約著當(dāng)前耐電壓測(cè)試儀的發(fā)展。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明旨在解決上述問題，提供一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。
[0004]一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于包括上探針板、氣缸、夾具、控制電路、下探針板、過流檢測(cè)保護(hù)電路、控制主機(jī)和分選模塊；其中，上探針板與夾具相連接；上探針板和夾具均與氣缸相連接；夾具與下探針板相連接；下探針板與過流檢測(cè)電路相連接；過流檢測(cè)保護(hù)電路與控制電路相連接；控制電路與氣缸相連接；控制電路和分選模塊均與控制主機(jī)相連接。
[0005]本發(fā)明所述的一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述控制電路包括顯示和按鍵模塊、存儲(chǔ)模塊、單片機(jī)、通信模塊、高低壓選擇模塊、光耦隔離電路和繼電器模塊；其中顯示和按鍵模塊、存儲(chǔ)模塊、通信模塊、高低壓選擇模塊和光耦隔離模塊均與單片機(jī)相連接；繼電器模塊與光耦隔離電路相連接。
[0006]本發(fā)明所述的一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述上探針板與高低壓選擇模塊相連接。
[0007]本發(fā)明所述的一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述下探針板和過流檢測(cè)模塊均與繼電器模塊相連接。
[0008]本發(fā)明所述的一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述控制主機(jī)與通信模塊相連接。
[0009]本發(fā)明所述的一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述夾具為8X 16矩陣式夾具。
[0010]本發(fā)明所述的一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述單片機(jī)采用STC單片機(jī)。
[0011]本發(fā)明所述的一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，通過采用專用的測(cè)試夾具，很好的滿足了測(cè)試的需求，專業(yè)模板的使用也降低了被檢測(cè)品受損傷的幾率，本發(fā)明所述的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的自動(dòng)化程度高，系統(tǒng)的穩(wěn)定性好，測(cè)試效率得到提升，測(cè)試準(zhǔn)確度穩(wěn)定，操作簡(jiǎn)單且易于推廣。
【具體實(shí)施方式】
[0012]一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于包括上探針板、氣缸、夾具、控制電路、下探針板、過流檢測(cè)保護(hù)電路、控制主機(jī)和分選模塊；其中，上探針板與夾具相連接；上探針板和夾具均與氣缸相連接；夾具與下探針板相連接；下探針板與過流檢測(cè)電路相連接；過流檢測(cè)保護(hù)電路與控制電路相連接；控制電路與氣缸相連接；控制電路和分選模塊均與控制主機(jī)相連接。
[0013]本發(fā)明所述的一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，所述控制電路包括顯示和按鍵模塊、存儲(chǔ)模塊、單片機(jī)、通信模塊、高低壓選擇模塊、光耦隔離電路和繼電器模塊；其中顯示和按鍵模塊、存儲(chǔ)模塊、通信模塊、高低壓選擇模塊和光耦隔離模塊均與單片機(jī)相連接；繼電器模塊與光耦隔離電路相連接。所述上探針板與高低壓選擇模塊相連接。所述下探針板和過流檢測(cè)模塊均與繼電器模塊相連接。所述控制主機(jī)與通信模塊相連接。所述夾具為8X16矩陣式夾具，并配有專用上料模板，可同時(shí)裝夾128只元件，使元件裝夾更加方便有效。相比采用傳統(tǒng)的震動(dòng)上料，能很好地避免震動(dòng)過程中對(duì)表面電極的損傷，確保元件測(cè)試狀態(tài)符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)試前將元件放到樣品板上，通過撫平操作即可將元件裝到模板的凹槽中，然后將樣品板放置在測(cè)試平臺(tái)上，由氣缸牽引至指定位置。樣品上料的過程可以穿插在測(cè)試過程中進(jìn)行，因此能有效地提高測(cè)試效率。所述單片機(jī)采用STC單片機(jī)，使用鎖存芯片可將16路并行I/O擴(kuò)展為128路I/O輸出，用來順序控制128個(gè)繼電器的動(dòng)作。單片機(jī)通過控制3-8譯碼器來控制鎖存芯片的選通，以及8路高低電壓繼電器的切換。通過優(yōu)化電路設(shè)計(jì)，在切換高低電壓的同時(shí)，還能切換高低基準(zhǔn)電壓。系統(tǒng)外接顯示和按鍵模塊，參數(shù)存儲(chǔ)的E2PR0M模塊，可以在沒有上位機(jī)的情況下直接通過單片機(jī)微系統(tǒng)設(shè)置參數(shù)和顯示運(yùn)行狀態(tài)。設(shè)置通信模塊，可由上位機(jī)直接控制單片機(jī)，通過對(duì)上位機(jī)軟件的優(yōu)化，使參數(shù)設(shè)置和狀態(tài)顯示更加便利。同時(shí)，下位機(jī)能把每一路的元件狀況發(fā)送回上位機(jī)，作為上位機(jī)控制自動(dòng)分選的標(biāo)準(zhǔn)，并配有友好的人機(jī)界面。，所有樣品按8X 16的矩陣放置在樣品夾具上，氣缸機(jī)械手控制樣品夾具來代替人工的裝料，控制電路控制氣缸的動(dòng)作以及樣品的測(cè)試，同時(shí)每一測(cè)試回路均有過流保護(hù)電路，并采用了去干擾設(shè)計(jì)，能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)電流，對(duì)由于樣品損壞產(chǎn)生的大電流迅速響應(yīng)并反饋給MCU，MCU接收反饋信號(hào)并存儲(chǔ)，在每一輪測(cè)試完成之后將存儲(chǔ)數(shù)據(jù)發(fā)送至上位機(jī)進(jìn)行樣品的合格分選。本測(cè)試系統(tǒng)極大提高了耐電壓的測(cè)試效率，可以達(dá)到預(yù)期目標(biāo)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于包括上探針板、氣缸、夾具、控制電路、下探針板、過流檢測(cè)保護(hù)電路、控制主機(jī)和分選模塊；其中，上探針板與夾具相連接；上探針板和夾具均與氣缸相連接；夾具與下探針板相連接；下探針板與過流檢測(cè)電路相連接；過流檢測(cè)保護(hù)電路與控制電路相連接；控制電路與氣缸相連接；控制電路和分選模塊均與控制主機(jī)相連接。
2.如權(quán)利要求1所述的一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述控制電路包括顯示和按鍵模塊、存儲(chǔ)模塊、單片機(jī)、通信模塊、高低壓選擇模塊、光耦隔離電路和繼電器模塊；其中顯示和按鍵模塊、存儲(chǔ)模塊、通信模塊、高低壓選擇模塊和光耦隔離模塊均與單片機(jī)相連接；繼電器模塊與光耦隔離電路相連接。
3.如權(quán)利要求1所述的一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述上探針板與高低壓選擇模塊相連接。
4.如權(quán)利要求1所述的一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述下探針板和過流檢測(cè)模塊均與繼電器模塊相連接。
5.如權(quán)利要求1所述的一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述控制主機(jī)與通信模塊相連接。
6.如權(quán)利要求1所述的一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述夾具為8X16矩陣式夾具。
7.如權(quán)利要求2所述的一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述單片機(jī)采用STC單片機(jī)。
【專利摘要】一種熱敏電阻的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，屬于電子技術(shù)領(lǐng)域。其特征在于包括上探針板、氣缸、夾具、控制電路、下探針板、過流檢測(cè)保護(hù)電路、控制主機(jī)和分選模塊；其中，上探針板與夾具相連接；上探針板和夾具均與氣缸相連接；夾具與下探針板相連接；下探針板與過流檢測(cè)電路相連接；過流檢測(cè)保護(hù)電路與控制電路相連接；控制電路與氣缸相連接；控制電路和分選模塊均與控制主機(jī)相連接。通過采用專用的測(cè)試夾具，很好的滿足了測(cè)試的需求，專業(yè)模板的使用也降低了被檢測(cè)品受損傷的幾率，本發(fā)明所述的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的自動(dòng)化程度高，系統(tǒng)的穩(wěn)定性好，測(cè)試效率得到提升，測(cè)試準(zhǔn)確度穩(wěn)定，操作簡(jiǎn)單且易于推廣。
【IPC分類】G01R31-12
【公開號(hào)】CN104635122
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201410717055
【發(fā)明人】何延春
【申請(qǐng)人】何延春
【公開日】2015年5月20日
【申請(qǐng)日】2014年12月2日