電路板檢測(cè)裝置、檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種用于檢查電路板是否出現(xiàn)異常以及出現(xiàn)異常的位置的檢測(cè)裝置、 檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電子裝置的功能越來(lái)越強(qiáng)大，電路板的集成度也越來(lái)越高。 當(dāng)這些具有高集成度的電路板出現(xiàn)異常，例如短路或者開(kāi)路時(shí)，一般需要技術(shù)人員進(jìn)行人 工排查，以便確定出現(xiàn)異常的位置。這種人工檢查的方法需要耗費(fèi)大量的時(shí)間和人力，甚至 耗費(fèi)了大量時(shí)間和人力后仍然檢查不出異常的所在，因而不得不將整塊電路板丟棄，造成 資源的浪費(fèi)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 有鑒于此，有必要提供一種能夠快速、準(zhǔn)確的檢查出電路板是否出現(xiàn)異常以及異 常所在位置的電路板檢測(cè)裝置、檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法，以解決上述問(wèn)題。
[0004] 一種電路板檢測(cè)裝置，包括輸入單元，用于供用戶(hù)輸入一標(biāo)準(zhǔn)電路板在正常工作 狀態(tài)下對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖；存儲(chǔ)單元，用于存儲(chǔ)該用戶(hù)輸入的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖；磁場(chǎng) 掃描單元，用于在待測(cè)電路板通電的情況下掃描該待測(cè)電路板上產(chǎn)生的感應(yīng)磁場(chǎng)，并根據(jù) 掃描到的感應(yīng)磁場(chǎng)繪制該電路板對(duì)應(yīng)的磁場(chǎng)分布圖；以及處理單元。該處理單元包括：磁 場(chǎng)分布圖獲取模塊，用于獲取該磁場(chǎng)掃描單元生成的待測(cè)電路板的磁場(chǎng)分布圖；以及比較 模塊，用于將該磁場(chǎng)分布圖獲取模塊獲取的磁場(chǎng)分布圖與存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)的電路板在正常工 作狀態(tài)下對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖進(jìn)行比較，并當(dāng)該獲取到的磁場(chǎng)分布圖與該標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布 圖相同時(shí)，確定該待測(cè)電路板沒(méi)有出現(xiàn)異常；該比較模塊還用于在該獲取到的磁場(chǎng)分布圖 與該標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖不相同時(shí)，確定該待測(cè)電路板出現(xiàn)異常，并將該磁場(chǎng)分布圖與標(biāo)準(zhǔn)磁 場(chǎng)分布圖不相同的位置確定為出現(xiàn)異常的位置。
[0005] -種電路板檢測(cè)系統(tǒng)，包括磁場(chǎng)分布圖獲取模塊，用于獲取該磁場(chǎng)掃描單元生成 的待測(cè)電路板的磁場(chǎng)分布圖；以及比較模塊，用于將該磁場(chǎng)分布圖獲取模塊獲取的磁場(chǎng)分 布圖與存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)的電路板在正常工作狀態(tài)下對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖進(jìn)行比較，并當(dāng)該 獲取到的磁場(chǎng)分布圖與該標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖相同時(shí)，確定該待測(cè)電路板沒(méi)有出現(xiàn)異常；還比 較模塊還用于在該獲取到的磁場(chǎng)分布圖與該標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖不相同時(shí)，確定該待測(cè)電路板 出現(xiàn)異常，并將該磁場(chǎng)分布圖與標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖不相同的位置確定為出現(xiàn)異常的位置。
[0006] -種電路板檢測(cè)方法，包括步驟：接收用戶(hù)輸入的標(biāo)準(zhǔn)電路板在正常工作狀態(tài)下 對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖，并存儲(chǔ)該標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖；在待測(cè)電路板通電的情況下掃描該待 測(cè)電路板上產(chǎn)生的感應(yīng)磁場(chǎng)，并根據(jù)掃描到的感應(yīng)磁場(chǎng)繪制該電路板對(duì)應(yīng)的磁場(chǎng)分布圖； 獲取該磁場(chǎng)分布圖；將獲取到的磁場(chǎng)分布圖與預(yù)先存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)電路板在正常工作狀態(tài)下對(duì) 應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖相比較，確定該獲取到的磁場(chǎng)分布圖與標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖是否相同；當(dāng) 該獲取到的磁場(chǎng)分布圖與該標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖不相同時(shí)，則確定該待測(cè)電路板出現(xiàn)異常，并 將該磁場(chǎng)分布圖與標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖不相同的位置確定為出現(xiàn)異常的位置。
[0007] 本發(fā)明中，通過(guò)電路板對(duì)應(yīng)的磁場(chǎng)分布圖來(lái)確定電路板是否出現(xiàn)異常以及異常所 在位置，不需要人工檢查，提高了檢測(cè)效率，節(jié)省了大量的時(shí)間和人力。
【附圖說(shuō)明】
[0008] 圖1為本發(fā)明一實(shí)施方式中電路板檢測(cè)裝置的功能模塊示意圖。
[0009] 圖2為本發(fā)明一實(shí)施方式中電路板檢測(cè)方法流程圖。
[0010] 主要元件符號(hào)說(shuō)明
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種電路板檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)電路板是否出現(xiàn)異常以及出現(xiàn)異常的位置，其特征 在于，該電路板檢測(cè)裝置包括： 存儲(chǔ)單元，用于存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)電路板在正常工作狀態(tài)下對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖； 磁場(chǎng)掃描單元，用于在待測(cè)電路板通電的情況下掃描該待測(cè)電路板上產(chǎn)生的感應(yīng)磁 場(chǎng)，并根據(jù)掃描到的感應(yīng)磁場(chǎng)繪制該電路板對(duì)應(yīng)的磁場(chǎng)分布圖；以及 處理單元，包括： 磁場(chǎng)分布圖獲取模塊，用于獲取該磁場(chǎng)掃描單元生成的待測(cè)電路板的磁場(chǎng)分布圖；以 及 比較模塊，用于將該磁場(chǎng)分布圖獲取模塊獲取的磁場(chǎng)分布圖與存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)的電路板 在正常工作狀態(tài)下對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖進(jìn)行比較，并當(dāng)該獲取到的磁場(chǎng)分布圖與該標(biāo)準(zhǔn) 磁場(chǎng)分布圖相同時(shí)，確定該待測(cè)電路板沒(méi)有出現(xiàn)異常；該比較模塊還用于在該獲取到的磁 場(chǎng)分布圖與該標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖不相同時(shí)，確定該待測(cè)電路板出現(xiàn)異常，并將該磁場(chǎng)分布圖 與標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖不相同的位置確定為出現(xiàn)異常的位置。
2. 如權(quán)利要求1所述的電路板檢測(cè)裝置，其特征在于，該電路板檢測(cè)裝置還包括一輸 入單元，用于供用戶(hù)輸入標(biāo)準(zhǔn)電路板在正常工作狀態(tài)下對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖，并存儲(chǔ)至 該存儲(chǔ)單元。
3. 如權(quán)利要求1所述的電路板檢測(cè)裝置，其特征在于，該電路板檢測(cè)裝置還包括一輸 出單元，該處理單元還包括控制模塊，該控制模塊用于獲取該比較模塊的比較結(jié)果，并在該 比較模塊確定該待測(cè)電路板出現(xiàn)異常時(shí)，根據(jù)該電路板的異常以及出現(xiàn)異常的位置生成一 提示信息，并將該提示信息通過(guò)輸出單元顯示給用戶(hù)。
4. 如權(quán)利要求1所述的電路板檢測(cè)裝置，其特征在于，該輸入單元接收用戶(hù)預(yù)先輸入 的多種型號(hào)電路板在正常工作狀態(tài)下對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖，并將該多種型號(hào)電路板在正 常工作狀態(tài)下對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖存儲(chǔ)至存儲(chǔ)單元中，該比較模塊在獲取到待測(cè)電路板 的磁場(chǎng)分布圖之后，先確定該待測(cè)電路板的型號(hào)，并在該存儲(chǔ)模塊中選擇與該待測(cè)電路板 型號(hào)相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖，然后在將該獲取到的待測(cè)電路板的磁場(chǎng)分布圖與該選擇出 的標(biāo)準(zhǔn)電磁分布圖進(jìn)行比較。
5. 如權(quán)利要求1所述的電路板檢測(cè)裝置，其特征在于，該磁場(chǎng)掃描單兀為一磁場(chǎng)掃描 儀。
6. 如權(quán)利要求1所述的電路板檢測(cè)裝置，其特征在于，該磁場(chǎng)掃描單元為包括磁強(qiáng)計(jì) 以及處理芯片的結(jié)構(gòu)，通過(guò)磁強(qiáng)計(jì)測(cè)量電路板上各個(gè)位置的磁場(chǎng)強(qiáng)度，然后再通過(guò)處理芯 片執(zhí)行Matlab軟件中的quiverf函數(shù)而根據(jù)測(cè)量到的磁場(chǎng)強(qiáng)度繪制該電路板對(duì)應(yīng)的磁場(chǎng) 分布圖。
7. -種電路板檢測(cè)系統(tǒng)，運(yùn)行于一電路板檢測(cè)裝置的處理單元中，其中該電路板檢測(cè) 裝置還包括輸入單元、存儲(chǔ)單元、磁場(chǎng)掃描單元以及輸出單元，該存儲(chǔ)單元中存儲(chǔ)有標(biāo)準(zhǔn)電 路板在正常工作狀態(tài)下對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖，其特征在于，該電路板檢測(cè)系統(tǒng)包括： 磁場(chǎng)分布圖獲取模塊，用于獲取該磁場(chǎng)掃描單元生成的待測(cè)電路板的磁場(chǎng)分布圖； 比較模塊，用于將該磁場(chǎng)分布圖獲取模塊獲取的磁場(chǎng)分布圖與存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)的電路板 在正常工作狀態(tài)下對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖進(jìn)行比較，并當(dāng)該獲取到的磁場(chǎng)分布圖與該標(biāo)準(zhǔn) 磁場(chǎng)分布圖相同時(shí)，確定該待測(cè)電路板沒(méi)有出現(xiàn)異常；還比較模塊還用于在該獲取到的磁 場(chǎng)分布圖與該標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖不相同時(shí)，確定該待測(cè)電路板出現(xiàn)異常，并將該磁場(chǎng)分布圖 與標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖不相同的位置確定為出現(xiàn)異常的位置。
8. 如權(quán)利要求7所述的電路板檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該電路板檢測(cè)系統(tǒng)還包括控制 模塊，該控制模塊用于獲取該比較模塊的比較結(jié)果，并在該比較模塊確定該待測(cè)電路板出 現(xiàn)異常時(shí)，根據(jù)該電路板的異常以及出現(xiàn)異常的位置生成一提示信息，并將該提示信息通 過(guò)輸出單元顯示給用戶(hù)。
9. 一種電路板檢測(cè)方法，應(yīng)用于一電路板檢測(cè)系統(tǒng)中，其特征在于，該電路板檢測(cè)方法 包括步驟： 在待測(cè)電路板通電的情況下掃描該待測(cè)電路板上產(chǎn)生的感應(yīng)磁場(chǎng)，并根據(jù)掃描到的感 應(yīng)磁場(chǎng)繪制該電路板對(duì)應(yīng)的磁場(chǎng)分布圖； 獲取該磁場(chǎng)分布圖； 將獲取到的磁場(chǎng)分布圖與預(yù)先存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)電路板在正常工作狀態(tài)下對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng) 分布圖相比較，確定該獲取到的磁場(chǎng)分布圖與標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖是否相同； 當(dāng)該獲取到的磁場(chǎng)分布圖與該標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖不相同時(shí)，則確定該待測(cè)電路板出現(xiàn)異 常，并將該磁場(chǎng)分布圖與標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖不相同的位置確定為出現(xiàn)異常的位置。
10. 如權(quán)利要求9所述的電路板檢測(cè)方法，其特征在于，該方法還包括步驟： 在該比較模塊確定該待測(cè)電路板出現(xiàn)異常時(shí)，根據(jù)該電路板的異常以及出現(xiàn)異常的位 置生成一提示信息，并將該提示信息顯示給用戶(hù)。
11. 如權(quán)利要求9所述的電路板檢測(cè)方法，其特征在于，該存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖中包 括多種型號(hào)電路板在正常工作狀態(tài)下對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖，在將該獲取到的待測(cè)電路板 的磁場(chǎng)分布圖與該選擇出的標(biāo)準(zhǔn)電磁分布圖進(jìn)行比較之前，先確定該待測(cè)電路板的型號(hào)， 并在該存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖中選擇與該待測(cè)電路板型號(hào)相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖。
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明提供一種檢測(cè)系統(tǒng)，包括磁場(chǎng)分布圖獲取模塊和比較模塊。該磁場(chǎng)分布圖獲取模塊獲取一磁場(chǎng)掃描單元生成的待測(cè)電路板的磁場(chǎng)分布圖。該比較模塊將該獲取的磁場(chǎng)分布圖與預(yù)先存儲(chǔ)的電路板在正常工作狀態(tài)下對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖進(jìn)行比較。該比較模塊在該獲取到的磁場(chǎng)分布圖與該標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖不相同時(shí)，確定該待測(cè)電路板出現(xiàn)異常，并將該磁場(chǎng)分布圖與標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)分布圖不相同的位置確定為出現(xiàn)異常的位置。本發(fā)明還提供一種電路板檢測(cè)裝置和檢測(cè)方法。本發(fā)明中的電路板檢測(cè)裝置、系統(tǒng)及方法，通過(guò)電路板對(duì)應(yīng)的磁場(chǎng)分布圖來(lái)確定電路板是否出現(xiàn)異常以及異常所在位置，不需要人工檢查，節(jié)省了大量的時(shí)間和人力。
【IPC分類(lèi)】G01R31-28
【公開(kāi)號(hào)】CN104678281
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201310628641
【發(fā)明人】許卜昇
【申請(qǐng)人】鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司
【公開(kāi)日】2015年6月3日
【申請(qǐng)日】2013年11月29日