一種aoi光源的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及AOI檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種AOI光源。
【背景技術(shù)】
[0002]AOI (Automatic Optic Inspect1n)的全稱是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，是基于光學(xué)原理來(lái)對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。AOI是新興起的一種新型測(cè)試技術(shù)，但發(fā)展迅速，很多廠家都推出了 AOI測(cè)試設(shè)備。當(dāng)自動(dòng)檢測(cè)時(shí)，機(jī)器通過(guò)攝像頭自動(dòng)掃描待測(cè)產(chǎn)品，采集圖像，測(cè)試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫(kù)中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較，經(jīng)過(guò)圖像處理，檢查出待測(cè)產(chǎn)品的缺陷，并通過(guò)顯示器或自動(dòng)標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來(lái)，供維修人員修整。
[0003]現(xiàn)有AOI光源包括兩類，一類是只含有紅綠藍(lán)多層環(huán)形光的光源，該類光源為沒(méi)有同軸光的光源，如果產(chǎn)品比如元件、銅箔等存在鏡面反射，那么相機(jī)拍攝得到的圖像就是黑色的；另一類是同軸光源，會(huì)使PCB板以及元器件失真，使得反光區(qū)域雜亂無(wú)章，對(duì)測(cè)量產(chǎn)生影響。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供一種AOI光源，可以真實(shí)地拍攝出具有漫反射、鏡面反射或高亮度特點(diǎn)的待檢測(cè)物體，使檢測(cè)結(jié)果更加可靠，提高出廠產(chǎn)品的良率。
[0005]本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:
[0006]第一方面，本發(fā)明提供一種AOI光源，包括非同軸光源和同軸光源，所述同軸光源設(shè)置于所述非同軸光源與相機(jī)之間，所述同軸光源沿相機(jī)拍攝方向設(shè)有第一通孔，所述非同軸光源沿相機(jī)拍攝方向設(shè)有第二通孔，所述第二通孔大于第一通孔且與第一通孔同心設(shè)置。
[0007]進(jìn)一步地，所述同軸光源包括依次層疊設(shè)置的遮光板、導(dǎo)光介質(zhì)和勻光板，所述勻光板鄰近所述非同軸光源的頂端，所述導(dǎo)光介質(zhì)的側(cè)壁上貼附有第一 LED光源。
[0008]進(jìn)一步地，所述第一 LED光源包括紅色LED燈、綠色LED燈和藍(lán)色LED燈，所述紅色LED燈、綠色LED燈和藍(lán)色LED燈間隔設(shè)置。
[0009]進(jìn)一步地，所述同軸光源沿相機(jī)拍攝方向的投影為正方形，所述第一 LED光源分別設(shè)置于所述導(dǎo)光介質(zhì)的四個(gè)側(cè)壁上，且發(fā)光方向朝向所述側(cè)壁。
[0010]進(jìn)一步地，所述非同軸光源包括燈罩及第二 LED光源，所述燈罩沿相機(jī)拍攝方向的投影為圓形，沿相機(jī)拍攝方向的截面為拋物線形，所述第二 LED光源包括紅色LED光源環(huán)、綠色LED光源環(huán)和藍(lán)色LED光源環(huán)。
[0011 ] 進(jìn)一步地，所述紅色LED光源環(huán)、綠色LED光源環(huán)和藍(lán)色LED光源環(huán)從所述燈罩的頂端至開口端依次排布。
[0012]本發(fā)明提供的技術(shù)方案帶來(lái)如下有益效果:
[0013]AOI光源中的非同軸光源發(fā)出非同軸光，可以真實(shí)地拍攝出錫膏、元器件等漫反射物體；同軸光源發(fā)出同軸光，由于同軸光源是漫反射光源，發(fā)出的光沒(méi)有指向性且亮度較低，可以使得相機(jī)清楚拍攝出銅箔等鏡面反射物體以及高亮度物體的圖片。在檢測(cè)時(shí)，待檢測(cè)物體放置于拍攝有效區(qū)域內(nèi)，通過(guò)非同軸光源和同軸光源的配合使用，相機(jī)透過(guò)第一通孔和第二通孔可以真實(shí)地拍攝出具有漫反射、鏡面反射或高亮度特點(diǎn)的待檢測(cè)物體，使檢測(cè)結(jié)果更加可靠，提高出廠產(chǎn)品的良率。
【附圖說(shuō)明】
[0014]為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明中的技術(shù)方案，下面將對(duì)本發(fā)明實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單的介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的內(nèi)容和這些附圖獲得其他的附圖。
[0015]圖1是本發(fā)明提供的AOI光源的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0016]圖2是本發(fā)明提供的同軸光源的沿拍照方向的截面示意圖。
[0017]圖3是本發(fā)明提供的同軸光源沿拍照方向的俯視圖。
[0018]圖4是本發(fā)明提供的非同軸光源從開口端向頂端的仰視圖。
【具體實(shí)施方式】
[0019]為使本發(fā)明解決的技術(shù)問(wèn)題、采用的技術(shù)方案和達(dá)到的技術(shù)效果更加清楚，下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案作進(jìn)一步的詳細(xì)描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0020]圖1是本發(fā)明提供的AOI光源的結(jié)構(gòu)示意圖。參考圖1所示，該AOI光源，包括非同軸光源10和同軸光源20，所述同軸光源20設(shè)置于所述非同軸光源10與相機(jī)之間，所述同軸光源20沿相機(jī)30拍攝方向X設(shè)有第一通孔200，所述非同軸光源10沿相機(jī)30拍攝方向X設(shè)有第二通孔100，第二通孔100大于第一通孔200且與第一通孔200同心設(shè)置。
[0021]該AOI光源中的非同軸光源10發(fā)出非同軸光，可以真實(shí)地拍攝出錫膏、元器件等漫反射物體；同軸光源20發(fā)出同軸光，由于同軸光源20是漫反射光源，發(fā)出的光沒(méi)有指向性且亮度較低，可以使得相機(jī)30清楚拍攝出銅箔等鏡面反射物體以及高亮度物體的圖片。在檢測(cè)時(shí)，待檢測(cè)物體40放置于拍攝有效區(qū)域50內(nèi)，同軸光源20發(fā)出的光通過(guò)第二通孔100照射到待檢測(cè)物體40上，通過(guò)非同軸光源10和同軸光源20的配合使用，相機(jī)30透過(guò)第一通孔200和第二通孔100可以真實(shí)地拍攝出具有漫反射、鏡面反射或高亮度特點(diǎn)的待檢測(cè)物體40，使檢測(cè)結(jié)果更加可靠，提高出廠產(chǎn)品的良率。
[0022]圖2是本發(fā)明提供的同軸光源的沿拍照方向的截面示意圖。結(jié)合圖2所示，本實(shí)施例中，同軸光源20包括依次層疊設(shè)置的遮光板201、導(dǎo)光介質(zhì)202和勻光板203，該勻光板203鄰近非同軸光源10的頂端，導(dǎo)光介質(zhì)202的側(cè)壁上貼附有第一 LED光源204。遮光板201、導(dǎo)光介質(zhì)202和勻光板203均開設(shè)有第一通孔200。遮光板201防止光線直接進(jìn)入相機(jī)30影響拍照，勻光板203可以使得光線均勻地照射到電路板上。此外，為了進(jìn)一步提高出光效率，所述遮光板201可優(yōu)選為反光板。
[0023]圖3是本發(fā)明提供的同軸光源沿拍照方向的俯視圖。結(jié)合圖3所示，本實(shí)施例中，同軸光源20沿相機(jī)30拍攝方向X的投影為正方形，第一 LED光源204分別設(shè)置于導(dǎo)光介質(zhì)202的四個(gè)側(cè)壁上，且發(fā)光方向朝向所述側(cè)壁。導(dǎo)光介質(zhì)202使得光線分布更加均勻，有利于提升相機(jī)30的拍照效果。當(dāng)然，在其他一些實(shí)施例中，第一 LED光源204也可以只設(shè)置于導(dǎo)光介質(zhì)202的一相對(duì)側(cè)壁上，并且同軸光源20的投影形狀也可以為圓形，長(zhǎng)方形或其他形狀，此處僅作為個(gè)體實(shí)例，并不作為對(duì)本發(fā)明的限制。
[0024]具體地，本實(shí)施例中，第一 LED光源204包括紅色LED燈、綠色LED燈和藍(lán)色LED燈，所述紅色LED燈、綠色LED燈和藍(lán)色LED燈間隔設(shè)置(圖中未示出)。由于不同色光中缺陷可以被突出，比如在紅色光中待檢測(cè)物體40表面缺陷比較清晰，明黃色光中待檢測(cè)物體40深層缺陷比較清晰，深藍(lán)色光中待檢測(cè)物體40色彩差異比較清晰，因此通過(guò)第一 LED光源204的三種LED燈利用RDB三色光組合原理可以配合形成多種色光，在待檢測(cè)物體40不移動(dòng)的情況下判斷多種缺陷。
[0025]圖4是本發(fā)明提供的非同軸光源從開口端向頂端的仰視圖。結(jié)合圖1、圖4所示，非同軸光源10包括燈罩101及第二 LED光源102，該燈罩101沿相機(jī)拍攝方向X的投影為圓形，沿相機(jī)拍攝方向X的切面為拋物線形，第二 LED光源102包括紅色LED光源環(huán)1020、綠色LED光源環(huán)1021和藍(lán)色LED光源環(huán)1022，紅色LED光源環(huán)1020、綠色LED光源環(huán)1021和藍(lán)色LED光源環(huán)1022從燈罩101的頂端至開口端依次排布。由于不同色光中缺陷可以被突出，比如在紅色光中待檢測(cè)物體40表面缺陷比較清晰，明黃色光中待檢測(cè)物體40深層缺陷比較清晰，深藍(lán)色光中待檢測(cè)物體40色彩差異比較清晰，因此通過(guò)第二 LED光源102的三種LED燈利用RDB三色光組合原理可以配合形成多種色光，在待檢測(cè)物體40不移動(dòng)的情況下判斷多種缺陷。
[0026]以上內(nèi)容僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在【具體實(shí)施方式】及應(yīng)用范圍上均會(huì)有改變之處，本說(shuō)明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種AOI光源，其特征在于，包括非同軸光源和同軸光源，所述同軸光源設(shè)置于所述非同軸光源與相機(jī)之間，所述同軸光源沿相機(jī)拍攝方向設(shè)有第一通孔，所述非同軸光源沿相機(jī)拍攝方向設(shè)有第二通孔，所述第二通孔大于第一通孔且與第一通孔同心設(shè)置。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的AOI光源，其特征在于，所述同軸光源包括依次層疊設(shè)置的遮光板、導(dǎo)光介質(zhì)和勻光板，所述勻光板鄰近所述非同軸光源的頂端，所述導(dǎo)光介質(zhì)的側(cè)壁上貼附有第一 LED光源。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的AOI光源，其特征在于，所述第一LED光源包括紅色LED燈、綠色LED燈和藍(lán)色LED燈，所述紅色LED燈、綠色LED燈和藍(lán)色LED燈間隔設(shè)置。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的AOI光源，其特征在于，所述同軸光源沿相機(jī)拍攝方向的投影為正方形，所述第一 LED光源分別設(shè)置于所述導(dǎo)光介質(zhì)的四個(gè)側(cè)壁上，且發(fā)光方向朝向所述側(cè)壁。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的AOI光源，其特征在于，所述非同軸光源包括燈罩及第二LED光源，所述燈罩沿相機(jī)拍攝方向的投影為圓形，沿相機(jī)拍攝方向的截面為拋物線形，所述第二 LED光源包括紅色LED光源環(huán)、綠色LED光源環(huán)和藍(lán)色LED光源環(huán)。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的AOI光源，其特征在于，所述紅色LED光源環(huán)、綠色LED光源環(huán)和藍(lán)色LED光源環(huán)從所述燈罩的頂端至開口端依次排布。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種AOI光源，包括非同軸光源和同軸光源，同軸光源設(shè)置于非同軸光源與相機(jī)之間，同軸光源沿相機(jī)拍攝方向設(shè)有第一通孔，非同軸光源沿相機(jī)拍攝方向設(shè)有第二通孔，第一通孔與第二通孔同心設(shè)置。本發(fā)明可以真實(shí)地拍攝出錫膏、元器件等漫反射物體；同軸光源發(fā)出同軸光，由于同軸光源是漫反射光源，發(fā)出的光沒(méi)有指向性且亮度較低，可以使得相機(jī)清楚拍攝出銅箔等鏡面反射物體以及高亮度物體的圖片。在檢測(cè)時(shí)，待檢測(cè)物體放置于拍攝有效區(qū)域內(nèi)，通過(guò)非同軸光源和同軸光源的配合使用，相機(jī)透過(guò)第一通孔和第二通孔可以真實(shí)地拍攝出具有漫反射、鏡面反射或高亮度特點(diǎn)的待檢測(cè)物體，使檢測(cè)結(jié)果更加可靠，提高出廠產(chǎn)品的良率。
【IPC分類】G01N21/88
【公開號(hào)】CN105044118
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510505372
【發(fā)明人】王錦峰, 寇冠中
【申請(qǐng)人】東莞市神州視覺(jué)科技有限公司
【公開日】2015年11月11日
【申請(qǐng)日】2015年8月17日