一種壓電極化裝置的高溫測試夾具的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于壓電材料性能測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種壓電極化裝置的高溫測試夾具。
【背景技術(shù)】
[0002]壓電材料是一種能夠?qū)C(jī)械能和電能相互轉(zhuǎn)換的功能材料，被廣泛應(yīng)用于移動(dòng)通信、衛(wèi)星廣播、電子設(shè)備、儀器儀表以及航空航天等高新技術(shù)領(lǐng)域，成為不可缺少的現(xiàn)代化關(guān)鍵材料和元件。隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，壓電材料在使用范圍和使用環(huán)境方面需要存在更大的適應(yīng)性，為此研制高居里溫度、大壓電系數(shù)、高機(jī)械強(qiáng)度的新型壓電材料成為當(dāng)務(wù)之急。研究新型壓電元器件需對不同材料和工藝進(jìn)行大量的試驗(yàn)。然而，與大規(guī)模工業(yè)生產(chǎn)不同，實(shí)驗(yàn)條件下對材料進(jìn)行極化，每個(gè)試樣的材料、厚度都有可能不同，需要選擇合適的電場強(qiáng)度和極化溫度才能使試樣達(dá)到最佳性能。傳統(tǒng)的壓電極化裝置的測試夾具結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)普遍不合理、操作不便，特別是對小尺寸試樣無法進(jìn)行極化，另外樣品池過大導(dǎo)致極化硅油浪費(fèi)嚴(yán)重。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明目的在于提出一種壓電極化裝置的高溫測試夾具，可對徑向、厚度不同的樣品在尚溫下進(jìn)彳丁極化測試，大大提尚實(shí)驗(yàn)效率。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明一種壓電極化裝置的高溫測試夾具，包括支撐底座、下護(hù)套、加熱元件、下電極、上護(hù)套和上電極，所述支撐底座與下護(hù)套組成有機(jī)整體，所述支撐底座上設(shè)有卡槽，所述加熱元件為圓形陶瓷加熱片，所述圓形陶瓷加熱片安裝于所述卡槽內(nèi)，所述下電極包括上端帶有圓形槽的銅柱和螺紋桿接線柱，所述銅柱安裝于支撐底座上且緊貼于陶瓷加熱片，所述上護(hù)套的上端兩側(cè)設(shè)有切口，所述上護(hù)套安裝于下護(hù)套的上方，所述上電極包括彈簧探針和螺紋壓桿，所述彈簧探針插入螺紋壓桿，所述螺紋壓桿安裝于上護(hù)套的橫梁上。
[0005]進(jìn)一步的，所述卡槽呈圓形，所述卡槽側(cè)面設(shè)有通孔，所述圓形陶瓷加熱片的電源引線從通孔穿出，連接到智能控溫儀的負(fù)載接線柱，通過程序控制使陶瓷加熱片升溫，以對銅柱進(jìn)行加熱控溫。
[0006]進(jìn)一步的，所述卡槽的深度為1~3 _，根據(jù)陶瓷加熱片的厚度調(diào)整卡槽深度使銅柱緊貼于陶瓷加熱片。
[0007]進(jìn)一步的，所述下護(hù)套側(cè)面設(shè)有另一通孔和螺紋通孔，所述銅柱側(cè)面設(shè)有孔和螺紋孔，且所述下護(hù)套的通孔和銅柱的孔對應(yīng)設(shè)置，所述下護(hù)套的螺紋通孔和銅柱的螺紋孔對應(yīng)設(shè)置，螺紋桿接線柱穿過所述下護(hù)套的通孔固定下護(hù)套和銅柱。
[0008]進(jìn)一步的，還包括熱電偶，所述熱電偶插入銅柱，用于精確探測銅柱的溫度。
[0009]進(jìn)一步的，所述螺紋壓桿內(nèi)設(shè)有通孔，便于彈簧探針與耐壓測試儀的連接。
[0010]進(jìn)一步的，所述螺紋壓桿通孔的下方直徑略大于上方直徑，便于固定彈簧探針。
[0011]進(jìn)一步的，根據(jù)試樣的厚薄，調(diào)整螺紋壓桿，以對厚薄不同試樣進(jìn)行極化；所述切口形成測試窗口，易于放入、取出試樣操作。
[0012]進(jìn)一步的，所述圓形槽為樣品池。
[0013]進(jìn)一步的，所述的支撐底座、下護(hù)套、上護(hù)套和螺紋壓桿均由聚四氟乙烯制成。
[0014]本發(fā)明相對于現(xiàn)有技術(shù)具有如下優(yōu)點(diǎn):該夾具結(jié)構(gòu)簡單、成本低廉；上下護(hù)套使用凹凸卡接方式，上下壓緊、固定效果好、隔熱絕緣、使用安全；使用彈簧探針作為上電極的觸頭，可對徑向、厚度不同的試樣在高溫下進(jìn)行極化測試，易于操作。
【附圖說明】
[0015]圖1為壓電極化裝置的高溫測試夾具剖面結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2為壓電極化裝置的高溫測試夾具結(jié)構(gòu)示意圖一；
圖3為壓電極化裝置的高溫測試夾具結(jié)構(gòu)示意圖二。
【具體實(shí)施方式】
[0016]下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
[0017]如圖1-3所示，本發(fā)明的壓電極化裝置的高溫測試夾具，包括支撐底座1、下護(hù)套2、加熱元件3、下電極4、上護(hù)套5和上電極6，所述支撐底座I與下護(hù)套2組成有機(jī)整體，所述支撐底座I上設(shè)有卡槽，所述加熱元件3為圓形陶瓷加熱片，所述圓形陶瓷加熱片安裝于所述卡槽內(nèi)，所述下電極4包括上端帶有圓形槽的銅柱4.1和螺紋桿接線柱4.2，所述銅柱4.1安裝于支撐底座I上且緊貼于陶瓷加熱片，所述上護(hù)套5的上端兩側(cè)設(shè)有切口 7.1，所述上護(hù)套5安裝于下護(hù)套2的上方，所述上電極6包括彈簧探針6.1和螺紋壓桿6.2，所述彈簧探針6.1插入螺紋壓桿6.2，所述螺紋壓桿6.2安裝于上護(hù)套5的橫梁7.2上。
[0018]所述卡槽呈圓形，所述卡槽側(cè)面設(shè)有通孔8。陶瓷加熱片的電源引線可以從通孔8穿出，連接到智能控溫儀的負(fù)載接線柱，通過程序控制使陶瓷加熱片升溫，以對銅柱4.1進(jìn)行加熱控溫。
[0019]所述卡槽的深度為1~3 _。根據(jù)陶瓷加熱片的厚度調(diào)整卡槽深度使銅柱4.1緊貼于陶瓷加熱片，利于導(dǎo)熱充分。
[0020]所述下護(hù)套2側(cè)面設(shè)有另一通孔9和螺紋通孔10，所述銅柱4.1側(cè)面設(shè)有孔11和螺紋孔12，且所述下護(hù)套2的通孔9和銅柱4.1的孔11對應(yīng)設(shè)置。采用螺紋桿接線柱4.2，便于固定下護(hù)套2和銅柱4.1 ;另外熱電偶13插入銅柱4.1，有利于精確探測銅柱4.1的溫度，能對試樣在高溫下進(jìn)行極化測試。
[0021]所述螺紋壓桿6.2內(nèi)設(shè)有通孔，便于彈簧探針6.1與耐壓測試儀的連接。
[0022]所述螺紋壓桿6.2通孔的下方直徑略大于上方直徑，便于固定彈簧探針6.1。另外根據(jù)試樣14的厚薄，可以調(diào)整螺紋壓桿6.2，方便對厚薄不同試樣14進(jìn)行極化。
[0023]所述切口 7.1會(huì)形成測試窗口，易于放入、取出試樣操作，方便對徑向、厚度不同試樣進(jìn)行極化測試。
[0024]所述圓形槽為樣品池15，小的樣品池15能有效節(jié)約極化硅油16，避免極化硅油浪費(fèi)。
[0025]所述的支撐底座1、下護(hù)套2、上護(hù)套5和螺紋壓桿6.2均由聚四氟乙烯制成，便于隔熱絕緣。
[0026]上述具體實(shí)例方式為本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，并不能對本發(fā)明進(jìn)行限定，其他的任何未背離本發(fā)明的技術(shù)方案而所做的改變或其他等效的置換方式，都包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種壓電極化裝置的高溫測試夾具，包括支撐底座(I)、下護(hù)套(2)、加熱元件(3)、下電極(4)、上護(hù)套(5)和上電極(6)，其特征在于:所述支撐底座(I)與下護(hù)套(2)組成有機(jī)整體，所述支撐底座(I)上設(shè)有卡槽，所述加熱元件(3)為圓形陶瓷加熱片，所述圓形陶瓷加熱片安裝于所述卡槽內(nèi)，所述下電極(4)包括上端帶有圓形槽的銅柱(4.1)和螺紋桿接線柱(4.2 )，所述銅柱(4.1)安裝于支撐底座(I)上且緊貼于陶瓷加熱片，所述上護(hù)套(5 )的上端兩側(cè)設(shè)有切口(7.1)，所述上護(hù)套(5)安裝于下護(hù)套(2)的上方，所述上電極(6)包括彈簧探針(6.1)和螺紋壓桿(6.2)，所述彈簧探針(6.1)插入螺紋壓桿(6.2)，所述螺紋壓桿(6.2)安裝于上護(hù)套(5)的橫梁(7.2)上。2.如權(quán)利要求1所述的壓電極化裝置的高溫測試夾具，其特征在于:所述卡槽呈圓形，所述卡槽側(cè)面設(shè)有通孔(8)，所述圓形陶瓷加熱片的電源引線從通孔(8)穿出，連接到智能控溫儀的負(fù)載接線柱，通過程序控制使陶瓷加熱片升溫，以對銅柱(4.1)進(jìn)行加熱控溫。3.如權(quán)利要求1或2所述的壓電極化裝置的高溫測試夾具，其特征在于:所述卡槽的深度為1~3 _，根據(jù)陶瓷加熱片的厚度調(diào)整卡槽深度使銅柱(4.1)緊貼于陶瓷加熱片。4.如權(quán)利要求1所述的壓電極化裝置的高溫測試夾具，其特征在于:所述下護(hù)套(2)側(cè)面設(shè)有另一通孔(9)和螺紋通孔(10)，所述銅柱(4.1)側(cè)面設(shè)有孔(11)和螺紋孔(12)，且所述下護(hù)套(2)的通孔(9)和銅柱(4.1)的孔(11)對應(yīng)設(shè)置，所述下護(hù)套(2)的螺紋通孔(10)和銅柱(4.1)的螺紋孔(12)對應(yīng)設(shè)置，螺紋桿接線柱(4.2)穿過所述下護(hù)套(2)的螺紋通孔(10)固定下護(hù)套(2)和銅柱(4.D05.如權(quán)利要求1所述的壓電極化裝置的高溫測試夾具，其特征在于:還包括熱電偶(13)，所述熱電偶(13)穿過所述下護(hù)套(2)的通孔(9)插入銅柱(4.1)的孔(11)，用于精確探測銅柱(4.1)的溫度。6.如權(quán)利要求1所述的壓電極化裝置的高溫測試夾具，其特征在于:所述螺紋壓桿(6.2)內(nèi)設(shè)有通孔，便于彈簧探針(6.1)與耐壓測試儀的連接。7.如權(quán)利要求6所述的壓電極化裝置的高溫測試夾具，其特征在于:所述螺紋壓桿(6.2)通孔的下方直徑略大于上方直徑，便于固定彈簧探針(6.1)。8.如權(quán)利要求6所述的壓電極化裝置的高溫測試夾具，其特征在于:根據(jù)試樣(14)的厚薄，調(diào)整螺紋壓桿(6.2)，以對厚薄不同試樣(14)進(jìn)行極化；所述切口(7.1)形成測試窗口，易于放入、取出試樣操作。9.如權(quán)利要求1所述的壓電極化裝置的高溫測試夾具，其特征在于:所述圓形槽為樣品池(15)。10.如權(quán)利要求1所述的壓電極化裝置的高溫測試夾具，其特征在于:所述的支撐底座(I)、下護(hù)套(2)、上護(hù)套(5)和螺紋壓桿(6.2)均由聚四氟乙烯制成。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種壓電極化裝置的高溫測試夾具，包括支撐底座、下護(hù)套、加熱元件、下電極、上護(hù)套和上電極，所述支撐底座與下護(hù)套是一個(gè)有機(jī)的整體，所述支撐底座上設(shè)有卡槽，所述加熱元件為圓形陶瓷加熱片，所述圓形陶瓷加熱片安裝于卡槽內(nèi)，所述下電極包括上端帶有圓形槽的銅柱和螺紋桿接線柱，所述銅柱安裝于底座上且緊貼于陶瓷加熱片，所述上護(hù)套的上端兩側(cè)設(shè)有切口，所述上護(hù)套安裝于下護(hù)套的上方，所述上電極包括彈簧探針和螺紋壓桿，所述彈簧探針插入螺紋壓桿，所述螺紋壓桿安裝于上護(hù)套的橫梁上。該測試夾具結(jié)構(gòu)簡單、成本低廉；上下護(hù)套使用凹凸卡接方式，上下壓緊、固定效果好、隔熱絕緣、使用安全；使用彈簧探針作為上電極的觸頭，可對徑向、厚度不同的樣品在高溫下進(jìn)行極化測試，易于操作。
【IPC分類】G01N17/00
【公開號(hào)】CN105092459
【申請?zhí)枴緾N201510571099
【發(fā)明人】張景基, 高亞峰, 王疆瑛, 王鴻
【申請人】中國計(jì)量學(xué)院
【公開日】2015年11月25日
【申請日】2015年9月9日