基于雙重檢測的紡織機(jī)針處理裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及成品質(zhì)量檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種基于雙重檢測的機(jī)針處理裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有技術(shù)中，對于機(jī)針的瑕疵檢測主要是通過對整個機(jī)針的外形進(jìn)行圖像采集，將采集后的機(jī)針圖像中的機(jī)針與背景分離，分離后的圖像與基準(zhǔn)機(jī)針圖像相比較，確定是否存在瑕疵。上述方案在一定程度上能夠確定一些機(jī)針的整體瑕疵。
[0003]然而，由于機(jī)針存在針尖和針柄兩大部分，針尖部分和針柄部分的外部特征存在一定的差別，如果放在一起進(jìn)行瑕疵檢測，則容易因?yàn)闊o法兼顧針尖部分和針柄部分這兩個部分的特點(diǎn)而造成偏差。
[0004]為此，本發(fā)明提出了一種基于雙重檢測的機(jī)針處理裝置，能夠?qū)τ谕粋€機(jī)針，先檢測其針尖是否存在瑕疵，再檢測其針柄是否存在瑕疵，從而兼顧針尖部分和針柄部分的外部特征，提高檢測和處理的可靠性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為了解決現(xiàn)有技術(shù)存在的技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種基于雙重檢測的機(jī)針處理裝置，對于同一個機(jī)針，對其針尖和針柄分別進(jìn)行瑕疵檢測，相應(yīng)地采用兩套剔除設(shè)備實(shí)時剔除瑕疵機(jī)針，同時，采用自適應(yīng)分割閾值的選擇機(jī)制和維納濾波處理機(jī)制，保障機(jī)針瑕疵檢測和問題機(jī)針去除的準(zhǔn)確性。
[0006]根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了一種基于雙重檢測的機(jī)針處理裝置，所述處理裝置包括針柄檢測設(shè)備、針尖檢測設(shè)備和嵌入式處理設(shè)備，對于同一個機(jī)針，所述針尖檢測設(shè)備先檢測其針尖是否存在瑕疵，其后所述針柄檢測設(shè)備檢測其針柄是否存在瑕疵，所述嵌入式處理設(shè)備與所述針尖檢測設(shè)備和所述針柄檢測設(shè)備分別連接，基于所述針尖檢測設(shè)備和所述針柄檢測設(shè)備的檢測結(jié)果確定是否剔除被檢測機(jī)針。
[0007]更具體地，在所述基于雙重檢測的機(jī)針處理裝置中，還包括:容置平臺，用于逐個接收并傳送各個機(jī)針；SDRAM設(shè)備，用于預(yù)先存儲針尖灰度閾值范圍、預(yù)設(shè)數(shù)量閾值、針柄灰度閾值范圍和預(yù)設(shè)瑕疵閾值，還用于預(yù)先存儲基準(zhǔn)針柄圖像和基準(zhǔn)針尖圖像，所述基準(zhǔn)針柄圖像為對基準(zhǔn)針柄進(jìn)行拍攝而獲得的只包括針柄像素的圖像，所述基準(zhǔn)針尖圖像為對基準(zhǔn)針尖進(jìn)行拍攝而獲得的只包括針尖像素的圖像；第一剔除機(jī)構(gòu)，緊鄰所述針尖檢測設(shè)備后方位置設(shè)置；第二剔除機(jī)構(gòu)，緊鄰所述針柄檢測設(shè)備后方位置設(shè)置；所述針尖檢測設(shè)備設(shè)置在所述容置平臺的前部的正上方，包括第一圖像采集子設(shè)備、第一圖像預(yù)處理子設(shè)備、第一閾值選擇子設(shè)備、第一目標(biāo)分割子設(shè)備和第一瑕疵提取子設(shè)備；所述第一圖像采集子設(shè)備對每一個機(jī)針進(jìn)行圖像采集以獲得第一機(jī)針圖像；所述第一圖像預(yù)處理子設(shè)備與所述第一圖像采集子設(shè)備連接，對所述第一機(jī)針圖像依次執(zhí)行邊緣增強(qiáng)處理、維納濾波處理、圖像膨脹處理、圖像腐蝕處理和灰度化處理，以獲得第一灰度化圖像；所述第一閾值選擇子設(shè)備與所述SDRAM設(shè)備和所述第一圖像預(yù)處理子設(shè)備分別連接，用于依次從所述針尖灰度閾值范圍中選擇一個值作為預(yù)選灰度閾值，采用預(yù)選灰度閾值將第一灰度化圖像劃分為預(yù)選背景區(qū)域和預(yù)選目標(biāo)區(qū)域，計(jì)算預(yù)選背景區(qū)域占據(jù)第一灰度化圖像的面積比例作為背景面積比，計(jì)算預(yù)選背景區(qū)域的像素平均灰度值作為背景平均灰度值，計(jì)算預(yù)選目標(biāo)區(qū)域占據(jù)第一灰度化圖像的面積比例作為目標(biāo)面積比，計(jì)算預(yù)選目標(biāo)區(qū)域的像素平均灰度值作為目標(biāo)平均灰度值，將背景平均灰度值減去目標(biāo)平均灰度值，獲得的差的平方乘以背景面積比和目標(biāo)面積比，獲得的乘積作為閾值乘積，選擇閾值乘積最大的預(yù)選灰度閾值作為目標(biāo)灰度閾值；所述第一目標(biāo)分割子設(shè)備與所述第一閾值選擇子設(shè)備連接，用于采用目標(biāo)灰度閾值將第一灰度化圖像劃分為背景圖像和目標(biāo)圖像；所述第一瑕疵提取子設(shè)備與所述第一目標(biāo)分割子設(shè)備和所述SDRAM設(shè)備分別連接，將目標(biāo)圖像與基準(zhǔn)針尖圖像相減，獲得差別圖像，計(jì)算差別圖像中非零像素的總數(shù)以作為瑕疵點(diǎn)總數(shù)，當(dāng)瑕疵點(diǎn)總數(shù)大于等于第一預(yù)設(shè)數(shù)量閾值時，判斷機(jī)針針尖存在瑕疵并輸出針尖存在瑕疵信號，當(dāng)瑕疵點(diǎn)總數(shù)小于第一預(yù)設(shè)數(shù)量閾值時，判斷機(jī)針針尖不存在瑕疵并輸出針尖不存在瑕疵信號；所述針柄檢測設(shè)備設(shè)置在所述容置平臺的后部的正上方、所述針尖檢測設(shè)備的后方，包括第二圖像采集子設(shè)備、第二圖像預(yù)處理子設(shè)備、第二閾值選擇子設(shè)備、第二目標(biāo)分割子設(shè)備和第二瑕疵提取子設(shè)備；所述第二圖像采集子設(shè)備對每一個機(jī)針進(jìn)行圖像采集以獲得第二機(jī)針圖像；所述第二圖像預(yù)處理子設(shè)備與所述第二圖像采集子設(shè)備連接，對所述第二機(jī)針圖像依次執(zhí)行邊緣增強(qiáng)處理、維納濾波處理、圖像膨脹處理、圖像腐蝕處理和灰度化處理，以獲得第二灰度化圖像；所述第二閾值選擇子設(shè)備與所述SDRAM設(shè)備和所述第二圖像預(yù)處理子設(shè)備分別連接，用于依次從所述針柄灰度閾值范圍中選擇一個值作為預(yù)選灰度閾值，采用預(yù)選灰度閾值將第二灰度化圖像劃分為預(yù)選背景區(qū)域和預(yù)選目標(biāo)區(qū)域，計(jì)算預(yù)選背景區(qū)域占據(jù)第二灰度化圖像的面積比例作為背景面積比，計(jì)算預(yù)選背景區(qū)域的像素平均灰度值作為背景平均灰度值，計(jì)算預(yù)選目標(biāo)區(qū)域占據(jù)第二灰度化圖像的面積比例作為目標(biāo)面積比，計(jì)算預(yù)選目標(biāo)區(qū)域的像素平均灰度值作為目標(biāo)平均灰度值，將背景平均灰度值減去第二灰度化圖像的總平均灰度值，獲得的差的平方乘以背景面積比以獲得第一乘積，將目標(biāo)平均灰度值減去第二灰度化圖像的總平均灰度值，獲得的差的平方乘以目標(biāo)面積比以獲得第二乘積，將第一乘積和第二乘積相加以獲得和值，選擇和值最大的預(yù)選灰度閾值作為目標(biāo)灰度閾值；所述第二目標(biāo)分割子設(shè)備與所述第二閾值選擇子設(shè)備連接，用于采用目標(biāo)灰度閾值將第二灰度化圖像劃分為背景圖像和目標(biāo)圖像；所述第二瑕疵提取子設(shè)備與所述第二目標(biāo)分割子設(shè)備和所述SDRAM設(shè)備分別連接，計(jì)算目標(biāo)圖像中所有像素的灰度值總和以作為第一灰度值總和，計(jì)算基準(zhǔn)針柄圖像中所有像素的灰度值總和以作為第二灰度值總和，將第一灰度值總和減去第二灰度值總和所獲得的差值的絕對值作為瑕疵參考值，當(dāng)瑕疵參考值大于預(yù)設(shè)瑕疵閾值時，判斷機(jī)針針柄存在瑕疵并輸出針柄存在瑕疵信號，當(dāng)瑕疵參考值小于等于預(yù)設(shè)瑕疵閾值時，判斷機(jī)針針柄不存在瑕疵并輸出針柄不存在瑕疵信號；所述嵌入式處理設(shè)備與所述針尖檢測設(shè)備、所述針柄檢測設(shè)備、所述第一剔除機(jī)構(gòu)和所述第二剔除機(jī)構(gòu)分別連接，當(dāng)接收到所述針尖存在瑕疵信號時，向所述第一剔除機(jī)構(gòu)發(fā)送第一觸發(fā)信號以觸發(fā)所述第一剔除機(jī)構(gòu)剔除對應(yīng)的機(jī)針，當(dāng)接收到所述針柄存在瑕疵信號時，向所述第二剔除機(jī)構(gòu)發(fā)送第二觸發(fā)信號以觸發(fā)所述第二剔除機(jī)構(gòu)剔除對應(yīng)的機(jī)針；其中，采用同步機(jī)構(gòu)與所述針尖檢測設(shè)備、所述針柄檢測設(shè)備、所述第一剔除機(jī)構(gòu)和所述第二剔除機(jī)構(gòu)分別連接，以同步所述針尖存在瑕疵信號和所述第一觸發(fā)信號，以及同步所述針柄存在瑕疵信號和所述第二觸發(fā)信號。
[0008]更具體地，在所述基于雙重檢測的機(jī)針處理裝置中:所述第一剔除機(jī)構(gòu)包括電磁閥和剔除器件，所述電磁閥與所述剔除器件和所述嵌入式處理設(shè)備分別連接，以接收所述第一觸發(fā)信號并控制所述剔除器件的啟動和關(guān)閉。
[0009]更具體地，在所述基于雙重檢測的機(jī)針處理裝置中:所述第二剔除機(jī)構(gòu)包括電磁閥和剔除器件，所述電磁閥與所述剔除器件和所述嵌入式處理設(shè)備分別連接，以接收所述第二觸發(fā)信號并控制所述剔除器件的啟動和關(guān)閉。
[0010]更具體地，在所述基于雙重檢測的機(jī)針處理裝置中:第一圖像采集子設(shè)備、第一圖像預(yù)處理子設(shè)備、第一閾值選擇子設(shè)備、第一目標(biāo)分割子設(shè)備和第一瑕疵提取子設(shè)備分別采用不同的FPGA芯片實(shí)現(xiàn)。
[0011 ] 更具體地，在所述基于雙重檢測的機(jī)針處理裝置中:第二圖像采集子設(shè)備、第二圖像預(yù)處理子設(shè)備、第二閾值選擇子設(shè)備、第二目標(biāo)分割子設(shè)備和第二瑕疵提取子設(shè)備分別采用不同的FPGA芯片實(shí)現(xiàn)。
【附圖說明】
[0012]以下將結(jié)合附圖對本發(fā)明的實(shí)施方案進(jìn)行描述，其中:
[0013]圖1為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施方案示出的基于雙重檢測的機(jī)針處理裝置的結(jié)構(gòu)方框圖。
[0014]附圖標(biāo)記:1針柄檢測設(shè)備；2針尖檢測設(shè)備；3嵌入式處理設(shè)備
【具體實(shí)施方式】
[0015]下面將參照附圖對本發(fā)明的基于雙重檢測的機(jī)針處理裝置的實(shí)施方案進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0016]機(jī)針的縫紉所使用的重要工具，需要對其進(jìn)行重點(diǎn)檢測。然而，當(dāng)前采用的機(jī)針檢測技術(shù)主要對整體機(jī)針進(jìn)行分析，檢測的細(xì)化程度不夠，同時，基于圖像分析的檢測方案中用于機(jī)針分割的閾值難以選擇，導(dǎo)致機(jī)針檢測精度不高。
[0017]為了克服上述不足，本發(fā)明搭建了一種基于雙重檢測的機(jī)針處理裝置，對于同一個機(jī)針，先后進(jìn)行針尖和針柄的雙重瑕疵檢測，更關(guān)鍵的是，采用了自適應(yīng)圖像分割閾值將待檢測的機(jī)針與背景分離，從而有效