一種簡化pad設(shè)計的電子標(biāo)簽測試裝置及實(shí)現(xiàn)方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及集成電路驗(yàn)證測試領(lǐng)域，特別是一種簡化PAD設(shè)計的電子標(biāo)簽測試裝置及實(shí)現(xiàn)方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著無線射頻識別技術(shù)的發(fā)展，電子標(biāo)簽已開始應(yīng)用到物流、交通、零售等領(lǐng)域，由于電子標(biāo)簽采用無線信號作為傳輸媒介，在識讀效率上有很大的優(yōu)勢，因此有逐漸取代傳統(tǒng)條碼的趨勢。
[0003]在電子標(biāo)簽的制造生產(chǎn)過程中，必須對標(biāo)簽進(jìn)行測試，以完成初始化和判斷標(biāo)簽的性能優(yōu)劣，所以測試接口的設(shè)計需要滿足各項測試的功能需要。目前標(biāo)簽測試接口需要的PAD數(shù)量較多(與功能電路PAD相比)，大大提高了工藝成本，而且PAD的面積較大并很難縮減，因此如何采用更少的PAD實(shí)現(xiàn)同等的測試功能是電子標(biāo)簽設(shè)計中迫切需要解決的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供一種簡化PAD設(shè)計的電子標(biāo)簽測試的裝置，其接口采用異步方式實(shí)現(xiàn)，由電源、地、測試1信號組成，減少了時鐘信號PAD。該裝置及實(shí)現(xiàn)方法與同步測試接口相比，實(shí)現(xiàn)了更大的測試覆蓋率，并且有效減少了標(biāo)簽芯片用于測試的PAD數(shù)量，有利于減小標(biāo)簽芯片的面積，從而降低芯片成本。
[0005]如上所述的測試裝置及實(shí)現(xiàn)方法，其特征在于，該裝置包括:電子標(biāo)簽芯片以及測試設(shè)備;其中，
[0006]電子標(biāo)簽芯片，用于接收測試設(shè)備發(fā)送的測試命令，解碼后，將測試狀態(tài)輸出，供測試設(shè)備采樣；
[0007]測試設(shè)備是通用或?qū)Ｓ迷O(shè)備，用于向電子標(biāo)簽芯片發(fā)送測試命令，根據(jù)接收的輸出狀態(tài)，確定電子標(biāo)簽的功能是否正確。
[0008]如上所述的測試裝置及實(shí)現(xiàn)方法其特征在于所述電子標(biāo)簽芯片與測試設(shè)備的接口采用異步方式實(shí)現(xiàn)，由電源、地及1信號組成。
[0009]如上所述的測試裝置及實(shí)現(xiàn)方法其特征在于，測試設(shè)備用于向電子標(biāo)簽芯片發(fā)送通過固定編碼形式組成的自定義的測試命令。
[0010]如上所述的測試裝置及實(shí)現(xiàn)方法其特征在于，測試設(shè)備發(fā)送的測試命令由不同長度的高低電平分別表示符號O和符號I的自定義編碼組成，編碼定義的符號長度保證電子標(biāo)簽芯片的正常時鐘頻率偏差范圍能正確解碼。
[0011]如上所述的測試裝置及實(shí)現(xiàn)方法其特征在于，測試設(shè)備發(fā)送的測試命令格式包含命令代碼和命令數(shù)據(jù)，命令代碼的定義以符號O開始，便于標(biāo)簽芯片解碼。
[0012]如上所述的測試裝置及實(shí)現(xiàn)方法其特征在于，測試設(shè)備發(fā)送一個測試命令后需要等待合適的時間，然后采樣測試1信號的輸出狀態(tài)，從而判斷標(biāo)簽芯片的工作是否正確，同時標(biāo)簽芯片也預(yù)留適合的狀態(tài)輸出時間，滿足測試設(shè)備完成對全部標(biāo)簽芯片測試狀態(tài)采樣的需要。
【附圖說明】
[0013]圖1是本發(fā)明的簡化PAD設(shè)計的電子標(biāo)簽測試裝置結(jié)構(gòu)示意圖；
[0014]圖2是本發(fā)明的接口編碼符號不意圖；
[0015]圖3是本發(fā)明的接口命令格式示意圖；
[0016]圖4是本發(fā)明的測試流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]以下結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行說明。
[0018]如圖1所示，本發(fā)明提供一種簡化PAD設(shè)計的電子標(biāo)簽測試裝置及實(shí)現(xiàn)方法，其接口采用異步方式實(shí)現(xiàn)，由電子標(biāo)簽芯片101和測試設(shè)備102組成，其中，電子標(biāo)簽芯片101與測試設(shè)備102的接口由電源VDD、地GND、測試1信號組成，減少了時鐘信號PAD。該接口與同步測試接口相比，實(shí)現(xiàn)了更大的測試覆蓋率，并且有效減少了標(biāo)簽芯片用于測試的PAD數(shù)量，有利于減小電子標(biāo)簽芯片101的面積，從而降低芯片成本。
[0019]電子標(biāo)簽芯片101，用于接收測試設(shè)備102發(fā)送的測試命令，解碼后，將輸出狀態(tài)發(fā)送給測試設(shè)備;所述測試命令是通過編碼形式組成的自定義命令，如圖2所示，測試命令的編碼方式是用不同長度的高低電平分別表示符號O和符號I，對于符號長度，要能夠保證電子標(biāo)簽芯片101在正常時鐘頻率偏差范圍能夠正確解碼。例如，隨著電子標(biāo)簽芯片101的工作溫度變化或者制造工藝上的誤差，電子標(biāo)簽芯片101內(nèi)部時鐘的最大頻率偏差為±10%，那么編碼符號的長度定義就要兼容±10%的頻率偏差，使這一頻率范圍內(nèi)的所有標(biāo)簽芯片都能正確解碼。不同的編碼符號可以組成不同的自定義測試命令，測試命令格式如圖3所示。不同的命令通過不同的命令代碼來區(qū)分，命令代碼的首位固定為符號0，便于標(biāo)簽芯片解碼。根據(jù)命令的測試功能不同，命令格式中可以包含不同的命令數(shù)據(jù)，例如存儲地址、讀寫數(shù)據(jù)等，而有些類型的測試命令中則沒有命令數(shù)據(jù)，需要按照命令的測試功能來定義。命令格式的定義依據(jù)是便于標(biāo)簽芯片解碼的原則，可以使解碼和測試電路盡可能與實(shí)際功能電路復(fù)用，不會給芯片本身增加大的邏輯電路和功耗;如上所述的自定義命令，一條命令和下一條命令之間定義了明確的時間間隔，可以滿足時鐘偏差最慢的標(biāo)簽芯片的測試執(zhí)行及1信號狀態(tài)切換完成。
[0020]測試設(shè)備102，用于通過1接口向電子標(biāo)簽芯片101發(fā)送測試命令，根據(jù)接收的輸出狀態(tài)，確定電子標(biāo)簽的功能正確。
[0021]電子標(biāo)簽芯片101，可以對測試命令進(jìn)行解碼，執(zhí)行測試，并輸出測試狀態(tài)，供測試設(shè)備采樣；
[0022]測試設(shè)備102，用于接收輸出狀態(tài)并判斷標(biāo)簽芯片是否通過測試。
[0023]如圖3所示，測試設(shè)備進(jìn)行一項功能測試時，首先向1端口發(fā)送一個代表該項測試的命令代碼，告訴標(biāo)簽芯片將要進(jìn)行哪種測試，如果測試命令中包含有命令數(shù)據(jù)則連續(xù)發(fā)送命令數(shù)據(jù)內(nèi)容，然后測試設(shè)備102開始計時，計時時間的長度取決于完成該項功能測試需要的執(zhí)行時間和不同標(biāo)簽芯片的時鐘偏差。標(biāo)簽芯片根據(jù)編碼規(guī)則對測試命令解碼，并執(zhí)行相應(yīng)測試項操作，完成測試后通過1信號輸出測試狀態(tài)，測試設(shè)備采樣測試1信號的輸出狀態(tài)，從而判斷標(biāo)簽芯片的功能是否正確。標(biāo)簽芯片要設(shè)定適合的狀態(tài)輸出時間，時間長度由標(biāo)簽芯片的時鐘偏差決定，以保證最快時鐘的標(biāo)簽芯片的測試狀態(tài)輸出也能被測試設(shè)備米樣。
[0024]對標(biāo)簽芯片的測試過程如圖4所示，首先測試設(shè)備設(shè)置標(biāo)簽芯片進(jìn)入測試狀態(tài)，在該狀態(tài)下標(biāo)簽芯片可以識別和執(zhí)行測試命令；
[0025]步驟二:測試設(shè)備發(fā)送由寬頻偏編碼組成的固定格式的測試命令，并開始計時，計時時間的長度取決于完成該項功能測試需要的執(zhí)行時間和不同標(biāo)簽芯片的時鐘偏差；
[0026]步驟三:芯片執(zhí)行測試，并在固定的時鐘計數(shù)期內(nèi)保持輸出測試狀態(tài)，該時鐘計數(shù)長度由標(biāo)簽芯片的時鐘偏差決定，以保證最快時鐘的標(biāo)簽芯片的測試狀態(tài)輸出也能被測試設(shè)備采樣；
[0027]步驟四:測試設(shè)備在計時結(jié)束時對測試狀態(tài)采樣，測試設(shè)備通過測試狀態(tài)判斷標(biāo)簽芯片是否通過測試。
[0028]如上所述的測試接口實(shí)現(xiàn)方法，與同步測試接口相比，減少了時鐘信號，即減少了多DIE同測時串?dāng)_的影響，同時在內(nèi)部實(shí)現(xiàn)功能比較，只輸出測試結(jié)果狀態(tài)，因此可以實(shí)現(xiàn)更大的測試覆蓋率。
[0029]考慮實(shí)際應(yīng)用情況，在功能和性能允許的條件下，電源、地、測試1信號PAD可以與標(biāo)簽芯片其他功能PAD復(fù)用，進(jìn)一步減少標(biāo)簽芯片的總PAD數(shù)量。
【主權(quán)項】
1.一種簡化PAD設(shè)計的電子標(biāo)簽測試裝置，其特征在于，該裝置包括:電子標(biāo)簽芯片以及測試設(shè)備;其中， 電子標(biāo)簽芯片，用于接收測試設(shè)備發(fā)送的測試命令，解碼后，將測試狀態(tài)輸出，供測試設(shè)備采樣； 測試設(shè)備是通用或?qū)Ｓ迷O(shè)備，用于向電子標(biāo)簽芯片發(fā)送測試命令，根據(jù)接收的輸出狀態(tài)，確定電子標(biāo)簽的功能是否正確。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于所述電子標(biāo)簽芯片與測試設(shè)備的接口采用異步方式實(shí)現(xiàn)，由電源、地及1信號組成。3.根據(jù)權(quán)利要求1至2任一所述的裝置，其特征在于， 測試設(shè)備，用于向電子標(biāo)簽芯片發(fā)送通過固定編碼形式組成的自定義的測試命令。4.根據(jù)權(quán)利要求1至2任一所述的裝置，其特征在于， 測試設(shè)備發(fā)送的測試命令由不同長度的高低電平分別表示符號O和符號I的自定義編碼組成，編碼定義的符號長度保證電子標(biāo)簽芯片的正常時鐘頻率偏差范圍能正確解碼。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于， 測試設(shè)備發(fā)送的測試命令格式包含命令代碼和命令數(shù)據(jù)，命令代碼的定義以符號O開始，便于標(biāo)簽芯片解碼。6.一種簡化PAD設(shè)計的電子標(biāo)簽測試實(shí)現(xiàn)方法，其特征在于，該方法包括: 測試設(shè)備發(fā)送由寬頻偏編碼組成的固定格式的測試命令，并開始計時； 芯片執(zhí)行測試，并在固定的時鐘計數(shù)期內(nèi)保持輸出測試狀態(tài)，該時鐘計數(shù)長度由標(biāo)簽芯片的時鐘偏差決定，以保證最快時鐘的標(biāo)簽芯片的測試狀態(tài)輸出也能被測試設(shè)備采樣； 測試設(shè)備在計時結(jié)束時對測試狀態(tài)采樣，測試設(shè)備通過測試狀態(tài)判斷標(biāo)簽芯片是否通過測試。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種簡化PAD設(shè)計的電子標(biāo)簽測試裝置，該裝置包括：電子標(biāo)簽芯片以及測試設(shè)備；其中，電子標(biāo)簽芯片，用于接收測試設(shè)備發(fā)送的測試命令，解碼后，將測試狀態(tài)輸出，供測試設(shè)備采樣；測試設(shè)備是通用或?qū)Ｓ迷O(shè)備，用于向電子標(biāo)簽芯片發(fā)送測試命令，根據(jù)接收的輸出狀態(tài)，確定電子標(biāo)簽的功能是否正確。本發(fā)明還提供了一種簡化PAD設(shè)計的電子標(biāo)簽測試實(shí)現(xiàn)方法，采用本發(fā)明所述的裝置和方法，實(shí)現(xiàn)了更大的測試覆蓋率，并且有效減少了標(biāo)簽芯片用于測試的PAD數(shù)量，有利于減小標(biāo)簽芯片的面積，從而降低芯片成本。
【IPC分類】G01R31/28
【公開號】CN105510800
【申請?zhí)枴緾N201510851987
【發(fā)明人】包玉華, 徐海軍, 廖峰, 盧菊春
【申請人】華大半導(dǎo)體有限公司
【公開日】2016年4月20日
【申請日】2015年12月1日