一種雙相機(jī)芯片檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及利用圖像來(lái)進(jìn)行芯片檢測(cè)的技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種雙相機(jī)芯片檢測(cè)系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]制約我國(guó)計(jì)算機(jī)發(fā)展和普及的關(guān)鍵技術(shù)之一是芯片，芯片的發(fā)展瓶頸是制造設(shè)備和生產(chǎn)工藝。龍芯能否普及在我國(guó)計(jì)算機(jī)上的重要因素之一就是我國(guó)芯片制造業(yè)必須掌握芯片的生產(chǎn)工藝。生產(chǎn)工藝涉及的技術(shù)很多，其中芯片制造過(guò)程中的外觀檢測(cè)是重要內(nèi)容之一。目前芯片制造過(guò)程的外觀檢測(cè)系統(tǒng)基本上是美國(guó)INTEL和AMD公司的標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)。我國(guó)目前還沒(méi)有一套此類(lèi)芯片外觀檢測(cè)系統(tǒng)。因此我國(guó)自行開(kāi)發(fā)芯片外觀檢測(cè)系統(tǒng)是對(duì)我國(guó)芯片制造是一項(xiàng)極其重要的項(xiàng)目和工程。
[0003]在現(xiàn)有的生產(chǎn)過(guò)程中，還是主要采用人工檢測(cè)的方式來(lái)對(duì)芯片的質(zhì)量進(jìn)行檢測(cè)，如何提供一種有效的圖像檢測(cè)輔助裝置來(lái)進(jìn)行圖像檢測(cè)，就成了本領(lǐng)域技術(shù)人員需要解決的問(wèn)題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本發(fā)明的目的在于提供一種雙相機(jī)芯片檢測(cè)系統(tǒng)，適于解決現(xiàn)有技術(shù)中依靠人工來(lái)對(duì)芯片進(jìn)行檢測(cè)而導(dǎo)致檢測(cè)效率不高的問(wèn)題。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本發(fā)明提供以下技術(shù)方案:
[0006]—種雙相機(jī)芯片檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括:導(dǎo)軌，適于提供移動(dòng)路徑；阻擋器，按照預(yù)設(shè)位置安裝在導(dǎo)軌提供的移動(dòng)路徑上；芯片框架，包括兩列相互平行的供放置芯片的安裝位，適于將放置在安裝位上的芯片沿導(dǎo)軌提供的移動(dòng)路徑移動(dòng)以將放置在安裝位上的芯片運(yùn)送至預(yù)設(shè)位置;圖像獲取裝置，包括第一像機(jī)和第二像機(jī)，所述第一像機(jī)和第二像機(jī)與所述兩列安裝位平行的安裝在導(dǎo)軌上方，適于在芯片框架沿所述導(dǎo)軌移動(dòng)至所述預(yù)設(shè)位置時(shí)對(duì)放置在安裝位上的芯片進(jìn)行拍照，并將所獲取得到的芯片圖像予以輸出；圖像檢測(cè)系統(tǒng)，連接圖像獲取裝置，適于將所述芯片圖像輸入檢測(cè)模型中進(jìn)行識(shí)別，以確定芯片圖像所對(duì)應(yīng)的芯片是否合格。
[0007]優(yōu)選地，每列安裝位上具有5-7個(gè)間距相等的安裝位。
[0008]優(yōu)選地，在所述阻擋器處還設(shè)置有一到位傳感器，連接于圖像檢測(cè)系統(tǒng)，適于在檢測(cè)到芯片框架移動(dòng)至阻擋器時(shí)通知圖像檢測(cè)系統(tǒng)控制圖像獲取裝置對(duì)芯片進(jìn)行拍照。
[0009]優(yōu)選地，在與芯片框架上的安裝位正對(duì)的導(dǎo)軌下方還設(shè)置有光源。
[0010]優(yōu)選地，所述圖像檢測(cè)系統(tǒng)為計(jì)算機(jī)。
[0011]如上所述，本發(fā)明至少具有以下有益效果:本發(fā)明利用上述芯片視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)可以對(duì)芯片進(jìn)行機(jī)器自動(dòng)檢測(cè)，克服了現(xiàn)有檢測(cè)技術(shù)中個(gè)，采用人為判斷芯片合格與否的不足，而且相比人工檢測(cè)的方式，更加高效。
【附圖說(shuō)明】
[0012]圖1為一種雙相機(jī)芯片檢測(cè)系統(tǒng)的原理圖。
[0013]附圖標(biāo)號(hào)說(shuō)明
[0014]I導(dǎo)軌
[0015]2芯片框架
[0016]21安裝位
[0017]3阻擋器
[0018]4圖像獲取裝置
[0019]41第一像機(jī)
[0020]42第二像機(jī)
[0021]5圖像檢測(cè)系統(tǒng)
[0022]6芯片
[0023]7到位傳感器
[0024]8光源
【具體實(shí)施方式】
[0025]以下由特定的具體實(shí)施例說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式，熟悉此技術(shù)的人士可由本說(shuō)明書(shū)所揭露的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點(diǎn)及功效。
[0026]須知，本說(shuō)明書(shū)所附圖式所繪示的結(jié)構(gòu)、比例、大小等，均僅用以配合說(shuō)明書(shū)所揭示的內(nèi)容，以供熟悉此技術(shù)的人士了解與閱讀，并非用以限定本發(fā)明可實(shí)施的限定條件，故不具技術(shù)上的實(shí)質(zhì)意義，任何結(jié)構(gòu)的修飾、比例關(guān)系的改變或大小的調(diào)整，在不影響本發(fā)明所能產(chǎn)生的功效及所能達(dá)成的目的下，均應(yīng)仍落在本發(fā)明所揭示的技術(shù)內(nèi)容得能涵蓋的范圍內(nèi)。同時(shí)，本說(shuō)明書(shū)中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中間”及“一”等的用語(yǔ)，亦僅為便于敘述的明了，而非用以限定本發(fā)明可實(shí)施的范圍，其相對(duì)關(guān)系的改變或調(diào)整，在無(wú)實(shí)質(zhì)變更技術(shù)內(nèi)容下，當(dāng)亦視為本發(fā)明可實(shí)施的范疇。
[0027]請(qǐng)參閱圖1，為一種雙相機(jī)芯片檢測(cè)系統(tǒng)的原理圖，如圖所示，該雙相機(jī)芯片檢測(cè)系統(tǒng)包括:導(dǎo)軌I，適于提供移動(dòng)路徑;阻擋器3，按照預(yù)設(shè)位置安裝在導(dǎo)軌I提供的移動(dòng)路徑上;芯片框架2，包括兩列相互平行的供放置芯片6的安裝位21，適于將放置在安裝位21上的芯片6沿導(dǎo)軌I提供的移動(dòng)路徑移動(dòng)以將放置在安裝位21上的芯片6運(yùn)送至預(yù)設(shè)位置；圖像獲取裝置4，包括第一像機(jī)41和第二像機(jī)42，所述第一像機(jī)41和第二像機(jī)42與所述兩列安裝位21平行的安裝在導(dǎo)軌I上方，適于在芯片框架2沿所述導(dǎo)軌I移動(dòng)至所述預(yù)設(shè)位置時(shí)對(duì)放置在安裝位21上的芯片6進(jìn)行拍照，并將所獲取得到的芯片圖像予以輸出；圖像檢測(cè)系統(tǒng)5，連接圖像獲取裝置4，適于將所述芯片圖像輸入檢測(cè)模型中進(jìn)行識(shí)別，以確定芯片圖像所對(duì)應(yīng)的芯片是否合格。
[0028]在具體實(shí)施中，每列安裝位21上具有5-7個(gè)間距相等的安裝位21。
[0029]在具體實(shí)施中，在所述阻擋器3處還設(shè)置有一到位傳感器7，連接于圖像檢測(cè)系統(tǒng)5，適于在檢測(cè)到芯片框架2移動(dòng)至阻擋器3時(shí)通知圖像檢測(cè)系統(tǒng)5控制圖像獲取裝置4對(duì)芯片進(jìn)行拍照。
[0030]在具體實(shí)施中，在與芯片框架2上的安裝位21正對(duì)的導(dǎo)軌I下方還設(shè)置有光源8。
[0031]在具體實(shí)施中，所述圖像檢測(cè)系統(tǒng)5為計(jì)算機(jī)，可以在計(jì)算機(jī)中安裝檢測(cè)軟件對(duì)芯片圖像進(jìn)行處理，從而實(shí)現(xiàn)檢測(cè)目的。其中，圖像檢測(cè)系統(tǒng)的原理在于，對(duì)獲取的圖片進(jìn)行處理，通過(guò)現(xiàn)有的圖片處理技術(shù)，來(lái)判斷圖片中的某些條件是否與預(yù)設(shè)的條件相同，或者在預(yù)設(shè)條件的范圍內(nèi)，如果是則判定其合格，若不是則判定其不合格。具體地，在不合格時(shí)，可以在圖像檢測(cè)系統(tǒng)中做出報(bào)警提示。
[0032]本發(fā)明利用上述芯片視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)可以對(duì)芯片進(jìn)行機(jī)器自動(dòng)檢測(cè)，克服了現(xiàn)有檢測(cè)技術(shù)中個(gè)，采用人為判斷芯片合格與否的不足，而且相比人工檢測(cè)的方式，更加高效。所以，本發(fā)明有效克服了現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺點(diǎn)而具高度產(chǎn)業(yè)利用價(jià)值。
[0033]上述實(shí)施例僅例示性說(shuō)明本發(fā)明的原理及其功效，而非適于限制本發(fā)明。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下，對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者在未脫離本發(fā)明所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變，仍應(yīng)由本發(fā)明的權(quán)利要求所涵蓋。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種雙相機(jī)芯片檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括: 導(dǎo)軌，適于提供移動(dòng)路徑； 阻擋器，按照預(yù)設(shè)位置安裝在導(dǎo)軌提供的移動(dòng)路徑上； 芯片框架，包括兩列相互平行的供放置芯片的安裝位，適于將放置在安裝位上的芯片沿導(dǎo)軌提供的移動(dòng)路徑移動(dòng)以將放置在安裝位上的芯片運(yùn)送至預(yù)設(shè)位置； 圖像獲取裝置，包括第一像機(jī)和第二像機(jī)，所述第一像機(jī)和第二像機(jī)與所述兩列安裝位平行的安裝在導(dǎo)軌上方，適于在芯片框架沿所述導(dǎo)軌移動(dòng)至所述預(yù)設(shè)位置時(shí)對(duì)放置在安裝位上的芯片進(jìn)行拍照，并將所獲取得到的芯片圖像予以輸出； 圖像檢測(cè)系統(tǒng)，連接圖像獲取裝置，適于將所述芯片圖像輸入檢測(cè)模型中進(jìn)行識(shí)別，以確定芯片圖像所對(duì)應(yīng)的芯片是否合格。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于:每列安裝位上具有5-7個(gè)間距相等的安裝位。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于:在所述阻擋器處還設(shè)置有一到位傳感器，連接于圖像檢測(cè)系統(tǒng)，適于在檢測(cè)到芯片框架移動(dòng)至阻擋器時(shí)通知圖像檢測(cè)系統(tǒng)控制圖像獲取裝置對(duì)芯片進(jìn)行拍照。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于:在與芯片框架上的安裝位正對(duì)的導(dǎo)軌下方還設(shè)置有光源。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于:所述圖像檢測(cè)系統(tǒng)為計(jì)算機(jī)。
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明提供一種雙相機(jī)芯片檢測(cè)系統(tǒng)，利用安裝有芯片的芯片框架在導(dǎo)軌上移動(dòng)，并利用設(shè)置在導(dǎo)軌上的第一像機(jī)和第二像機(jī)對(duì)芯片框架中的芯片進(jìn)行拍照，通過(guò)設(shè)置與芯片框架上的安裝位列數(shù)相同的像機(jī)來(lái)對(duì)芯片進(jìn)行拍照，從而可以快速地獲取芯片圖像，并利用圖像檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)芯片圖像進(jìn)行處理，判斷芯片是否合格，本發(fā)明利用上述芯片視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)可以對(duì)芯片進(jìn)行機(jī)器自動(dòng)檢測(cè)，克服了現(xiàn)有檢測(cè)技術(shù)中個(gè)，采用人為判斷芯片合格與否的不足，而且相比人工檢測(cè)的方式，更加高效。
【IPC分類(lèi)】G01N21/892
【公開(kāi)號(hào)】CN105572142
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510922975
【發(fā)明人】李志遠(yuǎn), 耿世慧, 李熙春
【申請(qǐng)人】重慶遠(yuǎn)創(chuàng)光電科技有限公司
【公開(kāi)日】2016年5月11日
【申請(qǐng)日】2015年12月14日