備的單粒子效應事件率SEErate、目標設備的敏感截面積σ、目標設 備的未防護總比特位數(shù)Β和目標設備的最低注量率flux的運算關系為SEErate = fluxX σ ΧΒ〇
[0041] 將目標設備的單粒子效應事件率除以目標設備的敏感截面積和目標設備的未防 護總比特位數(shù)，即可得到目標設備的最低注量率，而在標準中子能譜中，目標設備的最低注 量率與引起目標設備在發(fā)生大氣中子單粒子效應時的中子最高能量成反比，在標準中子能 譜可以查詢出與最低注量率相對應的最高能量。通過以最高能量為積分上限進行計算來得 到大氣中子注量率，可以保證得到精確的大氣中子注量率，以保證評估結果的精確度。
[0042] 優(yōu)選地，大氣中子注量率分布情況由下列公式表示：dN/dE = 0. 346Ε°·922Χθχρ(-0.0152(1η E))，其中，N為中子通量，E為中子能量，該公式的應用條件 為北緯45°，12160m高度。
[0043] 優(yōu)選地，以能量閾值為積分下限，以最高能量為積分上限對公式進行積分計算，得 到大氣中子注量率。
[0044] 優(yōu)選地，還包括：根據(jù)大氣中子注量率對目標設備進行防護評估。
[0045] 優(yōu)選地,還包括：計算大氣中子注量率與中子能量范圍為Ι-lOMeV時中子注量率 的比值，記錄并存儲比值。
[0046] 本發(fā)明還提出了一種航空電子設備大氣中子注量率計算系統(tǒng)20,包括：檢測單元 21，用于檢測目標設備的工藝尺寸，獲取引起目標設備發(fā)生單粒子效應的中子能量閾值；計 算單元22,用于利用大氣中子注量率分布情況，計算從能量閾值到正無窮能量范圍內(nèi)的大 氣中子注量率。
[0047] 大氣中子注量率分布公式為 dN/dE = 0. 346E a922Xexp(-0. 0152(ln E))，其中，N 為中子通量，E為中子能量，該公式的應用條件為北緯45°，12160m高度。
[0048] 優(yōu)選地，計算單元22用以能量閾值為積分下限，以正無窮為積分上限對公式進行 積分計算，得到大氣中子注量率。
[0049] 優(yōu)選地，還包括：評估單元23,用于根據(jù)大氣中子注量率對目標設備進行防護評 估。
[0050] 優(yōu)選地，計算單元22還用于計算大氣中子注量率與中子能量范圍為Ι-lOMeV時中 子注量率的比值，以及系統(tǒng)還包括：記錄單元24,用于記錄并存儲比值。
[0051] 如圖2所示，本發(fā)明還提出了一種航空電子設備大氣中子注量率計算系統(tǒng)30,包 括：檢測單元31，用于檢測目標設備的工藝尺寸，獲取引起目標設備發(fā)生單粒子效應的中 子能量閾值；獲取單元32,用于獲取引起目標設備發(fā)生大氣中子單粒子效應的中子最高能 量；計算單元33,用于利用大氣中子注量率分布情況，計算從能量閾值到最高能量范圍內(nèi) 的大氣中子注量率。
[0052] 優(yōu)選地，獲取單元32包括：計算子單元321，用于根據(jù)目標設備的單粒子效應事 件率、目標設備的敏感截面面積、目標設備的未防護總比特位數(shù)，計算目標設備的最低注量 率；以及查詢子單元322,用于在標準中子能譜中查詢與最低注量率相對應的能量作為最 高能量。
[0053] 優(yōu)選地，大氣中子注量率分布情況由下列公式表示：dN/dE = 0. 346Ε°·922Χθχρ(-0.0152(1η E))，其中，N為中子通量，E為中子能量，該公式的應用條件 為北緯45°，12160m高度。
[0054] 優(yōu)選地，計算單元33用于以能量閾值為積分下限，以最高能量為積分上限對公式 進行積分計算，得到大氣中子注量率。
[0055] 優(yōu)選地，還包括：評估單元34,用于根據(jù)大氣中子注量率對目標設備進行防護評 估。
[0056] 優(yōu)選地，計算單元33還用于計算大氣中子注量率與中子能量范圍為1-lOMeV時中 子注量率的比值，以及系統(tǒng)還包括：記錄單元35,用于記錄并存儲比值。
[0057] 根據(jù)本發(fā)明的實施方式，還提供了一種非易失機器可讀介質，存儲有用于計算和 評估大氣中子注量率的程序產(chǎn)品，程序產(chǎn)品包括上述程序產(chǎn)品。
[0058] 根據(jù)本發(fā)明的實施方式，還提供了一種機器可讀程序，程序使機器執(zhí)行如上技術 方案中任一的大氣中子注量率計算方法。
[0059] 根據(jù)本發(fā)明的實施方式，還提供了一種存儲有機器可讀程序的存儲介質，其中，機 器可讀程序使得機器執(zhí)行如上技術方案中任一的大氣中子注量率計算方法。
[0060] 以上結合附圖詳細說明了本發(fā)明的技術方案，考慮到相關技術中，計算中子注量 率的能量范圍取值過為寬泛，得到的中子注量率不夠精確，從而難以進行準確地大氣中子 防護評估。通過上述技術方案，能夠根據(jù)不同的目標設備的工藝尺寸得到相應的引起所述 目標設備發(fā)生單粒子效應的中子能量閾值，從而可以根據(jù)能量閾值進行積分得到對應于目 標設備的大氣中子注量率，進而可以依據(jù)大氣中子注量率計算中子單粒子事件率，通過單 粒子事件率對目標設備的大氣中子的防護指標進行準確地評估。
[0061] 以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領域的技 術人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修 改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【主權項】
1. 一種航空電子設備大氣中子注量率計算方法，其特征在于，包括： 檢測目標設備的工藝尺寸，獲取引起所述目標設備發(fā)生單粒子效應的中子能量閾值； 獲取引起所述目標設備發(fā)生大氣中子單粒子效應的中子最高能量； 利用大氣中子注量率分布情況，計算從所述能量閾值到所述最高能量范圍內(nèi)的大氣中 子注量率。2. 根據(jù)權利要求1所述航空電子設備大氣中子注量率計算方法，其特征在于，獲取引 起目標設備在發(fā)生大氣中子單粒子效應時的中子最高能量具體包括： 根據(jù)所述目標設備的單粒子效應事件率、所述目標設備的敏感截面面積、所述目標設 備的未防護總比特位數(shù)，計算所述目標設備的最低注量率； 在標準中子能譜中查詢與所述最低注量率相對應的能量作為所述最高能量。3. 根據(jù)權利要求1所述航空電子設備大氣中子注量率計算方法，其特征在于，所述大 氣中子注量率分布情況由下列公式表示： dN/dE = 0. 346E α 922 Χ exp (-〇. 0152 (InE)), 其中，N為中子通量，E為中子能量，該公式的應用條件為北緯45°，12160m高度。4. 根據(jù)權利要求3所述航空電子設備大氣中子注量率計算方法，其特征在于，以所述 能量閾值為積分下限，以所述最高能量為積分上限對所述公式進行積分計算，得到所述大 氣中子注量率。5. 根據(jù)權利要求1至4中任一項所述航空電子設備大氣中子注量率計算方法，其特征 在于，還包括： 根據(jù)所述大氣中子注量率對所述目標設備進行防護評估。6. 根據(jù)權利要求1至4中任一項所述航空電子設備大氣中子注量率計算方法，其特征 在于，還包括： 計算所述大氣中子注量率與中子能量范圍為Ι-lOMeV時中子注量率的比值，記錄并存 儲所述比值。7. -種航空電子設備大氣中子注量率計算系統(tǒng)，其特征在于，包括： 檢測單元，用于檢測目標設備的工藝尺寸，獲取引起所述目標設備發(fā)生單粒子效應的 中子能量閾值； 獲取單元，用于獲取引起所述目標設備發(fā)生大氣中子單粒子效應的中子最高能量； 計算單元，用于利用大氣中子注量率分布情況，計算從所述能量閾值到所述最高能量 范圍內(nèi)的大氣中子注量率。8. 根據(jù)權利要求7所述航空電子設備大氣中子注量率計算系統(tǒng)，其特征在于，所述獲 取單元包括： 計算子單元，用于根據(jù)所述目標設備的單粒子效應事件率、所述目標設備的敏感截面 面積、所述目標設備的未防護總比特位數(shù)，計算所述目標設備的最低注量率；以及 查詢子單元，用于在標準中子能譜中查詢與所述最低注量率相對應的能量作為所述最 高能量。9. 根據(jù)權利要求7所述航空電子設備大氣中子注量率計算系統(tǒng)，其特征在于，所述大 氣中子注量率分布情況由下列公式表示： dN/dE = 0. 346E α 922 Χ exp (-〇. 0152 (InE)), 其中，N為中子通量，E為中子能量，該公式的應用條件為北緯45°，12160m高度。10. 根據(jù)權利要求9所述航空電子設備大氣中子注量率計算系統(tǒng)，其特征在于，所述計 算單元用于以所述能量閾值為積分下限，以所述最高能量為積分上限對所述公式進行積分 計算，得到所述大氣中子注量率。11. 根據(jù)權利要求7至10中任一項所述航空電子設備大氣中子注量率計算系統(tǒng)，其特 征在于，還包括： 評估單元，用于根據(jù)所述大氣中子注量率對所述目標設備進行防護評估。12. 根據(jù)權利要求7至10中任一項所述航空電子設備大氣中子注量率計算系統(tǒng)，其特 征在于，所述計算單元還用于計算所述大氣中子注量率與中子能量范圍為Ι-lOMeV時中子 注量率的比值，以及 所述系統(tǒng)還包括： 記錄單元，用于記錄并存儲所述比值。
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種航空電子設備大氣中子注量率計算方法和系統(tǒng)，所述方法包括：檢測目標設備的工藝尺寸，獲取引起目標設備發(fā)生單粒子效應的中子能量閾值；獲取引起目標設備發(fā)生大氣中子單粒子效應的中子最高能量；利用大氣中子注量率分布情況，計算從能量閾值到所述最高能量范圍內(nèi)的大氣中子注量率。通過本發(fā)明的技術方案，能夠根據(jù)不同的目標設備的工藝尺寸得到相應的引起所述目標設備發(fā)生單粒子效應的中子能量閾值，從而可以根據(jù)能量閾值進行積分得到對應于目標設備的大氣中子注量率，進而可以依據(jù)大氣中子注量率計算中子單粒子事件率，通過單粒子事件率對目標設備的大氣中子的防護指標進行準確地評估。
【IPC分類】G01T3/00
【公開號】CN105572717
【申請?zhí)枴緾N201410549525
【發(fā)明人】王群勇, 陳冬梅, 薛海紅, 張峰, 陽輝
【申請人】北京圣濤平試驗工程技術研究院有限責任公司
【公開日】2016年5月11日
【申請日】2014年10月16日