一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備及其測(cè)試方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備及其測(cè)試方法，包括機(jī)構(gòu)底座、測(cè)試軌道和測(cè)試暗室，所述機(jī)構(gòu)底座具有斜坡；所述測(cè)試軌道沿斜坡鋪設(shè)，使得待測(cè)光電傳感器能夠利用自身重力沿著所述測(cè)試軌道的一斜邊由上而下滑動(dòng)；所述測(cè)試暗室位于測(cè)試軌道上，測(cè)試暗室內(nèi)設(shè)置有支撐裝置、反射板和標(biāo)準(zhǔn)光源：所述支撐裝置將測(cè)試暗室分隔為第一暗室和第二暗室，第一暗室和第二暗室沿測(cè)試軌道由上往下依次設(shè)置，用于支撐所述反射板和標(biāo)準(zhǔn)光源；所述反射板設(shè)置于第一暗室和第二暗室的頂部；所述標(biāo)準(zhǔn)光源設(shè)置于第一暗室或第二暗室頂部的反射板上。本發(fā)明具有節(jié)能、誤差小、測(cè)試時(shí)間短、效率高等諸多優(yōu)點(diǎn)。
【專利說明】
一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備及其測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明屬于光電傳感器測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備及其測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]光電傳感器是一種目前普遍使用于手機(jī)、平板以及可穿戴裝置中的無源器件。光電傳感器集成了紅外發(fā)射芯片和感光芯片于一體的光學(xué)器件。光電傳感器外形尺寸小，適配性強(qiáng)，被廣泛應(yīng)用。
[0003]測(cè)試光電感應(yīng)器的測(cè)試機(jī)，需要測(cè)試光電感應(yīng)器的兩項(xiàng)主要功能，即環(huán)境光響應(yīng)功能和接近傳感器的功能。測(cè)試機(jī)需要迅速而準(zhǔn)確的探測(cè)產(chǎn)品的主要電性能和光學(xué)性能。電性能方面比較容易實(shí)現(xiàn)，但是光學(xué)性能的測(cè)試存在很多難以實(shí)現(xiàn)的部分。
[0004]其中，光電傳感器上接近傳感器的原理在于:光電傳感器自身發(fā)射紅外信號(hào)，通過外部反射來判定物體的接近程度，并可通過接收到的反射信號(hào)將手機(jī)屏幕關(guān)閉，防止誤操作，影響通話。光電傳感器的另外一個(gè)主要功能是響應(yīng)外部環(huán)境光的強(qiáng)弱，來調(diào)整手機(jī)屏幕的亮度，達(dá)到與人眼相匹配的程度，提高使用的舒適度。
[0005]目前已有的測(cè)試機(jī)通過轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)到固定位置，該固定位置有反射板，反射板的位置和高度固定，反射板上有特殊固定反射率的反射灰卡，該待測(cè)光電感應(yīng)器在通電之后，感光芯片探測(cè)反射的光線強(qiáng)度并通過I2C方式輸出。由于感光芯片的靈敏度非常高，感光芯片常常會(huì)探測(cè)到由四周反射回來的光線，而非有固定反射灰卡反射回來的光線。
[0006]目前的光電感應(yīng)器件都使用近紅外的發(fā)射芯片，發(fā)出不可見的紅外光。但是近紅外部分作為環(huán)境光的一部分，感光芯片在探測(cè)環(huán)境光強(qiáng)度的同時(shí)一樣會(huì)探測(cè)到自身發(fā)射芯片發(fā)出的紅外部分光線，這些情況對(duì)測(cè)試都會(huì)造成很大的困難。
[0007]現(xiàn)有的光電傳感器測(cè)試機(jī)臺(tái)存在以下技術(shù)上的缺陷:
[0008]1.需要訂制昂貴的轉(zhuǎn)盤，只能運(yùn)送特殊大小尺寸的產(chǎn)品；
[0009]2.由于測(cè)試環(huán)境光響應(yīng)功能和測(cè)試接近傳感器功能的區(qū)域都需要在黑色的區(qū)域中進(jìn)行，但是即使轉(zhuǎn)盤噴黑漆之后，仍會(huì)有一定的反射。這對(duì)光學(xué)性能的測(cè)試精準(zhǔn)度造成較大的影響。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0010]鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本發(fā)明的目的在于提供一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備及其測(cè)試方法，通過簡(jiǎn)單而快捷的方式測(cè)量光學(xué)性能，測(cè)試機(jī)構(gòu)容易制造，測(cè)試機(jī)構(gòu)的價(jià)格可以大幅度降低，測(cè)試的速度可以大幅度提升，并且可以在很大程度上降低外界反射的影響，有效提高測(cè)試精準(zhǔn)度。
[0011 ]為了達(dá)到上述發(fā)明目的，解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案如下:
[0012]本發(fā)明公開了一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備，包括機(jī)構(gòu)底座、測(cè)試軌道和測(cè)試暗室，其中:
[0013]所述機(jī)構(gòu)底座具有斜坡；
[0014]所述測(cè)試軌道沿所述斜坡鋪設(shè)，使得待測(cè)光電傳感器能夠利用自身重力沿著所述測(cè)試軌道的一斜邊由上而下滑動(dòng)；
[0015]所述測(cè)試暗室位于所述測(cè)試軌道上，所述測(cè)試暗室內(nèi)設(shè)置有支撐裝置、反射板和標(biāo)準(zhǔn)光源:
[0016]所述支撐裝置將所述測(cè)試暗室分隔為第一暗室和第二暗室，所述第一暗室和第二暗室沿所述測(cè)試軌道由上往下依次設(shè)置，用于支撐所述反射板和標(biāo)準(zhǔn)光源；
[0017]所述反射板設(shè)置于所述第一暗室和第二暗室的頂部；
[0018]所述標(biāo)準(zhǔn)光源設(shè)置于第一暗室或第二暗室頂部的反射板上。
[0019]優(yōu)選的，所述支撐裝置為間隔板，所述間隔板的尺寸大小與所述測(cè)試暗室的大小相匹配，用于支撐所述反射板和標(biāo)準(zhǔn)光源。
[0020]進(jìn)一步的，所述第一暗室入口處設(shè)有第一彈性擋片，所述第一彈性擋片對(duì)應(yīng)的測(cè)試軌道在垂直于所述待測(cè)光電傳感器運(yùn)動(dòng)方向上設(shè)置有第一伸縮擋片；
[0021]所述支撐裝置設(shè)有第二彈性擋片，所述第二彈性擋片對(duì)應(yīng)的測(cè)試軌道在垂直于所述待測(cè)光電傳感器運(yùn)動(dòng)方向上設(shè)置有第二伸縮擋片；
[0022]所述第二暗室出口處設(shè)有第三彈性擋片，所述第三彈性擋片對(duì)應(yīng)的測(cè)試軌道在垂直于所述待測(cè)光電傳感器運(yùn)動(dòng)方向上設(shè)置有第三伸縮擋片。
[0023]進(jìn)一步的，所述測(cè)試軌道垂直于所述待測(cè)光電傳感器運(yùn)動(dòng)方向的橫截面為內(nèi)凹型結(jié)構(gòu)，所述測(cè)試軌道底部還設(shè)有一凹槽，所述凹槽的寬度與所述待測(cè)光電傳感器的寬度相匹配，所述待測(cè)光電傳感器能夠放置于所述凹槽內(nèi)。
[0024]優(yōu)選的，所述凹槽與所述測(cè)試軌道兩側(cè)的內(nèi)側(cè)壁各具有一間隙，形成一四周中空的空間區(qū)域，使得所述待測(cè)光電傳感器的上表面四周沒有反射面。
[0025]進(jìn)一步的，所述測(cè)試軌道上設(shè)置有兩個(gè)測(cè)試底座，兩個(gè)所述測(cè)試底座分別位于所述第一暗室和第二暗室對(duì)應(yīng)的測(cè)試軌道上，兩個(gè)所述測(cè)試底座內(nèi)嵌設(shè)有多組測(cè)試探針，所述測(cè)試探針與待測(cè)光電傳感器電性接觸，測(cè)試所述待測(cè)光電傳感器的電學(xué)性能。
[0026]進(jìn)一步的，所述第一暗室和第二暗室的所有內(nèi)壁噴涂為經(jīng)過特殊處理的沒有漫反射的全黑色。
[0027]進(jìn)一步的，所述第一暗室和第二暗室位于測(cè)試軌道的中間區(qū)域。
[0028]進(jìn)一步的，所述第一暗室和/或第二暗室的高度大于所述待測(cè)光電傳感器的反射灰卡的高度，能夠忽略不計(jì)所述待測(cè)光電傳感器所發(fā)射光線經(jīng)由所述第一暗室和/或第二暗室的各個(gè)內(nèi)側(cè)面所反射的光強(qiáng)度。
[0029]本發(fā)明另外公開了一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備的測(cè)試方法，利用上述光電傳感器測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，包括以下步驟:
[0030]步驟1:多個(gè)待測(cè)光電傳感器依次放置于測(cè)試軌道的起始端，并依次沿測(cè)試軌道下滑；
[0031]步驟2:沿測(cè)試軌道下滑的第一個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試；第二個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)；
[0032]步驟3:第一個(gè)待測(cè)光電傳感器完成環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試后，通過第二彈性擋片和第二伸縮擋片進(jìn)入第二暗室，并被第三伸縮擋片截停，進(jìn)行接近傳感器功能測(cè)試;第二個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試;第三個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)；
[0033]步驟4:第一個(gè)待測(cè)光電傳感器完成接近傳感器的測(cè)試后，通過第三彈性擋片和第三伸縮擋片滑出第二暗室;第二個(gè)待測(cè)光電傳感器完成接近傳感器的測(cè)試后，通過第二彈性擋片和第二伸縮擋片進(jìn)入第二暗室，并被第三伸縮擋片截停，進(jìn)行接近傳感器功能測(cè)試；第三個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試;第四個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)；
[0034]步驟5:依次測(cè)試剩余待測(cè)光電傳感器，直至所有待測(cè)光電傳感器測(cè)試完畢。
[0035]本發(fā)明還公開了一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備的測(cè)試方法，利用上述光電傳感器測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，包括以下步驟:
[0036]步驟1:多個(gè)待測(cè)光電傳感器依次放置于測(cè)試軌道的起始端，并依次沿測(cè)試軌道下滑；
[0037]步驟2:沿測(cè)試軌道下滑的第一個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行接近傳感器功能測(cè)試；第二個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)；
[0038]步驟3:第一個(gè)待測(cè)光電傳感器完成接近傳感器功能測(cè)試后，通過第二彈性擋片和第二伸縮擋片進(jìn)入第二暗室，并被第三伸縮擋片截停，進(jìn)行環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試;第二個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行接近傳感器功能測(cè)試;第三個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)；
[0039]步驟4:第一個(gè)待測(cè)光電傳感器完成環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試后，通過第三彈性擋片和第三伸縮擋片滑出第二暗室;第二個(gè)待測(cè)光電傳感器完成接近傳感器的測(cè)試后，通過第二彈性擋片和第二伸縮擋片進(jìn)入第二暗室，并被第三伸縮擋片截停，進(jìn)行環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試;第三個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行接近傳感器功能測(cè)試;第四個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)；
[0040]步驟5:依次測(cè)試剩余待測(cè)光電傳感器，直至所有待測(cè)光電傳感器測(cè)試完畢。
[0041]進(jìn)一步的，每個(gè)所述待測(cè)光電傳感器的運(yùn)動(dòng)均是同時(shí)運(yùn)動(dòng)或具有相同的時(shí)間差，用以避免相鄰的兩個(gè)所述待測(cè)光電傳感器同時(shí)位于第一暗室或第二暗室中。
[0042]本發(fā)明由于采用以上技術(shù)方案，使之與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下的優(yōu)點(diǎn)和積極效果:
[0043]1.本發(fā)明測(cè)試軌道的斜坡式設(shè)計(jì)，利用了待測(cè)光電傳感器自身的重力作為動(dòng)力傳輸，可以有效減少傳動(dòng)裝置，有利于節(jié)能環(huán)保；
[0044]2.本發(fā)明測(cè)試暗室中的特殊結(jié)構(gòu)，尤其是測(cè)試軌道的特殊設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，可以有效減少光學(xué)干擾，將機(jī)械測(cè)試誤差降低到最小程度，并將原有的光學(xué)干擾值降低50%-80%;
[0045]3.本發(fā)明中由黑色間隔板將光電傳感器的功能測(cè)試部分一分為二，互不干擾，且兩個(gè)暗室能同時(shí)測(cè)試，測(cè)試的時(shí)間大幅度降低，測(cè)試效率大幅度提升。
【附圖說明】
[0046]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單的介紹。顯而易見，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。附圖中:
[0047]圖1為本發(fā)明一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備中的光電傳感器的剖面結(jié)構(gòu)示意圖；
[0048]圖2為本發(fā)明一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備中包含測(cè)試暗箱外箱的測(cè)試設(shè)備側(cè)視圖；
[0049]圖3為本發(fā)明一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備中測(cè)試暗箱打開后的測(cè)試設(shè)備側(cè)視圖；
[0050]圖4為本發(fā)明一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備中測(cè)試軌道特殊結(jié)構(gòu)的剖視圖；
[0051 ]圖5為本發(fā)明一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備中測(cè)試軌道特殊結(jié)構(gòu)的俯視圖；
[0052]圖6為本發(fā)明一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備的測(cè)試方法中其中一種實(shí)施例的流程圖；
[0053]圖7為本發(fā)明一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備的測(cè)試方法中另外一種實(shí)施例的流程圖。
[0054]【主要符號(hào)說明】:
[0055]1-發(fā)光源；
[0056]2-光信號(hào)接收芯片；
[0057]3-機(jī)構(gòu)底座；
[0058]4-測(cè)試軌道；
[0059]5-測(cè)試暗室；
[0060]6-反射板；
[0061 ]7-支撐裝置；
[0062]8-標(biāo)準(zhǔn)光源；
[0063]9-待測(cè)光電傳感器；
[0064]10-測(cè)試底座；
[0065]11-測(cè)試探針；
[0066]12-空間區(qū)域。
【具體實(shí)施方式】
[0067]以下將結(jié)合本發(fā)明的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整的描述和討論，顯然，這里所描述的僅僅是本發(fā)明的一部分實(shí)例，并不是全部的實(shí)例，基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0068]圖1為需要測(cè)試的光電傳感器的剖面結(jié)構(gòu)圖，該光電傳感器的主要結(jié)構(gòu)包括有發(fā)光源I和用于光學(xué)響應(yīng)的光信號(hào)接收芯片2。該光電傳感器的主要功能:
[0069]—是用于測(cè)試環(huán)境光的強(qiáng)弱，根據(jù)環(huán)境光的強(qiáng)弱來調(diào)整應(yīng)用電子產(chǎn)品的屏幕亮度。
[0070]二是用于測(cè)試接近傳感器的功能，光電傳感器自身的發(fā)光源發(fā)射出特定光強(qiáng)的光，根據(jù)反射光的強(qiáng)弱判斷反射物接近程度，并根據(jù)響應(yīng)判斷關(guān)閉應(yīng)用的電子產(chǎn)品，比如手機(jī)屏幕的按鍵，避免在通話中的誤操作。
[0071]下面即通過具體的實(shí)施例來闡述本發(fā)明中光電傳感器測(cè)試設(shè)備的改進(jìn)結(jié)構(gòu)及其測(cè)試方法。
[0072]實(shí)施例一
[0073]如圖2-5所示，本發(fā)明公開了一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備，包括機(jī)構(gòu)底座3、測(cè)試軌道4和測(cè)試暗室5，其中:
[0074]所述機(jī)構(gòu)底座3具有斜坡，本實(shí)施例中，不對(duì)所述機(jī)構(gòu)底座3作具體形狀上的限制，可以是三角形或梯形，只需滿足具有一斜邊即可；
[0075]所述測(cè)試軌道4沿所述斜邊由上而下鋪設(shè)，使得待測(cè)光電傳感器9能夠利用自身重力沿著所述測(cè)試軌道4的一斜邊由上而下滑動(dòng)；
[0076]所述測(cè)試暗室5位于所述測(cè)試軌道4上，本實(shí)施例中，所述測(cè)試暗室5用于遮擋外界的環(huán)境光對(duì)待測(cè)光電傳感器9測(cè)試造成光學(xué)部分的干擾，其內(nèi)部設(shè)置有支撐裝置7、反射板6和標(biāo)準(zhǔn)光源8:
[0077]所述支撐裝置7將所述測(cè)試暗室5分隔為第一暗室和第二暗室，所述第一暗室和第二暗室沿所述測(cè)試軌道4由上往下依次設(shè)置，用于支撐所述反射板和標(biāo)準(zhǔn)光源；
[0078]所述反射板6設(shè)置于所述第一暗室和第二暗室的頂部，所述反射板6的作用在于測(cè)試光電傳感器9的接近功能；
[0079]所述標(biāo)準(zhǔn)光源8設(shè)置于第一暗室或第二暗室頂部的反射板6上，所述標(biāo)準(zhǔn)光源8的作用在于測(cè)試光電傳感器9的環(huán)境光響應(yīng)功能。
[0080]其中，所述支撐裝置7可以是只起到支撐作用的中間有鏤空部分的支撐件，而經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計(jì)，本實(shí)施例中，所述支撐裝置7采用全黑色的間隔板，所述間隔板的尺寸大小與所述測(cè)試暗室5的大小相匹配，一來用于區(qū)分第一暗室和第二暗室，二來用于支撐所述反射板6和標(biāo)準(zhǔn)光源8。既可以實(shí)現(xiàn)多種測(cè)試功能又可以有效節(jié)約測(cè)試空間。
[0081]本實(shí)施例中，所述第一暗室入口處設(shè)有第一彈性擋片(未圖示)，所述第一彈性擋片對(duì)應(yīng)的測(cè)試軌道4在垂直于所述待測(cè)光電傳感器9運(yùn)動(dòng)方向上設(shè)置有第一伸縮擋片(未圖示);
[0082]所述支撐裝置7設(shè)有第二彈性擋片(未圖示)，所述第二彈性擋片對(duì)應(yīng)的測(cè)試軌道4在垂直于所述待測(cè)光電傳感器9運(yùn)動(dòng)方向上設(shè)置有第二伸縮擋片(未圖示)；
[0083]所述第二暗室出口處設(shè)有第三彈性擋片(未圖示)，所述第三彈性擋片對(duì)應(yīng)的測(cè)試軌道4在垂直于所述待測(cè)光電傳感器9運(yùn)動(dòng)方向上設(shè)置有第三伸縮擋片(未圖示)。
[0084]本實(shí)施例中，兩個(gè)暗室分別用于檢測(cè)待測(cè)光電傳感器9的環(huán)境光響應(yīng)功能和接近傳感器功能，其中，在測(cè)試環(huán)境光響應(yīng)功能部分，其內(nèi)部裝有標(biāo)準(zhǔn)光源，用于檢測(cè)待測(cè)光電傳感器9的環(huán)境光響應(yīng)功能;在測(cè)試接近傳感器功能部分，是通過安裝在測(cè)試暗室5頂部的反射板6的光反射來測(cè)試待測(cè)光電傳感器9的對(duì)應(yīng)功能;而此處間隔板的作用在于避免兩個(gè)暗室中測(cè)試之間的光學(xué)干擾，該測(cè)試設(shè)備設(shè)計(jì)測(cè)試待測(cè)光電傳感器9的優(yōu)越部分在于將待測(cè)光電傳感器9的性能測(cè)試一分為二，并且可以實(shí)現(xiàn)同時(shí)測(cè)試。因此測(cè)試的時(shí)間可以大幅度降低，測(cè)試效率大幅度提升。由于第一部分的測(cè)試須有開啟標(biāo)準(zhǔn)光源，如果沒有間隔板，第一部分的發(fā)光源必然會(huì)影響到第二部分的光學(xué)性能測(cè)試，反之亦然。
[0085]進(jìn)一步的，所述測(cè)試軌道4垂直于所述待測(cè)光電傳感器9運(yùn)動(dòng)方向的橫截面為內(nèi)凹型結(jié)構(gòu)，所述測(cè)試軌道4底部還設(shè)有一凹槽，所述凹槽的寬度與所述待測(cè)光電傳感器9的寬度相匹配，所述待測(cè)光電傳感器9能夠放置于所述凹槽內(nèi)，使得所述待測(cè)光電傳感器9沿所述測(cè)試軌道4運(yùn)動(dòng)。此外，所述凹槽與所述測(cè)試軌道4兩側(cè)的內(nèi)側(cè)壁各具有一間隙，形成一四周中空的空間區(qū)域，使得所述待測(cè)光電傳感器9的上表面四周沒有反射面，只有頂部的反射板6可以反射光，從而得到精準(zhǔn)的測(cè)試結(jié)果。本實(shí)施例中，考慮到測(cè)試軌道4即使在測(cè)試暗室5中，也會(huì)有微弱的光反射存在，同樣會(huì)影響到待測(cè)光電傳感器9的實(shí)際測(cè)試值的準(zhǔn)確性，而上述的空間區(qū)域12的特殊設(shè)計(jì)可以有效減少測(cè)試中的機(jī)械誤差，將原有的光學(xué)干擾值降低50%-80%。
[0086]優(yōu)選實(shí)施例中，所述測(cè)試軌道4的底部具有一與所述待測(cè)光電傳感器9寬度相等的凹槽，所述待測(cè)光電傳感器9沿所述凹槽下滑。該設(shè)計(jì)的作用在于，所述凹槽在可以支持待測(cè)光電傳感器9的同時(shí)，也可以引導(dǎo)待測(cè)光電傳感器9的運(yùn)動(dòng)方向，使之不會(huì)偏離測(cè)試軌道4而影響最后的測(cè)試結(jié)果。
[0087]進(jìn)一步的，所述測(cè)試軌道4上設(shè)置有兩個(gè)測(cè)試底座10，兩個(gè)所述測(cè)試底座10分別位于所述第一暗室和第二暗室對(duì)應(yīng)的測(cè)試軌道4上，兩個(gè)所述測(cè)試底座10內(nèi)嵌設(shè)有多組測(cè)試探針U，所述測(cè)試探針11與待測(cè)光電傳感器9電性接觸，測(cè)試所述待測(cè)光電傳感器9的電學(xué)性能，并將測(cè)試結(jié)果傳輸?shù)綔y(cè)試設(shè)備的軟件部分，進(jìn)行讀數(shù)和運(yùn)算判定。
[0088]優(yōu)選實(shí)施例中，所述第一暗室和第二暗室的所有內(nèi)壁噴涂為經(jīng)過特殊處理的沒有漫反射的全黑色。本實(shí)施例中，由于需要測(cè)試的產(chǎn)品為光電傳感器，該光電傳感器的主要功能具有接近光響應(yīng)的功能。為了減少周圍環(huán)境的光反射干擾，測(cè)試暗室5和測(cè)試軌道4都需要使用表面處理，噴涂黑漆，將光反射減小到最低。即使是固定的螺絲和螺帽都需要進(jìn)行同樣的表面處理。
[0089]進(jìn)一步的，所述第一暗室和第二暗室位于測(cè)試軌道4的中間區(qū)域，即所述機(jī)構(gòu)基座I 一斜邊的中間位置。
[0090]此外，所述第一暗室和/或第二暗室的高度遠(yuǎn)大于待測(cè)光電傳感器9的反射灰卡的高度。因此測(cè)試暗室5的反射效應(yīng)遠(yuǎn)小于測(cè)試用的待測(cè)光電傳感器9的反射灰卡的反射效應(yīng)。所述測(cè)試暗室5的空間非常大，遠(yuǎn)大于感光芯片可以探測(cè)的范圍，能夠忽略不計(jì)所述待測(cè)光電傳感器9所發(fā)射光線經(jīng)由所述第一暗室和/或第二暗室的各個(gè)內(nèi)側(cè)面所反射的光強(qiáng)度。
[0091]實(shí)施例二
[0092]如圖6所示，本發(fā)明另外公開了一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備的測(cè)試方法，利用上述光電傳感器測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，包括以下步驟:
[0093]步驟1:多個(gè)待測(cè)光電傳感器依次放置于測(cè)試軌道的起始端，并依次沿測(cè)試軌道下滑；
[0094]步驟2:沿測(cè)試軌道下滑的第一個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試；第二個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)；
[0095]步驟3:第一個(gè)待測(cè)光電傳感器完成環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試后，通過第二彈性擋片和第二伸縮擋片進(jìn)入第二暗室，并被第三伸縮擋片截停，進(jìn)行接近傳感器功能測(cè)試;第二個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試;第三個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)；
[0096]步驟4:第一個(gè)待測(cè)光電傳感器完成接近傳感器的測(cè)試后，通過第三彈性擋片和第三伸縮擋片滑出第二暗室;第二個(gè)待測(cè)光電傳感器完成接近傳感器的測(cè)試后，通過第二彈性擋片和第二伸縮擋片進(jìn)入第二暗室，并被第三伸縮擋片截停，進(jìn)行接近傳感器功能測(cè)試；第三個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試;第四個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)；
[0097]步驟5:依次測(cè)試剩余待測(cè)光電傳感器，直至所有待測(cè)光電傳感器測(cè)試完畢。
[0098]實(shí)施例三
[0099]如圖7所示，本發(fā)明還公開了一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備的測(cè)試方法，利用上述光電傳感器測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，包括以下步驟:
[0100]步驟1:多個(gè)待測(cè)光電傳感器依次放置于測(cè)試軌道的起始端，并依次沿測(cè)試軌道下滑；
[0101]步驟2:沿測(cè)試軌道下滑的第一個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行接近傳感器功能測(cè)試；第二個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)；
[0102]步驟3:第一個(gè)待測(cè)光電傳感器完成接近傳感器功能測(cè)試后，通過第二彈性擋片和第二伸縮擋片進(jìn)入第二暗室，并被第三伸縮擋片截停，進(jìn)行環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試;第二個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行接近傳感器功能測(cè)試;第三個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)；
[0103]步驟4:第一個(gè)待測(cè)光電傳感器完成環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試后，通過第三彈性擋片和第三伸縮擋片滑出第二暗室;第二個(gè)待測(cè)光電傳感器完成接近傳感器的測(cè)試后，通過第二彈性擋片和第二伸縮擋片進(jìn)入第二暗室，并被第三伸縮擋片截停，進(jìn)行環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試;第三個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行接近傳感器功能測(cè)試;第四個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)；
[0104]步驟5:依次測(cè)試剩余待測(cè)光電傳感器，直至所有待測(cè)光電傳感器測(cè)試完畢。
[0105]本實(shí)施例與實(shí)施例二的區(qū)別在于，實(shí)施例二中，所述標(biāo)準(zhǔn)光源位于第一暗室頂部的反射板上，而實(shí)施例三則是位于第二暗室頂部的反射板上。兩者并無實(shí)質(zhì)區(qū)別，只是先進(jìn)行環(huán)境光響應(yīng)功能的測(cè)試還是接近傳感器功能的測(cè)試上的選擇，本發(fā)明將上述兩種可能存在的情況均予以保護(hù)。
[0106]此外，實(shí)施例二和實(shí)施例三種，每個(gè)所述待測(cè)光電傳感器的運(yùn)動(dòng)均是同時(shí)運(yùn)動(dòng)或具有相同的時(shí)間差，用以避免相鄰的兩個(gè)所述待測(cè)光電傳感器同時(shí)位于第一暗室或第二暗室中。其中，尤以同時(shí)運(yùn)動(dòng)的較佳，相應(yīng)的待測(cè)光電傳感器的測(cè)試效率高。
[0107]由于采用了以上的改進(jìn)結(jié)構(gòu)和測(cè)試方法，本發(fā)明達(dá)到了以下的有益效果:
[0108]1.本發(fā)明測(cè)試軌道的斜坡式設(shè)計(jì)，利用了待測(cè)光電傳感器自身的重力作為動(dòng)力傳輸，可以有效減少傳動(dòng)裝置，有利于節(jié)能環(huán)保；
[0109]2.本發(fā)明測(cè)試暗室中的特殊結(jié)構(gòu)，尤其是測(cè)試軌道的特殊設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，可以有效減少光學(xué)干擾，將機(jī)械測(cè)試誤差降低到最小程度，并將原有的光學(xué)干擾值降低50%_80%;
[0110]3.本發(fā)明中由黑色間隔板將光電傳感器的功能測(cè)試部分一分為二，互不干擾，且兩個(gè)暗室能同時(shí)測(cè)試，測(cè)試的時(shí)間大幅度降低，測(cè)試效率大幅度提升。
[0111]以上所述，僅為本發(fā)明較佳的【具體實(shí)施方式】，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備，其特征在于，包括機(jī)構(gòu)底座、測(cè)試軌道和測(cè)試暗室，其中: 所述機(jī)構(gòu)底座具有斜坡； 所述測(cè)試軌道沿所述斜坡鋪設(shè)，使得待測(cè)光電傳感器能夠利用自身重力沿著所述測(cè)試軌道的一斜邊由上而下滑動(dòng)； 所述測(cè)試暗室位于所述測(cè)試軌道上，所述測(cè)試暗室內(nèi)設(shè)置有支撐裝置、反射板和標(biāo)準(zhǔn)光源: 所述支撐裝置將所述測(cè)試暗室分隔為第一暗室和第二暗室，所述第一暗室和第二暗室沿所述測(cè)試軌道由上往下依次設(shè)置，用于支撐所述反射板和標(biāo)準(zhǔn)光源； 所述反射板設(shè)置于所述第一暗室和第二暗室的頂部； 所述標(biāo)準(zhǔn)光源設(shè)置于第一暗室或第二暗室頂部的反射板上。2.如權(quán)利要求1所述的一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述支撐裝置為間隔板，所述間隔板的尺寸大小與所述測(cè)試暗室的大小相匹配，用于支撐所述反射板和標(biāo)準(zhǔn)光源。3.如權(quán)利要求1所述的一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備，其特征在于， 所述第一暗室入口處設(shè)有第一彈性擋片，所述第一彈性擋片對(duì)應(yīng)的測(cè)試軌道在垂直于所述待測(cè)光電傳感器運(yùn)動(dòng)方向上設(shè)置有第一伸縮擋片； 所述支撐裝置設(shè)有第二彈性擋片，所述第二彈性擋片對(duì)應(yīng)的測(cè)試軌道在垂直于所述待測(cè)光電傳感器運(yùn)動(dòng)方向上設(shè)置有第二伸縮擋片； 所述第二暗室出口處設(shè)有第三彈性擋片，所述第三彈性擋片對(duì)應(yīng)的測(cè)試軌道在垂直于所述待測(cè)光電傳感器運(yùn)動(dòng)方向上設(shè)置有第三伸縮擋片。4.如權(quán)利要求1所述的一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述測(cè)試軌道垂直于所述待測(cè)光電傳感器運(yùn)動(dòng)方向的橫截面為內(nèi)凹型結(jié)構(gòu)，所述測(cè)試軌道底部還設(shè)有一凹槽，所述凹槽的寬度與所述待測(cè)光電傳感器的寬度相匹配，所述待測(cè)光電傳感器能夠放置于所述凹槽內(nèi)。5.如權(quán)利要求4所述的一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述凹槽與所述測(cè)試軌道兩側(cè)的內(nèi)側(cè)壁各具有一間隙，形成一四周中空的空間區(qū)域，使得所述待測(cè)光電傳感器的上表面四周沒有反射面。6.如權(quán)利要求1所述的一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述測(cè)試軌道上設(shè)置有兩個(gè)測(cè)試底座，兩個(gè)所述測(cè)試底座分別位于所述第一暗室和第二暗室對(duì)應(yīng)的測(cè)試軌道上，兩個(gè)所述測(cè)試底座內(nèi)嵌設(shè)有多組測(cè)試探針，所述測(cè)試探針與待測(cè)光電傳感器電性接觸，測(cè)試所述待測(cè)光電傳感器的電學(xué)性能。7.如權(quán)利要求1所述的一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述第一暗室和第二暗室的所有內(nèi)壁噴涂為經(jīng)過特殊處理的沒有漫反射的全黑色。8.如權(quán)利要求1所述的一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述第一暗室和第二暗室位于測(cè)試軌道的中間區(qū)域。9.如權(quán)利要求1所述的一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述第一暗室和/或第二暗室的高度大于所述待測(cè)光電傳感器的反射灰卡的高度，能夠忽略不計(jì)所述待測(cè)光電傳感器所發(fā)射光線經(jīng)由所述第一暗室和/或第二暗室的各個(gè)內(nèi)側(cè)面所反射的光強(qiáng)度。10.—種光電傳感器測(cè)試設(shè)備的測(cè)試方法，其特征在于，利用權(quán)利要求1-9所述光電傳感器測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，包括以下步驟: 步驟I:多個(gè)待測(cè)光電傳感器依次放置于測(cè)試軌道的起始端，并依次沿測(cè)試軌道下滑；步驟2:沿測(cè)試軌道下滑的第一個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試;第二個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)；步驟3:第一個(gè)待測(cè)光電傳感器完成環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試后，通過第二彈性擋片和第二伸縮擋片進(jìn)入第二暗室，并被第三伸縮擋片截停，進(jìn)行接近傳感器功能測(cè)試;第二個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試;第三個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)； 步驟4:第一個(gè)待測(cè)光電傳感器完成接近傳感器的測(cè)試后，通過第三彈性擋片和第三伸縮擋片滑出第二暗室;第二個(gè)待測(cè)光電傳感器完成接近傳感器的測(cè)試后，通過第二彈性擋片和第二伸縮擋片進(jìn)入第二暗室，并被第三伸縮擋片截停，進(jìn)行接近傳感器功能測(cè)試;第三個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試;第四個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)； 步驟5:依次測(cè)試剩余待測(cè)光電傳感器，直至所有待測(cè)光電傳感器測(cè)試完畢。11.一種光電傳感器測(cè)試設(shè)備的測(cè)試方法，其特征在于，利用權(quán)利要求1-9所述光電傳感器測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，包括以下步驟: 步驟I:多個(gè)待測(cè)光電傳感器依次放置于測(cè)試軌道的起始端，并依次沿測(cè)試軌道下滑；步驟2:沿測(cè)試軌道下滑的第一個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行接近傳感器功能測(cè)試;第二個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)；步驟3:第一個(gè)待測(cè)光電傳感器完成接近傳感器功能測(cè)試后，通過第二彈性擋片和第二伸縮擋片進(jìn)入第二暗室，并被第三伸縮擋片截停，進(jìn)行環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試;第二個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行接近傳感器功能測(cè)試;第三個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)； 步驟4:第一個(gè)待測(cè)光電傳感器完成環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試后，通過第三彈性擋片和第三伸縮擋片滑出第二暗室;第二個(gè)待測(cè)光電傳感器完成接近傳感器的測(cè)試后，通過第二彈性擋片和第二伸縮擋片進(jìn)入第二暗室，并被第三伸縮擋片截停，進(jìn)行環(huán)境光響應(yīng)功能測(cè)試;第三個(gè)待測(cè)光電傳感器在自身重力作用下通過第一彈性擋片和第一伸縮擋片進(jìn)入第一暗室，并被第二伸縮擋片截停，進(jìn)行接近傳感器功能測(cè)試;第四個(gè)待測(cè)光電傳感器被第一伸縮擋片截停，且尚未通過第一彈性擋片進(jìn)入第一暗室之內(nèi)； 步驟5:依次測(cè)試剩余待測(cè)光電傳感器，直至所有待測(cè)光電傳感器測(cè)試完畢。12.如權(quán)利要求10或11所述的一種光電傳感器測(cè)試方法，其特征在于，每個(gè)所述待測(cè)光電傳感器的運(yùn)動(dòng)均是同時(shí)運(yùn)動(dòng)或具有相同的時(shí)間差，用以避免相鄰的兩個(gè)所述待測(cè)光電傳感器同時(shí)位于第一暗室或第二暗室中。
【文檔編號(hào)】G01D18/00GK105890641SQ201610202099
【公開日】2016年8月24日
【申請(qǐng)日】2016年4月1日
【發(fā)明人】顏莉華
【申請(qǐng)人】南京慧感電子科技有限公司