反射面干涉儀的測試及校正裝置及方法
【專利摘要】本發(fā)明提出了一種反射面干涉儀的測試及校正裝置及方法，包括：待測的反射面干涉儀安裝于接收高臺上；發(fā)射高臺位于反射面天線的反射面波束指向方向上，在發(fā)射高臺上安裝喇叭，喇叭與反射面天線相對設(shè)置；在測試前，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀第一端口通過電纜連接喇叭，第二端口通過電纜連接干涉儀第一個通道，以矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸數(shù)據(jù)對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸特性進(jìn)行校準(zhǔn)。再將與第二端口相連的電纜與干涉儀的其他接收通道相連，根據(jù)基準(zhǔn)通道的傳輸相位特性對其他接收通道的傳輸相位特性進(jìn)行校正。本發(fā)明簡化反射面干涉儀天線的校正內(nèi)容和對測試條件的要求，提高校正效率，尤其適用于大尺寸多通道天線的校正，可用于測向偵察領(lǐng)域。
【專利說明】
反射面干涉儀的測試及校正裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及干涉儀技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種反射面干涉儀的測試及校正裝置及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]測向偵察領(lǐng)域中，干涉儀通過多通道接收目標(biāo)方向電磁波，并比較通道間的相位差的方法確定目標(biāo)的方位。對于每一套干涉儀需要測量各個通道的固有相位差，提供系統(tǒng)校正數(shù)據(jù)。其中，天線自身各通道之間的相位差必須采用外校正的方法予以解決。
[0003]常用的外校正的方法包括以下兩種:
[0004](I)暗室近場法。該方法需要占用暗室，且要在覆蓋反射面的一定截斷角的范圍內(nèi)，對每個通道逐一掃描采樣和反演計算。其缺點(diǎn)是需要專業(yè)場地和測試設(shè)備，測試時間長且測試費(fèi)用高。
[0005](2)室外遠(yuǎn)場法。在滿足遠(yuǎn)場距離要求的條件下，架設(shè)發(fā)射天線，人為模擬目標(biāo)來波的工作狀態(tài)，記錄待測天線各通道間的相位差作為校正數(shù)據(jù)。其缺點(diǎn)是需要遠(yuǎn)場場地和收發(fā)天線精確對準(zhǔn)，需要理想的電磁環(huán)境和高超的測繪技術(shù)。
[0006]發(fā)明專利CN105157838A公開了一種干涉儀定鏡動態(tài)自校正的裝置，可以快速對定鏡動態(tài)自校正，消除了對高精度機(jī)械軸承的依賴和光譜儀定期重復(fù)校正的需要。但是，該技術(shù)方案不適用于測向偵察領(lǐng)域的大尺寸多通道天線的校正。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明的目的旨在至少解決所述技術(shù)缺陷之一。
[0008]為此，本發(fā)明的目的在于提出一種反射面干涉儀的測試及校正裝置及方法，可以簡化反射面干涉儀天線的校正內(nèi)容和對測試條件的要求，提高校正效率，尤其適用于大尺寸多通道天線的校正，可用于測向偵察領(lǐng)域。
[0009]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明一方面的實(shí)施例提供一種反射面干涉儀的測試及校正裝置，包括:接收高臺，其中，待測的反射面干涉儀安裝于所述接收高臺上;發(fā)射高臺，其中，所述發(fā)射高臺位于所述反射面天線的反射面波束指向方向上，在所述發(fā)射高臺上安裝喇口八，所述喇叭與所述反射面天線相對設(shè)置，其中，在所述反射面天線和所述喇叭之間鋪設(shè)有吸波材料;矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第一端口通過電纜與所述喇叭的輸入端相連，所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第二端口通過電纜與所述干涉儀的一個接收通道的輸出端相連，其中，在測試前，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀第一端口通過電纜連接喇叭，第二端口通過電纜連接干涉儀第一個通道，以矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸數(shù)據(jù)對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸特性進(jìn)行校準(zhǔn)。再將與第二端口相連的電纜與干涉儀的其他接收通道相連，記錄每個接收通道在工作頻段內(nèi)的傳輸相位特性，根據(jù)基準(zhǔn)通道的傳輸相位特性對其他接收通道的傳輸相位特性進(jìn)行校正。
[0010]進(jìn)一步，所述喇機(jī)的高度與所述反射面天線的高度相當(dāng)。
[0011]進(jìn)一步，所述喇叭的波束指向所述反射面天線的中心，喇叭口面與所述干涉儀的基線平行，所述反射面天線與喇叭收發(fā)系統(tǒng)之間的距離符合中場測試要求，其中，所述反射面天線與喇叭收發(fā)系統(tǒng)之間的距離為以賦形方向尺寸計算的遠(yuǎn)場距離的15%至25%。
[0012]進(jìn)一步，在所述反射面天線和所述喇叭的連線中部鋪設(shè)所述吸波材料。
[0013]進(jìn)一步，所述吸波材料尺寸符合以下條件:平行于所述反射面天線和所述喇叭的連線方向等于或大于0.5米，垂直于所述反射面天線和所述喇叭的連線方向等于或大于反射面的寬度的一半。
[0014]根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的反射面干涉儀的測試及校正裝置，簡化反射面干涉儀天線的校正內(nèi)容和對測試條件的要求，提高校正效率，尤其適用于大尺寸多通道天線的校正，可用于測向偵察領(lǐng)域。本發(fā)明僅需在中場條件下測試，與暗室測試法相比具有設(shè)備簡易的特點(diǎn)，與室外遠(yuǎn)場測試法相比，場地大為縮減(減小至15%_25%)，節(jié)省了部分設(shè)備，例如省去了功率放大器和輔助參考通道設(shè)備，場地和結(jié)構(gòu)均大為簡化。
[0015]本發(fā)明另一方面的實(shí)施例還提出一種反射面干涉儀的測試及校正方法，包括如下步驟:
[0016]步驟SI，在測試環(huán)境中，架設(shè)接收高臺和發(fā)射高臺；
[0017]步驟S2，將待測的反射面干涉儀安裝于所述接收高臺上，將喇叭安裝于所述發(fā)射高臺上，其中，所述喇叭與所述反射面天線相對設(shè)置；
[0018]步驟S3，在所述反射面天線和所述喇叭之間鋪設(shè)有吸波材料；
[0019]步驟S4，將所述喇叭的輸入端與所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第一端口通過電纜相連，將所述干涉儀的一個接收通道的輸出端與所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第二端口通過電纜相連；
[0020]步驟S5，在測試前，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀第一端口通過電纜連接喇叭，第二端口通過電纜連接反射面干涉儀的第一個通道，以矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸數(shù)據(jù)對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸特性進(jìn)行校準(zhǔn)，再將與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第二端口相連的電纜與反射面干涉儀的其他接收通道相連，記錄每個接收通道在工作頻段內(nèi)的傳輸相位特性，根據(jù)基準(zhǔn)通道的傳輸相位特性對其他接收通道的傳輸相位特性進(jìn)行校正。
[0021]進(jìn)一步，所述喇叭的高度與所述反射面天線的高度相當(dāng)。
[0022]進(jìn)一步，所述喇叭的波束指向所述反射面天線的中心，喇叭口面與所述干涉儀的基線平行，所述反射面天線與喇叭收發(fā)系統(tǒng)之間的距離符合中場測試要求，其中，所述反射面天線與喇叭收發(fā)系統(tǒng)之間的距離為以賦形方向尺寸計算的遠(yuǎn)場距離的15%至25%。
[0023]進(jìn)一步，在所述反射面天線和所述喇叭的連線中部鋪設(shè)所述吸波材料。
[0024]進(jìn)一步，所述吸波材料尺寸符合以下條件:平行于所述反射面天線和所述喇叭的連線方向等于或大于0.5米，垂直于所述反射面天線和所述喇叭的連線方向等于或大于反射面的寬度的一半。
[0025]根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的反射面干涉儀的測試及校正方法，簡化反射面干涉儀天線的校正內(nèi)容和對測試條件的要求，提高校正效率，尤其適用于大尺寸多通道天線的校正，可用于測向偵察領(lǐng)域。本發(fā)明僅需在中場條件下測試，與暗室測試法相比具有設(shè)備簡易的特點(diǎn)，與室外遠(yuǎn)場測試法相比，場地大為縮減(減小至15%_25%)，節(jié)省了部分設(shè)備，例如省去了功率放大器和輔助參考通道設(shè)備，場地和結(jié)構(gòu)均大為簡化。
[0026]本發(fā)明附加的方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實(shí)踐了解到。
【附圖說明】
[0027]本發(fā)明的上述和/或附加的方面和優(yōu)點(diǎn)從結(jié)合下面附圖對實(shí)施例的描述中將變得明顯和容易理解，其中:
[0028]圖1為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的反射面干涉儀的測試及校正裝置的結(jié)構(gòu)圖；
[0029]圖2為根據(jù)本發(fā)明一個實(shí)施例的反射面干涉儀的測試及校正方法的流程圖；
[0030]圖3為根據(jù)本發(fā)明另一個實(shí)施例的反射面干涉儀的測試及校正方法的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0031]下面詳細(xì)描述本發(fā)明的實(shí)施例，實(shí)施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標(biāo)號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實(shí)施例是示例性的，旨在用于解釋本發(fā)明，而不能理解為對本發(fā)明的限制。
[0032]本發(fā)明利用中場波瓣近似遠(yuǎn)場波瓣和抑制多徑的原理，提出了一種反射面干涉儀的測試及校正裝置及方法，可以實(shí)現(xiàn)測向偵察領(lǐng)域的反射面干涉儀的校正，特別是對反射面干涉儀天線的外場中場的校正方法。
[0033]如圖1所示，本發(fā)明實(shí)施例的反射面干涉儀的測試及校正裝置，包括:接收高臺1、發(fā)射高臺2、喇叭3和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀4，將該反射面干涉儀的測試及校正裝置放置于外場測試環(huán)境。
[0034]具體地，接收高臺I上安裝有待測的反射面干涉儀5。在本發(fā)明的一個實(shí)施例中，反射面干涉儀5的下緣與地面的距離應(yīng)不小于50個波長。
[0035]發(fā)射高臺2位于反射面干涉儀5的反射面波束指向方向上，在發(fā)射高臺2上安裝喇叭3，喇叭3與反射面干涉儀5相對設(shè)置。
[0036]在本發(fā)明的一個實(shí)施例中，喇叭3的高度與反射面干涉儀5)的高度相當(dāng)。并且，反射面干涉儀5與喇叭3之間的距離符合中場測試要求，以賦形方向尺寸計算的遠(yuǎn)場距離的15 %至25 %。喇叭3的波束指向反射面干涉儀5的中心，喇機(jī)3 口面與反射面干涉儀5的基線平行。
[0037]并且，反射面干涉儀5和喇叭3之間鋪設(shè)有吸波材料。
[0038]優(yōu)選的，在反射面干涉儀5和喇叭3的連線中部鋪設(shè)吸波材料。吸波材料尺寸符合以下條件:平行于反射面干涉儀5和喇叭3的連線方向等于或大于0.5米，垂直于反射面干涉儀5和喇叭3的連線方向等于或大于反射面的寬度的一半。
[0039]矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第一端口Al通過電纜與喇叭3的輸入端相連，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第二端口 A2通過電纜與反射面干涉儀5的一個接收通道(記為通道I)的輸出端相連。
[0040]在測試前，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀用于通過第一端口Al通過電纜連接喇叭3，第二端口通過電纜連接反射面干涉儀5的第一個通道，以矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸數(shù)據(jù)對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸特性進(jìn)行校準(zhǔn)，再將與第二端口相連的電纜與反射面干涉儀5的其他接收通道相連，記錄每個接收通道在工作頻段內(nèi)的傳輸相位特性，根據(jù)基準(zhǔn)通道的傳輸相位特性對其他接收通道的傳輸相位特性進(jìn)行校正
[0041]并利用喇叭3的數(shù)據(jù)對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸特性進(jìn)行校準(zhǔn)，以與反射面干涉儀5相連的接收通道作為基準(zhǔn)校準(zhǔn)，將該接收通道即為基準(zhǔn)通道，將與第二端口 A2相連的電纜與反射面干涉儀5的其他接收通道相連，記錄每個接收通道在工作頻段內(nèi)的傳輸相位特性Q1，i = I，2...η。根據(jù)基準(zhǔn)通道(通道I)的傳輸相位特性對其他接收通道的傳輸相位特性進(jìn)行校正。
[0042]根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的反射面干涉儀的測試及校正裝置，簡化反射面干涉儀天線的校正內(nèi)容和對測試條件的要求，提高校正效率，尤其適用于大尺寸多通道天線的校正，可用于測向偵察領(lǐng)域。本發(fā)明僅需在中場條件下測試，與暗室測試法相比具有設(shè)備簡易的特點(diǎn)，與室外遠(yuǎn)場測試法相比，場地大為縮減(減小至15%-25%)，節(jié)省了部分設(shè)備，例如省去了功率放大器和輔助參考通道設(shè)備，場地和結(jié)構(gòu)均大為簡化。
[0043]如圖2所示，本發(fā)明實(shí)施例提供的發(fā)射面干涉儀的測試及校正方法，包括如下步驟:
[0044]步驟SI，在測試環(huán)境中，架設(shè)接收高臺和發(fā)射高臺；
[0045]步驟S2，將待測的反射面干涉儀安裝于接收高臺上，將喇叭安裝于發(fā)射高臺上，其中，喇叭與反射面天線相對設(shè)置。
[0046]在本發(fā)明的一個實(shí)施例中，反射面天線的下緣與地面的距離應(yīng)不小于50個波長。
[0047]在本發(fā)明的一個實(shí)施例中，喇叭的高度與反射面天線的高度相當(dāng)。并且，反射面天線與喇叭之間的距離符合中場測試要求，以賦形方向尺寸計算的遠(yuǎn)場距離的15%至25%。喇叭的波束指向反射面天線的中心，喇叭口面與干涉儀的基線平行。
[0048]步驟S3，在反射面天線和喇叭之間鋪設(shè)有吸波材料。
[0049]優(yōu)選的，在反射面天線和喇叭的連線中部鋪設(shè)吸波材料。
[0050]在本發(fā)明的一個實(shí)施例中，吸波材料尺寸符合以下條件:平行于反射面天線和喇叭的連線方向等于或大于0.5米，垂直于反射面天線和喇叭的連線方向等于或大于反射面的寬度的一半。
[0051 ]步驟S4，將喇叭的輸入端與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第一端口通過電纜相連，將干涉儀的一個接收通道的輸出端與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第二端口通過電纜相連；
[0052]步驟S5，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀第一端口通過電纜連接喇叭，第二端口通過電纜連接反射面干涉儀的第一個通道，以矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸數(shù)據(jù)對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸特性進(jìn)行校準(zhǔn)，再將與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第二端口相連的電纜與反射面干涉儀的其他接收通道相連，記錄每個接收通道在工作頻段內(nèi)的傳輸相位特性，根據(jù)基準(zhǔn)通道的傳輸相位特性對其他接收通道的傳輸相位特性進(jìn)行校正。
[0053]具體地，在測試前，由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀通過第一端口接收來自喇叭的數(shù)據(jù)，并利用傳輸數(shù)據(jù)對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸特性進(jìn)行校準(zhǔn)，以與干涉儀相連的接收通道作為基準(zhǔn)校準(zhǔn)，將該接收通道作為基準(zhǔn)通道，將與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第二端口相連的電纜與干涉儀的其他接收通道相連，記錄每個接收通道在工作頻段內(nèi)的傳輸相位特性Θi，i = I，2...η。根據(jù)基準(zhǔn)通道的傳輸相位特性對其他接收通道的傳輸相位特性進(jìn)行校正。
[0054]圖3為根據(jù)本發(fā)明另一個實(shí)施例的反射面干涉儀的測試及校正方法的流程圖。
[0055]步驟S201，架設(shè)反射面。
[0056]步驟S202，架設(shè)喇叭。
[0057]步驟S203，調(diào)整反射面和喇叭的相對位置關(guān)系。
[0058]步驟S204，鋪設(shè)吸波材料。
[0059]步驟S205，連接矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。
[0060]步驟S206，以與干涉儀相連的接收通道(通道I)作為基準(zhǔn)校準(zhǔn)。
[0061 ]步驟S207，連接反射面一側(cè)電纜至待校正端口。
[0062]將與第二端口相連的電纜與干涉儀的其他接收通道相連。
[0063]步驟S208，記錄該端口工作頻段內(nèi)相位值。
[0064]記錄每個接收通道在工作頻段內(nèi)的傳輸相位特性9i，i= I，2...η。
[0065]步驟S209，判斷校正是否完成，如果是，則結(jié)束測試，否則返回步驟S207。
[0066]根據(jù)基準(zhǔn)通道的傳輸相位特性對其他接收通道的傳輸相位特性進(jìn)行校正。
[0067]根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的反射面干涉儀的測試及校正方法，簡化反射面干涉儀天線的校正內(nèi)容和對測試條件的要求，提高校正效率，尤其適用于大尺寸多通道天線的校正，可用于測向偵察領(lǐng)域。本發(fā)明僅需在中場條件下測試，與暗室測試法相比具有設(shè)備簡易的特點(diǎn)，與室外遠(yuǎn)場測試法相比，場地大為縮減(減小至15%_25%)，節(jié)省了部分設(shè)備，例如省去了功率放大器和輔助參考通道設(shè)備，場地和結(jié)構(gòu)均大為簡化。
[0068]在本說明書的描述中，參考術(shù)語“一個實(shí)施例”、“一些實(shí)施例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結(jié)合該實(shí)施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)包含于本發(fā)明的至少一個實(shí)施例或示例中。在本說明書中，對上述術(shù)語的示意性表述不一定指的是相同的實(shí)施例或示例。而且，描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)可以在任何的一個或多個實(shí)施例或示例中以合適的方式結(jié)合。
[0069]盡管上面已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實(shí)施例，可以理解的是，上述實(shí)施例是示例性的，不能理解為對本發(fā)明的限制，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的原理和宗旨的情況下在本發(fā)明的范圍內(nèi)可以對上述實(shí)施例進(jìn)行變化、修改、替換和變型。本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求極其等同限定。
【主權(quán)項】
1.一種反射面干涉儀的測試及校正裝置，其特征在于，包括: 接收高臺，其中，待測的反射面干涉儀安裝于所述接收高臺上； 發(fā)射高臺，其中，所述發(fā)射高臺位于所述反射面天線的反射面波束指向方向上，在所述發(fā)射高臺上安裝喇叭，所述喇叭與所述反射面天線相對設(shè)置，其中，在所述反射面天線和所述喇叭之間鋪設(shè)有吸波材料； 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第一端口通過電纜與所述喇叭的輸入端相連，所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第二端口通過電纜與所述干涉儀的一個接收通道的輸出端相連， 其中，在測試前，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀第一端口通過電纜連接喇叭，第二端口通過電纜連接反射面干涉儀的第一個通道，以矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸數(shù)據(jù)對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸特性進(jìn)行校準(zhǔn)，再將與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第二端口相連的電纜與反射面干涉儀的其他接收通道相連，記錄每個接收通道在工作頻段內(nèi)的傳輸相位特性，根據(jù)基準(zhǔn)通道的傳輸相位特性對其他接收通道的傳輸相位特性進(jìn)行校正。2.如權(quán)利要求1所述的反射面干涉儀的測試及校正裝置，其特征在于，所述喇叭的高度與所述反射面天線的高度相當(dāng)。3.如權(quán)利要求1或2所述的反射面干涉儀的測試及校正裝置，其特征在于，所述喇叭的波束指向所述反射面天線的中心，喇叭口面與所述干涉儀的基線平行， 所述反射面天線與喇叭收發(fā)系統(tǒng)之間的距離符合中場測試要求，其中，所述反射面天線與喇叭收發(fā)系統(tǒng)之間的距離為以賦形方向尺寸計算的遠(yuǎn)場距離的15%至25%。4.如權(quán)利要求1所述的反射面干涉儀的測試及校正裝置，其特征在于，在所述反射面天線和所述喇叭的連線中部鋪設(shè)所述吸波材料。5.如權(quán)利要求1或4所述的反射面干涉儀的測試及校正裝置，其特征在于，所述吸波材料尺寸符合以下條件:平行于所述反射面天線和所述喇叭的連線方向等于或大于0.5米，垂直于所述反射面天線和所述喇叭的連線方向等于或大于反射面的寬度的一半。6.—種反射面干涉儀的測試及校正方法，其特征在于，包括如下步驟: 步驟SI，在測試環(huán)境中，架設(shè)接收高臺和發(fā)射高臺； 步驟S2，將待測的反射面干涉儀安裝于所述接收高臺上，將喇叭安裝于所述發(fā)射高臺上，其中，所述喇叭與所述反射面天線相對設(shè)置； 步驟S3，在所述反射面天線和所述喇叭之間鋪設(shè)有吸波材料； 步驟S4，將所述喇叭的輸入端與所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第一端口通過電纜相連，將所述干涉儀的一個接收通道的輸出端與所述矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第二端口通過電纜相連； 步驟S5，在測試前，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀第一端口通過電纜連接喇叭，第二端口通過電纜連接反射面干涉儀的第一個通道，以矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸數(shù)據(jù)對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的傳輸特性進(jìn)行校準(zhǔn)，再將與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的第二端口相連的電纜與反射面干涉儀的其他接收通道相連，記錄每個接收通道在工作頻段內(nèi)的傳輸相位特性，根據(jù)基準(zhǔn)通道的傳輸相位特性對其他接收通道的傳輸相位特性進(jìn)行校正。7.如權(quán)利要求6所述的反射面干涉儀的測試及校正方法，其特征在于，所述喇叭的高度與所述反射面天線的高度相當(dāng)。8.如權(quán)利要求6或7所述的反射面干涉儀的測試及校正方法，其特征在于，所述喇叭的波束指向所述反射面天線的中心，喇叭口面與所述干涉儀的基線平行 所述反射面天線與喇叭收發(fā)系統(tǒng)之間的距離符合中場測試要求，其中，所述反射面天線與喇叭收發(fā)系統(tǒng)之間的距離為以賦形方向尺寸計算的遠(yuǎn)場距離的15%至25%。9.如權(quán)利要求6所述的反射面干涉儀的測試及校正方法，其特征在于，在所述反射面天線和所述喇叭的連線中部鋪設(shè)所述吸波材料。10.如權(quán)利要求6或9所述的反射面干涉儀的測試及校正方法，其特征在于，所述吸波材料尺寸符合以下條件:平行于所述反射面天線和所述喇叭的連線方向等于或大于0.5米，垂直于所述反射面天線和所述喇叭的連線方向等于或大于反射面的寬度的一半。
【文檔編號】G01S3/02GK105911515SQ201610209550
【公開日】2016年8月31日
【申請日】2016年4月1日
【發(fā)明人】高初, 鄒順, 李彥栓, 臧永東, 陳明
【申請人】中國電子科技集團(tuán)公司第三十八研究所