一種檢測集成電路的測試探針卡的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種檢測集成電路的測試探針卡，其探針座上成型有探針孔，探針孔內(nèi)插接有探針，探針包括中部的止擋部，止擋部的上端面檢測桿，檢測桿的上端露出探針座的上端面，止擋部的下端成型有螺柱，螺柱上螺接有上永磁體，上永磁體的下側(cè)的探針座探針孔內(nèi)插接有下永磁體，下永磁體上端面的磁極和上永磁體下端面的磁極相同；探針座探針孔的側(cè)壁上成型有凹槽，探針座凹槽內(nèi)插接有豎直的導(dǎo)電片，導(dǎo)電片的上端成型有圓弧形的彈性部，彈性部壓靠在探針的止擋部上，彈性部的下端彎折成型有連接部，連接部通過導(dǎo)電螺釘和下永磁體相連接導(dǎo)電螺釘?shù)挚吭跈z測電路板上。它結(jié)構(gòu)簡單，制造及組裝方便，能避免因彈簧機械疲勞失效而造成的接觸不良。
【專利說明】
一種檢測集成電路的測試探針卡
技術(shù)領(lǐng)域
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[0001]本發(fā)明涉及集成電路檢測裝置的技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說涉及一種檢測集成電路的測試探針卡。
【背景技術(shù)】
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[0002]探針卡為半導(dǎo)體工藝中常使用于檢測電路的元件，其內(nèi)排列設(shè)置有多個探針，探針的排列位置與此探針卡欲檢測的待測電路板上的電路配置相對應(yīng)。探針卡通常設(shè)置在一檢測機臺之上，待測電路板以一工具夾持并且壓制于探針上。因此使得各探針導(dǎo)通待測電路板上的電路，藉由探針檢測待測電路板上的電路是否正常運作?，F(xiàn)有的探針結(jié)構(gòu)一般包含有一個套筒套筒內(nèi)設(shè)有二個電極以及連接在二電極之間的一彈簧。其中一個電極固定于檢測機臺并且電性連接檢測機臺，另一個電極則可活動地位于套筒內(nèi)用以導(dǎo)接欲檢測的待測電路板上的焊點。當待測電路板觸壓探針時，彈簧被壓縮而施力于活動的電極，藉此使此電極與待測電路板加壓接觸而確實導(dǎo)通?；蛘呤侵辉O(shè)置一個活動的電極，而藉由彈簧直接導(dǎo)接電極與檢測機臺。
[0003]探針為微小的元件，其結(jié)構(gòu)復(fù)雜，零件制作及組裝皆不易?，F(xiàn)有的探針以彈簧作為導(dǎo)接元件，其因此工藝中的誤差常會導(dǎo)致探針接觸不良而無法導(dǎo)通待測電路板與檢測機臺ο

【發(fā)明內(nèi)容】

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[0004]本發(fā)明的目的就是針對現(xiàn)有技術(shù)之不足，而提供了一種檢測集成電路的測試探針卡，其結(jié)構(gòu)簡單，制造及組裝方便，同時能避免傳統(tǒng)測試探針內(nèi)因彈簧機械疲勞失效等而造成的接觸不良。
[0005]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
[0006]—種檢測集成電路的測試探針卡，包括探針座和檢測電路板，探針座上成型有探針孔，探針孔內(nèi)插接有探針，探針包括中部的止擋部，止擋部的上端面檢測桿，檢測桿的上端露出探針座的上端面，止擋部的下端成型有螺柱，螺柱上螺接有上永磁體，上永磁體的下側(cè)的探針座探針孔內(nèi)插接有下永磁體，下永磁體上端面的磁極和上永磁體下端面的磁極相同；探針座探針孔的側(cè)壁上成型有凹槽，探針座凹槽內(nèi)插接有豎直的導(dǎo)電片，導(dǎo)電片的上端成型有圓弧形的彈性部，彈性部壓靠在探針的止擋部上，彈性部的下端彎折成型有連接部，連接部抵靠在上永磁體的下端面并導(dǎo)電螺釘相連接在一起，導(dǎo)電螺釘?shù)挚吭跈z測電路板的導(dǎo)電區(qū)域上。
[0007]所述探針止擋部的側(cè)壁上成型有切槽，導(dǎo)電片的彈性部壓靠在止擋部切槽的底面上。
[0008]所述探針檢測桿的上端成型有若干錐形的針頭，針頭繞檢測桿上端面的中心呈環(huán)形均勻分布在檢測桿上。
[0009]所述上永磁體和下永磁體均呈圓柱形，上永磁體的直徑和下永磁體的直徑相等。
[0010]所述下永磁體的下端面上成型有導(dǎo)電螺釘?shù)牡撞柯菁y孔，導(dǎo)電片的連接部上成型有導(dǎo)電螺釘?shù)倪^孔。
[0011]所述導(dǎo)電片上彈性部與探針止擋部的接觸點至止擋部上端面的距離不小于探針檢測桿露出探針座上端面的長度。
[0012]本發(fā)明的有益效果在于:
[0013]它為一種結(jié)構(gòu)簡單、制造及組裝方便的測試探針，同時測試探針內(nèi)彈性結(jié)構(gòu)由相同磁極的永磁體代替?zhèn)鹘y(tǒng)的彈簧，則能避免傳統(tǒng)測試探針內(nèi)因彈簧機械疲勞失效等而造成的接觸不良。
【附圖說明】
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[0014]圖1為發(fā)明的結(jié)構(gòu)不意圖；
[0015]圖2為發(fā)明探針、上永磁體和下永磁體立體的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0016]圖中:1、探針座；11、探針孔;2、探針;21、止擋部;211、切槽;22、檢測桿;221、針頭；23、螺柱;3、上永磁體;4、下永磁體;5、導(dǎo)電片;51、連接部;52、彈性部;6、導(dǎo)電螺釘;7、檢測電路板。
【具體實施方式】
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[0017]實施例:見圖1、2所示，一種檢測集成電路的測試探針卡，包括探針座I和檢測電路板7，探針座I上成型有探針孔11，探針孔11內(nèi)插接有探針2，探針2包括中部的止擋部21，止擋部21的上端面檢測桿22，檢測桿22的上端露出探針座I的上端面，止擋部21的下端成型有螺柱23，螺柱23上螺接有上永磁體3，上永磁體3的下側(cè)的探針座I探針孔11內(nèi)插接有下永磁體4，下永磁體4上端面的磁極和上永磁體3下端面的磁極相同；探針座I探針孔11的側(cè)壁上成型有凹槽，探針座I凹槽內(nèi)插接有豎直的導(dǎo)電片5，導(dǎo)電片5的上端成型有圓弧形的彈性部52，彈性部52壓靠在探針2的止擋部21上，彈性部52的下端彎折成型有連接部51，連接部51抵靠在上永磁體3的下端面并導(dǎo)電螺釘6相連接在一起，導(dǎo)電螺釘6抵靠在檢測電路板7的導(dǎo)電區(qū)域上。
[0018]所述探針2止擋部21的側(cè)壁上成型有切槽211，導(dǎo)電片5的彈性部52壓靠在止擋部21切槽211的底面上。
[0019]所述探針2檢測桿22的上端成型有若干錐形的針頭221，針頭221繞檢測桿22上端面的中心呈環(huán)形均勻分布在檢測桿22上。
[0020]所述上永磁體3和下永磁體4均呈圓柱形，上永磁體3的直徑和下永磁體4的直徑相等。
[0021]所述下永磁體4的下端面上成型有導(dǎo)電螺釘6的底部螺紋孔，導(dǎo)電片5的連接部51上成型有導(dǎo)電螺釘6的過孔。
[0022]所述導(dǎo)電片5上彈性部52與探針2止擋部21的接觸點至止擋部21上端面的距離不小于探針2檢測桿22露出探針座I上端面的長度。
[0023]工作原理:本發(fā)明為檢測集成電路的測試探針，屬于探針卡的一種，主要亮點是整改了探針卡內(nèi)部的結(jié)構(gòu)，通過上永磁體3和下永磁體4相同磁極產(chǎn)生的斥力提供彈力，并另置導(dǎo)電片5電連接檢測電路板7和探針2，在方便組裝的基礎(chǔ)上其電連接接觸效果良好，亦能避免傳統(tǒng)測試探針內(nèi)因彈簧機械疲勞失效等而造成的接觸不良。
【主權(quán)項】
1.一種檢測集成電路的測試探針卡，包括探針座(I)和檢測電路板(7)，探針座(I)上成型有探針孔(11)，探針孔(11)內(nèi)插接有探針(2)，探針(2)包括中部的止擋部(21)，止擋部(21)的上端面檢測桿(22)，檢測桿(22)的上端露出探針座(I)的上端面，其特征在于:止擋部(21)的下端成型有螺柱(23)，螺柱(23)上螺接有上永磁體(3)，上永磁體(3)的下側(cè)的探針座(I)探針孔(II)內(nèi)插接有下永磁體(4)，下永磁體(4)上端面的磁極和上永磁體(3)下端面的磁極相同；探針座(I)探針孔(11)的側(cè)壁上成型有凹槽，探針座(I)凹槽內(nèi)插接有豎直的導(dǎo)電片(5)，導(dǎo)電片(5)的上端成型有圓弧形的彈性部(52)，彈性部(52)壓靠在探針(2)的止擋部(21)上，彈性部(52)的下端彎折成型有連接部(51)，連接部(51)抵靠在上永磁體(3)的下端面并導(dǎo)電螺釘(6)相連接在一起，導(dǎo)電螺釘(6)抵靠在檢測電路板(7)的導(dǎo)電區(qū)域上。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種檢測集成電路的測試探針卡，其特征在于:所述探針(2)止擋部(21)的側(cè)壁上成型有切槽(211)，導(dǎo)電片(5)的彈性部(52)壓靠在止擋部(21)切槽(211)的底面上。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種檢測集成電路的測試探針卡，其特征在于:所述探針(2)檢測桿(22)的上端成型有若干錐形的針頭(221)，針頭(221)繞檢測桿(22)上端面的中心呈環(huán)形均勻分布在檢測桿(22)上。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種檢測集成電路的測試探針卡，其特征在于:所述上永磁體(3)和下永磁體(4)均呈圓柱形，上永磁體(3)的直徑和下永磁體(4)的直徑相等。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種檢測集成電路的測試探針卡，其特征在于:所述下永磁體(4)的下端面上成型有導(dǎo)電螺釘(6)的底部螺紋孔，導(dǎo)電片(5)的連接部(51)上成型有導(dǎo)電螺釘(6)的過孔。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種檢測集成電路的測試探針卡，其特征在于:所述導(dǎo)電片(5)上彈性部(52)與探針(2)止擋部(21)的接觸點至止擋部(21)上端面的距離不小于探針(2)檢測桿(22)露出探針座(I)上端面的長度。
【文檔編號】G01R1/073GK105929208SQ201610455200
【公開日】2016年9月7日
【申請日】2016年6月20日
【發(fā)明人】王文慶
【申請人】東莞市聯(lián)洲知識產(chǎn)權(quán)運營管理有限公司