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      一種光譜測試治具及系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號:10651265閱讀:218來源:國知局
      一種光譜測試治具及系統(tǒng)的制作方法
      【專利摘要】本發(fā)明實施方式公開了一種光譜測試治具及系統(tǒng),光譜測試治具包括:光處理裝置和底板,其特征在于:所述光處理裝置設置于所述底板一端,所述底板另一端用于承載激光器;所述光處理裝置設置有入射孔和出射孔,其中,所述出射孔用于插接連接光譜儀的跳線,所述光處理裝置的入射孔用于插接所述激光器的輸出端,所述光處理裝置對從所述輸出端出射的激光進行處理,以使所述激光從出射孔出射并且進入所述跳線。本發(fā)明將激光器和光處理裝置均設置于底板上,而跳線設置于光處理裝置上,激光器所輸出的激光通過光處理裝置轉發(fā)入跳線內,保證了激光器所輸出的激光全部入射至跳線內,從而保證了后續(xù)對激光器所輸出的激光進行光譜分析的準確性。
      【專利說明】
      一種光譜測試治具及系統(tǒng)
      技術領域
      [0001]本發(fā)明實施方式涉及光處理技術領域,特別是涉及一種光譜測試治具及系統(tǒng)。
      【背景技術】
      [0002]光譜分析是激光行業(yè)和其它光學相關領域必不可少的部分之一,其判斷機器的可靠性、穩(wěn)定性等有著很大作用。
      [0003]目前低功率的激光器測試光譜方式通常為在一塊擋板鎖付一個法蘭盤,法蘭盤的一端接跳線,法蘭盤的另一端接收激光輸入,而跳線的另一端接入光譜儀測試光譜。第一方面,低功率輸出功率不高,如果激光輸出不正對法蘭盤中跳線頭的中心,則光譜儀測試的光譜跟實際光譜相差較大。第二方面,激光長時間打在法蘭盤上,法蘭盤異常發(fā)燙,會將跳線根部軟化,導致跳線失效。第三方面,比較難找到合適的位置,讓輸出的激光正好打入法蘭盤中跳線中,需要調整激光輸出頭的位置,費時費力。

      【發(fā)明內容】

      [0004]本發(fā)明實施方式主要解決的技術問題是提供一種光譜測試治具及系統(tǒng),能夠很好地固定激光器和跳線的位置,保證激光器的輸出的激光進入跳線內,保證后續(xù)對激光器的激光進行光譜分析的準確性。
      [0005]為解決上述技術問題,本發(fā)明實施方式采用的一個技術方案是:提供一種光譜測試治具,包括光處理裝置和底板,其特征在于,光處理裝置設置于底板一端,底板另一端用于承載激光器;光處理裝置設置有入射孔和出射孔,其中,出射孔用于插接連接光譜儀的跳線,光處理裝置的入射孔用于插接激光器的輸出端,光處理裝置對從輸出端出射的激光進行處理,以使激光從出射孔出射并且進入跳線。
      [0006]其中,光處理裝置包括:盒子,盒子的一面設置有入射孔,盒子的另一面設置有出射孔;三棱鏡,三棱鏡設置于盒子內,并且三棱鏡的一面分別與出射孔和入射孔相對應,用于對從輸出端出射的激光進行反射和折射處理,其中,三棱鏡所反射的部分激光從出射孔射出。
      [0007]其中,光處理裝置還包括法蘭盤;法蘭盤固定在盒子的出射孔處,用于與跳線螺紋連接。
      [0008]其中,光處理裝置為積分球。
      [0009]其中,底板的另一端設置有與激光器相適配的凹槽。
      [0010]其中,光譜測試治具還包括:可調節(jié)支撐架,固定于底板的另一端,用于承載激光器,并且用于調節(jié)激光器距離底板的高度。
      [0011 ]其中,一種光譜測試系統(tǒng),其特征在于,包括:光譜儀、光譜測試治具、激光器和跳線;光譜測試治具包括底板和光處理裝置;跳線的一端與光譜儀連接,光處理裝置設置于底板的一端,其中,光處理裝置還設置有入射孔和出射孔,跳線的另一端插接于出射孔;激光器設置于底板的另一端,并且激光器的輸出端插接于入射孔;激光器所輸出的激光從入射孔入射光處理裝置,并且激光經過光處理裝置處理之后,至少部分激光從出射孔出射,其中,從出射孔出射部分激光入射至跳線,并且由跳線傳送至光譜儀,由光譜儀對部分激光進行光譜分析。
      [0012]其中,光處理裝置包括:盒子,盒子的一面設置有入射孔,盒子的另一面設置有出射孔;三棱鏡,三棱鏡設置于盒子內,并且三棱鏡的一面分別與出射孔和入射孔相對應,用于對從輸出端出射的激光進行反射和折射處理,其中,三棱鏡所反射的部分激光從出射孔射出;法蘭盤,法蘭盤固定在盒子的出射孔處,用于與跳線螺紋連接。
      [0013]其中,光處理裝置為積分球。
      [0014]其中,底板的另一端設置有與激光器相適配的凹槽。
      [0015]本發(fā)明實施方式的有益效果是:區(qū)別于現(xiàn)有技術的情況,本發(fā)明將激光器和光處理裝置均設置于底板上,保證光處理裝置和激光器的位置相對固定,而跳線設置于光處理裝置上,激光器所輸出的激光通過光處理裝置轉發(fā)入跳線內,保證了激光器所輸出的激光全部入射至跳線內,保證了跳線所采集到的激光與激光器所輸出的激光差別不大,從而保證了后續(xù)對激光器所輸出的激光進行光譜分析的準確性。另外,通過控制激光器所輸出的激光全部入射至跳線內,可以很好地避免激光落到跳線的周圍,避免跳線的周圍給激光照料造成溫度過高的情況,從而避免軟化跳線的根部。
      【附圖說明】
      [0016]圖1是本發(fā)明光譜測試治具實施例的分解示意圖;
      [0017]圖2是本發(fā)明光譜測試治具實施例的一體示意圖;
      [0018]圖3是本發(fā)明光譜測試治具實施例中的光處理裝置是通過三棱鏡反射激光進入跳線的原理圖;
      [0019]圖4是本發(fā)明光譜測試治具實施例中的光處理裝置是通過積分球反射激光進入跳線的原理圖;
      [0020]圖5是本發(fā)明光譜測試系統(tǒng)實施例的示意圖。
      【具體實施方式】
      [0021]為了便于理解本發(fā)明,下面結合附圖和【具體實施方式】,對本發(fā)明進行更詳細的說明。需要說明的是,當元件被表述“固定于”另一個元件,它可以直接在另一個元件上、或者其間可以存在一個或多個居中的元件。當一個元件被表述“連接”另一個元件,它可以是直接連接到另一個元件、或者其間可以存在一個或多個居中的元件。本說明書所使用的術語“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及類似的表述只是為了說明的目的。
      [0022]除非另有定義,本說明書所使用的所有的技術和科學術語與屬于本發(fā)明的技術領域的技術人員通常理解的含義相同。本說明書中在本發(fā)明的說明書中所使用的術語只是為了描述具體的實施方式的目的,不是用于限制本發(fā)明。本說明書所使用的術語“和/或”包括一個或多個相關的所列項目的任意的和所有的組合。
      [0023]下面結合附圖和實施方式對本發(fā)明進行詳細說明。
      [0024]請參閱圖1和2,光譜測試治具100,包括光處理裝置101和底板105。光處理裝置101設置于底板105—端,底板另一端用于承載激光器106;光處理裝置101設置有入射孔和出射孔,其中,所述出射孔用于插接連接光譜儀的跳線,光處理裝置101的入射孔用于插接所述激光器的輸出端,光處理裝置101對從輸出端出射的激光進行處理,以使所述激光從出射孔出射并且進入所述跳線,值得說明的是:光處理裝置101用于通過對進入的激光進行反射和/或折射處理,實現(xiàn)控制激光從出射孔出射,從而很好地控制激光進入跳線內,避免激光落到跳線以外的位置的。
      [0025]本實施例通過將激光器和光處理裝置均設置于底板上,保證光處理裝置和激光器的位置相對固定,而跳線設置于光處理裝置上,激光器所輸出的激光通過光處理裝置轉發(fā)入跳線內,保證了激光器所輸出的激光全部入射至跳線內,保證了跳線所采集到的激光與激光器所輸出的激光差別不大,從而保證了后續(xù)對激光器所輸出的激光進行光譜分析的準確性。
      [0026]進一步的,光處理裝置101包括:盒子102、三棱鏡104、法蘭盤103和可調節(jié)支撐架107。法蘭盤103固定在盒子102的出射孔處,用于與跳線108螺紋連接,值得說明的是,在其他替代實施例中,沒有法蘭盤可以直接使跳線與盒子連接。三棱鏡104可以是等邊直角三棱鏡、不等邊直角三棱鏡等等,可根據(jù)具體需要進行選擇,三棱鏡104具有反射光和折射光的作用,由于激光器106射出的光比較強,光斑較大,直接打在法蘭盤上會使法蘭盤異常發(fā)熱,會將跳線108的根部軟化導致跳線108失效,而將激光射在三棱鏡104上可以將光反射和折射,這樣反射出的光就會減弱但不會影響光的分析。跳線108的另一端與光譜儀109連接,光譜儀109通過跳線108引入的激光進行檢測??烧{節(jié)支撐架107,固定于底板105的另一端,SP底板105有凹槽的一端,可以很好的卡住可調節(jié)支撐架107??烧{節(jié)支撐架107由長方體表面(圖未示)和兩個可調節(jié)高度的支撐桿(圖未示)組成,其長方體表面的面積和所述底板的凹槽面積一致,在長方形表面的兩側的中央設有“U”形圓柱體,在長方形表面上面固定一塊與之相適配的長方體海綿(圖未示),再用一條皮筋(圖未示)綁在兩個“U”形圓柱體上,這樣無論激光器106是什么形狀、什么大小都可適配,長方體海綿是無論激光器是圓柱體還是方體都能很好的貼在其表面,不會導致激光器106脫離,皮筋具有伸縮性,無論激光器106是什么規(guī)格都可很好的固定,這樣就可以固定住激光器106,防止由于抖動而使激光打偏。
      [0027]由可調節(jié)支撐架107固定在底板105凹槽處的激光器106射出激光,由于事先調節(jié)好可調節(jié)支撐架107的高度,可使激光剛好打在三棱鏡104的中央,三棱鏡104反射出的激光剛好透過法蘭盤103的中央打在跳線108上,跳線108將激光傳輸?shù)焦庾V儀109上,光譜儀109進行檢測,使得光譜測試夾具可以適用于不相同規(guī)格的激光器。當然,在其它替代實施例中,也可以不設置可調節(jié)支撐架107,直接將激光器固定于底板。
      [0028]通過可調節(jié)支撐架控制激光器所輸出的激光全部入射至跳線內,可以很好地避免激光落到跳線的周圍,避免跳線的周圍給激光照料造成溫度過高的情況,從而避免軟化跳線的根部。
      [0029]在另一個實施方式中,本實施例與上一實施方式的不同之處,光處理裝置100包括積分球(圖未示)。積分球是一個內壁涂有白色漫反射材料的空腔球體,又稱光度球,光通球等,球壁上開兩個窗孔,用作入射孔和出射孔,入射孔正對激光器的出射端,出射孔連接跳線,跳線連接光譜儀。積分球里面的漫反射材料也是具有反射光和折射光的作用。
      [0030]在本實施例中,通過激光器和光處理裝置均設置于底板上,保證光處理裝置和激光器的位置相對固定,而跳線設置于光處理裝置上,激光器所輸出的激光通過光處理裝置轉發(fā)入跳線內,保證了激光器所輸出的激光全部入射至跳線內,保證了跳線所采集到的激光與激光器所輸出的激光差別不大,從而保證了后續(xù)對激光器所輸出的激光進行光譜分析的準確性。另外,通過控制激光器所輸出的激光全部入射至跳線內,可以很好地避免激光落到跳線的周圍,避免跳線的周圍給激光照料造成溫度過高的情況,從而避免軟化跳線的根部。
      [0031]請參閱圖5,圖5為一種光譜測試系統(tǒng)的示意圖,光譜測試系統(tǒng)100,包括:光譜儀109,跳線108、底板105、光處理裝置101和激光器107。跳線108,其一端與所述光譜儀109連接。光處理裝置101,設置于所述底板的一端,其中,光處理裝置101還設置有入射孔和出射孔,所述跳線的另一端插接于所述出射孔。激光器107,設置于所述底板的另一端,并且所述激光器的輸出端插接于所述入射孔。激光器107所輸出的激光從入射孔入射所述光處理裝置101,并且激光經過光處理裝置101處理之后,至少部分激光從出射孔出射,其中,從出射孔出射部分激光入射至跳線108,并且由跳線108傳送至光譜儀109,由光譜儀109對部分激光進行光譜分析。
      [0032]進一步的,光處理裝置100包括:盒子102、三棱鏡104和法蘭盤103。盒子102的一面設置有所述入射孔,盒子102的另一面設置有出射孔;三棱鏡104,三棱鏡104設置于盒子102內,并且三棱鏡104的一面分別與出射孔和入射孔相對應,用于對從輸出端出射的激光進行反射和折射處理,其中,三棱鏡104所反射的部分激光從出射孔射出;法蘭盤103,法蘭盤103固定在盒子102的出射孔處,用于與跳線螺紋連接。
      [0033]進一步的,光處理裝置100為積分球(圖未示)。
      [0034]進一步的,底板105的另一端設置有與激光器106相適配的凹槽。
      [0035]需要說明的是:光譜測試系統(tǒng)中的光處理裝置與上述光處理裝置實施例中的光處理裝置的結構和功能均相同,對于光處理裝置的具體功能和結構可參閱上述光處理裝置實施例,此處不再一一贅述。
      [0036]本實施例通過將激光器和光處理裝置均設置于底板上,保證光處理裝置和激光器的位置相對固定,而跳線設置于光處理裝置上,激光器所輸出的激光通過光處理裝置轉發(fā)入跳線內,保證了激光器所輸出的激光全部入射至跳線內,保證了跳線所采集到的激光與激光器所輸出的激光差別不大,從而保證了后續(xù)對激光器所輸出的激光進行光譜分析的準確性。另外,通過控制激光器所輸出的激光全部入射至跳線內,可以很好地避免激光落到跳線的周圍,避免跳線的周圍給激光照料造成溫度過高的情況,從而避免軟化跳線的根部。
      [0037]以上所述僅為本發(fā)明的實施方式,并非因此限制本發(fā)明的專利范圍,凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換,或直接或間接運用在其他相關的技術領域,均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內。
      【主權項】
      1.一種光譜測試治具,包括光處理裝置和底板,其特征在于, 所述光處理裝置設置于所述底板一端,所述底板另一端用于承載激光器; 所述光處理裝置設置有入射孔和出射孔,其中,所述出射孔用于插接連接光譜儀的跳線,所述光處理裝置的入射孔用于插接所述激光器的輸出端,所述光處理裝置對從所述輸出端出射的激光進行處理,以使所述激光從出射孔出射并且進入所述跳線。2.根據(jù)權利要求1所述的光譜測試治具,其特征在于,所述光處理裝置包括: 盒子,所述盒子的一面設置有所述入射孔,所述盒子的另一面設置有出射孔; 三棱鏡,所述三棱鏡設置于所述盒子內,并且所述三棱鏡的一面分別與所述出射孔和入射孔相對應,用于對從所述輸出端出射的激光進行反射和折射處理,其中,所述三棱鏡所反射的部分激光從出射孔射出。3.根據(jù)權利要求2所述的光譜測試治具,其特征在于, 所述光處理裝置還包括法蘭盤; 所述法蘭盤固定在盒子的出射孔處,用于與所述跳線螺紋連接。4.根據(jù)權利要求1所述的光譜測試治具,其特征在于, 所述光處理裝置為積分球。5.根據(jù)權利要求1至4任一項所述的光譜測試治具,其特征在于, 所述底板的另一端設置有與所述激光器相適配的凹槽。6.根據(jù)權利要求1至4任一項所述的光譜測試治具,其特征在于,所述光譜測試治具還包括: 可調節(jié)支撐架,固定于所述底板的另一端,用于承載所述激光器,并且用于調節(jié)所述激光器距離所述底板的高度。7.—種光譜測試系統(tǒng),其特征在于,包括:光譜儀、光譜測試治具、激光器和跳線; 所述光譜測試治具包括底板和光處理裝置; 所述跳線的一端與所述光譜儀連接,所述光處理裝置設置于所述底板的一端,其中,所述光處理裝置還設置有入射孔和出射孔,所述跳線的另一端插接于所述出射孔;所述激光器設置于所述底板的另一端,并且所述激光器的輸出端插接于所述入射孔;所述激光器所輸出的激光從所述入射孔入射所述光處理裝置,并且所述激光經過所述光處理裝置處理之后,至少部分所述激光從所述出射孔出射,其中,從所述出射孔出射部分激光入射至所述跳線,并且由所述跳線傳送至所述光譜儀,由所述光譜儀對所述部分激光進行光譜分析。8.根據(jù)權利要求7所述的光譜測試系統(tǒng),其特征在于,所述光處理裝置包括: 盒子,所述盒子的一面設置有所述入射孔,所述盒子的另一面設置有出射孔; 三棱鏡,所述三棱鏡設置于所述盒子內,并且所述三棱鏡的一面分別與所述出射孔和入射孔相對應,用于對從所述輸出端出射的激光進行反射和折射處理,其中,所述三棱鏡所反射的部分激光從出射孔射出; 法蘭盤,所述法蘭盤固定在盒子的出射孔處,用于與所述跳線螺紋連接。9.根據(jù)權利要求7所述的光譜測試系統(tǒng),其特征在于, 所述光處理裝置為積分球。10.根據(jù)權利要求7所述的光譜測試系統(tǒng),其特征在于,所述底板的另一端設置有與所述激光器相適配的凹槽。
      【文檔編號】G01J3/28GK106017671SQ201610629831
      【公開日】2016年10月12日
      【申請日】2016年8月3日
      【發(fā)明人】聞小波, 陳洪, 蔣峰
      【申請人】深圳市創(chuàng)鑫激光股份有限公司
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