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      一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置的制造方法

      文檔序號:10652126閱讀:499來源:國知局
      一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置的制造方法
      【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置,包括卡座支架和固定支架,所述卡座支架位于固定支架下方,卡座支架的下端設(shè)置有卡座,卡座支架上設(shè)置有緩沖結(jié)構(gòu);卡座支架和固定支架采用支桿結(jié)構(gòu)連接,卡座支架設(shè)置有卡座和緩沖結(jié)構(gòu),解決了容易受被檢工件表面條件影響等問題;支桿連接結(jié)構(gòu)為空心桿結(jié)構(gòu),減輕重量,方便攜帶,并且支桿連接結(jié)構(gòu)使得有足夠的觀察視野;固定支架的豎直支桿可插入所述卡座支架的豎直支桿中并通過卡扣結(jié)構(gòu)固定,可以根據(jù)實際需求調(diào)整裝置高度并且方便攜帶,可重復(fù)利用;固定支架上端設(shè)置有防磨墊,能減輕磁粉檢測儀器和固定支架的碰撞和摩擦,延長磁粉檢測儀器和裝置的使用壽命。
      【專利說明】
      一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置
      技術(shù)領(lǐng)域
      [0001]本發(fā)明涉及檢測靈敏度校驗領(lǐng)域,尤其是涉及一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]磁粉檢測的靈敏度試片用于檢查磁粉檢測設(shè)備、磁粉、磁懸液的綜合性能。在采用磁粉檢測方法對工件進行檢測前,需要使用靈敏度試片對檢測系統(tǒng)靈敏度進行校驗,校驗合格后才能對工件進行檢測。
      [0003]目前,磁粉檢測通常采用DT4A超高純低碳純鐵材質(zhì)的A1-15/50型靈敏度試片對磁粉檢測系統(tǒng)進行校驗。靈敏度試片通常是由一側(cè)刻有一定深度的直線和圓形細槽的薄鐵片制成,如圖1所示。A1-15/50型靈敏度試片是一邊長為20mm、厚度為50um的正方形,以正方形中心為圓心設(shè)置一直徑為1mm的圓形刻槽,以圓心為交點,在圓形刻槽內(nèi)設(shè)置以一邊長為6mm的十字形刻槽,圓形刻槽和十字形刻槽的深度均為15um。使用靈敏度試片對檢測系統(tǒng)靈敏度進行校驗的方法是將試片有刻槽的一面與被檢工件的表面貼緊,然后對工件進行磁化并施加磁粉。如果磁化方法、規(guī)范選擇得當,在試片另一面上應(yīng)能看到與刻槽相對應(yīng)的磁痕顯不O
      [0004]然而,在實際檢測過程中,被檢工件的表面并不能達到標準規(guī)定的條件,甚至?xí)斜砻娲植凇⑿螤畈灰?guī)則、積灰、積渣等情況,如果把現(xiàn)有技術(shù)中公開的靈敏度試片粘貼在這類工件的表面,通常會造成試片不能與工件表面緊密貼合,影響靈敏度校驗的效果;另一方面,現(xiàn)有的方法是使用膠帶紙把試片粘貼在被檢工件表面上,校驗完畢后再把膠帶紙從試片上撕掉,在這過程中,極其容易對薄薄的試片造成破損、折痕等。因此,現(xiàn)有的靈敏度試片在使用過程中操作繁瑣、受被檢工件表面條件影響較大、所使用的膠帶紙不能重復(fù)使用且費時費力,從而給現(xiàn)場檢測的工作人員帶來很大的麻煩。本發(fā)明就是在這種背景下作出的。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005]針對上述問題,本發(fā)明提供了一種受被檢工件表面條件影響較小、方便攜帶以及可重復(fù)使用的用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置。
      [0006]本發(fā)明為解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:
      一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置,包括卡座支架和固定支架,所述卡座支架位于固定支架下方,所述卡座支架的下端設(shè)置有可使試片固定并可使試片與試件貼緊的卡座,所述卡座支架上設(shè)置有能沿豎直方向自由伸縮的緩沖結(jié)構(gòu)。
      [0007]作為上述方案的進一步改進,所述卡座支架和固定支架均為支桿連接結(jié)構(gòu)。
      [0008]作為上述方案的進一步改進,所述卡座支架和固定支架的支桿連接結(jié)構(gòu)均包括有豎直支桿和連接在相鄰豎直支桿之間的水平支桿,所述豎直支桿和水平支桿均為空心桿。
      [0009]作為上述方案的進一步改進,所述固定支架通過一可調(diào)節(jié)式定位結(jié)構(gòu)安裝在所述卡座支架上方。
      [0010]作為上述方案的進一步改進,所述卡座設(shè)置在卡座支架的豎直支桿下端,并可繞其所在的豎直支桿旋轉(zhuǎn)用于方便試片的放置和固定。
      [0011]作為上述方案的進一步改進,所述緩沖結(jié)構(gòu)為內(nèi)部設(shè)置有彈性元件的彈性伸縮結(jié)構(gòu),并且緩沖結(jié)構(gòu)兩端與所述卡座支架的豎直支桿連接。
      [0012]作為上述方案的進一步改進,所述可調(diào)節(jié)式定位結(jié)構(gòu)采用卡扣結(jié)構(gòu),卡扣結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述卡座支架上端,并包括有固定卡口和活動鎖扣,所述固定支架豎直支桿的外徑比所述卡座支架豎直支桿的內(nèi)徑小,所述固定支架的豎直支桿可插入所述卡座支架的豎直支桿中并通過卡扣結(jié)構(gòu)固定。
      [0013]作為上述方案的進一步改進,所述固定支架上端設(shè)置有防磨墊用于減輕磁粉檢測儀器對固定支架的碰撞以及摩擦。
      [0014]作為上述方案的進一步改進,所述空心桿為高強度低密度材料。
      [0015]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明公開了一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置,其卡座支架和固定支架采用支桿結(jié)構(gòu)連接,卡座支架下端設(shè)置有固定試片并使試片與試件保持緊貼的卡座,并在其豎直支桿中部設(shè)置有緩沖結(jié)構(gòu),有效地解決了容易受被檢工件表面條件影響等問題,避免因試件表面情況而造成的靈敏度校驗失敗;
      此外,卡座支架和固定支架設(shè)置成支桿連接結(jié)構(gòu),支桿連接結(jié)構(gòu)為空心桿結(jié)構(gòu),減輕了裝置重量,方便攜帶使用,并且支桿連接結(jié)構(gòu)使得在磁粉檢測靈敏度校驗過程中有足夠的觀察視野,便于快速判斷靈敏度校驗的效果;固定支架通過一可調(diào)節(jié)式定位結(jié)構(gòu)安裝在所述卡座支架上方,可調(diào)節(jié)式定位結(jié)構(gòu)采用卡扣結(jié)構(gòu),固定支架的豎直支桿可插入所述卡座支架的豎直支桿中并通過卡扣結(jié)構(gòu)固定,可以根據(jù)實際需求調(diào)整裝置高度并且方便攜帶,可重復(fù)利用;
      進一步,固定支架上端設(shè)置有防磨墊,因此在操作沉重的磁粉檢測儀器時,能減輕磁粉檢測儀器和固定支架的碰撞和摩擦,延長磁粉檢測儀器和裝置的使用壽命。
      【附圖說明】
      [0016]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案,下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單說明。顯然,所描述的附圖只是本發(fā)明的一部分實施例,而不是全部實施例,本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得的其他設(shè)計方案和附圖:
      圖1是本發(fā)明較佳實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
      【具體實施方式】
      [0017]以下將結(jié)合實施例和附圖對本發(fā)明的構(gòu)思、具體結(jié)構(gòu)及產(chǎn)生的技術(shù)效果進行清楚、完整地描述,以充分地理解本發(fā)明的目的、特征和效果。顯然,所描述的實施例只是本發(fā)明的一部分實施例,而不是全部實施例,基于本發(fā)明的實施例,本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的其他實施例,均屬于本發(fā)明保護的范圍。
      [0018]參照圖1,一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置,包括卡座支架I和固定支架2,所述卡座支架I和固定支架2均為支桿連接結(jié)構(gòu),并且固定支架2位于卡座支架I的上方。優(yōu)選的,所述卡座支架I設(shè)置有四根等長的豎直支桿并在卡座支架I上下端各設(shè)置四根等長的水平支桿,支桿相互連接保證卡座支架I的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性??ㄗЪ躀的每根豎直支桿上端均設(shè)置有一個可調(diào)節(jié)式定位結(jié)構(gòu),優(yōu)選的,所述可調(diào)節(jié)式定位結(jié)構(gòu)為卡扣結(jié)構(gòu)3,所述卡扣結(jié)構(gòu)3包括有固定卡口和活動鎖扣,所述可調(diào)節(jié)式定位結(jié)構(gòu)除設(shè)置成卡扣結(jié)構(gòu)3外,還可設(shè)置成插銷式結(jié)構(gòu)等其它結(jié)構(gòu);卡座支架I的每根豎直支桿中部均設(shè)置有一個能自由伸縮以適應(yīng)不同表面的緩沖結(jié)構(gòu)5,所述緩沖結(jié)構(gòu)5設(shè)置為彈性伸縮結(jié)構(gòu),其內(nèi)部設(shè)置有彈性元件如彈簧,緩沖結(jié)構(gòu)5的伸縮距離為一到三毫米,可以根據(jù)試件的表面結(jié)構(gòu)自由調(diào)節(jié)伸縮距離;卡座支架I的豎直支桿下端設(shè)置有能使試片固定并使試片緊貼于試件的卡座4,所述卡座4可繞其所在的豎直支桿旋轉(zhuǎn)用于方便試片的放置和固定。固定支架2設(shè)置有四根等長的豎直支桿并在其上端設(shè)置有四根等長的水平支桿,每根水平支桿中部均設(shè)置有防磨墊6用于減輕磁粉檢測儀器對固定支架2的碰撞以及摩擦。
      [0019]所述卡座支架I與所述固定支架2通過卡扣結(jié)構(gòu)3連接,
      所述支桿連接結(jié)構(gòu)為空心桿結(jié)構(gòu),所述卡座支架I的豎直支桿內(nèi)徑比固定支架2的豎直支桿外徑大一到兩毫米,形成間隙配合,并且卡座支架I與固定支架2的各自四根豎直支桿
      --對應(yīng)設(shè)置成通過卡扣結(jié)構(gòu)3固定的可伸縮式結(jié)構(gòu),即固定支架2的豎直支桿可插入卡座支架I的豎直支桿中,并可通過卡扣結(jié)構(gòu)3固定調(diào)整合適的高度。
      [0020]本發(fā)明使用時,先擰松每個卡扣結(jié)構(gòu)3的鎖扣,再調(diào)節(jié)固定支架2的高度,使裝置的整體高度比所配合使用的磁粉檢測儀器的探頭高度高一到兩毫米,然后擰緊鎖扣使固定支架2固定。將試片放在卡座4上,旋動卡座4的角度,使試片固定在卡座4上。把裝置放到磁粉檢測儀器下,從磁粉檢測儀器上稍微用力,使試片緊貼試件表面,即可進行磁粉檢測的靈敏度校驗。
      [0021]所述上述實施例是對本發(fā)明的上述內(nèi)容作進一步的說明,但不應(yīng)將此理解為本發(fā)明上述主題的范圍僅限于上述實施例,凡基于上述內(nèi)容所實現(xiàn)的技術(shù)均屬于本發(fā)明的范圍。
      【主權(quán)項】
      1.一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置,其特征在于:包括卡座支架(I)和固定支架(2),所述卡座支架(I)位于固定支架(2)下方,所述卡座支架(I)的下端設(shè)置有可使試片固定并可使試片與試件貼緊的卡座(4),所述卡座支架(I)上設(shè)置有能沿豎直方向自由伸縮的緩沖結(jié)構(gòu)(5)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置,其特征在于:所述卡座支架(I)和固定支架(2)均為支桿連接結(jié)構(gòu)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置,其特征在于:所述卡座支架(I)和固定支架(2)的支桿連接結(jié)構(gòu)均包括有豎直支桿和連接在相鄰豎直支桿之間的水平支桿,所述豎直支桿和水平支桿均為空心桿。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置,其特征在于:所述固定支架(2)通過一可調(diào)節(jié)式定位結(jié)構(gòu)安裝在所述卡座支架(I)上方。5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置,其特征在于:所述卡座(4)設(shè)置在卡座支架(I)的豎直支桿下端,并可繞其所在的豎直支桿旋轉(zhuǎn)用于方便試片的放置和固定。6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置,其特征在于:所述緩沖結(jié)構(gòu)(5)為內(nèi)部設(shè)置有彈性元件的彈性伸縮結(jié)構(gòu),并且緩沖結(jié)構(gòu)(5)兩端與所述卡座支架(I)的豎直支桿連接。7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置,其特征在于:所述可調(diào)節(jié)式定位結(jié)構(gòu)采用卡扣結(jié)構(gòu)(3),卡扣結(jié)構(gòu)(3)設(shè)置在所述卡座支架(I)上端,并包括有固定卡口和活動鎖扣,所述固定支架(2)豎直支桿的外徑比所述卡座支架(I)豎直支桿的內(nèi)徑小,所述固定支架(2 )的豎直支桿可插入所述卡座支架(I)的豎直支桿中并通過卡扣結(jié)構(gòu)(3)固定。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置,其特征在于:所述固定支架(2)上端設(shè)置有防磨墊(6)用于減輕磁粉檢測儀器對固定支架(2)的碰撞以及摩擦。9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于磁粉檢測靈敏度校驗的試片輔助裝置,其特征在于:所述空心桿為高強度低密度材料。
      【文檔編號】G01N27/84GK106018546SQ201610547480
      【公開日】2016年10月12日
      【申請日】2016年7月11日
      【發(fā)明人】楊新健, 黃桂林, 馬志堅, 羅匯果
      【申請人】廣東省特種設(shè)備檢測研究院珠海檢測院
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