一種臺(tái)階電路板的測(cè)試方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種臺(tái)階電路板的測(cè)試方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)臺(tái)階電路板的槽內(nèi)線(xiàn)路需要全手工測(cè)試，耗時(shí)長(zhǎng)且測(cè)試結(jié)果不可靠的問(wèn)題。本發(fā)明一些實(shí)施方式中，方法可包括：生成測(cè)試圖形，其中，在第一線(xiàn)路圖形中補(bǔ)充槽內(nèi)線(xiàn)路圖形，并添加第一線(xiàn)路與槽內(nèi)線(xiàn)路的連接關(guān)系；創(chuàng)建測(cè)試點(diǎn)，測(cè)試點(diǎn)包括：位于第一面的第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，位于第二面的第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，以及，位于臺(tái)階槽內(nèi)的第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，其中，第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)中還包括有與第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)連接的連接測(cè)試點(diǎn)；由飛針測(cè)試設(shè)備分段測(cè)試，其中，在第一段測(cè)試中測(cè)試第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，在第二段測(cè)試中測(cè)試位于第一面的臺(tái)階槽內(nèi)的第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和位于第二面的連接測(cè)試點(diǎn)。
【專(zhuān)利說(shuō)明】
一種臺(tái)階電路板的測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及電路板技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種臺(tái)階電路板的測(cè)試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，PCB (Printed Circuit Board，印制電路板，簡(jiǎn)稱(chēng)電路板)行業(yè)正在高速發(fā)展，產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)也越來(lái)越多樣化。其中臺(tái)階電路板的數(shù)量是日趨增多。臺(tái)階電路板是指表面具有臺(tái)階槽的電路板。臺(tái)階槽一般是利用控深銑設(shè)備在電路板表面進(jìn)行控深銑加工而成的，通常是具有一定深度的凹槽。其中一部分臺(tái)階電路板的臺(tái)階槽內(nèi)還具有槽內(nèi)線(xiàn)路。
[0003]—般的，電路板加工完畢后，需要對(duì)電路板上的線(xiàn)路進(jìn)行電性能測(cè)試，以確保電路板線(xiàn)路及質(zhì)量滿(mǎn)足客戶(hù)要求。常用的測(cè)試方法有兩種:
[0004]—種是利用通用測(cè)試設(shè)備配合通用測(cè)試夾具，通用測(cè)試夾具一般包括兩個(gè)測(cè)試面板，每個(gè)測(cè)試面板上具有很多個(gè)密集的測(cè)試針，各個(gè)測(cè)試針都連接通用測(cè)試設(shè)備。將兩個(gè)測(cè)試面板上的測(cè)試針?lè)謩e作用到電路板的兩面，使得各個(gè)測(cè)試針接觸到電路板表面線(xiàn)路的各個(gè)部位，根據(jù)設(shè)計(jì)圖形給不同的測(cè)試針施加信號(hào)并接收其它測(cè)試針的反饋信號(hào)，來(lái)測(cè)試電路板表面線(xiàn)路的連通情況。
[0005]另一種是利用飛針測(cè)試設(shè)備來(lái)測(cè)試。飛針測(cè)試設(shè)備具有至少兩個(gè)飛針刀片，一般可以是四個(gè)或八個(gè)或更多個(gè)，飛針刀片可被控制在一定范圍內(nèi)移動(dòng)。控制不同的飛針刀片作用于電路板表面線(xiàn)路的不同部位，根據(jù)設(shè)計(jì)圖形給不同的測(cè)試針施加信號(hào)并接收其它測(cè)試針的反饋信號(hào)，來(lái)測(cè)試電路板表面線(xiàn)路的連通情況。
[0006]上述兩種測(cè)試方法，可以對(duì)電路板的表面線(xiàn)路進(jìn)行測(cè)試。但是，對(duì)于臺(tái)階電路板，由于槽內(nèi)線(xiàn)路與表面線(xiàn)路位于不同的層次，上述兩種測(cè)試方法受限于圖形資料識(shí)別能力和測(cè)試設(shè)備能力，無(wú)法實(shí)現(xiàn)對(duì)槽內(nèi)線(xiàn)路的測(cè)試。
[0007]目前，對(duì)于臺(tái)階電路板，只能采用全手工方式，將槽內(nèi)線(xiàn)路的焊盤(pán)等測(cè)試點(diǎn)標(biāo)記出來(lái)，依次對(duì)槽內(nèi)線(xiàn)路的每一個(gè)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行手工測(cè)試。這種全手工測(cè)試方式，耗時(shí)很長(zhǎng)(一般要數(shù)個(gè)小時(shí))，且容易遺漏測(cè)試點(diǎn)，測(cè)試結(jié)果不可靠。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明實(shí)施例提供一種臺(tái)階電路板的測(cè)試方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)臺(tái)階電路板的槽內(nèi)線(xiàn)路需要全手工測(cè)試，耗時(shí)長(zhǎng)且測(cè)試結(jié)果不可靠的問(wèn)題。
[0009]本發(fā)明第一方面提供一種臺(tái)階電路板的測(cè)試方法，所述臺(tái)階電路板具有第一面以及與所述第一面相對(duì)的第二面，所述臺(tái)階電路板還具有形成在所述第一面的臺(tái)階槽，所述第一面具有第一線(xiàn)路，所述第二面具有第二線(xiàn)路，所述臺(tái)階槽內(nèi)具有槽內(nèi)線(xiàn)路；所述方法包括:
[0010]獲取分別對(duì)應(yīng)于所述第一線(xiàn)路和所述第二線(xiàn)路以及所述槽內(nèi)線(xiàn)路的第一線(xiàn)路圖形和第二線(xiàn)路圖形以及槽內(nèi)線(xiàn)路圖形；
[0011]生成測(cè)試圖形，其中，在所述第一線(xiàn)路圖形中補(bǔ)充所述槽內(nèi)線(xiàn)路圖形，并添加所述第一線(xiàn)路與所述槽內(nèi)線(xiàn)路的連接關(guān)系，得到第一測(cè)試圖形，以及，將所述第二線(xiàn)路圖形作為第二測(cè)試圖形；
[0012]分別在所述第一和第二測(cè)試圖形中創(chuàng)建測(cè)試點(diǎn)，所述測(cè)試點(diǎn)包括:位于所述第一面的第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，位于所述第二面的第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，以及，位于所述臺(tái)階槽內(nèi)的第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，其中，所述第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)中還包括有連接測(cè)試點(diǎn)，所述連接測(cè)試點(diǎn)與所述第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)連接；
[0013]由飛針測(cè)試設(shè)備根據(jù)所述第一和第二測(cè)試圖形進(jìn)行分段測(cè)試，其中，在第一段測(cè)試中測(cè)試位于所述第一面的所述第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和位于所述第二面的所述第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，在第二段測(cè)試中測(cè)試位于所述第一面的臺(tái)階槽內(nèi)的所述第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和位于所述第二面的所述連接測(cè)試點(diǎn)。
[0014]本發(fā)明第二方面提供另一種臺(tái)階電路板的測(cè)試方法，所述臺(tái)階電路板具有第一面以及與所述第一面相對(duì)的第二面，所述臺(tái)階電路板還具有形成在所述第一面的臺(tái)階槽，所述第一面具有第一線(xiàn)路，所述第二面具有第二線(xiàn)路，所述臺(tái)階槽內(nèi)具有槽內(nèi)線(xiàn)路；所述方法包括:
[0015]獲取分別對(duì)應(yīng)于所述第一線(xiàn)路和所述第二線(xiàn)路以及所述槽內(nèi)線(xiàn)路的第一線(xiàn)路圖形和第二線(xiàn)路圖形以及槽內(nèi)線(xiàn)路圖形；
[0016]生成測(cè)試圖形，其中，在所述第一線(xiàn)路圖形中補(bǔ)充所述槽內(nèi)線(xiàn)路圖形，并添加所述第一線(xiàn)路與所述槽內(nèi)線(xiàn)路的連接關(guān)系，得到第一測(cè)試圖形，以及，將所述第二線(xiàn)路圖形作為所述第二測(cè)試圖形；
[0017]在所述測(cè)試圖形中創(chuàng)建測(cè)試點(diǎn)，所述測(cè)試點(diǎn)包括:位于所述第一面的第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，位于所述第二面的第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，以及，位于所述臺(tái)階槽內(nèi)的第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)；
[0018]提供通用測(cè)試夾具，所述通用測(cè)試夾具包括用于測(cè)試所述第一面的第一組測(cè)試針，和用于測(cè)試所述第二面的第二組測(cè)試針，所述第一組測(cè)試針包括用于測(cè)試所述第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)的第一類(lèi)測(cè)試針，和用于測(cè)試所述第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)的第三類(lèi)測(cè)試針，其中，所述第三類(lèi)測(cè)試針的長(zhǎng)度d3 = dl+dO，dl是所述第一類(lèi)測(cè)試針的長(zhǎng)度，dO是所述臺(tái)階槽的深度；
[0019]將所述第一組測(cè)試針和所述第二組測(cè)試針?lè)謩e作用于所述臺(tái)階電路板的第一面和第二面，且所述第一組測(cè)試針和所述第二組測(cè)試針與通用測(cè)試設(shè)備連接，由所述通用測(cè)試設(shè)備根據(jù)所述測(cè)試圖形對(duì)所述臺(tái)階電路板進(jìn)行測(cè)試。
[0020]由上可見(jiàn)，本發(fā)明一些實(shí)施方式中，采用預(yù)先將臺(tái)階電路板的槽內(nèi)圖形補(bǔ)充到表面的第一線(xiàn)路圖形中并添加連接關(guān)系，生成第一測(cè)試圖形，將臺(tái)階電路板另一表面的第二線(xiàn)路圖形作為第二測(cè)試圖形，后續(xù)由飛針測(cè)試設(shè)備根據(jù)第一和第二測(cè)試圖形進(jìn)行分段測(cè)試，將第一線(xiàn)路圖形上的第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和槽內(nèi)圖形上的第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)分別在不同段測(cè)試的技術(shù)方案，取得了以下技術(shù)效果:對(duì)于臺(tái)階電路板的槽內(nèi)線(xiàn)路，以自動(dòng)測(cè)試取代了全手工測(cè)試，有效的提高了測(cè)試效率，可以避免遺漏測(cè)試點(diǎn)等問(wèn)題，測(cè)試可靠性較高，解決了現(xiàn)有技術(shù)中需要全手工測(cè)試，耗時(shí)長(zhǎng)且測(cè)試結(jié)果不可靠的問(wèn)題。
[0021]由上可見(jiàn)，本發(fā)明另一些實(shí)施方式中，采用預(yù)先將臺(tái)階電路板的槽內(nèi)圖形補(bǔ)充到表面的第一線(xiàn)路圖形中并添加連接關(guān)系，生成第一測(cè)試圖形，將臺(tái)階電路板另一表面的第二線(xiàn)路圖形作為第二測(cè)試圖形，提供相應(yīng)的通用測(cè)試夾具，對(duì)于槽內(nèi)線(xiàn)路采用較長(zhǎng)的測(cè)試針，然后由通用測(cè)試設(shè)備配合通用測(cè)試夾具對(duì)臺(tái)階電路板兩面的第一和第二線(xiàn)路及槽內(nèi)線(xiàn)路一次測(cè)試完成的技術(shù)方案，取得了以下技術(shù)效果:對(duì)于臺(tái)階電路板的槽內(nèi)線(xiàn)路，以自動(dòng)測(cè)試取代了全手工測(cè)試，有效的提高了測(cè)試效率，可以避免遺漏測(cè)試點(diǎn)等問(wèn)題，測(cè)試可靠性較高，解決了現(xiàn)有技術(shù)中需要全手工測(cè)試，耗時(shí)長(zhǎng)且測(cè)試結(jié)果不可靠的問(wèn)題。
【附圖說(shuō)明】
[0022]為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例和現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。
[0023]圖1是本發(fā)明實(shí)施例中臺(tái)階電路板的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0024]圖2a是本發(fā)明實(shí)施例中臺(tái)階電路板的測(cè)試方法的流程圖；
[0025]圖2b是本發(fā)明實(shí)施例中臺(tái)階電路板的測(cè)試方法的流程圖；
[0026]圖3a是本發(fā)明實(shí)施例中第一線(xiàn)路圖形的示意圖；
[0027]圖3b是本發(fā)明實(shí)施例中控深銑在板內(nèi)圖形位置的示意圖；
[0028]圖3c是本發(fā)明實(shí)施例中臺(tái)階槽槽底所在層次的線(xiàn)路圖形的示意圖；
[0029]圖4是本發(fā)明實(shí)施例中通用測(cè)試夾具的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0030]本發(fā)明實(shí)施例提供一種臺(tái)階電路板的測(cè)試方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)臺(tái)階電路板的槽內(nèi)線(xiàn)路需要全手工測(cè)試，耗時(shí)長(zhǎng)且測(cè)試結(jié)果不可靠的問(wèn)題。
[0031]為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分的實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都應(yīng)當(dāng)屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0032]下面通過(guò)具體實(shí)施例，分別進(jìn)行詳細(xì)的說(shuō)明。
[0033]實(shí)施例一、
[0034]請(qǐng)參考圖1和圖2，本發(fā)明實(shí)施例提供一種臺(tái)階電路板的測(cè)試方法。
[0035]如圖1所示，臺(tái)階電路板100具有第一面以及與第一面相對(duì)的第二面，臺(tái)階電路板還具有形成在第一面的臺(tái)階槽110，其中，第一面具有第一線(xiàn)路，第二面具有第二線(xiàn)路，臺(tái)階槽內(nèi)具有槽內(nèi)線(xiàn)路。
[0036]如圖2a所示，本發(fā)明實(shí)施例方法可包括:
[0037]201、獲取分別對(duì)應(yīng)于第一線(xiàn)路和第二線(xiàn)路以及槽內(nèi)線(xiàn)路的第一線(xiàn)路圖形和第二線(xiàn)路圖形以及槽內(nèi)線(xiàn)路圖形。
[0038]臺(tái)階電路板的加工是依賴(lài)設(shè)計(jì)圖形完成的，后續(xù)的測(cè)試也依賴(lài)于設(shè)計(jì)圖形進(jìn)行。測(cè)試之前，首先需要獲取臺(tái)階電路板對(duì)應(yīng)的線(xiàn)路圖形，包括:對(duì)應(yīng)于第一線(xiàn)路的第一線(xiàn)路圖形，對(duì)應(yīng)于第二線(xiàn)路的第二線(xiàn)路圖形，以及，對(duì)應(yīng)于槽內(nèi)線(xiàn)路的槽內(nèi)線(xiàn)路圖形。
[0039]—般的，臺(tái)階電路板具有很多層，例如六層或八層或更多層等。其中，第一線(xiàn)路圖形和第二線(xiàn)路圖形，分別對(duì)應(yīng)于第一層和最后一層。而臺(tái)階槽的槽內(nèi)線(xiàn)路一般屬于中間的某一層。本發(fā)明實(shí)施例中，可以根據(jù)臺(tái)階槽的控深銑要求，從臺(tái)階電路板的所有層次線(xiàn)路圖形中獲取臺(tái)階槽底面所在層次的線(xiàn)路圖形；從臺(tái)階槽底面所在層次的線(xiàn)路圖形中，獲取槽內(nèi)線(xiàn)路圖形。
[0040]本步驟獲取線(xiàn)路圖形的操作，可以在控制設(shè)備，例如一臺(tái)微處理計(jì)算機(jī)中實(shí)現(xiàn)。該控制設(shè)備可以集成在通用測(cè)試設(shè)備或飛針測(cè)試設(shè)備中，或者，也可以是獨(dú)立的控制設(shè)備。該控制設(shè)備還可以是控深銑設(shè)備的控制設(shè)備。
[0041]一些實(shí)施例中，首先可以將臺(tái)階電路板的所有線(xiàn)路圖形資料導(dǎo)入到控制設(shè)備的資料編輯軟件中，例如，臺(tái)階電路板第一面的第一線(xiàn)路圖形可以如圖3a所示；然后，可以打開(kāi)控深銑程序，找到控深銑在板內(nèi)圖形位置，如圖3b所示；然后，可以提取控深銑的臺(tái)階槽槽底所在層次的線(xiàn)路圖形，如圖3c所示；最后，臺(tái)階槽底面所在層次的線(xiàn)路圖形中，獲取槽內(nèi)線(xiàn)路圖形。
[0042]202、生成測(cè)試圖形，其中，在第一線(xiàn)路圖形中補(bǔ)充槽內(nèi)線(xiàn)路圖形，并添加第一線(xiàn)路與槽內(nèi)線(xiàn)路的連接關(guān)系，得到第一測(cè)試圖形，以及，將第二線(xiàn)路圖形作為第二測(cè)試圖形。
[0043]現(xiàn)有技術(shù)中，一般直接根據(jù)設(shè)計(jì)圖形，對(duì)臺(tái)階電路板進(jìn)行測(cè)試，由于表面線(xiàn)路圖形和槽內(nèi)線(xiàn)路圖形不在同一層次或者說(shuō)不在同一平面，因此，無(wú)法同時(shí)完成對(duì)槽內(nèi)線(xiàn)路圖形的測(cè)試。
[0044]本發(fā)明實(shí)施例中，不再直接根據(jù)設(shè)計(jì)圖形進(jìn)行測(cè)試，而是，將設(shè)計(jì)圖形編輯成為測(cè)試圖形，以便后續(xù)按照測(cè)試圖形進(jìn)行測(cè)試。生成的測(cè)試圖形可包括:在第一線(xiàn)路圖形中補(bǔ)充槽內(nèi)線(xiàn)路圖形，并添加第一線(xiàn)路與槽內(nèi)線(xiàn)路的連接關(guān)系，得到的第一測(cè)試圖形；另外，可以直接將第二線(xiàn)路圖形作為第二測(cè)試圖形。
[0045]生成測(cè)試圖形的步驟，可以在控制設(shè)備中完成，操作人員將槽內(nèi)圖形補(bǔ)充到第一線(xiàn)路圖形中的對(duì)應(yīng)位置以后，可以操作資料編輯軟件中的軟件工具，繪制第一線(xiàn)路圖形與槽內(nèi)線(xiàn)路圖形的連接線(xiàn)路，完成連接關(guān)系的添加。
[0046]可選的，在生成測(cè)試圖形步驟中，可以預(yù)先判斷槽內(nèi)線(xiàn)路圖形是否滿(mǎn)足創(chuàng)建測(cè)試點(diǎn)的要求，若滿(mǎn)足，在第一線(xiàn)路圖形中補(bǔ)充槽內(nèi)線(xiàn)路圖形，并添加第一線(xiàn)路與槽內(nèi)線(xiàn)路的連接關(guān)系，得到第一測(cè)試圖形。其中，測(cè)試點(diǎn)是指后續(xù)具體用于測(cè)試的位置，一般可對(duì)應(yīng)于連接焊盤(pán)等。
[0047]203、分別在第一和第二測(cè)試圖形中創(chuàng)建測(cè)試點(diǎn)，測(cè)試點(diǎn)包括:位于第一面的第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，位于第二面的第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，以及，位于臺(tái)階槽內(nèi)的第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)。
[0048]其中，可選的，第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)中還包括有連接測(cè)試點(diǎn)，連接測(cè)試點(diǎn)與第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)連接。
[0049]本步驟中，在第一測(cè)試圖形和第二測(cè)試圖形中創(chuàng)建測(cè)試點(diǎn)，以指導(dǎo)通用測(cè)試設(shè)備或飛針測(cè)試設(shè)備按照第一測(cè)試圖形和第二測(cè)試圖形中創(chuàng)建的測(cè)試點(diǎn)，具體進(jìn)行測(cè)試。創(chuàng)建的測(cè)試點(diǎn)可包括以下幾類(lèi):位于臺(tái)階電路板第一面的第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，位于第二面的第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，以及，位于臺(tái)階槽內(nèi)的第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，其中，第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)中還可以包括有連接測(cè)試點(diǎn)，連接測(cè)試點(diǎn)與第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)連接。
[0050]生成測(cè)試圖形和創(chuàng)建完測(cè)試點(diǎn)之后，就可以進(jìn)行測(cè)試了。本發(fā)明實(shí)施例中，可以采用通用測(cè)試設(shè)備或者飛針測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。
[0051]一種實(shí)施方式中，具體采用飛針測(cè)試設(shè)備，則，步驟203之后，還可包括:
[0052]204、由飛針測(cè)試設(shè)備根據(jù)第一和第二測(cè)試圖形進(jìn)行分段測(cè)試，其中，在第一段測(cè)試中測(cè)試位于第一面的第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和位于第二面的第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，在第二段測(cè)試中測(cè)試位于第一面的臺(tái)階槽內(nèi)的第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和位于第二面的連接測(cè)試點(diǎn)。
[0053]由于第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)以及第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)分別位于三個(gè)平面上，采用飛針測(cè)試設(shè)備不能一次完成測(cè)試，因此，本實(shí)施例中，采用分段測(cè)試，具體的，分為兩段測(cè)試。第一段測(cè)試中，測(cè)試第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，該段測(cè)試與常規(guī)的飛針測(cè)試方法相同。第二段測(cè)試中，測(cè)試第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和連接測(cè)試點(diǎn)，第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和連接測(cè)試點(diǎn)分別位于兩個(gè)平面中，可以在一次飛針測(cè)試中完成。
[0054]一般的，飛針測(cè)試設(shè)備包括至少兩個(gè)分針刀片，具體測(cè)試過(guò)程可以包括:依次將至少兩個(gè)分針刀片作用于第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，進(jìn)行第一段測(cè)試；然后，依次將至少兩個(gè)分針刀片作用于第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和連接測(cè)試點(diǎn)，進(jìn)行第二段測(cè)試。
[0055]需要說(shuō)明的是，本實(shí)施例中飛針?lè)侄螠y(cè)試方法，適用于第一面臺(tái)階槽中的槽內(nèi)線(xiàn)路與第二面的第二線(xiàn)路有連接(例如通過(guò)過(guò)孔)的情況，如果，槽內(nèi)線(xiàn)路與第二線(xiàn)路無(wú)連接，則可以采用其他測(cè)試方式。
[0056]一種實(shí)施方式中，具體采用通用測(cè)試設(shè)備，則，如圖2b所示，步驟203之后，還可包括:
[0057]205、提供通用測(cè)試夾具，通用測(cè)試夾具包括用于測(cè)試第一面的第一組測(cè)試針，和用于測(cè)試第二面的第二組測(cè)試針，第一組測(cè)試針包括用于測(cè)試第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)的第一類(lèi)測(cè)試針，和用于測(cè)試第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)的第三類(lèi)測(cè)試針，其中，第三類(lèi)測(cè)試針的長(zhǎng)度d3 = dl+dO，dl是第一類(lèi)測(cè)試針的長(zhǎng)度，dO是臺(tái)階槽的深度。
[0058]通用測(cè)試設(shè)備需要配合通用測(cè)試夾具。如圖4所示，通用測(cè)試夾具300的測(cè)試架310上安裝有測(cè)試針320，本實(shí)施例中，測(cè)試針可包括:用于測(cè)試臺(tái)階電路板100的第一面的第一組測(cè)試針，和用于測(cè)試臺(tái)階電路板100的第二面的第二組測(cè)試針。圖4中僅示出了第一組測(cè)試針。第一組測(cè)試針具體可包括:用于測(cè)試第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)的第一類(lèi)測(cè)試針3201，和用于測(cè)試第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)的第三類(lèi)測(cè)試針3203，其中，第三類(lèi)測(cè)試針的長(zhǎng)度d3 = dl+dO，dl是第一類(lèi)測(cè)試針3201的長(zhǎng)度，dO是臺(tái)階電路板100上的臺(tái)階槽110的深度。
[0059]與常用的通用測(cè)試夾具相比，本發(fā)明實(shí)施例中的通用測(cè)試夾具，需要根據(jù)需要將其中的部分標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的測(cè)試針更換為長(zhǎng)度較長(zhǎng)的測(cè)試針。例如，標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試針的長(zhǎng)度可以是95.25_，所增加的長(zhǎng)度等于臺(tái)階槽的深度，例如可以是3_或者其它尺寸。
[0060]206、將第一組測(cè)試針和第二組測(cè)試針?lè)謩e作用于臺(tái)階電路板的第一面和第二面，且第一組測(cè)試針和第二組測(cè)試針與通用測(cè)試設(shè)備連接，由通用測(cè)試設(shè)備根據(jù)測(cè)試圖形對(duì)臺(tái)階電路板進(jìn)行測(cè)試。
[0061]通用測(cè)試夾具上的各個(gè)測(cè)試針是與通用測(cè)試設(shè)備相連的，可以將通用測(cè)試設(shè)備施加的信號(hào)傳遞到臺(tái)階電路板的測(cè)試點(diǎn)上。測(cè)試時(shí)，如圖4所示，可以將臺(tái)階電路板100固定在通用測(cè)試夾具300中，使得第一組測(cè)試針和第二組測(cè)試針?lè)謩e作用于臺(tái)階電路板100的第一面和第二面，由通用測(cè)試設(shè)備根據(jù)測(cè)試圖形對(duì)臺(tái)階電路板進(jìn)行測(cè)試。具體的，可根據(jù)測(cè)試圖形給不同的測(cè)試針施加信號(hào)并接收其它測(cè)試針的反饋信號(hào)，來(lái)測(cè)試臺(tái)階電路板上線(xiàn)路的連通情況。
[0062]由上可見(jiàn)，本發(fā)明實(shí)施例公開(kāi)了一種臺(tái)階電路板的測(cè)試方法。
[0063]其中一些實(shí)施方式中，采用預(yù)先將臺(tái)階電路板的槽內(nèi)圖形補(bǔ)充到表面的第一線(xiàn)路圖形中并添加連接關(guān)系，生成第一測(cè)試圖形，將臺(tái)階電路板另一表面的第二線(xiàn)路圖形作為第二測(cè)試圖形，后續(xù)由飛針測(cè)試設(shè)備根據(jù)第一和第二測(cè)試圖形進(jìn)行分段測(cè)試，將第一線(xiàn)路圖形上的第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和槽內(nèi)圖形上的第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)分別在不同段測(cè)試的技術(shù)方案。
[0064]取得了以下技術(shù)效果:
[0065]對(duì)于臺(tái)階電路板的槽內(nèi)線(xiàn)路，以自動(dòng)測(cè)試取代了全手工測(cè)試，有效的提高了測(cè)試效率，可以避免遺漏測(cè)試點(diǎn)等問(wèn)題，測(cè)試可靠性較高，解決了現(xiàn)有技術(shù)中需要全手工測(cè)試，耗時(shí)長(zhǎng)且測(cè)試結(jié)果不可靠的問(wèn)題。
[0066]另一些實(shí)施方式中，采用預(yù)先將臺(tái)階電路板的槽內(nèi)圖形補(bǔ)充到表面的第一線(xiàn)路圖形中并添加連接關(guān)系，生成第一測(cè)試圖形，將臺(tái)階電路板另一表面的第二線(xiàn)路圖形作為第二測(cè)試圖形，提供相應(yīng)的通用測(cè)試夾具，對(duì)于槽內(nèi)線(xiàn)路采用較長(zhǎng)的測(cè)試針，然后由通用測(cè)試設(shè)備配合通用測(cè)試夾具對(duì)臺(tái)階電路板兩面的第一和第二線(xiàn)路及槽內(nèi)線(xiàn)路一次測(cè)試完成的技術(shù)方案。
[0067]取得了以下技術(shù)效果:
[0068]對(duì)于臺(tái)階電路板的槽內(nèi)線(xiàn)路，以自動(dòng)測(cè)試取代了全手工測(cè)試，有效的提高了測(cè)試效率，可以避免遺漏測(cè)試點(diǎn)等問(wèn)題，測(cè)試可靠性較高，解決了現(xiàn)有技術(shù)中需要全手工測(cè)試，耗時(shí)長(zhǎng)且測(cè)試結(jié)果不可靠的問(wèn)題。
[0069]在上述實(shí)施例中，對(duì)各個(gè)實(shí)施例的描述都各有側(cè)重，某個(gè)實(shí)施例中沒(méi)有詳細(xì)描述的部分，可以參見(jiàn)其它實(shí)施例的相關(guān)描述。
[0070]需要說(shuō)明的是，對(duì)于前述的各方法實(shí)施例，為了簡(jiǎn)單描述，故將其都表述為一系列的動(dòng)作組合，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該知悉，本發(fā)明并不受所描述動(dòng)作順序的限制，因?yàn)橐罁?jù)本發(fā)明，某些步驟可以采用其它順序或者同時(shí)進(jìn)行。其次，本領(lǐng)域技術(shù)人員也應(yīng)該知悉，說(shuō)明書(shū)中所描述的實(shí)施例均屬于優(yōu)選實(shí)施例，所涉及的動(dòng)作和模塊并不一定是本發(fā)明所必須的。
[0071]以上對(duì)本發(fā)明實(shí)施例所提供的臺(tái)階電路板的測(cè)試方法進(jìn)行了詳細(xì)介紹，但以上實(shí)施例的說(shuō)明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想，不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明的思想，在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種臺(tái)階電路板的測(cè)試方法，其特征在于，所述臺(tái)階電路板具有第一面以及與所述第一面相對(duì)的第二面，所述臺(tái)階電路板還具有形成在所述第一面的臺(tái)階槽，所述第一面具有第一線(xiàn)路，所述第二面具有第二線(xiàn)路，所述臺(tái)階槽內(nèi)具有槽內(nèi)線(xiàn)路；所述方法包括: 獲取分別對(duì)應(yīng)于所述第一線(xiàn)路和所述第二線(xiàn)路以及所述槽內(nèi)線(xiàn)路的第一線(xiàn)路圖形和第二線(xiàn)路圖形以及槽內(nèi)線(xiàn)路圖形； 生成測(cè)試圖形，其中，在所述第一線(xiàn)路圖形中補(bǔ)充所述槽內(nèi)線(xiàn)路圖形，并添加所述第一線(xiàn)路與所述槽內(nèi)線(xiàn)路的連接關(guān)系，得到第一測(cè)試圖形，以及，將所述第二線(xiàn)路圖形作為第二測(cè)試圖形； 分別在所述第一和第二測(cè)試圖形中創(chuàng)建測(cè)試點(diǎn)，所述測(cè)試點(diǎn)包括:位于所述第一面的第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，位于所述第二面的第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，以及，位于所述臺(tái)階槽內(nèi)的第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，其中，所述第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)中還包括有連接測(cè)試點(diǎn)，所述連接測(cè)試點(diǎn)與所述第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)連接； 由飛針測(cè)試設(shè)備根據(jù)所述第一和第二測(cè)試圖形進(jìn)行分段測(cè)試，其中，在第一段測(cè)試中測(cè)試位于所述第一面的所述第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和位于所述第二面的所述第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，在第二段測(cè)試中測(cè)試位于所述第一面的臺(tái)階槽內(nèi)的所述第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和位于所述第二面的所述連接測(cè)試點(diǎn)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取分別對(duì)應(yīng)于所述第一線(xiàn)路和所述第二線(xiàn)路以及所述槽內(nèi)線(xiàn)路的第一線(xiàn)路圖形和第二線(xiàn)路圖形以及槽內(nèi)線(xiàn)路圖形包括: 根據(jù)所述臺(tái)階槽的控深銑要求，從所述臺(tái)階電路板的所有層次線(xiàn)路圖形中獲取所述臺(tái)階槽底面所在層次的線(xiàn)路圖形； 從所述臺(tái)階槽底面所在層次的線(xiàn)路圖形中，獲取所述槽內(nèi)線(xiàn)路圖形。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述生成測(cè)試圖形包括: 判斷所述槽內(nèi)線(xiàn)路圖形是否滿(mǎn)足創(chuàng)建測(cè)試點(diǎn)的要求，若滿(mǎn)足，在所述第一線(xiàn)路圖形中補(bǔ)充所述槽內(nèi)線(xiàn)路圖形，并添加所述第一線(xiàn)路與所述槽內(nèi)線(xiàn)路的連接關(guān)系，得到第一測(cè)試圖形。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述飛針測(cè)試設(shè)備包括至少兩個(gè)分針刀片，所述由飛針測(cè)試設(shè)備根據(jù)所述第一和第二測(cè)試圖形進(jìn)行分段測(cè)試包括: 依次將所述至少兩個(gè)分針刀片作用于所述第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和所述第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，進(jìn)行第一段測(cè)試； 依次將所述至少兩個(gè)分針刀片作用于所述第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)和所述連接測(cè)試點(diǎn)，進(jìn)行第二段測(cè)試。5.一種臺(tái)階電路板的測(cè)試方法，其特征在于，所述臺(tái)階電路板具有第一面以及與所述第一面相對(duì)的第二面，所述臺(tái)階電路板還具有形成在所述第一面的臺(tái)階槽，所述第一面具有第一線(xiàn)路，所述第二面具有第二線(xiàn)路，所述臺(tái)階槽內(nèi)具有槽內(nèi)線(xiàn)路；所述方法包括: 獲取分別對(duì)應(yīng)于所述第一線(xiàn)路和所述第二線(xiàn)路以及所述槽內(nèi)線(xiàn)路的第一線(xiàn)路圖形和第二線(xiàn)路圖形以及槽內(nèi)線(xiàn)路圖形； 生成測(cè)試圖形，其中，在所述第一線(xiàn)路圖形中補(bǔ)充所述槽內(nèi)線(xiàn)路圖形，并添加所述第一線(xiàn)路與所述槽內(nèi)線(xiàn)路的連接關(guān)系，得到第一測(cè)試圖形，以及，將所述第二線(xiàn)路圖形作為所述第二測(cè)試圖形； 在所述測(cè)試圖形中創(chuàng)建測(cè)試點(diǎn)，所述測(cè)試點(diǎn)包括:位于所述第一面的第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，位于所述第二面的第二類(lèi)測(cè)試點(diǎn)，以及，位于所述臺(tái)階槽內(nèi)的第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)； 提供通用測(cè)試夾具，所述通用測(cè)試夾具包括用于測(cè)試所述第一面的第一組測(cè)試針，和用于測(cè)試所述第二面的第二組測(cè)試針，所述第一組測(cè)試針包括用于測(cè)試所述第一類(lèi)測(cè)試點(diǎn)的第一類(lèi)測(cè)試針，和用于測(cè)試所述第三類(lèi)測(cè)試點(diǎn)的第三類(lèi)測(cè)試針，其中，所述第三類(lèi)測(cè)試針的長(zhǎng)度d3 = dl+dO，dl是所述第一類(lèi)測(cè)試針的長(zhǎng)度，dO是所述臺(tái)階槽的深度； 將所述第一組測(cè)試針和所述第二組測(cè)試針?lè)謩e作用于所述臺(tái)階電路板的第一面和第二面，且所述第一組測(cè)試針和所述第二組測(cè)試針與通用測(cè)試設(shè)備連接，由所述通用測(cè)試設(shè)備根據(jù)所述測(cè)試圖形對(duì)所述臺(tái)階電路板進(jìn)行測(cè)試。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述獲取分別對(duì)應(yīng)于所述第一線(xiàn)路和所述第二線(xiàn)路以及所述槽內(nèi)線(xiàn)路的第一線(xiàn)路圖形和第二線(xiàn)路圖形以及槽內(nèi)線(xiàn)路圖形包括: 根據(jù)所述臺(tái)階槽的控深銑要求，從所述臺(tái)階電路板的所有層次線(xiàn)路圖形中獲取所述臺(tái)階槽底面所在層次的線(xiàn)路圖形； 從所述臺(tái)階槽底面所在層次的線(xiàn)路圖形中，獲取所述槽內(nèi)線(xiàn)路圖形。7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述生成測(cè)試圖形包括: 判斷所述槽內(nèi)線(xiàn)路圖形是否滿(mǎn)足創(chuàng)建測(cè)試點(diǎn)的要求，若滿(mǎn)足，在所述第一線(xiàn)路圖形中補(bǔ)充所述槽內(nèi)線(xiàn)路圖形，并添加所述第一線(xiàn)路與所述槽內(nèi)線(xiàn)路的連接關(guān)系，得到第一測(cè)試圖形。
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK106033109SQ201510105444
【公開(kāi)日】2016年10月19日
【申請(qǐng)日】2015年3月11日
【發(fā)明人】朱海軍, 魏自平, 高峰
【申請(qǐng)人】深南電路股份有限公司