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      一種輔助檢具的制作方法

      文檔序號:10684276閱讀:240來源:國知局
      一種輔助檢具的制作方法
      【專利摘要】本發(fā)明涉及零部件檢測技術(shù)領(lǐng)域,特別是一種輔助檢具,該輔助檢具具有位置替代面和兩個(gè)貼合面,所述貼合面用于貼合零件上的與所述被測角相連的面,所有所述貼合面的交線與所述被測角的交線或交點(diǎn)重合,所有所述貼合面的交線與所述位置替代面處于同一平面內(nèi)。本發(fā)明能夠準(zhǔn)確快速的將倒角或圓角的交線位置變換成可見并可測量的替代位置,從而可以使用游標(biāo)卡尺等測量工具完成測量。本發(fā)明結(jié)構(gòu)緊湊、成本低、操作靈活、適用范圍廣,將其與量具配合使用,能夠顯著提高測量的效率和準(zhǔn)確性。
      【專利說明】
      一種輔助檢具
      技術(shù)領(lǐng)域
      [0001]本發(fā)明涉及零部件檢測技術(shù)領(lǐng)域,特別是一種輔助檢具。
      【背景技術(shù)】
      [0002]對于材料加工以及機(jī)械行業(yè)來說,毛坯件、模具型腔及后續(xù)機(jī)加工零件中存在大量的圓角和倒角特征,且大多數(shù)的相交面間為非90°夾角。這些特征的存在,增加了測量其兩面或多面交線之間的距離的難度。現(xiàn)有技術(shù)中,對于圓角和倒角交線尺寸的測量一般有如下二種方法:
      [0003]—、三坐標(biāo)測量儀法。該方法利用三坐標(biāo)測量儀進(jìn)行測量,其測量數(shù)據(jù)較準(zhǔn)確,但三坐標(biāo)測量儀體積龐大、成本昂貴且操作復(fù)雜,不適宜在現(xiàn)場快速測量,僅適合單個(gè)或者少批量零件數(shù)據(jù)的測量。
      [0004]二、檢測樣板與塞尺配合法。對于被檢測的部位,該測量方法首先需制備與之匹配的樣板,然后使用塞尺對樣板和零件的間隙進(jìn)行測量,進(jìn)而測出圓角和倒角交線尺寸。相對于三坐標(biāo)測量儀法,該方法在測量效率上有所提高。但是對于不同的零件需要不同的樣板,測量的操作過程較為復(fù)雜,進(jìn)而使測量結(jié)果受人工因素影響較大,降低了測量精度。
      [0005]三、游標(biāo)卡尺或鋼直尺直接測量法。該方法對被測零件在圓角和倒角處截止點(diǎn)的尺寸進(jìn)行直接測量,因而測量的數(shù)據(jù)較之真實(shí)尺寸存在較大的偏差,一般在測量較大的毛坯件時(shí)使用。該方法只適用于粗略估計(jì),不能對零件尺寸進(jìn)行準(zhǔn)確測量,另外,將該方法用于測量不同尺寸的倒角和圓角時(shí),測量結(jié)果存在更大的偏差。
      [0006]針對現(xiàn)有技術(shù)存在的問題,專利《一種檢具》(CN 205049070U)提出一種成本低、操作方便的檢具。如圖1所示,該檢具包括主標(biāo)尺和安裝在主標(biāo)尺上的轉(zhuǎn)動(dòng)定臂、轉(zhuǎn)動(dòng)移臂和游標(biāo),其中,轉(zhuǎn)動(dòng)定臂可在主標(biāo)尺上轉(zhuǎn)動(dòng),轉(zhuǎn)動(dòng)移臂可轉(zhuǎn)動(dòng)并能沿主標(biāo)尺上的中間槽滑動(dòng),通過滑動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)移臂來調(diào)整轉(zhuǎn)動(dòng)定臂與轉(zhuǎn)動(dòng)移臂之間的距離,并通過轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)定臂和轉(zhuǎn)動(dòng)移臂使其與被測零件的外表面貼合,從而實(shí)現(xiàn)對零件的外倒角和外圓角交線尺寸的測量。實(shí)踐證明該檢具對于外倒角和外圓角交線尺寸的測量非常實(shí)用,但是,不可忽視的問題是:該檢具不能用于測量零件的內(nèi)倒角和內(nèi)圓角交線尺寸,且該方法不適用于待測的兩個(gè)圓角和/或倒角的兩條交線不在同一平面時(shí)的情況。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0007]為了克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,本發(fā)明提供一種輔助檢具,通過將零件上不便于直接測量的倒角或圓角的交線位置轉(zhuǎn)變成可直接測量的位置,從而可以使用游標(biāo)卡尺等測量工具完成測量。以解決現(xiàn)有技術(shù)中,因倒角和圓角的存在,使在測量零件的兩面或多面交線之間的距離時(shí)存在的諸如測量準(zhǔn)確性差、效率低、操作復(fù)雜等缺陷。
      [0008]本發(fā)明采用技術(shù)方案如下:
      [0009]—種輔助檢具,用于輔助量具進(jìn)行零件測量,所述零件至少包括第一面和第二面,所述第一面和第二面的連接處具有被測角,第一面和第二面延伸后相交形成與所述被測角對應(yīng)的交線;
      [0010]所述輔助檢具包括第一貼合面、第二貼合面及位置替代面,所述第一貼合面與第二貼合面相交或者第一貼合面和第二貼合面延伸后相交形成相交線,所述第一貼合面用于與所述零件的第一面貼合,所述第二貼合面用于與所述零件的第二面貼合,所述相交線與所述零件的交線重合,所述位置替代面與所述相交線在同一平面內(nèi)。
      [0011]具體地,所述被測角為內(nèi)圓角、內(nèi)倒角、外圓角或外倒角;所述輔助檢具包括適用于外圓角和外倒角的外交線輔助檢具以及適用于內(nèi)圓角和內(nèi)倒角的內(nèi)交線輔助檢具。
      [0012]優(yōu)選地,所述外交線輔助檢具包括相互連接的第一外交線測量臂和第二外交線測量臂,所述第一外交線測量臂具有第一外貼合面,所述第二外交線測量臂具有第二外貼合面和外交線位置替代面,所述外交線位置替代面延伸后與所述第二外貼合面垂直,所述第一外貼合面與第二外貼合面相交形成外交線,所述外交線位置替代面與所述外交線處于同一平面內(nèi)。
      [0013]優(yōu)選地,所述外交線輔助檢具包括相互連接的第一外交線測量臂和第二外交線測量臂,所述第一外交線測量臂具有第一外貼合面和第一外交線位置替代面,所述第二外交線測量臂具有第二外貼合面和第二外交線位置替代面,所述第二外交線位置替代面延伸后與所述第二外貼合面垂直,所述第一外貼合面與第二外貼合面相交形成外交線,所述第一外交線位置替代面、第二外交線位置替代面和所述外交線處于同一平面內(nèi),且第一外交線位置替代面與第二外交線位置替代面相互錯(cuò)開。
      [0014]優(yōu)選地,所述內(nèi)交線輔助檢具包括第一內(nèi)交線測量臂、第二內(nèi)交線測量臂和連接臂,所述第一內(nèi)交線測量臂與第二內(nèi)交線測量臂之間通過所述連接臂相連,所述第一內(nèi)交線測量臂具有第一內(nèi)貼合面,所述第二內(nèi)交線測量臂具有第二內(nèi)貼合面和與所述第二內(nèi)貼合面相對的內(nèi)交線位置替代面,所述內(nèi)交線位置替代面和所述第一內(nèi)貼合面延伸后相互垂直,所述第一內(nèi)貼合面和所述第二內(nèi)貼合面延伸后相交形成內(nèi)交線,所述內(nèi)交線位置替代面與所述內(nèi)交線處于同一平面內(nèi)。
      [0015]優(yōu)選地,所述第二內(nèi)交線測量臂呈楔形,所述第二內(nèi)貼合面和所述內(nèi)交線位置替代面延伸后形成的交線與所述內(nèi)交線重合。
      [0016]優(yōu)選地,所述連接臂具有外表面,所述外表面分別與所述第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面相交;第一內(nèi)貼合面的延伸段、第二內(nèi)貼合面的延伸段和所述連接臂的外表面構(gòu)成讓位區(qū),所述讓位區(qū)用于容納零件的內(nèi)倒角或內(nèi)圓角。
      [0017]本發(fā)明還提供一種利用上述的輔助檢具檢測零件的方法,所述方法用于測量零件上的被測角I對應(yīng)的交線與被測角II對應(yīng)的交線之間的距離,所述被測角I為外倒角或外圓角,得到被測角II為外倒角或外圓角,所述方法包括如下步驟:
      [0018]S101、選取與所述被測角I適配的外交線輔助檢具,將該外交線輔助檢具的第一外貼合面和第二外貼合面緊貼與被測角I相連的兩個(gè)面;選取與所述被測角II適配的外交線輔助檢具,將該外交線輔助檢具的第一外貼合面和第二外貼合面緊貼與被測角II相連的兩個(gè)面;兩個(gè)外交線輔助檢具的外交線位置替代面位于所述零件的同一側(cè)并相互平行;
      [0019]S102、利用檢具測量兩個(gè)外交線輔助檢具的外交線位置替代面之間的距離。
      [0020]本發(fā)明還提供了一種利用上述的輔助檢具檢測零件的方法,所述方法用于測量零件上的被測角I對應(yīng)的交線與被測角II對應(yīng)的交線之間的距離,所述被測角I和被測角II均為內(nèi)倒角或內(nèi)圓角,所述方法包括如下步驟:
      [0021]S201、選取與所述被測角I適配的內(nèi)交線輔助檢具,將該內(nèi)交線輔助檢具的第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面緊貼與被測角I相連的兩個(gè)面;選取與所述被測角II適配的內(nèi)交線輔助檢具,將該內(nèi)交線輔助檢具的第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面緊貼與被測角II相連的兩個(gè)面;兩個(gè)內(nèi)交線輔助檢具的內(nèi)交線位置替代面位于所述零件的同一側(cè)并相互平行;
      [0022]S202、利用檢具測量兩個(gè)內(nèi)交線輔助檢具的內(nèi)交線位置替代面之間的距離。
      [0023]更進(jìn)一步地,本發(fā)明還提供了一種利用上述的輔助檢具檢測零件的方法,所述方法用于測量零件上的被測角I對應(yīng)的交線與被測角II對應(yīng)的交線之間的距離,所述被測角I為外倒角或外圓角,所述被測角II為內(nèi)倒角或內(nèi)圓角,所述方法包括如下步驟:
      [0024]S301、選取與所述被測角I適配的外交線輔助檢具,將該外交線輔助檢具的第一外貼合面和第二外貼合面緊貼與被測角I相連的兩個(gè)面;選取與所述被測角II適配的內(nèi)交線輔助檢具,將該內(nèi)交線輔助檢具的第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面緊貼與被測角II相連的兩個(gè)面;所述外交線輔助檢具的外交線位置替代面與所述內(nèi)交線輔助檢具的內(nèi)交線位置替代面位于所述零件的同一側(cè)并相互平行;
      [0025]S302、利用檢具測量所述外交線位置替代面與所述內(nèi)交線位置替代面之間的距離。
      [0026]本發(fā)明的有益效果是:
      [0027](I)針對現(xiàn)有技術(shù)中采用直接測量方法測量圓角或倒角時(shí)存在的成本高、精度差、效率低的缺陷,本發(fā)明設(shè)計(jì)一種輔助檢具,創(chuàng)新性的將圓角或倒角對應(yīng)的不可見、不能直接測量的交線或交點(diǎn)位置轉(zhuǎn)換成可見、可直接測量的位置,其用于輔助測量兩個(gè)圓角或倒角的交線之間的距離,能夠顯著提高測量效率和測量精度,降低測量成本。
      [0028](2)本發(fā)明的輔助檢具分為外交線輔助檢具和內(nèi)交線輔助檢具,將外交線輔助檢具和內(nèi)交線輔助檢具組合使用,不僅可用于對零件上外圓角、外倒角的交線距離的測量,還適用于內(nèi)圓角、內(nèi)倒角的交線距離的測量,以及兩個(gè)被測角的交線距離不在同一水平面的情況,其操作方便,適用范圍廣。
      [0029](3)本發(fā)明的輔助檢具的貼合面被設(shè)計(jì)為與被測角所連的面相貼合,從而使貼合面的交線與被測角的交線位置重合,間接還原被測角的交線,并進(jìn)一步通過設(shè)計(jì)與貼合面垂直、與該交線同屬一個(gè)平面的位置替代面,因位置替代面上任意點(diǎn)的位置與被測角的交線位置在一個(gè)維度上的值相同,則當(dāng)兩個(gè)被測角對應(yīng)的兩個(gè)位置替代面平行時(shí),就可以通過測量兩個(gè)位置替代面的最短距離,精確還原兩個(gè)被測角的交線的垂直距離。正是因?yàn)楸景l(fā)明的輔助檢具可還原兩個(gè)被測角的交線位置,從而提高了測量基礎(chǔ)的可靠性,確保了測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
      [0030](4)內(nèi)交線輔助檢具的第二內(nèi)交線測量臂呈楔形,其厚度尺寸小,為薄壁形態(tài),以盡可能還原被測角的交線位置,減小測量誤差。該內(nèi)交線輔助檢具還具有讓位區(qū),讓位區(qū)可容納內(nèi)倒角或內(nèi)圓角,使第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面與被測角連接的面能夠?qū)崿F(xiàn)更緊密的貼合,進(jìn)而減小測量誤差。
      【附圖說明】
      [0031]為了更清楚地說明本發(fā)明的技術(shù)方案,下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其它附圖。
      [0032]圖1是現(xiàn)有技術(shù)中一種檢具的結(jié)構(gòu)不意圖;
      [0033]圖2是一種機(jī)械零件的剖視圖;
      [0034]圖3是本發(fā)明實(shí)施例一種的外交線輔助檢具的主視圖;
      [0035]圖4是圖3的左視圖;
      [0036]圖5是本發(fā)明的內(nèi)交線輔助檢具的主視圖;
      [0037]圖6是圖5的左視圖;
      [0038]圖7是本發(fā)明實(shí)施例二中外交線輔助檢具的主視圖;
      [0039]圖8是本發(fā)明實(shí)施例二中外交線輔助檢具的左視圖;
      [0040]圖9是本發(fā)明實(shí)施例二中外交線輔助檢具的右視圖;
      [0041 ]圖10是本發(fā)明實(shí)施例三中利用輔助檢具配合測量的示意圖;
      [0042]圖11是本發(fā)明實(shí)施例四中利用輔助檢具配合測量的示意圖;
      [0043]圖12是本發(fā)明實(shí)施例五中利用輔助檢具配合測量的示意圖。
      [0044]圖中:1-外交線輔助檢具,11-第一外交線測量臂,12-第二外交線測量臂,13-外交線,111-第一外貼合面,121-第二外貼合面,122-外交線位置替代面,112-第一外交線位置替代面,123-第二外交線位置替代面,2-內(nèi)交線輔助檢具,21-第二內(nèi)交線測量臂,22-第一內(nèi)交線測量臂,23-連接臂,24-讓位區(qū),25-內(nèi)交線,211-第二內(nèi)貼合面,212-內(nèi)交線位置替代面,221-第一內(nèi)貼合面。
      【具體實(shí)施方式】
      [0045]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
      [0046]機(jī)械行業(yè)中的大部分零件都具有倒角和/或圓角特征。如圖2中的某機(jī)械零件,A面與C面不在同一平面,A面與B面處存在外圓角,C面與D面處存在外倒角,E面與F面及G面存在內(nèi)圓角,從而導(dǎo)致A面延伸面與B面延伸面的交線p、C面延伸面與D面延伸面的交線q、E面延伸面與F面延伸面的交線r以及E面延伸面和G面延伸面的交線s都處于無法直接測量的位置。為了測量兩個(gè)圓角(或倒角)的交線(或交點(diǎn))之間的距離,需要先確定圓角(或倒角)的交線(或交點(diǎn))位置,因此,本發(fā)明提供一種輔助檢具,用于將圓角或倒角的不可見、不能直接測量的交線(或交點(diǎn))位置轉(zhuǎn)換成可見、可直接測量的位置,利用本發(fā)明輔助測量兩個(gè)圓角或倒角的交線之間的距離,能夠顯著提高測量效率和測量精度,降低測量成本。下面將對本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)說明。
      [0047]實(shí)施例一:
      [0048]本發(fā)明的輔助檢具用于將零件上的被測角的交線或交點(diǎn)所在位置轉(zhuǎn)換成可直接測量的位置,所述交線或交點(diǎn)為零件上與所述被測角連接的至少兩個(gè)面延伸后相交形成的交線或交點(diǎn),所述被測角為圓角或倒角,所述圓角包括外圓角和內(nèi)圓角,所述倒角包括外倒角和內(nèi)倒角。所述輔助檢具具有位置替代面和至少兩個(gè)貼合面,所述貼合面用于貼合零件上的與所述被測角相連的面,所有所述貼合面的交線與所述被測角的交線或交點(diǎn)重合,所有所述貼合面的交線與所述位置替代面處于同一平面內(nèi),所述位置替代面所在位置即為可直接測量的位置。
      [0049]具體地,本發(fā)明的輔助檢具包括外交線輔助檢具I和內(nèi)交線輔助檢具2。其中,外交線輔助檢具I用于將零件上的外圓角或外倒角的交線或交點(diǎn)所在位置轉(zhuǎn)換成可直接測量的位置,內(nèi)交線輔助檢具2用于將零件上的內(nèi)圓角或內(nèi)倒角的交線或交點(diǎn)所在位置轉(zhuǎn)換成可直接測量的位置。
      [0050]參見圖3、圖4,外交線輔助檢具I包括相互連接的第一外交線測量臂11和第二外交線測量臂12,第一外交線測量臂和第二外交線測量臂均為長條狀,所述第一外交線測量臂11具有第一外貼合面111,第二外交線測量臂12具有第二外貼合面121和外交線位置替代面122,所述外交線位置替代面122的延伸面與所述第二外貼合面121垂直,且與第一外貼合面111呈一定角度α,0° <α〈90°,所述第一外貼合面111與第二外貼合面121相交形成外交線13,所述外交線位置替代面122與所述外交線13處于同一平面內(nèi)。
      [0051]參見圖5、圖6,內(nèi)交線輔助檢具2包括第一內(nèi)交線測量臂22、第二內(nèi)交線測量臂21和連接臂23,第一內(nèi)交線測量臂與第二內(nèi)交線測量臂之間通過連接臂相連;所述第一內(nèi)交線測量臂22的形狀為長方體,第一內(nèi)交線測量臂22具有第一內(nèi)貼合面221;所述第二內(nèi)交線測量臂21具有第二內(nèi)貼合面211和內(nèi)交線位置替代面212,所述第二內(nèi)貼合面與內(nèi)交線位置替代面相對,內(nèi)交線位置替代面212的延伸面與所述第二內(nèi)貼合面211的延伸面之間形成夾角β,0° <β〈90°,所述內(nèi)交線位置替代面212的延伸面與所述第一內(nèi)貼合面221的延伸面相互垂直,所述第一內(nèi)貼合面221的延伸面與所述第二內(nèi)貼合面211的延伸面相交形成內(nèi)交線25,所述第二內(nèi)貼合面211的延伸面和所述內(nèi)交線位置替代面212的延伸面之間的交線與所述內(nèi)交線25重合,所述內(nèi)交線位置替代面212與所述內(nèi)交線25處于同一平面內(nèi)。所述連接臂23具有外表面,所述外表面分別與所述第一內(nèi)貼合面221和第二內(nèi)貼合面211相交;所述第一內(nèi)貼合面的延伸面、內(nèi)交線位置替代面的延伸面和連接臂的外表面相交,構(gòu)成讓位區(qū)24,讓位區(qū)24可用于容納被測零件的內(nèi)倒角或內(nèi)圓角,使第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面與被測角連接的面能夠?qū)崿F(xiàn)更緊密的貼合,進(jìn)而減小測量誤差。
      [0052]上述內(nèi)交線輔助檢具的第二內(nèi)交線測量臂21呈楔形薄壁形態(tài),其厚度尺寸小,可以最大限度還原被測角的交線位置,減小測量誤差。
      [0053]實(shí)施例二:
      [0054]本發(fā)明的輔助檢具分為外交線輔助檢具I和內(nèi)交線輔助檢具2。外交線輔助檢具I用于將零件上的外圓角或外倒角的交線或交點(diǎn)所在位置轉(zhuǎn)換成可直接測量的位置,內(nèi)交線輔助檢具2用于將零件上的內(nèi)圓角或內(nèi)倒角的交線或交點(diǎn)所在位置轉(zhuǎn)換成可直接測量的位置。其中:
      [0055]內(nèi)交線輔助檢具如圖5、圖6所示,包括第一內(nèi)交線測量臂22、第二內(nèi)交線測量臂21和連接臂23,第一內(nèi)交線測量臂與第二內(nèi)交線測量臂之間通過連接臂相連;所述第一內(nèi)交線測量臂22的形狀為長方體,第一內(nèi)交線測量臂具有第一內(nèi)貼合面221;所述第二內(nèi)交線測量臂21呈楔形,包括第二內(nèi)貼合面211和內(nèi)交線位置替代面212,所述第二內(nèi)貼合面與內(nèi)交線位置替代面相對,內(nèi)交線位置替代面212的延伸面與所述第二內(nèi)貼合面211的延伸面之間形成夾角β,0° <β〈90°,所述內(nèi)交線位置替代面212的延伸面與所述第一內(nèi)貼合面221的延伸面相互垂直,所述第一內(nèi)貼合面的延伸面與所述第二內(nèi)貼合面的延伸面相交形成內(nèi)交線25,所述第二內(nèi)貼合面的延伸面和所述內(nèi)交線位置替代面的延伸面之間的交線與所述內(nèi)交線25重合,所述內(nèi)交線位置替代面212與所述內(nèi)交線25處于同一平面內(nèi)。所述連接臂23具有外表面,所述外表面分別與所述第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面相交;所述第一內(nèi)貼合面的延伸面、內(nèi)交線位置替代面的延伸面和連接臂的外表面相交,構(gòu)成讓位區(qū)24,讓位區(qū)24可用于容納被測零件的內(nèi)倒角或內(nèi)圓角,使第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面與被測角連接的面能夠?qū)崿F(xiàn)更緊密的貼合,進(jìn)而減小測量誤差。
      [0056]外交線輔助檢具如圖7-9所示,包括相互連接的第一外交線測量臂11和第二外交線測量臂12,所述第一外交線測量臂11具有第一外貼合面111和第一外交線位置替代面112,所述第二外交線測量臂12具有第二外貼合面121和第二外交線位置替代面123,所述第二外交線位置替代面123的延伸面與所述第二外貼合面121垂直,且與所述第一外貼合面111相交形成夾角α,0° <α〈90°,所述第一外貼合面與第二外貼合面相交形成外交線13,所述第一外交線位置替代面、第二外交線位置替代面和所述外交線處于同一平面內(nèi),且第一外交線位置替代面112與第二外交線位置替代面123相互錯(cuò)開。
      [0057]在本實(shí)施例中,外交線輔助檢具具有兩個(gè)外交線位置替代面,即位于第一外交線測量臂上的第一外交線位置替代面和位于第二外交線測量臂上的第二外交線位置替代面,第一外交線位置替代面和第二外交線位置替代面都能表示外交線的位置,但在朝向上方向相反,如此,為距離測量提供了兩種選擇,具體使用時(shí),可根據(jù)需要選擇方便的外交線位置替代面作為測量端,如可采用游標(biāo)卡尺的內(nèi)測量爪測量兩個(gè)第一外交線位置替代面之間的距離,或則采用游標(biāo)卡尺的外測量爪測量兩個(gè)第二外交線位置替代面之間的距離。
      [0058]實(shí)施例三:
      [0059]本實(shí)施例提供一種利用輔助檢具檢測零件的方法,其用于測量零件上的被測角I的交線與被測角II的交線之間的距離,所述被測角I和被測角II均為外倒角或外圓角,所述方法包括如下步驟:
      [0060]S101、選取與所述被測角I適配的外交線輔助檢具,將該外交線輔助檢具的第一外貼合面和第二外貼合面緊貼與被測角I相連的兩個(gè)面;選取與所述被測角II適配的外交線輔助檢具,將該外交線輔助檢具的第一外貼合面和第二外貼合面緊貼與被測角II相連的兩個(gè)面;兩個(gè)外交線輔助檢具的外交線位置替代面位于所述零件的同一側(cè)并相互平行;
      [0061]S102、利用檢具測量兩個(gè)外交線輔助檢具的外交線位置替代面之間的距離。
      [0062]下面結(jié)合附圖詳細(xì)說明本方法。參見圖9,圖中展示的零件與圖2中的零件相同,A面與C面不在同一平面,A面與B面處存在外圓角I,Α面延伸面與B面延伸面的相交線為P,C面與D面處存在外倒角II,C面延伸面與D面延伸面的相交線為q,現(xiàn)需測量p、q之間的距離。其操作步驟包括:
      [0063](I)選取與外圓角I適配的外交線輔助檢具,要求外交線輔助檢具第一外貼合面和第二外貼合面的夾角等于A面延伸面與B面延伸面的夾角,將該外交線輔助檢具的第一外貼合面緊貼A面,第二外貼合面緊貼B面,此時(shí),該外交線輔助檢具的外交線與相交線P重合;
      [0064]選取與所述外倒角II適配的外交線輔助檢具,要求外交線輔助檢具第一外貼合面和第二外貼合面的夾角等于C面延伸面與D面延伸面的夾角,將該外交線輔助檢具的第一外貼合面緊貼C面,第二外貼合面緊貼D面,此時(shí),該外交線輔助檢具的外交線與相交線q重合;
      [0065]兩個(gè)外交線輔助檢具的外交線位置替代面122位于零件的同一側(cè)并相互平行;
      [0066](2)利用游標(biāo)卡尺測量兩個(gè)外交線輔助檢具的外交線位置替代面之間的距離,該測得的數(shù)值即為P、q之間的距離。
      [0067]實(shí)施例四:
      [0068]本實(shí)施例提供一種利用輔助檢具檢測零件的方法,其用于測量零件上的被測角I的交線與被測角II的交線之間的距離,所述被測角I和被測角II均為內(nèi)倒角或內(nèi)圓角,所述方法包括如下步驟:
      [0069]S201、選取與所述被測角I適配的內(nèi)交線輔助檢具,將該內(nèi)交線輔助檢具的第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面緊貼與被測角I相連的兩個(gè)面;選取與所述被測角II適配的內(nèi)交線輔助檢具,將該內(nèi)交線輔助檢具的第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面緊貼與被測角II相連的兩個(gè)面;兩個(gè)內(nèi)交線輔助檢具的內(nèi)交線位置替代面位于所述零件的同一側(cè)并相互平行;
      [0070]S202、利用檢具測量兩個(gè)內(nèi)交線輔助檢具的內(nèi)交線位置替代面之間的距離。
      [0071]下面結(jié)合附圖詳細(xì)說明本方法。參見圖10,圖中展示的零件與圖2中的零件相同,F(xiàn)面與E面處存在內(nèi)圓角I,F(xiàn)面延伸面與R面延伸面的相交線為r,G面與E面處存在內(nèi)圓角II,G面延伸面與E面延伸面的相交線為s,現(xiàn)需測量r、s之間的距離。其操作步驟包括:
      [0072](I)選取與內(nèi)圓角I適配的內(nèi)交線輔助檢具,要求內(nèi)交線輔助檢具第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面的夾角等于F面延伸面與E面延伸面的夾角,將該內(nèi)交線輔助檢具的第一內(nèi)貼合面緊貼E面,第二內(nèi)貼合面緊貼F面,此時(shí),該內(nèi)交線輔助檢具的內(nèi)交線與相交線r重合;
      [0073]選取與所述內(nèi)圓角II適配的內(nèi)交線輔助檢具,要求內(nèi)交線輔助檢具第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面的夾角等于G面延伸面與E面延伸面的夾角,將該內(nèi)交線輔助檢具的第一內(nèi)貼合面緊貼E面,第二內(nèi)貼合面緊貼G面,此時(shí),該內(nèi)交線輔助檢具的內(nèi)交線與相交線為s重合;
      [0074]兩個(gè)內(nèi)交線輔助檢具的內(nèi)交線位置替代面212位于零件的同一側(cè)并相互平行;
      [0075](2)利用游標(biāo)卡尺測量兩個(gè)內(nèi)交線輔助檢具的內(nèi)交線位置替代面之間的距離,該測得的數(shù)值即為r、s之間的距離。因內(nèi)交線輔助檢具2的第二內(nèi)交線測量臂厚度尺寸較小,因而,即使在機(jī)械零件的F面、G面為非平面時(shí)也能較為精準(zhǔn)的測量相交線r、s之間的距離。
      [0076]實(shí)施例五:
      [0077]本實(shí)施例提供一種利用輔助檢具檢測零件的方法,其用于測量零件上的被測角I的交線與被測角II的交線之間的距離,所述被測角I為外倒角或外圓角,所述被測角II為內(nèi)倒角或內(nèi)圓角,所述方法包括如下步驟:
      [0078]S301、選取與所述被測角I適配的外交線輔助檢具,將該外交線輔助檢具的第一外貼合面和第二外貼合面緊貼與被測角I相連的兩個(gè)面;選取與所述被測角II適配的內(nèi)交線輔助檢具,將該內(nèi)交線輔助檢具的第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面緊貼與被測角II相連的兩個(gè)面;所述外交線輔助檢具的外交線位置替代面與所述內(nèi)交線輔助檢具的內(nèi)交線位置替代面位于所述零件的同一側(cè)并相互平行;
      [0079]S302、利用檢具測量所述外交線位置替代面與所述內(nèi)交線位置替代面之間的距離。
      [0080]下面結(jié)合附圖詳細(xì)說明本方法。參見圖11,圖中展示的零件與圖2中的零件相同,G面與E面處存在內(nèi)圓角I,G面延伸面與E面延伸面的相交線為s,A面與B面處存在外圓角II,A面延伸面與B面延伸面的相交線為p,現(xiàn)需測量s、p之間的距離。其操作步驟包括:
      [0081](I)選取與內(nèi)圓角I適配的內(nèi)交線輔助檢具,要求內(nèi)交線輔助檢具第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面的夾角等于G面延伸面與E面延伸面的夾角,將該內(nèi)交線輔助檢具的第一內(nèi)貼合面緊貼E面,第二內(nèi)貼合面緊貼G面,此時(shí),該內(nèi)交線輔助檢具的內(nèi)交線與相交線s重合;
      [0082]選取與所述外圓角II適配的外交線輔助檢具,要求外交線輔助檢具第一外貼合面和第二外貼合面的夾角等于A面延伸面與B面延伸面的夾角,將該外交線輔助檢具的第一外貼合面緊貼B面,第二內(nèi)貼合面緊貼A面,此時(shí),該外交線輔助檢具的外交線與相交線為P重合;
      [0083]所述外交線輔助檢具的外交線位置替代面與所述內(nèi)交線輔助檢具的內(nèi)交線位置替代面位于所述零件的同一側(cè)并相互平行。
      [0084](2)利用游標(biāo)卡尺測量所述外交線位置替代面與內(nèi)交線位置替代面之間的距離,該測得的數(shù)值即為P、s之間的距離。
      [0085]以上所揭露的僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,當(dāng)然不能以此來限定本發(fā)明的權(quán)利范圍,依據(jù)本發(fā)明權(quán)利要求所作的等同變化,仍屬本發(fā)明所涵蓋的范圍。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種輔助檢具,用于輔助量具進(jìn)行零件測量,所述零件至少包括第一面和第二面,所述第一面和第二面的連接處具有被測角,第一面和第二面延伸后相交形成與所述被測角對應(yīng)的交線,其特征在于, 所述輔助檢具包括第一貼合面、第二貼合面及位置替代面,所述第一貼合面與第二貼合面相交或者第一貼合面和第二貼合面延伸后相交形成相交線,所述第一貼合面用于與所述零件的第一面貼合,所述第二貼合面用于與所述零件的第二面貼合,所述相交線與所述零件的交線重合,所述位置替代面與所述相交線在同一平面內(nèi)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輔助檢具,其特征在于,所述被測角為內(nèi)圓角、內(nèi)倒角、外圓角或外倒角; 所述輔助檢具包括適用于外圓角和外倒角的外交線輔助檢具以及適用于內(nèi)圓角和內(nèi)倒角的內(nèi)交線輔助檢具。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的輔助檢具,其特征在于,所述外交線輔助檢具包括相互連接的第一外交線測量臂和第二外交線測量臂,所述第一外交線測量臂具有第一外貼合面,所述第二外交線測量臂具有第二外貼合面和外交線位置替代面,所述外交線位置替代面延伸后與所述第二外貼合面垂直,所述第一外貼合面與第二外貼合面相交形成外交線,所述外交線位置替代面與所述外交線處于同一平面內(nèi)。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的輔助檢具,其特征在于,所述外交線輔助檢具包括相互連接的第一外交線測量臂和第二外交線測量臂,所述第一外交線測量臂具有第一外貼合面和第一外交線位置替代面,所述第二外交線測量臂具有第二外貼合面和第二外交線位置替代面,所述第二外交線位置替代面延伸后與所述第二外貼合面垂直,所述第一外貼合面與第二外貼合面相交形成外交線,所述第一外交線位置替代面、第二外交線位置替代面和所述外交線處于同一平面內(nèi),且第一外交線位置替代面與第二外交線位置替代面相互錯(cuò)開。5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的輔助檢具,其特征在于,所述內(nèi)交線輔助檢具包括第一內(nèi)交線測量臂、第二內(nèi)交線測量臂和連接臂,所述第一內(nèi)交線測量臂與第二內(nèi)交線測量臂之間通過所述連接臂相連,所述第一內(nèi)交線測量臂具有第一內(nèi)貼合面,所述第二內(nèi)交線測量臂具有第二內(nèi)貼合面和與所述第二內(nèi)貼合面相對的內(nèi)交線位置替代面,所述內(nèi)交線位置替代面和所述第一內(nèi)貼合面延伸后相互垂直,所述第一內(nèi)貼合面和所述第二內(nèi)貼合面延伸后相交形成內(nèi)交線,所述內(nèi)交線位置替代面與所述內(nèi)交線處于同一平面內(nèi)。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的輔助檢具,其特征在于,所述第二內(nèi)交線測量臂呈楔形,所述第二內(nèi)貼合面和所述內(nèi)交線位置替代面延伸后形成的交線與所述內(nèi)交線重合。7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的輔助檢具,其特征在于,所述連接臂具有外表面,所述外表面分別與所述第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面相交;第一內(nèi)貼合面的延伸段、第二內(nèi)貼合面的延伸段和所述連接臂的外表面構(gòu)成讓位區(qū),所述讓位區(qū)用于容納零件的內(nèi)倒角或內(nèi)圓角。8.—種利用權(quán)利要求2-4中任意一項(xiàng)所述的輔助檢具檢測零件的方法,其特征在于,所述方法用于測量零件上的被測角I對應(yīng)的交線與被測角II對應(yīng)的交線之間的距離,所述被測角I為外倒角或外圓角,所述被測角II為外倒角或外圓角,所述方法包括如下步驟: S101、選取與所述被測角I適配的外交線輔助檢具,將該外交線輔助檢具的第一外貼合面和第二外貼合面緊貼與被測角I相連的兩個(gè)面;選取與所述被測角II適配的外交線輔助檢具,將該外交線輔助檢具的第一外貼合面和第二外貼合面緊貼與被測角II相連的兩個(gè)面;兩個(gè)外交線輔助檢具的外交線位置替代面位于所述零件的同一側(cè)并相互平行; S102、利用檢具測量兩個(gè)外交線輔助檢具的外交線位置替代面之間的距離。9.一種利用權(quán)利要求5-7中任意一項(xiàng)所述的輔助檢具檢測零件的方法,其特征在于,所述方法用于測量零件上的被測角I對應(yīng)的交線與被測角II對應(yīng)的交線之間的距離,所述被測角I和被測角II均為內(nèi)倒角或內(nèi)圓角,所述方法包括如下步驟: S201、選取與所述被測角I適配的內(nèi)交線輔助檢具,將該內(nèi)交線輔助檢具的第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面緊貼與被測角I相連的兩個(gè)面;選取與所述被測角II適配的內(nèi)交線輔助檢具,將該內(nèi)交線輔助檢具的第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面緊貼與被測角II相連的兩個(gè)面;兩個(gè)內(nèi)交線輔助檢具的內(nèi)交線位置替代面位于所述零件的同一側(cè)并相互平行; S202、利用檢具測量兩個(gè)內(nèi)交線輔助檢具的內(nèi)交線位置替代面之間的距離。10.—種利用權(quán)利要求2-7中任意一項(xiàng)所述的輔助檢具檢測零件的方法,其特征在于,所述方法用于測量零件上的被測角I對應(yīng)的交線與被測角II對應(yīng)的交線之間的距離,所述被測角I為外倒角或外圓角,所述被測角II為內(nèi)倒角或內(nèi)圓角,所述方法包括如下步驟: S301、選取與所述被測角I適配的外交線輔助檢具,將該外交線輔助檢具的第一外貼合面和第二外貼合面緊貼與被測角I相連的兩個(gè)面;選取與所述被測角II適配的內(nèi)交線輔助檢具,將該內(nèi)交線輔助檢具的第一內(nèi)貼合面和第二內(nèi)貼合面緊貼與被測角II相連的兩個(gè)面;所述外交線輔助檢具的外交線位置替代面與所述內(nèi)交線輔助檢具的內(nèi)交線位置替代面位于所述零件的同一側(cè)并相互平行; S302、利用檢具測量所述外交線位置替代面與所述內(nèi)交線位置替代面之間的距離。
      【文檔編號】G01B5/02GK106052521SQ201610432405
      【公開日】2016年10月26日
      【申請日】2016年6月16日
      【發(fā)明人】阮發(fā)林, 楊誠
      【申請人】中車戚墅堰機(jī)車車輛工藝研究所有限公司
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