探傷裝置以及利用探傷裝置的傷部檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種防止傷部的檢測遺漏以及過檢測而提高了傷部的檢測率的探傷裝置以及利用探傷裝置的傷部檢測方法。一種磁粉探傷裝置(1)，具備：攝像裝置(16)，對被檢查物(10)的表面進(jìn)行攝像；以及檢測裝置(30)，對由攝像裝置(16)攝像的原圖像進(jìn)行處理，檢測表面處的傷部，其中，檢測裝置(30)具備：第1抽取部(31)，利用第1閾值對原圖像進(jìn)行二值化處理，抽取第1傷候補部(40)；檢查區(qū)域生成部(32)，以包括第1傷候補部(40)的方式生成檢查區(qū)域(42)；第2抽取部(33)，利用第2閾值對檢查區(qū)域(41)進(jìn)行二值化處理，抽取第2傷候補部(42)；以及傷判定部(34)，對第2傷候補部(42)進(jìn)行膨脹處理，檢測傷部。
【專利說明】
探傷裝置以及利用探傷裝置的傷部檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及具備對被檢查物的表面進(jìn)行攝像的攝像裝置和對由攝像裝置攝像的原圖像進(jìn)行處理來檢測表面處的傷部的檢測裝置的探傷裝置、以及利用探傷裝置的傷部檢測方法。
【背景技術(shù)】
[0002]以往，通過作為非破壞檢查方法的一種的磁粉探傷試驗、浸透探傷試驗等來進(jìn)行被檢查物的表面的探傷檢查。在磁粉探傷試驗中，在被檢查物的表面涂敷磁粉或者含有磁粉的磁粉溶液，并且對被檢查物施加磁場等而使被檢查物磁化。由于磁通集中到被檢查物的表面的傷部，所以磁粉被該磁通吸引而形成磁粉所致的指示圖案。然后，通過觀測該磁粉指示圖案來檢查缺陷。
[0003]另一方面，在浸透探傷試驗中，首先，將浸透液涂敷到被檢查物的表面，使該浸透液浸透到在表面開口的裂紋、針孔等微小的缺陷處。接下來，去除附著于表面的剩余浸透液，將顯影劑粉末涂敷到表面，將浸透到缺陷處的浸透液通過毛細(xì)管現(xiàn)象吸出到表面。然后，通過觀察該吸上的浸透液所致的浸透指示圖案來檢查缺陷。
[0004]這些磁粉探傷試驗、浸透探傷試驗是通過探傷裝置而進(jìn)行的，所述探傷裝置被自動裝置化，具備對被檢查物的表面進(jìn)行攝像的攝像裝置和對由攝像裝置攝像的原圖像進(jìn)行處理來檢測表面處的傷部的檢測裝置。
[0005]在專利文獻(xiàn)I中，公開了一種磁粉探傷裝置，通過攝像單元對在搬送的被檢查材料的表面產(chǎn)生的磁粉圖案進(jìn)行攝像，從攝像的圖像檢查被檢查材料的表面缺陷，其特征在于，將圖像中的亮度的平均與亮度的標(biāo)準(zhǔn)偏差的常數(shù)倍之和設(shè)為2值化的閾值，使用該閾值對圖像進(jìn)行2值化，檢測表面缺陷。
[0006]專利文獻(xiàn)1:日本特開2011 —13007號公報

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]根據(jù)專利文獻(xiàn)I的結(jié)構(gòu)，即使由于被檢查材料的粗糙表面、光源的亮度不均等探傷條件而探傷圖像的亮度的偏差情形發(fā)生了變化，也能夠始終決定合適的2值化的閾值，能夠減少誤檢測且無遺漏地檢測表面的缺陷。
[0008]此處，在磁粉探傷試驗中，深度深的傷、寬度寬的傷被攝像得明亮。另一方面，深度淺的傷、寬度窄的傷被攝像得不怎么明亮。其原因在于，由于深度深的傷、寬度寬的傷的漏磁通變大，所以吸引更多的磁粉。同樣地，即使在浸透探傷試驗中，深度深的傷、寬度寬的傷也被攝像得明亮。另一方面，深度淺的傷、寬度窄的傷被攝像得不怎么明亮。這是因為大量的浸透液浸透到深度深的傷、寬度寬的傷。
[0009]作為形成于表面的缺陷的傷的大小、深度是多種多樣的。另外，I個連續(xù)的傷、例如線狀地延伸的傷的深度、寬度不是恒定的。即，在磁粉探傷試驗、浸透探傷試驗中，深度淺的部分與深的部分、寬度寬的部分與窄的部分混合存在那樣的I個連續(xù)的傷被攝像成針對其每個部分而明亮度不同的圖像。
[0010]因此，在根據(jù)圖像的亮度來判定是否為傷的情況下，存在如下情況:即便是I個連續(xù)的傷，也成為斷斷續(xù)續(xù)的傷，不被判定為作為缺陷的傷，而將傷看漏。另一方面，如果使得容易被判定為傷、即下調(diào)作為基準(zhǔn)的亮度，則有時不必要的微小的傷、毛刺、灰塵等被判定為作為缺陷的傷，而成為過檢測，該過檢測是檢測不必要的傷、灰塵等的狀態(tài)。而且，在專利文獻(xiàn)I中，雖然考慮了防止由于探傷條件所致的圖像的亮度的偏差情形而導(dǎo)致的誤檢測，但關(guān)于由于傷的深度、寬度而引起的亮度的偏差所致的誤檢測，完全沒有考慮。
[0011]因此，本發(fā)明的目的在于提供一種防止傷部的檢測遺漏以及過檢測而提高了傷部的檢測率的探傷裝置、以及利用探傷裝置的傷部檢測方法。
[0012]為了解決上述課題，本發(fā)明涉及探傷裝置，具備:攝像裝置，對被檢查物的表面進(jìn)行攝像；以及檢測裝置，對由所述攝像裝置攝像的原圖像進(jìn)行處理，檢測所述表面處的傷部，其特征在于，所述檢測裝置具備:第I抽取部，利用第I閾值對所述原圖像進(jìn)行二值化處理，抽取第I傷候補部;檢查區(qū)域生成部，以包括所述第I傷候補部的方式生成檢查區(qū)域;第2抽取部，利用第2閾值對所述檢查區(qū)域進(jìn)行二值化處理，抽取第2傷候補部；以及傷判定部，對所述第2傷候補部進(jìn)行膨脹處理，檢測所述傷部。
[0013]進(jìn)而，本發(fā)明的探傷裝置的特征在于，所述第2閾值小于所述第I閾值。
[0014]進(jìn)而，本發(fā)明的探傷裝置的特征在于，所述檢查區(qū)域是由使包括所述第I傷候補部的最小的矩形擴大了規(guī)定的寬度而得到的矩形包圍的區(qū)域。
[0015]進(jìn)而，本發(fā)明的探傷裝置的特征在于，所述膨脹處理是使所述第2傷候補部向各自的長軸方向膨脹的處理。
[0016]進(jìn)而，本發(fā)明涉及利用探傷裝置的傷部檢測方法，在所述傷部檢測方法中，攝像裝置對被檢查物的表面進(jìn)行攝像，檢測裝置對由所述攝像裝置攝像的原圖像進(jìn)行處理，檢測所述表面處的傷部，所述傷部檢測方法的特征在于，所述檢測裝置利用第I閾值對所述原圖像進(jìn)行二值化處理，抽取第I傷候補部，以包括所述第I傷候補部的方式生成檢查區(qū)域，利用第2閾值對所述檢查區(qū)域進(jìn)行二值化處理，抽取第2傷候補部，對所述第2傷候補部進(jìn)行膨脹處理，檢測所述傷部。
[0017]進(jìn)而，本發(fā)明的利用探傷裝置的傷部檢測方法的特征在于，所述第2閾值小于所述第I閾值。
[0018]進(jìn)而，本發(fā)明的利用探傷裝置的傷部檢測方法的特征在于，所述檢查區(qū)域是由使包括所述第I傷候補部的最小的矩形擴大了規(guī)定的寬度而得到的矩形包圍的區(qū)域。
[0019]進(jìn)而，本發(fā)明的利用探傷裝置的傷部檢測方法的特征在于，所述膨脹處理是使所述第2傷候補部向各自的長軸方向膨脹的處理。
[0020]根據(jù)本發(fā)明，探傷裝置具備:攝像裝置，對被檢查物的表面進(jìn)行攝像；以及檢測裝置，對由所述攝像裝置攝像的原圖像進(jìn)行處理，檢測所述表面處的傷部，其中，所述檢測裝置具備:第I抽取部，利用第I閾值對所述原圖像進(jìn)行二值化處理，抽取第I傷候補部;檢查區(qū)域生成部，以包括所述第I傷候補部的方式生成檢查區(qū)域;第2抽取部，利用第2閾值對所述檢查區(qū)域進(jìn)行二值化處理，抽取第2傷候補部；以及傷判定部，對所述第2傷候補部進(jìn)行膨脹處理，檢測所述傷部，所以能夠提供防止傷部的檢測遺漏以及過檢測而提高了傷部的檢測率的探傷裝置。
[0021]進(jìn)而，根據(jù)所述第2閾值小于所述第I閾值的結(jié)構(gòu)，能夠提供防止傷部的檢測遺漏以及過檢測而提高了傷部的檢測率的探傷裝置。
[0022]進(jìn)而，根據(jù)所述檢查區(qū)域是由使包括所述第I傷候補部的最小的矩形擴大了規(guī)定的寬度而得到的矩形包圍的區(qū)域的結(jié)構(gòu)，能夠防止檢測裝置的運算量的增大。
[0023]進(jìn)而，根據(jù)所述膨脹處理是使所述第2傷候補部向各自的長軸方向膨脹的處理的結(jié)構(gòu)，能夠以更高的準(zhǔn)確度防止傷部的檢測遺漏。
[0024]根據(jù)本發(fā)明，在利用探傷裝置的傷部檢測方法中，攝像裝置對被檢查物的表面進(jìn)行攝像，檢測裝置對由所述攝像裝置攝像的原圖像進(jìn)行處理，檢測所述表面處的傷部，其中，所述檢測裝置利用第I閾值對所述原圖像進(jìn)行二值化處理，抽取第I傷候補部，以包括所述第I傷候補部的方式生成檢查區(qū)域，利用第2閾值對所述檢查區(qū)域進(jìn)行二值化處理，抽取第2傷候補部，對所述第2傷候補部進(jìn)行膨脹處理，檢測所述傷部，所以能夠提供防止傷部的檢測遺漏以及過檢測而提高了傷部的檢測率的利用探傷裝置的傷部檢測方法。
[0025]進(jìn)而，根據(jù)所述第2閾值小于所述第I閾值的方法，能夠提供防止傷部的檢測遺漏以及過檢測而提高了傷部的檢測率的利用探傷裝置的傷部檢測方法。
[0026]進(jìn)而，根據(jù)所述檢查區(qū)域是由使包括所述第I傷候補部的最小的矩形擴大了規(guī)定的寬度而得到的矩形包圍的區(qū)域的方法，能夠防止檢測裝置的運算量的增大。
[0027]進(jìn)而，根據(jù)所述膨脹處理是使所述第2傷候補部向各自的長軸方向膨脹的處理的方法，能夠以更高的準(zhǔn)確度防止傷部的檢測遺漏。
【附圖說明】
[0028]圖1是示出作為本實施方式的探傷裝置的一個例子的磁粉探傷裝置的結(jié)構(gòu)的示意圖。
[0029]圖2是磁粉探傷裝置的控制系統(tǒng)的框圖。
[0030]圖3是用于說明檢測裝置的檢測動作的一個例子的流程圖。
[0031]圖4是示出由第I抽取部進(jìn)行了二值化處理的圖像的一個例子的概略圖。
[0032]圖5是示出抽取出的第I傷候補部的一個例子的圖像的概略圖。
[0033]圖6是示出所生成的檢查區(qū)域的一個例子的圖像的概略圖。
[0034]圖7是示出由第2抽取部進(jìn)行了二值化處理的圖像的一個例子的概略圖。
[0035]圖8是示出抽取出的第2傷候補部的一個例子的圖像的概略圖。
[0036]圖9是示出對第2傷候補部進(jìn)行了膨脹處理的一個例子的圖像的概略圖。
[0037]符號說明
[0038]1:磁粉探傷裝置(探傷裝置)；10:被檢查物；16:攝像裝置;30:檢測裝置;31:第I抽取部；32:檢查區(qū)域生成部；33:第2抽取部；34:傷判定部；40:第I傷候補部；41:檢查區(qū)域；42:第2傷候補部。
【具體實施方式】
[0039]以下，參照附圖，詳細(xì)敘述用于實施本發(fā)明的最佳的方式。圖1是示出作為本實施方式的探傷裝置的一個例子的磁粉探傷裝置I的結(jié)構(gòu)的示意圖。另外，圖1中的箭頭表示被檢查物1的搬送方向，從圖1中的右側(cè)朝向左側(cè)搬送被檢查物1。
[0040]如圖1所示，磁粉探傷裝置I是使用磁粉通過自動控制來檢測例如長尺的棱柱狀的鋼材等被檢查物10的表面處的作為缺陷的傷部的探傷裝置。另外，磁粉探傷裝置I具備搬送裝置11、磁粉散布裝置12、磁化裝置13、鼓風(fēng)裝置14、紫外線探傷燈15、攝像裝置16以及標(biāo)記(marking)裝置17等。另外，磁粉探傷裝置I還具備此處未圖示的控制器C、檢測裝置30等。
[0041]搬送裝置11搬送被檢查物10。搬送裝置11是由多個輥等構(gòu)成的輥輸送機，構(gòu)成為能夠以期望的速度搬送被檢查物10。另外，在圖1中，從磁粉散布裝置12所處的右側(cè)向標(biāo)記裝置17所處的左側(cè)搬送被檢查物10。另外，搬送裝置11具備此處未圖示的搬送距離測量裝置18。搬送距離測量裝置18測量被檢查物10的搬送距離。作為搬送距離測量裝置18，能夠使用由測量搬送裝置11的輥的旋轉(zhuǎn)的位移的旋轉(zhuǎn)編碼器等構(gòu)成的測定裝置。另外，搬送距離測量裝置I8的結(jié)構(gòu)沒有特別限定，可以使用利用非接觸方式的測定裝置、例如激光表面速度計，也可以是組合了它們而成的結(jié)構(gòu)。另外，搬送裝置11的結(jié)構(gòu)也沒有特別限定，例如也可以是由沒有接頭的帶等構(gòu)成的帶輸送機等。
[0042]磁粉散布裝置12是將磁粉檢查液散布到被檢查物10的表面的裝置，配置于搬送方向上的上游側(cè)。磁粉散布裝置12由未圖示的罐、栗、噴嘴等構(gòu)成。將收容于罐中的磁粉檢查液通過栗而壓送到噴嘴，從噴嘴噴出磁粉檢查液。磁粉檢查液是含有磁粉的溶液，該磁粉的表面被熒光體包覆。磁粉散布裝置12構(gòu)成為能夠?qū)⑵谕牧康拇欧蹤z查液連續(xù)地散布到被檢查物10的表面。另外，磁粉散布裝置12的結(jié)構(gòu)沒有特別限定。
[0043]磁化裝置13是對被檢查物10施加磁場的裝置，鄰接地配置于磁粉散布裝置12的下游側(cè)。磁化裝置13包括對置地配置于搬送方向的上游側(cè)和下游側(cè)的兩個貫通線圈19、20、和處于兩個貫通線圈19、20之間且在搬送方向上成列地配置的兩個極間線圈21、22等。貫通線圈19、20形成為圓環(huán)狀，被檢查物10以貫通上述貫通線圈19、20的中心的方式搬送。另一方面，極間線圈21、22形成為U字狀，被檢查物10以通過上述極間線圈21、22的空隙的方式搬送。另外，磁化裝置13具備該兩個極間線圈21、22，從而能夠在兩個貫通線圈19、20之間產(chǎn)生均勻的旋轉(zhuǎn)磁場。
[0044]更詳細(xì)而言，通過在貫通線圈19、20和極間線圈21、22中流過電流，從而在貫通線圈19、20中，在被檢查物10的搬送方向上生成磁場，在極間線圈21、22中，在與作為其空隙方向的被檢查物10的搬送方向正交的方向上生成磁場。而且，當(dāng)在貫通線圈19、20和極間線圈21、22中流過相位錯開了90度的交流電流時，在通過由貫通線圈19、20生成的磁場的方向(搬送方向)和由極間線圈21、22生成的磁場的方向(與搬送方向正交的方向)而形成的平面內(nèi)，生成以一定的磁場強度旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)磁場。
[0045]另外，磁化裝置13的結(jié)構(gòu)沒有特別限定，能夠適當(dāng)?shù)卦O(shè)計貫通線圈19、20、極間線圈21、22的數(shù)量等。例如，磁化裝置13也可以是除了具有極間線圈21、22以外還具有多個極間線圈的結(jié)構(gòu)。另外，磁化裝置13也可以由I個貫通線圈19和I個極間線圈21構(gòu)成。
[0046]鼓風(fēng)裝置14朝向被檢查物10向與重力相反的方向噴吹空氣。鼓風(fēng)裝置14處于兩個貫通線圈19、20之間，分別設(shè)置于貫通線圈19與極間線圈21之間、兩個極間線圈21、22之間以及極間線圈22與貫通線圈20之間。能夠通過該鼓風(fēng)裝置14而調(diào)節(jié)在被檢查物10的表面流過的磁粉檢查液的流速。另外，鼓風(fēng)裝置14的結(jié)構(gòu)沒有特別限定。
[0047]紫外線探傷燈15在兩個貫通線圈19、20之間對被檢查物10的表面的磁粉檢查液照射紫外線。為了避開由磁化裝置13生成的強的旋轉(zhuǎn)磁場的影響，將紫外線探傷燈15配置在從被檢查物10離開規(guī)定的距離、例如600mm?2000mm左右的位置。另外，紫外線探傷燈15的結(jié)構(gòu)沒有特別限定，例如也可以是施行了磁屏蔽的結(jié)構(gòu)。
[0048]攝像裝置16對被紫外線探傷燈15照射了紫外線的被檢查物10的表面進(jìn)行攝像。攝像裝置16被配置成能夠針對被檢查物10的表面從垂直方向進(jìn)行攝像。另外，為了避開由磁化裝置13生成的強的旋轉(zhuǎn)磁場的影響，將攝像裝置16配置在從被檢查物10離開規(guī)定的距離、例如600mm?2000mm左右的位置，并且施行了磁屏蔽。另外，攝像裝置16只要能夠?qū)Ρ蛔贤饩€探傷燈15照射了紫外線的被檢查物10的表面進(jìn)行攝像即可，其攝像方向未限定。但是，在以高的準(zhǔn)確度檢測傷部的觀點中，攝像裝置16優(yōu)選構(gòu)成為針對被檢查物1的表面從垂直方向進(jìn)行攝像。作為攝像裝置16，能夠使用區(qū)域攝像機或者線攝像機，而并沒有特別限定。例如，能夠使用CCD(Charge Coupled Device，電荷親合器件)攝像機。
[0049]標(biāo)記裝置17對由后述檢測裝置30檢測到的被檢查物10的表面處的作為缺陷的傷部進(jìn)行能夠目視的標(biāo)記。作為標(biāo)記裝置17，能夠使用例如標(biāo)記槍，該標(biāo)記槍通過使用空氣壓力來噴射墨，從而進(jìn)行標(biāo)記。另外，標(biāo)記裝置17的結(jié)構(gòu)沒有特別限定。
[0050]檢測裝置30通過讀入由攝像裝置16攝像的圖像信號(原圖像)并對原圖像進(jìn)行規(guī)定的處理，從而檢測被檢查物10的表面的傷部，關(guān)于其結(jié)構(gòu)以及檢測方法，后述。
[0051]接下來，說明本實施方式的磁粉探傷裝置I的控制系統(tǒng)。圖2是磁粉探傷裝置I的控制系統(tǒng)的框圖。磁粉探傷裝置I具備控制器C，構(gòu)成為能夠通過該控制器C而控制搬送裝置
11、搬送距離測量裝置18、磁粉散布裝置12、磁化裝置13、鼓風(fēng)裝置14、紫外線探傷燈15、攝像裝置16、標(biāo)記裝置17等，通過自動控制而檢測被檢查物10的表面的傷部。
[0052]控制器C構(gòu)成為通過讀入各種設(shè)定值、利用各種傳感器得到的檢測值等輸入信號并輸出控制信號，從而控制磁粉探傷裝置I所具備的各種裝置的動作?？刂破鰿由進(jìn)行運算處理以及控制處理的處理裝置、保存數(shù)據(jù)的主存儲裝置等構(gòu)成。控制器C是例如具備作為處理裝置的CPU(Central Processing Unit，中央處理單元)、作為主存儲裝置的R0M(ReadOnly Memory，只讀存儲器)、RAM(Random Access Memory，隨機存取存儲器)、定時器、輸入電路、輸出電路、電源電路等的微型計算機。在主存儲裝置中，保存有用于執(zhí)行本實施方式的動作的控制程序、各種數(shù)據(jù)等。另外，這些各種程序、數(shù)據(jù)等也可以是如下方式:保存于與控制器C分離地設(shè)置的存儲裝置，由控制器C讀出。
[0053]對控制器C電連接了搬送裝置11、搬送距離測量裝置18、磁粉散布裝置12、磁化裝置13、鼓風(fēng)裝置14、紫外線探傷燈15、攝像裝置16、標(biāo)記裝置17以及檢測裝置30。另外，對控制器C電連接了圖2所示的結(jié)構(gòu)以外的各種傳感器等。
[0054]檢測裝置30與控制器C同樣地，由進(jìn)行運算處理以及控制處理的處理裝置、保存數(shù)據(jù)的主存儲裝置等構(gòu)成，是例如具備CPU、主存儲裝置、定時器、輸入電路、輸出電路、電源電路等的微型計算機。
[0055]檢測裝置30具有第I抽取部31。第I抽取部31由例如程序構(gòu)成。關(guān)于詳細(xì)內(nèi)容后述，第I抽取部31構(gòu)成為利用預(yù)先決定的第I閾值對由攝像裝置16攝像的圖像信號(原圖像)進(jìn)行二值化處理，抽取第I傷候補部。另外，將由攝像裝置16攝像的原圖像經(jīng)由控制器C輸入到檢測裝置30。
[0056]檢測裝置30還具有檢查區(qū)域生成部32。檢查區(qū)域生成部32也由例如程序構(gòu)成。關(guān)于詳細(xì)內(nèi)容后述，檢查區(qū)域生成部32構(gòu)成為以包括由第I抽取部31抽取出的第I傷候補部的方式生成檢查區(qū)域。
[0057]檢測裝置30還具有第2抽取部33。第2抽取部33也由例如程序構(gòu)成。關(guān)于詳細(xì)內(nèi)容后述，第2抽取部33構(gòu)成為利用預(yù)先決定的第2閾值對由檢查區(qū)域生成部32生成的檢查區(qū)域進(jìn)行二值化處理，抽取第2傷候補部。
[0058]檢測裝置30還具有傷判定部34。傷判定部34也由例如程序構(gòu)成。關(guān)于詳細(xì)內(nèi)容后述，傷判定部34構(gòu)成為對由第2抽取部33抽取出的第2傷候補部進(jìn)行膨脹處理，檢測傷部。然后，檢測裝置30構(gòu)成為將由傷判定部34檢測到的傷部的位置數(shù)據(jù)送到控制器C。
[0059]接下來，說明磁粉探傷裝置I的動作。磁粉探傷裝置I構(gòu)成為通過搬送裝置11將被檢查物10依次搬送到各裝置，檢測被檢查物10的表面的傷部。被檢查物10首先搬送到磁粉散布裝置12，在表面被散布磁粉檢查液。在表面被散布了磁粉檢查液的被檢查物10搬送到通過磁化裝置13形成的旋轉(zhuǎn)磁場區(qū)域內(nèi)。
[0060]此時，在被檢查物10的表面存在傷部的情況下，產(chǎn)生由于該傷部而引起的漏磁場，磁粉檢查液所包含的磁粉被該漏磁場吸引。此處，通過磁化裝置13形成的磁場旋轉(zhuǎn)著，所以無論傷部延伸的方向(形狀)如何，都產(chǎn)生漏磁場，磁粉被吸引到傷部。然后，磁粉集合到傷部，從而在被檢查物10的表面形成由于傷部而引起的磁粉指示圖案。
[0061]另外，通過鼓風(fēng)裝置14而適當(dāng)?shù)卣{(diào)節(jié)在被檢查物10的表面流過的磁粉檢查液的流速。在使磁粉指示圖案穩(wěn)定地形成的觀點中，磁粉檢查液的流速優(yōu)選為5?100mm/s。如果磁粉檢查液的流速比lOOmm/s快，則磁粉變得難以被由于傷部而引起的漏磁場吸引，磁粉指示圖案變得不穩(wěn)定。另一方面，如果磁粉檢查液的流速比5mm/s慢，則穩(wěn)定的磁粉指示圖案的形成需要大量的時間，從而涉及檢查效率的下降。
[0062]關(guān)于這樣形成的磁粉指示圖案，通過由紫外線探傷燈15照射紫外線，從而使包覆磁粉的表面的熒光體激發(fā)，通過攝像裝置16進(jìn)行攝像。將由該攝像裝置16攝像的原圖像送到檢測裝置30。檢測裝置30對該原圖像進(jìn)行規(guī)定的處理，檢測原圖像內(nèi)的傷部，將其位置數(shù)據(jù)送到控制器C。然后，控制器C根據(jù)該傷部的位置數(shù)據(jù)和搬送距離測量裝置18的測量數(shù)據(jù)，控制標(biāo)記裝置17的動作，對被檢查物10的表面的傷部進(jìn)行標(biāo)記。
[0063]接下來，說明利用檢測裝置30的傷部的檢測方法。圖3是用于說明檢測裝置30的檢測動作的一個例子的流程圖。檢測裝置30經(jīng)由控制器C取入由攝像裝置16攝像的圖像信號(原圖像)(步驟SI)。此處，攝像的原圖像由例如縱960X橫1280的像素構(gòu)成。另外，將由攝像裝置16攝像的時刻與原圖像關(guān)聯(lián)起來。
[0064]接下來，檢測裝置30通過第I抽取部31，針對取入的原圖像，作為前處理，進(jìn)行使用了各種濾波器的強調(diào)處理(步驟S2)。此處，強調(diào)處理只要是強調(diào)原圖像中的傷部那樣的處理即可，例如是LUT(Look Up Table，查找表)變換處理、擴大/收縮處理、陰影(shading)處理等，也可以采取將這些各種處理進(jìn)行了組合的處理。
[0065]然后，第I抽取部31利用第I閾值對進(jìn)行了強調(diào)處理的圖像進(jìn)行二值化處理(步驟
53)。圖4表示示出通過第I抽取部31進(jìn)行了二值化處理的圖像的一個例子的概略圖。另外，第I閾值是預(yù)先設(shè)定的值，保存于檢測裝置30的未圖示的主存儲裝置。
[0066]另外，第I抽取部31在進(jìn)行了二值化處理的圖像中進(jìn)行標(biāo)示(labeling)處理(步驟
54)。此處，標(biāo)示處理是指，在二值化圖像中針對連續(xù)的像素賦予相同的標(biāo)簽來進(jìn)行區(qū)域劃分的處理。
[0067]然后，第I抽取部31針對被賦予了標(biāo)簽的每個區(qū)域，計算例如面積、長度、縱向的寬度、橫向的寬度等，來作為判定值，將這些計算出的判定值與預(yù)先保存的第I判定基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，判定是否為第I傷候補部，抽取與第I傷候補部相應(yīng)的區(qū)域(步驟S5)。
[0068]此處，第I傷候補部表示假想為傷部的區(qū)域。另外，第I抽取部31針對被賦予了標(biāo)簽的所有區(qū)域，進(jìn)行判定值的計算、計算出的判定值與第I判定基準(zhǔn)值的比較、以及是否為第I傷候補部的判定。另外，圖5表示示出抽取出的第I傷候補部40的一個例子的圖像的概略圖。另外，圖5是將區(qū)域的長度作為判定值而抽取出第I傷候補部40的狀態(tài)，是抽取出4個第I傷候補部40a、40b、40c、40d的狀態(tài)。
[0069]另外，判定值不限于上述例子，是能夠比較區(qū)域的特征的值即可，適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行設(shè)定。另外，是否為第I傷候補部40的判定可以根據(jù)I種判定值來進(jìn)行，也可以根據(jù)多種判定值來進(jìn)行。另外，在根據(jù)多種判定值而判定是否為第I傷候補部40的情況下，在這些多種判定值中至少根據(jù)I種判定值來完成判定即可。例如，也可以是在3種判定值中至少兩種判定值滿足第I判定基準(zhǔn)的情況下將該區(qū)域判定為是第I傷候補部40那樣的結(jié)構(gòu)。
[0070]另外，第I抽取部31不限于針對每個區(qū)域而反復(fù)進(jìn)行步驟S5的結(jié)構(gòu)，也可以是針對所有區(qū)域計算判定值，接著針對每個區(qū)域進(jìn)行計算出的判定值與第I判定基準(zhǔn)值的比較、以及是否為第I傷候補部的判定那樣的結(jié)構(gòu)。
[0071]接下來，檢測裝置30通過檢查區(qū)域生成部32，針對由第I抽取部31抽取出的每個第I傷候補部40，生成包括各自的檢查區(qū)域41(步驟S6)。另外，圖6表示示出生成的檢查區(qū)域41的一個例子的圖像的概略圖。另外，圖6是生成了針對4個第I傷候補部40a、40b、40c、40d的檢查區(qū)域41a、41b、41c、41d的狀態(tài)。檢查區(qū)域41是由在縱向以及橫向上延伸的矩形包圍的區(qū)域。而且，檢查區(qū)域41是由使其面積為最小的矩形在縱向以及橫向上分別擴大了規(guī)定的寬度而得到的矩形包圍的區(qū)域。此處，檢查區(qū)域41的形狀、大小等沒有限定，是包括第I傷候補部40的區(qū)域即可。例如，檢查區(qū)域41也可以是由菱形、梯形、圓、橢圓等包圍的區(qū)域。另外，檢查區(qū)域41也可以是傾斜的區(qū)域，例如也可以是在第I傷候補部40的長軸方向上延伸的矩形等。
[0072]接下來，檢測裝置30通過第2抽取部33抽出與檢查區(qū)域41對應(yīng)的原圖像(步驟S7)。
[0073]然后，第2抽取部33與第I抽取部31同樣地，對抽出了與檢查區(qū)域41對應(yīng)的原圖像而得到的圖像進(jìn)行強調(diào)處理(步驟S8)。進(jìn)而，第2抽取部33利用第2閾值對該進(jìn)行了強調(diào)處理的圖像進(jìn)行二值化處理(步驟S9)。圖7表示示出由第2抽取部33進(jìn)行了二值化處理的圖像的一個例子的概略圖。另外，第2閾值是預(yù)先設(shè)定的值，保存于檢測裝置30的未圖示的主存儲裝置。而且，該第2閾值小于第I閾值。此處，在圖7中，與圖4相比，形成了許多個更小的區(qū)域。另外，圖6中的與第I傷候補部40b對應(yīng)的區(qū)域和與第I傷候補部40d對應(yīng)的區(qū)域連結(jié)，形成為I個區(qū)域。這是因為，第2閾值小于第I閾值，是還包括亮度更小的區(qū)域的狀態(tài)。
[0074]此處，傷部在根據(jù)其深度、寬度而隨機地存在亮度大的區(qū)域和亮度小的區(qū)域的狀態(tài)下被攝像。但是，能夠通過利用該第2閾值進(jìn)行二值化處理的步驟S9而使亮度更小的區(qū)域也包含于后述第2傷候補部，能夠防止與傷部相當(dāng)?shù)膮^(qū)域成為斷斷續(xù)續(xù)的傷。
[0075]另外，第2抽取部33與第I抽取部31同樣地，在進(jìn)行了二值化處理的圖像中，進(jìn)行標(biāo)示處理(步驟S10)。然后，第2抽取部33針對被賦予了標(biāo)簽的每個區(qū)域，計算例如面積、長度、縱向的寬度、橫向的寬度等，來作為判定值，將這些計算出的判定值與預(yù)先保存的第2判定基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，判定是否為第2傷候補部，抽取與第2傷候補部相應(yīng)的區(qū)域(步驟Sll)。
[0076]此處，第2傷候補部與第I傷候補部同樣地，表示假想為傷部的區(qū)域。另外，第2抽取部33中的第2判定基準(zhǔn)值與第I抽取部31中的第I判定基準(zhǔn)值不同。第2判定基準(zhǔn)值設(shè)為比第I判定基準(zhǔn)值難以抽取區(qū)域的狀態(tài)。另外，難以抽取的狀態(tài)表示例如抽取更大的區(qū)域或更長的區(qū)域的狀態(tài)。另一方面，易于抽取的狀態(tài)表示例如抽取更小的區(qū)域或更短的區(qū)域的狀態(tài)。另外，例如，關(guān)于區(qū)域的長度，第2判定基準(zhǔn)值的范圍是比第I判定基準(zhǔn)值的范圍窄的范圍，且設(shè)為第I判定基準(zhǔn)值的范圍所包含的范圍。
[0077]另外，第2抽取部33針對被賦予了標(biāo)簽的所有區(qū)域，進(jìn)行判定值的計算、計算出的判定值與第2判定基準(zhǔn)值的比較、以及是否為第2傷候補部的判定。另外，圖8表示示出抽取出的第2傷候補部42的一個例子的圖像的概略圖。另外，圖8是將區(qū)域的長度作為判定值而抽取出第2傷候補部42的狀態(tài)，是抽取出兩個第2傷候補部42a、42b的狀態(tài)。另外，在圖8中，未抽取圖5中的與第I傷候補部40c對應(yīng)的區(qū)域。這是因為，由于將第2判定基準(zhǔn)值設(shè)為比第I判定基準(zhǔn)值難以抽取區(qū)域的狀態(tài)，所以判定為與第I傷候補部40c對應(yīng)的區(qū)域不是假想為傷部的區(qū)域。
[0078]另外，判定值不限于上述例子，是能夠比較區(qū)域的特征的值即可，適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行設(shè)定。另外，是否為第2傷候補部42的判定可以根據(jù)I種判定值來進(jìn)行，也可以根據(jù)多種判定值來進(jìn)行。另外，在根據(jù)多種判定值判定是否為第2傷候補部42的情況下，在這些多種判定值中至少根據(jù)I種判定值來完成判定即可。例如，也可以是在3種判定值中至少兩種判定值滿足判定基準(zhǔn)的情況下將該區(qū)域判定為是第2傷候補部42那樣的結(jié)構(gòu)。
[0079]另外，第2判定基準(zhǔn)值設(shè)為比第I判定基準(zhǔn)值難以抽取區(qū)域的狀態(tài)即可，不限于上述結(jié)構(gòu)。例如，第2判定基準(zhǔn)值與第I判定基準(zhǔn)值也可以是相同的，在這樣的情況下，第2抽取部33構(gòu)成為根據(jù)比第I抽取部31多的種類的判定值而判定是否為第2傷候補部。
[0080]另外，第2抽取部33與第I抽取部31同樣地，不限于針對每個區(qū)域反復(fù)進(jìn)行步驟Sll的結(jié)構(gòu)，也可以是針對所有區(qū)域計算判定值，接著針對每個區(qū)域進(jìn)行計算出的判定值與判定基準(zhǔn)值的比較、以及是否為第I傷候補部的判定那樣的結(jié)構(gòu)。
[0081]接下來，檢測裝置30通過傷判定部34，對第2傷候補部42分別進(jìn)行膨脹處理(步驟S12)。此處，膨脹處理是指，使第2傷候補部42擴大的處理。另外，傷判定部34針對每個第2傷候補部42，計算作為各個外形中的長軸的方向，使第2傷候補部42向該長軸方向擴大規(guī)定的量。即，傷判定部34的膨脹處理是使第2候補部42變長那樣的處理。另外，圖9表示示出對第2傷候補部42進(jìn)行了膨脹處理的一個例子的圖像的概略圖。另外，圖9是對圖8中的兩個第2傷候補部42a、42b進(jìn)行了膨脹處理的狀態(tài)。另外，第2傷候補部42a與第2傷候補部42b由于分別膨脹而連結(jié)，形成了 I個區(qū)域43。
[0082]另外，傷判定部34與第I抽取部31以及第2抽取部33同樣地，在對第2傷候補部42進(jìn)行了膨脹處理而得到的圖像中，進(jìn)行標(biāo)示處理(步驟S13)。然后，傷判定部34針對被賦予了標(biāo)簽的每個區(qū)域，計算例如面積、長度、縱向的寬度、橫向的寬度等，來作為判定值，將這些計算出的判定值與預(yù)先保存的傷判定基準(zhǔn)值進(jìn)行比較，判定是否為傷部，將與傷部相應(yīng)的區(qū)域檢測為傷部(步驟S14)。
[0083]此處，傷判定部34中的傷判定基準(zhǔn)值與第2抽取部33中的第2判定基準(zhǔn)值不同。傷判定基準(zhǔn)值設(shè)為比第2判定基準(zhǔn)值難以抽取區(qū)域的狀態(tài)。例如，關(guān)于區(qū)域的長度，傷判定基準(zhǔn)值的范圍是比第2判定基準(zhǔn)值的范圍窄的范圍，且設(shè)為第2判定基準(zhǔn)值的范圍所包含的范圍。
[0084]另外，傷判定部34針對被賦予了標(biāo)簽的所有區(qū)域，進(jìn)行判定值的計算、計算出的判定值與傷判定基準(zhǔn)值的比較、以及是否為傷部的判定。例如，傷判定部34將在圖9中通過膨脹后的第2傷候補部42a與第2傷候補部42b連結(jié)而形成的I個區(qū)域43檢測為I個傷部。然后，檢測裝置30將檢測到的傷部的位置數(shù)據(jù)發(fā)送到控制器C。
[0085]另外，判定值不限于上述例子，是能夠比較區(qū)域的特征的值即可，適當(dāng)?shù)剡M(jìn)行設(shè)定。另外，是否為傷部的判定可以根據(jù)I種判定值來進(jìn)行，也可以根據(jù)多種判定值來進(jìn)行。另夕卜，在根據(jù)多種判定值判定是否為傷部的情況下，在這些多種判定值中至少根據(jù)I種判定值來完成判定即可。例如，也可以是在3種判定值中至少兩種判定值滿足判定基準(zhǔn)的情況下將該區(qū)域判定為是傷部那樣的結(jié)構(gòu)。
[0086]另外，傷判定基準(zhǔn)值設(shè)為比第2判定基準(zhǔn)值難以抽取區(qū)域的狀態(tài)即可，不限于上述結(jié)構(gòu)。例如，傷判定基準(zhǔn)值與第2判定基準(zhǔn)值也可以是相同的，在這樣的情況下，傷判定部34構(gòu)成為根據(jù)比第2抽取部33多的種類的判定值而判定是否為傷部。
[0087]另外，傷判定部34與第I抽取部31、第2抽取部33同樣地，不限于針對每個區(qū)域反復(fù)進(jìn)行步驟S14的結(jié)構(gòu)，也可以是針對所有區(qū)域計算判定值，接著針對每個區(qū)域進(jìn)行計算出的判定值與判定基準(zhǔn)值的比較、以及是否為第I傷候補部的判定那樣的結(jié)構(gòu)。
[0088]另外，檢測裝置30也可以構(gòu)成為將抽取出第I傷候補部40而得到的圖像、抽取出所生成的檢查區(qū)域41、第2傷候補部42而得到的圖像、對第2傷候補部42進(jìn)行了膨脹處理而得到的圖像、檢測到傷部的圖像、計算出的判定值等數(shù)據(jù)適當(dāng)?shù)乇４娴街鞔鎯Σ俊?br>[0089]另外，檢測裝置30也可以構(gòu)成為在步驟S2中將進(jìn)行了強調(diào)處理的圖像保存到主存儲部，在步驟S7中抽出與檢查區(qū)域41對應(yīng)的進(jìn)行了該強調(diào)處理的圖像，利用第2閾值對與該檢查區(qū)域41對應(yīng)的進(jìn)行了強調(diào)處理的圖像進(jìn)行二值化處理。通過作成這樣的結(jié)構(gòu)，能夠省略進(jìn)行強調(diào)處理的步驟S8，能夠降低檢測裝置30的運算量。
[0090]這樣，在本實施方式中，檢測裝置30通過第I抽取部31，利用第I閾值對原圖像進(jìn)行二值化處理，抽取第I傷候補部40，通過檢查區(qū)域生成部32，生成檢查區(qū)域41，通過第2抽取部33，利用第2閾值對檢查區(qū)域41進(jìn)行二值化處理，抽取第2傷候補部42，通過傷判定部34，對第2傷候補部42進(jìn)行膨脹處理，檢測傷部。根據(jù)該方法，能夠提供防止傷部的檢測遺漏以及過檢測而提高了傷部的檢測率的利用探傷裝置的傷部檢測方法。
[0091 ] 此處，步驟S9中的第2閾值小于步驟S3中的第I閾值。即，步驟S9與步驟S3相比還抽取亮度更低的像素。另外，步驟S9是針對作為所限定的區(qū)域的檢查區(qū)域41的處理。而且，檢測裝置30首先抽取作為假想為傷部的區(qū)域的第I傷候補部40，針對包括該第I傷候補部40的限定的區(qū)域內(nèi)，重新抽取作為假想為傷部的區(qū)域的、包括亮度更低的部分的第2傷候補部42。因此，檢測裝置30不針對原圖像的所有區(qū)域抽取包括亮度低的部分的傷候補部，所以能夠防止將微小的傷、毛刺、灰塵等檢測為傷部(過檢測)。另外，步驟S9是作為限定的區(qū)域的檢查區(qū)域41的二值化處理，所以防止檢測裝置30的運算量增大。
[0092]另外，傷判定部34對第2傷候補部42進(jìn)行膨脹處理來檢測傷部，所以能夠防止將I個連續(xù)的傷判定為是斷斷續(xù)續(xù)的傷而不是傷部，防止傷部的檢測遺漏。另外，傷判定部34對從使用了亮度比第I閾值小的第2閾值的二值化處理抽取出的第2傷候補部42進(jìn)行膨脹處理，所以能夠更有效地防止傷部的檢測遺漏。
[0093]另外，由傷判定部34進(jìn)行的膨脹處理是使第2傷候補部42向長軸方向膨脹的處理、即在是I個連續(xù)的傷部的情況下使得向假想為其延伸的方向的方向進(jìn)行膨脹的處理。因此，傷判定部34更可靠地防止判定為與傷部相當(dāng)?shù)膮^(qū)域是斷斷續(xù)續(xù)的傷而不是傷部，能夠以更高的準(zhǔn)確度防止傷部的檢測遺漏。
[0094]另外，檢測裝置30通過適當(dāng)?shù)卦O(shè)定第I閾值、第2閾值、第I判定基準(zhǔn)值、第2判定基準(zhǔn)值、傷判定基準(zhǔn)值，從而能夠適當(dāng)?shù)刈兏鼨z測為傷部的傷部的大小，能夠適當(dāng)?shù)卣{(diào)節(jié)傷部的檢查精度，使用性良好。
[0095]如以上那樣，在本實施方式中，在攝像裝置16對被檢查物10的表面進(jìn)行攝像，檢測裝置30對由攝像裝置16攝像的原圖像進(jìn)行處理，檢測表面處的傷部的磁粉探傷裝置I的傷部檢測方法中，檢測裝置30利用第I閾值對原圖像進(jìn)行二值化處理，抽取第I傷候補部40，以包括第I傷候補部40的方式生成檢查區(qū)域41，利用第2閾值對檢查區(qū)域41進(jìn)行二值化處理，抽取第2傷候補部42，對第2傷候補部42進(jìn)行膨脹處理，檢測傷部。
[0096]因此，根據(jù)本實施方式，能夠提供防止傷部的檢測遺漏以及過檢測而提高了傷部的檢測率的利用探傷裝置的傷部檢測方法。
[0097]另外，一種磁粉探傷裝置I，具備:攝像裝置16，對被檢查物10的表面進(jìn)行攝像；以及檢測裝置30，對由攝像裝置16攝像的原圖像進(jìn)行處理，檢測表面處的傷部，其中，所述檢測裝置30具備:第I抽取部31，利用第I閾值對原圖像進(jìn)行二值化處理，抽取第I傷候補部40;檢查區(qū)域生成部32，以包括第I傷候補部40的方式生成檢查區(qū)域41;第2抽取部33，利用第2閾值對檢查區(qū)域41進(jìn)行二值化處理，抽取第2傷候補部42;以及傷判定部34，對第2傷候補部42進(jìn)行膨脹處理，檢測傷部。
[0098]另外，根據(jù)本實施方式，能夠提供防止傷部的檢測遺漏以及過檢測而提高了傷部的檢測率的磁粉探傷裝置I。
[0099]另外，作為探傷裝置的磁粉探傷裝置I不限于上述結(jié)構(gòu)。例如，控制器C與檢測裝置30也可以一體地構(gòu)成。即，也可以是控制器C具備第I抽取部31、檢查區(qū)域生成部32、第2抽取部33以及傷判定部34的結(jié)構(gòu)。通過作成這樣的結(jié)構(gòu)，磁粉探傷裝置I得到簡化，實現(xiàn)小型化。另外，檢測裝置30也可以是具備監(jiān)視器的結(jié)構(gòu)，所述監(jiān)視器使抽取出第I傷候補部40而得到的圖像、抽取出所生成的檢查區(qū)域41、第2傷候補部42而得到的圖像、對第2傷候補部42進(jìn)行了膨脹處理而得到的圖像、檢測到的傷部的圖像、計算出的判定值等數(shù)據(jù)顯示。能夠通過這樣的結(jié)構(gòu)而適當(dāng)?shù)卮_認(rèn)傷部的檢測結(jié)果，使用性良好。
[0100]另外，磁粉探傷裝置I也可以是還具備與控制器C連接的其它控制器的結(jié)構(gòu)。其它控制器與控制器C同樣地，由進(jìn)行運算處理以及控制處理的處理裝置、保存數(shù)據(jù)的主存儲裝置等構(gòu)成，是例如具備CPU、主存儲裝置、定時器、輸入電路、輸出電路、電源電路等的微型計算機?？刂破鰿將抽取出第I傷候補部40而得到的圖像、抽取出所生成的檢查區(qū)域41、第2傷候補部42而得到的圖像、對第2傷候補部42進(jìn)行了膨脹處理而得到的圖像、檢測到的傷部的圖像、計算出的判定值等數(shù)據(jù)送到其它控制器。另一方面，其它控制器將從控制器C送來的這些數(shù)據(jù)與預(yù)先保存的被檢查物10的尺寸、材質(zhì)等數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)起來而保存到其主存儲裝置。
[0101]通過作成這樣的結(jié)構(gòu)，能夠通過其它控制器制作被檢查物10的傷部的映射數(shù)據(jù)，能夠容易地進(jìn)行被檢查物10的生產(chǎn)管理。另外，也可以構(gòu)成為控制器C從其它控制器接收被檢查物1的尺寸、材質(zhì)等數(shù)據(jù)，制作被檢查物1的傷部的映射數(shù)據(jù)。
[0102]產(chǎn)業(yè)上的可利用性
[0103]另外，本發(fā)明的探傷裝置不限于磁粉探傷裝置I，例如，也可以是使用浸透液而對被檢查物的表面的傷部進(jìn)行探傷的浸透探傷裝置，能夠應(yīng)用于具備對被檢查物的表面進(jìn)行攝像的攝像裝置、和對由攝像裝置攝像的原圖像進(jìn)行處理來檢測表面處的傷部的檢測裝置的所有探傷裝置。
【主權(quán)項】
1.一種探傷裝置，具備: 攝像裝置，對被檢查物的表面進(jìn)行攝像；以及 檢測裝置，對由所述攝像裝置攝像的原圖像進(jìn)行處理，檢測所述表面處的傷部， 其特征在于， 所述檢測裝置具備: 第I抽取部，利用第I閾值對所述原圖像進(jìn)行二值化處理，抽取第I傷候補部； 檢查區(qū)域生成部，以包括所述第I傷候補部的方式生成檢查區(qū)域； 第2抽取部，利用第2閾值對所述檢查區(qū)域進(jìn)行二值化處理，抽取第2傷候補部；以及 傷判定部，對所述第2傷候補部進(jìn)行膨脹處理，檢測所述傷部。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探傷裝置，其特征在于， 所述第2閾值小于所述第I閾值。3.根據(jù)權(quán)利要求1或者2所述的探傷裝置，其特征在于， 所述檢查區(qū)域是由使包括所述第I傷候補部的最小的矩形擴大了規(guī)定的寬度而得到的矩形包圍的區(qū)域。4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中的任意一項所述的探傷裝置，其特征在于， 所述膨脹處理是使所述第2傷候補部向各自的長軸方向膨脹的處理。5.一種利用探傷裝置的傷部檢測方法， 在所述傷部檢測方法中， 攝像裝置對被檢查物的表面進(jìn)行攝像， 檢測裝置對由所述攝像裝置攝像的原圖像進(jìn)行處理，檢測所述表面處的傷部， 所述傷部檢測方法的特征在于， 所述檢測裝置利用第I閾值對所述原圖像進(jìn)行二值化處理，抽取第I傷候補部，以包括所述第I傷候補部的方式生成檢查區(qū)域，利用第2閾值對所述檢查區(qū)域進(jìn)行二值化處理，抽取第2傷候補部，對所述第2傷候補部進(jìn)行膨脹處理，檢測所述傷部。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的利用探傷裝置的傷部檢測方法，其特征在于， 所述第2閾值小于所述第I閾值。7.根據(jù)權(quán)利要求5或者6所述的利用探傷裝置的傷部檢測方法，其特征在于， 所述檢查區(qū)域是由使包括所述第I傷候補部的最小的矩形擴大了規(guī)定的寬度而得到的矩形包圍的區(qū)域。8.根據(jù)權(quán)利要求5至7中的任意一項所述的利用探傷裝置的傷部檢測方法，其特征在于， 所述膨脹處理是使所述第2傷候補部向各自的長軸方向膨脹的處理。
【文檔編號】G01N21/88GK106053593SQ201610202357
【公開日】2016年10月26日
【申請日】2016年4月1日 公開號201610202357.7, CN 106053593 A, CN 106053593A, CN 201610202357, CN-A-106053593, CN106053593 A, CN106053593A, CN201610202357, CN201610202357.7
【發(fā)明人】松本謙二
【申請人】碼科泰克株式會社