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      一種交變流動阻力損失測試裝置的制造方法

      文檔序號:10721862閱讀:227來源:國知局
      一種交變流動阻力損失測試裝置的制造方法
      【專利摘要】本發(fā)明公開了一種交變流動阻力損失測試裝置,用于測試待測元件的阻力損失,上述裝置包括為上述待測元件提供交變壓力波的壓力波發(fā)生器,與上述壓力波發(fā)生器連接且位于上述待測元件一側(cè)的第一熱連接管,位于上述待測元件另外一側(cè)的第二熱連接管,以及分別設(shè)置在上述第一熱連接管和第二熱連接管上的第一壓力傳感器和第二壓力傳感器。通過上述第一壓力傳感器和第二壓力傳感器可以分別實時測量待測元件的動態(tài)壓差和平均壓力,并通過比較,可以獲知待測元件交變流動下的阻力損失,從而可以有效指導(dǎo)相關(guān)部件的設(shè)計和優(yōu)化。
      【專利說明】
      一種交變流動阻力損失測試裝置
      技術(shù)領(lǐng)域
      [0001]本發(fā)明涉及阻力損失測試技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種交變流動阻力損失測試裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]蓄冷器是回?zé)崾街评錂C中的關(guān)鍵部件,其性能的好壞直接影響到回?zé)崾街评錂C的效率和性能。蓄冷器是制冷機冷量損失的主體,而交變流動阻力損失又是蓄冷器冷量損失的主體,因此,蓄冷器中阻力損失對于制冷機整機的冷量損失影響巨大,如何通過測試和降低蓄冷器中阻力損失,來有效指導(dǎo)蓄冷器的設(shè)計,是提升制冷機制冷效果的一個關(guān)鍵性問題。
      [0003]目前,一種公知的技術(shù)中,通過測試單向流動條件下蓄冷器等待測元件的阻抗來表征待測元件的交變流動阻力損失,而且,該測試通常是在室溫環(huán)境中進行的。但是,由于交變流動與單向流動存在較大差別,尤其是隨著頻率的提升,差別就更大,單向條件下測得的阻力損失不能有效表征交變流動條件下的阻力損失。此外,在室溫條件下測得的待測元件的流動損失與實際情況也存在較大偏離,例如,蓄冷器之類的待測元件實際上存在漸變的溫度場分布,并非處于均衡的室溫環(huán)境中;多路旁通之類的待測元件實際上處于低溫環(huán)境,也未處于室溫環(huán)境中。
      [0004]因此,需提供一種交變流動阻力損失測試裝置,以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述技術(shù)問題。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005]本發(fā)明實施例提供了一種交變流動阻力損失測試裝置,可以對待測元件的交變流動條件下的阻力損失進行原位測試,從而可以有效指導(dǎo)相關(guān)部件的設(shè)計和優(yōu)化。
      [0006]為了實現(xiàn)上述發(fā)明目的,本發(fā)明實施例提供了一種交變流動阻力損失測試裝置,用于測試待測元件的阻力損失,其特征在于,所述裝置包括為所述待測元件提供交變壓力波的壓力波發(fā)生器,與所述壓力波發(fā)生器連接且位于所述待測元件一側(cè)的第一熱連接管,位于所述待測元件另外一側(cè)的第二熱連接管,以及分別設(shè)置在所述第一熱連接管和第二熱連接管上的第一壓力傳感器和第二壓力傳感器。
      [0007]在本發(fā)明提供的一種交變流動阻力損失測試裝置的實施例中,所述裝置還包括位于所述第二熱連接管相對于所述待測元件另外一側(cè)的相位調(diào)節(jié)單元。
      [0008]在本發(fā)明提供的一種交變流動阻力損失測試裝置的實施例中,所述第一熱連接管與所述待測元件間設(shè)置第一換熱器,第二熱連接管與所述待測元件間設(shè)置第二換熱器。
      [0009]在本發(fā)明提供的一種交變流動阻力損失測試裝置的實施例中,所述裝置還包括分別對所述第一換熱器和第二換熱器進行控溫的第一控溫單元和第二控溫單元,且所述第一控溫單元和第二控溫單元分別通過第一熱橋和第二熱橋與低溫冷源連接。
      [0010]在本發(fā)明提供的一種交變流動阻力損失測試裝置的實施例中,所述低溫冷源包括與所述第一熱橋連接的第一低溫冷源和與所述第二熱橋連接的第二低溫冷源。
      [0011]在本發(fā)明提供的一種交變流動阻力損失測試裝置的實施例中,所述低溫冷源為制冷機或低溫液體。
      [0012]在本發(fā)明提供的一種交變流動阻力損失測試裝置的實施例中,所述壓力波發(fā)生器處于室溫環(huán)境。
      [0013]在本發(fā)明提供的一種交變流動阻力損失測試裝置的實施例中,所述相位調(diào)節(jié)單元處于室溫或低溫環(huán)境。
      [0014]在本發(fā)明提供的一種交變流動阻力損失測試裝置的實施例中,所述待測元件為蓄冷器,或雙向進氣、多路旁通、閥門或長頸管。
      [0015]本發(fā)明提供的交變流動阻力損失測試裝置,通過上述第一壓力傳感器和第二壓力傳感器可以分別實時測量待測元件的動態(tài)壓差和平均壓力,并通過比較,可以獲知待測元件的交變流動下的阻力損失,從而可以有效指導(dǎo)相關(guān)部件的設(shè)計和優(yōu)化。
      【附圖說明】
      [0016]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案,下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
      [0017]圖1是本發(fā)明一種實施例提供的一種交變流動阻力損失測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0018]圖2是本發(fā)明另一種實施例提供的一種交變流動阻力損失測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
      【具體實施方式】
      [0019]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚,下面將結(jié)合附圖和【具體實施方式】,對本發(fā)明實施方式作進一步地詳細描述。應(yīng)當(dāng)理解的是,本說明書中描述的【具體實施方式】僅僅是為了解釋本發(fā)明,并非為了限定本發(fā)明。
      [0020]請參閱圖1所示,本發(fā)明實施例提供了一種交變流動阻力損失測試裝置,用于測試待測元件5的阻力損失,該裝置包括為上述待測元件5提供交變壓力波的壓力波發(fā)生器1,與上述壓力波發(fā)生器I連接且位于上述待測元件5—側(cè)的第一熱連接管2,位于上述待測元件5另外一側(cè)的第二熱連接管9,以及分別設(shè)置在上述第一熱連接管2和第二熱連接管9上的第一壓力傳感器3和第二壓力傳感器7。
      [0021]待測元件5為蓄冷器,或雙向進氣、多路旁通、閥門或長頸管等阻力元件。
      [0022]壓力波發(fā)生器I位于待測元件5的一側(cè),用于為待測元件5提供測試所需的交變壓力波。
      [0023]第一熱連接管2與壓力波發(fā)生器I連接,用于傳輸工質(zhì)氣體,例如氦氣等。第一熱連接管2與壓力波發(fā)生器I相對的另一側(cè)與待測元件5連接。
      [0024]第一壓力傳感器3設(shè)置在第一熱連接管2上,用于實時測量動態(tài)壓差和平均壓力。
      [0025]第二熱連接管9的一側(cè)與待測元件5連接,用于傳輸上述工質(zhì)氣體。
      [0026]第二壓力傳感器7設(shè)置在第二熱連接管9上,用于實時測試動態(tài)壓差和平均壓力。
      [0027]工質(zhì)氣體從壓力波發(fā)生器I流入,依次經(jīng)過壓力波發(fā)生器1、第一熱連接管2、待測元件5、第二熱連接管9。分別位于第一熱連接管2和第二熱連接管9上的第一壓力傳感器3和第二壓力傳感器7分別實時測得動態(tài)壓差和平均壓力。將第一壓力傳感器3和第二壓力傳感器7分別實時測得的壓力波信息進行比較得到壓降損失,從而實現(xiàn)對交變流動的阻力損失進行表征。
      [0028]進一步地,本發(fā)明一種實施例提供的一種交變流動阻力損失測試裝置還包括位于第二熱連接管9相對于待測元件5另外一側(cè)的相位調(diào)節(jié)單元8,該相位調(diào)節(jié)單元8用于提供待測元件5所需的質(zhì)量流與壓力波相位關(guān)系。
      [0029]進一步地,本發(fā)明又一種實施例提供的一種交變流動阻力損失測試裝置中,第一熱連接管2與待測元件5間設(shè)置第一換熱器4,第二熱連接管9與待測元件5間設(shè)置第二換熱器6 ο
      [0030]進一步地,本發(fā)明又一種實施例提供的一種交變流動阻力損失測試裝置還包括分別對第一換熱器4和第二換熱器9進行控溫的第一控溫單元14和第二控溫單元10,且第一控溫單元14和第二控溫單元10分別通過第一熱橋13和第二熱橋11與低溫冷源12連接。
      [0031]低溫冷源12為交變流動阻力損失測試裝置提供測試所需的冷量,第一控溫單元14與第二控溫單元10分別對第一換熱器4和第二換熱器6進行控溫,以提供測試所需的特定溫度場,且待測元件5兩側(cè)通過第一控溫單元14和第二控溫單元10獲得的溫度可以根據(jù)實際需要設(shè)置為相同,也可以根據(jù)實際需要設(shè)置為不同。
      [0032]請參圖2所示,上述低溫冷源12包括與第一熱橋13連接的第一低溫冷源12b和與第二熱橋11連接的第二低溫冷源12a。
      [0033 ]上述低溫冷源(12、12a、12b)為制冷機或低溫液體,例如液氮、液氦。
      [0034]進一步地,壓力波發(fā)生器I處于室溫環(huán)境。
      [0035]進一步地,相位調(diào)節(jié)單元8處于室溫環(huán)境,根據(jù)實際需要,也可將相位調(diào)節(jié)單元置于低溫環(huán)境。
      [0036]工質(zhì)氣體從壓力波發(fā)生器I流入,依次經(jīng)過壓力波發(fā)生器1、第一熱連接管2、第一換熱器4、待測元件5、第二換熱器6、第二熱連接管9,進入相位調(diào)節(jié)單元8。分別位于第一熱連接管2和第二熱連接管9上的第一壓力傳感器3和第二壓力傳感器7根據(jù)上述第一換熱器4和第二換熱器6提供的溫度、壓力波發(fā)生器I提供的交變壓力,以及質(zhì)量流和壓力波之間的相位關(guān)系分別實時測得動態(tài)壓差和平均壓力。并將第一壓力傳感器3和第二壓力傳感器7分別實時測得的壓力波信息進行比較,以得到壓降損失,從而實現(xiàn)對交變流動的阻力損失進行表征。
      [0037]本發(fā)明實施例提供的交變流動阻力損失測試裝置,通過上述第一壓力傳感器3和第二壓力傳感器7可以分別實時測量待測元件5的動態(tài)壓差和平均壓力,并通過比較,可以獲知待測元件5交變流動下的阻力損失,從而可以有效指導(dǎo)相關(guān)部件的設(shè)計和優(yōu)化。
      [0038]上述本發(fā)明實施例序號僅僅為了描述,不代表實施例的優(yōu)劣。
      [0039]據(jù)上述說明書的揭示和教導(dǎo),本發(fā)明所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員還可以對上述實施方式進行適當(dāng)?shù)淖兏托薷摹R虼?,本發(fā)明并不局限于上面揭示和描述的【具體實施方式】,對本發(fā)明的一些修改和變更也應(yīng)當(dāng)落入本發(fā)明的權(quán)利要求的保護范圍內(nèi)。此外,盡管本說明書中使用了一些特定的術(shù)語,但這些術(shù)語只是為了方便說明,并不對本發(fā)明構(gòu)成任何限制。
      【主權(quán)項】
      1.一種交變流動阻力損失測試裝置,用于測試待測元件的阻力損失,其特征在于,所述裝置包括為所述待測元件提供交變壓力波的壓力波發(fā)生器,與所述壓力波發(fā)生器連接且位于所述待測元件一側(cè)的第一熱連接管,位于所述待測元件另外一側(cè)的第二熱連接管,以及分別設(shè)置在所述第一熱連接管和第二熱連接管上的第一壓力傳感器和第二壓力傳感器。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述裝置還包括位于所述第二熱連接管相對于所述待測元件另外一側(cè)的相位調(diào)節(jié)單元。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置,其特征在于,所述第一熱連接管與所述待測元件間設(shè)置第一換熱器,第二熱連接管與所述待測元件間設(shè)置第二換熱器。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置,其特征在于,所述裝置還包括分別對所述第一換熱器和第二換熱器進行控溫的第一控溫單元和第二控溫單元,且所述第一控溫單元和第二控溫單元分別通過第一熱橋和第二熱橋與低溫冷源連接。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置,其特征在于,所述低溫冷源包括與所述第一熱橋連接的第一低溫冷源和與所述第二熱橋連接的第二低溫冷源。6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置,其特征在于,所述低溫冷源為制冷機或低溫液體。7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置,其特征在于,所述壓力波發(fā)生器處于室溫環(huán)境。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置,其特征在于,所述相位調(diào)節(jié)單元處于室溫或低溫環(huán)境。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的裝置,其特征在于,所述待測元件為蓄冷器,或雙向進氣、多路旁通、閥門或長頸管。
      【文檔編號】G01M13/00GK106092536SQ201610417830
      【公開日】2016年11月9日
      【申請日】2016年6月13日 公開號201610417830.3, CN 106092536 A, CN 106092536A, CN 201610417830, CN-A-106092536, CN106092536 A, CN106092536A, CN201610417830, CN201610417830.3
      【發(fā)明人】陳六彪, 王俊杰, 周遠, 朱文秀
      【申請人】中國科學(xué)院理化技術(shù)研究所
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