觸控屏的劃線老化檢測(cè)方法及檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及液晶模組檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種觸控屏的劃線老化檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法。成觸控屏參數(shù)配置文件及包含多個(gè)檢測(cè)圖形數(shù)據(jù)的模組檢測(cè)圖形列表文件，在模組檢測(cè)圖形列表文件添加劃線檢測(cè)流程；下發(fā)觸控屏參數(shù)配置文件及模組檢測(cè)圖形列表文件，點(diǎn)亮各個(gè)檢測(cè)通道的觸控屏；根據(jù)模組檢測(cè)圖形列表文件在觸控屏上循環(huán)的切換檢測(cè)畫面，當(dāng)任一觸控屏當(dāng)前檢測(cè)畫面中添加有劃線檢測(cè)流程時(shí)，觸發(fā)劃線檢測(cè)流程，作業(yè)員對(duì)所述觸控屏進(jìn)行劃線操作，將劃線軌跡顯示不良的觸控屏挑出。對(duì)于不同的觸控屏，能對(duì)接使用了不同標(biāo)準(zhǔn)不同接口觸控芯片的觸控屏，具有良好的兼容性?？梢耘繉?duì)觸控屏進(jìn)行劃線老化驗(yàn)證，提高了檢測(cè)效率，大大縮短檢測(cè)時(shí)間。
【專利說明】
觸控屏的劃線老化檢測(cè)方法及檢測(cè)系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及觸控屏檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種觸控屏的劃線老化檢測(cè)方法及檢測(cè)系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]近年來，隨著智能手機(jī)、平板電腦等消費(fèi)類數(shù)碼產(chǎn)品的快速普及，使得觸控屏的需求激增，涌現(xiàn)出眾多觸控芯片廠商，芯片廠商以及模組生產(chǎn)廠商紛紛加大研發(fā)與生產(chǎn)投入，使得觸控屏方面的技術(shù)得到了快速發(fā)展。雖則如此，觸控屏仍是生產(chǎn)工藝極為復(fù)雜的產(chǎn)品，對(duì)于觸控屏量產(chǎn)來說，劃線功能的老化檢測(cè)是必要的步驟，依據(jù)檢測(cè)情況確定觸控屏的觸控功能是否能持續(xù)穩(wěn)定地運(yùn)行，攔下不合格品，提高產(chǎn)品良率。然而目前市場(chǎng)上眾多的觸控芯片廠商，其各自生產(chǎn)的芯片標(biāo)準(zhǔn)不盡相同，各家的燒錄測(cè)試套件也各不相同，加之這些燒錄測(cè)試套件功能相對(duì)獨(dú)立單一，適用于單塊觸控面板的固件更新以及生產(chǎn)調(diào)試，對(duì)于劃線老化檢測(cè)這種一個(gè)控制系統(tǒng)要同時(shí)控制多塊觸控屏進(jìn)行檢測(cè)的情形，則不太適用，故而規(guī)?；慨a(chǎn)時(shí)，對(duì)于觸控屏的劃線老化檢測(cè)，亟待一種全面的觸控屏劃線老化檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法，來進(jìn)行多塊觸控屏同時(shí)的劃線老化檢測(cè)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種適用于多種觸控屏，且能同時(shí)對(duì)多個(gè)觸控屏進(jìn)行檢測(cè)的觸控屏的劃線老化檢測(cè)方法及檢測(cè)系統(tǒng)。
[0004]對(duì)于本發(fā)明一種觸控屏的劃線老化檢測(cè)方法，其技術(shù)方案為，根據(jù)觸控屏的種類生成觸控屏參數(shù)配置文件及包含多個(gè)檢測(cè)圖形數(shù)據(jù)的模組檢測(cè)圖形列表文件，在模組檢測(cè)圖形列表文件的任意一個(gè)或多個(gè)檢測(cè)圖形數(shù)據(jù)中添加任意一路檢測(cè)通道的劃線檢測(cè)流程；
[0005]下發(fā)觸控屏參數(shù)配置文件及模組檢測(cè)圖形列表文件，點(diǎn)亮各個(gè)檢測(cè)通道的觸控屏；
[0006]根據(jù)模組檢測(cè)圖形列表文件在觸控屏上循環(huán)的切換檢測(cè)畫面，當(dāng)任一觸控屏當(dāng)前檢測(cè)畫面中添加有劃線檢測(cè)流程時(shí)，觸發(fā)劃線檢測(cè)流程，作業(yè)員對(duì)所述觸控屏進(jìn)行劃線操作，將劃線軌跡顯示不良的觸控屏挑出。
[0007]進(jìn)一步的，所述劃線檢測(cè)流程為:觸控系統(tǒng)接口單元與觸控芯片建立連接，當(dāng)觸控屏上有手指劃過時(shí)，觸控系統(tǒng)接口單元從觸控芯片實(shí)時(shí)獲取手指劃動(dòng)的坐標(biāo)信息，并將該坐標(biāo)信息反饋給信號(hào)發(fā)生器，所述信號(hào)發(fā)生器對(duì)該坐標(biāo)信息進(jìn)行解析后實(shí)時(shí)的在觸控屏的對(duì)應(yīng)位置顯示出軌跡。
[0008]進(jìn)一步的，作業(yè)員對(duì)所述觸控屏進(jìn)行劃線操作前，將觸控屏置于高溫或低溫老化爐內(nèi)，循環(huán)的切換觸控屏上的檢測(cè)畫面，使各路檢測(cè)通道觸控屏的觸控芯片輪流處于工作狀態(tài)，以對(duì)觸控屏進(jìn)行老化處理。
[0009]進(jìn)一步的，作業(yè)員在所述觸控屏老化處理的過程中重復(fù)對(duì)觸控屏進(jìn)行多次劃線檢測(cè)，每次劃線檢測(cè)過程中均將劃線軌跡顯示不良的觸控屏挑出，直至達(dá)到規(guī)定的老化處理時(shí)長(zhǎng)。
[0010]進(jìn)一步的，在觸控屏老化處理的過程中，當(dāng)觸控屏當(dāng)前檢測(cè)畫面中添加有劃線檢測(cè)流程時(shí)，若作業(yè)員未進(jìn)行劃線操作，則在當(dāng)前檢測(cè)畫面達(dá)到顯示時(shí)長(zhǎng)時(shí)自動(dòng)結(jié)束劃線檢測(cè)流程，并切換到下一檢測(cè)畫面。
[0011]進(jìn)一步的，每路所述檢測(cè)通道均存在一個(gè)與之對(duì)應(yīng)的劃線檢測(cè)流程。
[0012]進(jìn)一步的，所述觸控屏參數(shù)配置文件包括觸控屏分辨率、劃線顯示方式和供電電壓。
[0013]對(duì)于本發(fā)明一種觸控屏的劃線老化檢測(cè)系統(tǒng)，其技術(shù)方案為，包括上層控制系統(tǒng)、通過LAN線與上層控制系統(tǒng)連接的至少一組檢測(cè)單元，每組所述檢測(cè)單元包括一個(gè)信號(hào)發(fā)生器和多個(gè)與信號(hào)發(fā)生器連接的觸控系統(tǒng)接口單元；
[0014]所述上層控制系統(tǒng)用于生成觸控屏參數(shù)配置文件及模組檢測(cè)圖形列表文件，并將觸控屏參數(shù)配置文件及模組檢測(cè)圖形列表文件下發(fā)至各個(gè)檢測(cè)單元；
[0015]所述信號(hào)發(fā)生器用于點(diǎn)亮觸控屏、接收上層控制系統(tǒng)下發(fā)的觸控屏參數(shù)配置文件及模組檢測(cè)圖形列表文件，解析后發(fā)送給控制觸控系統(tǒng)接口單元，以及根據(jù)模組檢測(cè)圖形列表文件中的劃線檢測(cè)流程控制觸控系統(tǒng)接口單元與觸控芯片建立連接，接收控制觸控系統(tǒng)接口單元反饋的坐標(biāo)信息并實(shí)時(shí)的在觸控屏對(duì)應(yīng)位置顯示軌跡；
[0016]所述觸控系統(tǒng)接口單元用于根據(jù)信號(hào)發(fā)生器的控制信號(hào)為觸控芯片供電、建立連接，及實(shí)時(shí)讀取觸控芯片的坐標(biāo)信息并反饋給信號(hào)發(fā)生器。
[0017]進(jìn)一步的，所述信號(hào)發(fā)生器發(fā)送的點(diǎn)屏信號(hào)通過LVDS鏈路輸出至觸控屏。
[0018]本發(fā)明的有益效果:本系統(tǒng)對(duì)于不同的觸控屏，只需要更換對(duì)應(yīng)的觸控屏參數(shù)配置，下發(fā)給觸控系統(tǒng)接口單元即可，不需要更換裝置，有效的節(jié)約了成本，且能對(duì)接使用了不同標(biāo)準(zhǔn)不同接口觸控芯片的觸控屏，具有良好的兼容性。具有多個(gè)檢測(cè)單元，且每個(gè)檢測(cè)單元都設(shè)置兩路劃線檢測(cè)通道，同時(shí)對(duì)兩個(gè)觸控屏進(jìn)行處理，適用于批量的老化檢測(cè)。相對(duì)于傳統(tǒng)的廠商燒錄測(cè)試套件檢測(cè)方法，本方法可以批量對(duì)觸控屏進(jìn)行劃線老化驗(yàn)證，并與模組檢測(cè)流程進(jìn)行了整合，提高了檢測(cè)效率，大大縮短檢測(cè)時(shí)間。
【附圖說明】
[0019]圖1為本發(fā)明觸控屏的劃線老化檢測(cè)系統(tǒng)的模塊連接圖；
[0020]圖2為本發(fā)明觸控屏的劃線老化檢測(cè)方法的控制流程圖；
【具體實(shí)施方式】
[0021]以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明:
[0022]如圖1所示為觸控屏劃線老化檢測(cè)系統(tǒng)其中一種實(shí)施方式的模塊連接圖，該實(shí)施例中觸控屏劃線老化檢測(cè)系統(tǒng)由上層控制系統(tǒng)(即PG控制軟件)和若干檢測(cè)單元組成，所有檢測(cè)單元通過LAN接口與PG控制軟件相連。每個(gè)檢測(cè)單元?jiǎng)t由一個(gè)信號(hào)發(fā)生器(PG裝置)、兩個(gè)觸控系統(tǒng)接口單元(SIU裝置)組成。兩個(gè)觸控系統(tǒng)接口單元分別連接有一個(gè)觸控屏，每個(gè)觸控屏與觸控系統(tǒng)接口單元和信號(hào)發(fā)生器之間均能形成一個(gè)劃線檢測(cè)通道，本實(shí)施例中為每個(gè)檢測(cè)單元包括兩個(gè)能同時(shí)提供兩路檢測(cè)通道。其中，信號(hào)發(fā)生器的點(diǎn)屏信號(hào)通過LVDS鏈路傳輸至觸控屏，觸控系統(tǒng)接口單元與信號(hào)發(fā)生器之間通過RS485通道連接。
[0023]如圖2所示為觸控屏的劃線老化檢測(cè)方法的控制流程圖，其過程如下:
[0024]1、根據(jù)實(shí)際生產(chǎn)檢測(cè)的需要，將一定數(shù)量的檢測(cè)單元并觸控屏與上層控制系統(tǒng)相連，構(gòu)成整體。其中觸控屏可根據(jù)實(shí)際需要，放于常溫環(huán)境、高溫環(huán)境或者低溫環(huán)境。本實(shí)施例中連接好檢測(cè)系統(tǒng)后，將觸控屏統(tǒng)一放入高溫老化爐中，啟動(dòng)并使高溫老化爐工作在設(shè)定溫度下。
[0025]2、使用上層控制系統(tǒng)的觸控屏(以下簡(jiǎn)稱TP)配置功能，根據(jù)具體的觸控屏，設(shè)置對(duì)應(yīng)的參數(shù)，如分辨率、劃線顯示方式、供電電壓相關(guān)參數(shù)等，設(shè)置完成后，即保存生成TP參數(shù)配置文件，以供后續(xù)上層控制系統(tǒng)在系統(tǒng)連接和初始化時(shí)調(diào)用。
[0026]3、使用上層控制系統(tǒng)的模組檢測(cè)配置功能，選定至少兩條用以顯示到模組上的圖形數(shù)據(jù)，保存為一組檢測(cè)模組的檢測(cè)圖形列表，然后在任一個(gè)或者多個(gè)檢測(cè)圖形數(shù)據(jù)中添加對(duì)檢測(cè)單元任一路TP檢測(cè)通道的劃線檢測(cè)流程。本實(shí)施例中添加兩條檢測(cè)圖形數(shù)據(jù)，在第一條檢測(cè)圖形數(shù)據(jù)中，綁定對(duì)檢測(cè)單元其中一個(gè)通道(后面簡(jiǎn)稱通道一)所接的觸控屏的劃線檢測(cè)流程;在第二條檢測(cè)圖形數(shù)據(jù)中，綁定對(duì)檢測(cè)單元的另一通道(后面簡(jiǎn)稱通道二)所接的觸控屏的劃線檢測(cè)流程，以上編輯完成后生成模組檢測(cè)圖形列表文件。
[0027]4、以上配置以及準(zhǔn)備工作完成后，即可以進(jìn)行劃線老化檢測(cè)。
[0028]4.1、首先上層控制系統(tǒng)通過LAN對(duì)各個(gè)檢測(cè)單元進(jìn)行連接狀態(tài)確認(rèn)。
[0029]4.2、確認(rèn)連接正常后，將上述生成的TP配置文件中的各項(xiàng)配置參數(shù)下發(fā)給各個(gè)檢測(cè)單元，檢測(cè)單元中的信號(hào)發(fā)生器對(duì)接收到的配置參數(shù)進(jìn)行解析后發(fā)送給觸控系統(tǒng)接口單元，同時(shí)加載生成的模組檢測(cè)圖形列表文件。
[0030]4.3、根據(jù)接收到的模組檢測(cè)圖形列表信息，控制各個(gè)檢測(cè)單元點(diǎn)亮每個(gè)檢測(cè)通道所接的觸控屏，并顯示出檢測(cè)圖形列表中的第一張圖形。
[0031]5、觸控屏點(diǎn)亮后，即進(jìn)入劃線老化檢測(cè)階段，初期會(huì)讓觸控屏循環(huán)的顯示檢測(cè)圖形，每張圖形會(huì)保持顯示一定時(shí)間。在切換顯示圖形的過程中，PG裝置3會(huì)根據(jù)模組檢測(cè)列表文件中每張圖形綁定的流程，來自動(dòng)調(diào)出相應(yīng)的流程。
[0032]5.1、當(dāng)切換到模組檢測(cè)列表文件中第一張圖形時(shí)，會(huì)啟動(dòng)對(duì)各個(gè)檢測(cè)單元通道一所接觸控屏的劃線檢測(cè)流程。信號(hào)發(fā)生器控制觸控系統(tǒng)接口單元與觸控屏的觸控芯片通信并建立連接，觸控芯片此時(shí)處于工作狀態(tài)，即每個(gè)檢測(cè)單元的檢測(cè)通道一所接的觸控屏的觸控芯片處于工作狀態(tài)。由于此時(shí)觸控屏都還在高溫環(huán)境中，此時(shí)只是使觸控屏的觸控芯片保持工作狀態(tài)，當(dāng)前圖形顯示保持時(shí)間達(dá)到后，信號(hào)發(fā)生器控制觸控系統(tǒng)接口單元斷開與觸控屏的觸控芯片之間的連接，相應(yīng)的，觸控芯片進(jìn)入未工作狀態(tài)。上一張圖形顯示時(shí)間達(dá)到后，信號(hào)發(fā)生器使各個(gè)觸控屏顯示到第二張圖形，此時(shí)會(huì)啟動(dòng)對(duì)各個(gè)檢測(cè)單元通道二所接觸控屏的劃線檢測(cè)流程。對(duì)通道二所接觸控屏的劃線檢測(cè)流程，與對(duì)通道一的一致。本實(shí)施例中，前期的檢測(cè)中，達(dá)到的效果其實(shí)是使各個(gè)檢測(cè)單元的通道一和通道二所接觸控屏的觸控芯片輪流地處于工作狀態(tài)，對(duì)其進(jìn)行老化。
[0033]6、到達(dá)檢測(cè)的中期，具體地去驗(yàn)證各個(gè)觸控屏的劃線功能，或者抽查其中部分觸控屏的劃線功能。
[0034]6.1、關(guān)閉高溫爐，使恢復(fù)到環(huán)境溫度，當(dāng)觸控屏顯示到第一張圖形，并啟動(dòng)了對(duì)檢測(cè)單元通道一所接觸控屏的劃線檢測(cè)流程，直到觸控系統(tǒng)接口單元與觸控屏的觸控芯片建立連接。
[0035]6.2、作業(yè)員使用手指在對(duì)應(yīng)的觸控屏上劃動(dòng)。由于正常情形下，觸控系統(tǒng)接口單元會(huì)實(shí)時(shí)地從觸控屏的觸控芯片中獲取坐標(biāo)數(shù)據(jù)，返回給信號(hào)發(fā)生器，信號(hào)發(fā)生器對(duì)接收到的坐標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行解析后，實(shí)時(shí)地通過LVDS鏈路在當(dāng)前畫面上顯示出對(duì)應(yīng)軌跡，因此觸控屏顯示的圖形上會(huì)在手指劃過的位置實(shí)時(shí)地顯現(xiàn)出軌跡。如果發(fā)現(xiàn)上層控制系統(tǒng)提示某位置的觸控屏的觸控芯片連接不成功，或者某塊觸控屏的劃線軌跡顯示不流暢或者有延時(shí)等，則將該觸控屏挑出，寫明異常情形，放入不良品框。
[0036]6.3、當(dāng)觸控屏顯示到第二張圖形后，重復(fù)通道一的檢測(cè)步驟，檢測(cè)各個(gè)檢測(cè)單元通道二所接觸控屏的劃線功能是否正常。
[0037]7、對(duì)觸控屏的具體劃線功能驗(yàn)證完成后，將重新進(jìn)入對(duì)觸控屏的高溫老化檢測(cè)。一段時(shí)間后，又將繼續(xù)對(duì)觸控屏的劃線功能實(shí)際地去驗(yàn)證，然后重又進(jìn)入高溫老化，如此循環(huán)往復(fù)。
[0038]8、重復(fù)地進(jìn)行以上檢測(cè)，直到達(dá)到規(guī)定的劃線老化檢測(cè)時(shí)長(zhǎng)，至此整個(gè)檢測(cè)完成。
[0039]以上所述，僅為本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】，應(yīng)當(dāng)指出，任何熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明所揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種觸控屏的劃線老化檢測(cè)方法，其特征在于: 根據(jù)觸控屏的種類生成觸控屏參數(shù)配置文件及包含多個(gè)檢測(cè)圖形數(shù)據(jù)的模組檢測(cè)圖形列表文件，在所述模組檢測(cè)圖形列表文件的任意一個(gè)或多個(gè)檢測(cè)圖形數(shù)據(jù)中添加任意一路檢測(cè)通道的劃線檢測(cè)流程； 下發(fā)所述觸控屏參數(shù)配置文件及所述模組檢測(cè)圖形列表文件，點(diǎn)亮各個(gè)所述檢測(cè)通道的觸控屏； 根據(jù)所述模組檢測(cè)圖形列表文件在各個(gè)所述觸控屏上循環(huán)的切換檢測(cè)畫面，當(dāng)任一觸控屏當(dāng)前檢測(cè)畫面中添加有劃線檢測(cè)流程時(shí)，觸發(fā)該劃線檢測(cè)流程并對(duì)該觸控屏進(jìn)行劃線操作，將劃線軌跡顯示不良的觸控屏挑出。2.如權(quán)利要求1所述觸控屏的劃線老化檢測(cè)方法，其特征在于，所述劃線檢測(cè)流程為:與該檢測(cè)通道的觸控屏的觸控芯片建立連接，當(dāng)所述該檢測(cè)通道的觸控屏上有手指劃過時(shí)，從該觸控芯片實(shí)時(shí)獲取手指劃動(dòng)的坐標(biāo)信息，并將該坐標(biāo)信息反饋給信號(hào)發(fā)生器，所述信號(hào)發(fā)生器對(duì)該坐標(biāo)信息進(jìn)行解析后實(shí)時(shí)的在所述該檢測(cè)通道的觸控屏的對(duì)應(yīng)位置顯示出軌跡。3.如權(quán)利要求1所述觸控屏的劃線老化檢測(cè)方法，其特征在于:對(duì)所述觸控屏進(jìn)行劃線操作前，將各個(gè)所述觸控屏置于高溫或低溫老化爐內(nèi)，循環(huán)的切換觸控屏上的檢測(cè)畫面，使該各個(gè)所述觸控屏的觸控芯片輪流處于工作狀態(tài)，以對(duì)該各個(gè)所述觸控屏進(jìn)行老化處理。4.如權(quán)利要求3所述觸控屏的劃線老化檢測(cè)方法，其特征在于:在所述觸控屏老化處理的過程中重復(fù)對(duì)觸控屏進(jìn)行多次劃線檢測(cè)，每次劃線檢測(cè)過程中均將劃線軌跡顯示不良的觸控屏挑出，直至達(dá)到規(guī)定的老化處理時(shí)長(zhǎng)。5.如權(quán)利要求4所述觸控屏的劃線老化檢測(cè)方法，其特征在于:在觸控屏老化處理的過程中，當(dāng)觸控屏當(dāng)前檢測(cè)畫面中添加有劃線檢測(cè)流程時(shí)，若未進(jìn)行劃線操作，則在當(dāng)前檢測(cè)畫面達(dá)到顯示時(shí)長(zhǎng)時(shí)自動(dòng)結(jié)束劃線檢測(cè)流程，并切換到下一檢測(cè)畫面。6.如權(quán)利要求1所述的觸控屏的劃線老化檢測(cè)方法，其特征在于:每路所述檢測(cè)通道均存在一個(gè)與之對(duì)應(yīng)的劃線檢測(cè)流程。7.如權(quán)利要求1-6中任意一條所述的觸控屏的劃線老化檢測(cè)方法，其特征在于:所述觸控屏參數(shù)配置文件包括觸控屏分辨率、劃線顯示方式和供電電壓。8.—種觸控屏的劃線老化檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于:包括上層控制系統(tǒng)、以及通過LAN線與所述上層控制系統(tǒng)連接的至少一組檢測(cè)單元，每組所述檢測(cè)單元包括一個(gè)信號(hào)發(fā)生器以及與所述信號(hào)發(fā)生器連接的至少一個(gè)觸控系統(tǒng)接口單元； 所述上層控制系統(tǒng)用于生成觸控屏參數(shù)配置文件及模組檢測(cè)圖形列表文件，并將觸控屏參數(shù)配置文件及模組檢測(cè)圖形列表文件下發(fā)至各個(gè)檢測(cè)單元； 所述信號(hào)發(fā)生器用于點(diǎn)亮觸控屏、接收上層控制系統(tǒng)下發(fā)的觸控屏參數(shù)配置文件及模組檢測(cè)圖形列表文件，解析后發(fā)送給控制觸控系統(tǒng)接口單元，以及根據(jù)模組檢測(cè)圖形列表文件中的劃線檢測(cè)流程控制觸控系統(tǒng)接口單元與觸控芯片建立連接，接收控制觸控系統(tǒng)接口單元反饋的坐標(biāo)信息并實(shí)時(shí)的在觸控屏對(duì)應(yīng)位置顯示軌跡； 所述觸控系統(tǒng)接口單元用于根據(jù)信號(hào)發(fā)生器的控制信號(hào)為觸控芯片供電、建立連接，及實(shí)時(shí)讀取觸控芯片的坐標(biāo)信息并反饋給信號(hào)發(fā)生器。9.如權(quán)利要求8所述觸控屏的劃線老化檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于:所述信號(hào)發(fā)生器發(fā)送的 點(diǎn)屏信號(hào)通過LVDS鏈路輸出至觸控屏。
【文檔編號(hào)】G01R31/01GK106093647SQ201610477734
【公開日】2016年11月9日
【申請(qǐng)日】2016年6月24日
【發(fā)明人】祁焱, 白靜, 夏少俊, 朱濤, 劉艷飛, 蔣石運(yùn), 雷程程
【申請(qǐng)人】武漢精測(cè)電子技術(shù)股份有限公司